JPS6129645B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6129645B2
JPS6129645B2 JP4504080A JP4504080A JPS6129645B2 JP S6129645 B2 JPS6129645 B2 JP S6129645B2 JP 4504080 A JP4504080 A JP 4504080A JP 4504080 A JP4504080 A JP 4504080A JP S6129645 B2 JPS6129645 B2 JP S6129645B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
point
arbitrary point
deflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP4504080A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS56141527A (en
Inventor
Haruhisa Shima
Yoshinaga Fukuda
Hiroshi Mizushima
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP4504080A priority Critical patent/JPS56141527A/ja
Publication of JPS56141527A publication Critical patent/JPS56141527A/ja
Publication of JPS6129645B2 publication Critical patent/JPS6129645B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/38Photometry, e.g. photographic exposure meter using wholly visual means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は2次元被測定体の輝度パターン等の等
輝度線検出装置に関する。
〔従来の技術〕 従来、2次元被測定体の輝度パターンや等輝度
線を表示するために、テレビジヨン撮像して得た
映像信号を適当な輝度レベルで2値化した後、受
像管に表示する方法が用いられている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、テレビジヨン撮像して得た映像
信号を適当な輝度レベルで2値化した後、受像管
に表示する方法は、撮像管の特性からダイナミツ
クレンジが高々102程度しかなく、被測定体の明
度の範囲が大きい時は、明るい部分または暗い部
分の測定が不可能である。また、測定上不必要な
部分も走査するので、測定時間に無駄が生じる。
さらに明度が低いために1フレーム期間の映像信
号の蓄積では不足する時、フレーム周期で映像信
号の和を演算しなければならない。
本発明は、上記問題点を解決するためのもの
で、ダイナミツクレンジを狭くする蓄積方式を用
いず、極めて大きな輝度範囲を有する2次元パタ
ーン等の等輝度線を効率良く検出することのでき
る等輝度線検出装置を提供することを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
そのために本発明の等輝度線検出装置は、被測
定体の光学像が投影されるイメージデイセクタ管
と、任意の点のまわりを走査するための信号を発
生する信号発生手段と、所定の輝度に対応する基
準値とイメージデイセクタ管出力が入力され、両
入力が一致したとき出力を生ずる比較器と、比較
器出力が生じたときの前記信号発生手段出力を抽
出する手段と、任意の点の座標が初期値として入
力され、抽出された信号発生手段出力値と前記任
意の点の座標値から前記任意の点と等輝度の点の
座標を算出する演算手段と、演算手段の出力値と
前記信号発生手段出力値とから前記任意の点と等
輝度の点のまわりを走査するための偏向信号をイ
メージデイセクタ管の偏向装置へ送出する偏向信
号発生手段と、前記演算手段により算出された座
標位置を表示する表示装置とを備えたことを特徴
とする。
〔作 用〕
本発明の等輝度線検出装置は、輝度検出に非蓄
積型撮像管すなわちイメージデイセクタ管を用
い、任意の点のまわりを走査して、該任意の点と
等輝度の点を求め、次に、求めた等輝度点のまわ
りを走査して該等輝度点と等しい輝度の点を求
め、順次同様の方法によつて等輝度の点を求めて
いくことにより、極めて大きな輝度範囲を有する
2次元パターン等の等輝度線を効率良く検出する
ことを可能にする。
〔実施例〕
以下、実施例を図面を参照しつつ説明する。
第1図は本発明による等輝度線検出装置の一実
施例のブロツク構成図、第2図は第1図の実施例
において用いられたイメージデイセクタ管の断面
構造図、第3図は本発明の走査を説明するための
走査面である。図中、1は2次元的な拡がりをも
つ被測定体、2は光学レンズ、3はイメージデイ
セクタ管、9は増幅器、11は可変基準電圧源、
12は比較器、121,122は比較器12の第
1及び第2入力端、13は同期信号発生器、14
は正弦波発生器、15は余弦波発生器、17,1
8はゲート回路、19,20は加算器、191,
192は加算器19の第1及び第2入力端、20
1,202は加算器20の第1及び第2入力端、
21,22は混合器、211,212は混合器2
1の第1及び第2入力端、221,222は混合
器22の第1及び第2入力端、23,24は駆動
回路、31は光電面、32は電極、33はアパー
チヤ、34,35は偏向コイル、36はダイノー
ド、37は集収電極である。
先ず、第1図い用いられているイメージデイセ
クタ管3について、第2図により説明する。
第2図において、光学像を投影した光電面31
からの光学像に対応する電子ビームを、中心にア
パーチヤ33を有する電極32により加速し、X
方向、Y方向の偏向コイル34,35によつて紙
面に垂直な方向に偏向し、光学像の所望の部分に
対応する電子ビームのみをアパーチヤ33に通
し、通過した電子をダイノード36……36で増
倍し、集収電極37から電流として光学像の一部
分の輝度信号を検出する。そこで、X方向、Y方
向の偏向コイル34,35にそれぞれ所定の偏向
駆動電流を供給することにより光電面31上の光
学像の測定位置を順次選択し、選択した位置に対
応する電子ビームが順次アパーチヤ33を通過す
るようにすれば、集収電極37から光学像の各部
分の輝度信号が得られることとなる。このイメー
ジデイセクタ管3は、入力信号の蓄積動作は行は
ず、また数分の一の確率で光子1個に対応してパ
ルスを出力する検出能を有している。
次に、第1図により本発明による等輝度線検出
装置を説明する。
第1図において、被測定体1の光学像をイメー
ジデイセクタ管3の光電面31に投影し、偏向駆
動回路23,24により所定の偏向駆動電流を偏
向コイル34,35に供給することによつて、イ
メージデイセクタ管3から所望の位置の輝度信号
が出力され、増幅器9を介して比較器12の第1
入力端121に加えられる。比較器12は、第2
入力端に可変基準電圧源11から所定の基準電圧
が加えられており、両入力が一致したときパルス
出力を生じる。一方、正弦波発生器14は、例え
ば1MHzのパルスを送出する同期信号発生器13
の出力信号に同期して周波数1MHzで、例えば振
幅10mVの正弦波を送出し、余弦波発生器15
は、同様にして正弦波発生器14より90度だけ位
相が先行し、振幅が上記正弦波に等しい余弦波を
送出する。
正弦波発生器14の送出する正弦波は、混合器
21の第1入力端211とゲート17を介して加
算器19の第1入力端191へ、余弦波発生器1
5の送出する余弦波は、混合器22の第1入力端
221とゲート18を介して加算器20の第1入
力端201へ加えられる。ゲート17と18に
は、前述した比較器12の出力パルスがゲート信
号として加えられる。また、予め加算器19と加
算器20のそれぞれの第2の入力端192と20
2へは等輝度線上の一点のX座標およびY座標に
相当する位置信号を入力する。
従つて加算器19と加算器20は、上記位置信
号を混合器21,22のそれぞれの第2の入力端
212,222に送出し、混合器21,22のそ
れぞれの第1入力端211,221に正弦波発生
器14および余弦波発生器15の送出する正弦波
または余弦波を入力するから、それらの合成され
た信号は、イメージデイセクタ管3の駆動回路2
3,24と偏向コイル34,35からなる偏向装
置へ送られイメージデイセクタ管3において、上
記等輝度線上の一点を中心とする円を走査する。
第3図は上述の走査を説明する走査面の図で、
点Aは加算器19と加算器20のそれぞれの第2
の入力端192と202へ入力して指定した等輝
度線上の一点である。円Bは、上記等輝度線上の
一点のX座標信号に正弦波信号を重畳し、Y座標
信号に余弦波信号を重畳して描いた円状の走査線
である。曲線Cは検出しようとする等輝度線であ
る。
今、比較器12の第2入力端122から予め、
可変基準電圧源11より点Aの輝度信号に相当す
る電圧を加えておけば、円Bを走査して等輝度線
Cと点Dで交叉した時、イメージデイセクタ管3
から増幅器9を介して比較器12の第1入力端1
21に可変基準電圧源11より入力する電圧に等
しい電圧を入力するから、比較器12はパルスを
送出してゲート17と18を開く。従つて加算器
19と20のそれぞれの第1入力端191と19
2には、それぞれ点Aと点DのX座標およびY座
標の差に相当する電圧が入力し、これが加算器1
9と20で点AのX座標およびY座標に加算さ
れ、点DのX座標およびY座標に相当する電圧を
出力する。従つて、混合器21と22は、上記点
DのX座標およびY座標に相当する電圧と正弦波
発生器14および余弦波発生器15の送出する正
弦波電圧および余弦波電圧とを重畳して偏向装置
に送出するからイメージデイセクタ管3はD点を
中心とする円を走査し、等輝度線Cとの交点Eに
おいて比較器12からゲート17と18を開くた
めのパルスを送出させる。以後順次等輝度線上の
点を求めながら走査の円は走査面上を移動する。
他方、加算器19と20の送出する電圧は、等
輝度線のX座標およびY座標に相当する電圧であ
るから、蓄積型ブラウン管オシロスコープ又は
XYプロツタ16に入力して、等輝度線を描かせ
ることができる。
上述の装置においては、1MHzの繰り返しで半
型10mVの円走査をしており、走査面の両端間の
偏向に必要な混合器21および22への入力電圧
を10Vとすると、1秒に106点を走査面の両端間
の1000分の1に相当する間隔でプロツトできる。
なお、上記実施例ではイメージデイセクター管
として、電磁偏向タイプのものを用いたが、これ
に代えて静電偏向タイプのものを用いてもよいこ
とは云うまでもない。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、輝度検出に非蓄積型撮像管すなわちイメージ
デイセクタ管を用い、任意の点のまわりを走査し
て、該任意の点と等輝度の点を求め、次に求めた
等輝度点のまわりを走査して該等輝度点と等しい
輝度の点を求め、順次同様の方法によつて等輝度
の点を求めていくことにより、極めて大きな輝度
範囲を有する2次元パターン等の等輝度線を効率
良く検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図本発明による等輝度線検出装置の一実施
例のブロツク構成図、第2図は第1図の実施例に
おいて用いられたイメージデイセクタ管の断面構
造図、第3図は本発明の走査を説明するための図
である。 1……2次元的な拡がりをもつ被測定体、2…
…光学レンズ、3……イメージデイセクタ管、9
……増幅器、11……可変基準電圧源、12……
比較器、121,122……比較器12の第1及
び第2入力端、13……同期信号発生器、14…
…正弦波発生器、15……余弦波発生器、17,
18……ゲート回路、19,20……加算器、1
91,192……加算器19の第1及び第2入力
端、201,202……加算器20の第1及び第
2入力端、21,22……混合器、211,21
2……混合器21の第1及び第2入力端、22
1,222……混合器22の第1及び第2入力
端、23,24……駆動回路、31……光電面、
32……電極、33……アパーチヤ、34,35
……偏向コイル、36……ダイノード、37……
集収電極。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定体の光学像が投影されるイメージデイ
    セクタ管と、任意の点のまわりを走査するための
    信号を発生する信号発生手段と、所定の輝度に対
    応する基準値とイメージデイセクタ管出力が入力
    され、両入力が一致したとき出力を生ずる比較器
    と、比較器出力が生じたときの前記信号発生手段
    出力を抽出する手段と、任意の点の座標が初期値
    として入力され、抽出された信号発生手段出力値
    と前記任意の点の座標値から前記任意の点と等輝
    度の点の座標を算出する演算手段と、演算手段の
    出力値と前記信号発生手段出力値とから前記任意
    の点と等輝度の点のまわりを走査するための偏向
    信号をイメージデイセクタ管の偏向装置へ送出す
    る偏向信号発生手段と、前記演算手段により算出
    された座標位置を表示する表示装置とを備えた等
    輝度線検出装置。 2 前記任意の点のまわりを走査するための信号
    を発生する信号発生手段が正弦波信号及び余弦波
    信号発生器からなることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の等輝度線検出装置。
JP4504080A 1980-04-04 1980-04-04 Detector for equal luminance line Granted JPS56141527A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4504080A JPS56141527A (en) 1980-04-04 1980-04-04 Detector for equal luminance line

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4504080A JPS56141527A (en) 1980-04-04 1980-04-04 Detector for equal luminance line

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS56141527A JPS56141527A (en) 1981-11-05
JPS6129645B2 true JPS6129645B2 (ja) 1986-07-08

Family

ID=12708240

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4504080A Granted JPS56141527A (en) 1980-04-04 1980-04-04 Detector for equal luminance line

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS56141527A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11067288B2 (en) 2017-05-15 2021-07-20 Backer Ehp Inc. Dual coil electric heating element
US11098904B2 (en) 2017-05-15 2021-08-24 Backer Ehp Inc. Dual coil electric heating element
USD955168S1 (en) 2019-07-03 2022-06-21 Backer Ehp Inc. Electric heating element
US11581156B2 (en) 2019-07-03 2023-02-14 Backer Ehp Inc. Dual coil electric heating element

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11067288B2 (en) 2017-05-15 2021-07-20 Backer Ehp Inc. Dual coil electric heating element
US11098904B2 (en) 2017-05-15 2021-08-24 Backer Ehp Inc. Dual coil electric heating element
USD955168S1 (en) 2019-07-03 2022-06-21 Backer Ehp Inc. Electric heating element
US11581156B2 (en) 2019-07-03 2023-02-14 Backer Ehp Inc. Dual coil electric heating element

Also Published As

Publication number Publication date
JPS56141527A (en) 1981-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6129645B2 (ja)
JPH02108392A (ja) 画像の動き測定方法及び装置
EP3029710A1 (en) Charged particle beam device and image acquisition method
US3739091A (en) Method and apparatus for displaying image and measuring object therein
SU572230A3 (ru) Сканирующа система микроскопа
JPS6243635B2 (ja)
US3443870A (en) Range measuring scanning laser imaging system
JP6080565B2 (ja) 荷電粒子線装置
JPH03500596A (ja) 情報表示装置
JPS63116348A (ja) 電子線装置の視野対応装置
JPS61220261A (ja) 試料表面の対象区域をわき立たせる方法と装置
KR0129959B1 (ko) 칼라음극선관의 컨버젼스 측정방법 및 장치
JP2571110B2 (ja) 荷電ビームを用いたパタン寸法測定方法およびその装置
JPH0818986A (ja) 自動コンバーゼンス装置
JPS6362142A (ja) 表面分析装置
US3450934A (en) Method and apparatus for tracing a track
JPH06276532A (ja) 自動コンバーゼンス補正装置
JP3449085B2 (ja) 映像表示装置
SU1003197A1 (ru) Способ индикации участка изображени , анализируемого диссектором
SU1092606A1 (ru) Видеоконтрольное устройство дл растрового электронного микроскопа
JPH05192895A (ja) ロボットの視覚装置
JPH0228601Y2 (ja)
SU842934A1 (ru) Генератор векторов на телевизионномРАСТРЕ
JPH10255662A (ja) カラー受像管のランディング測定装置
JPS61181051A (ja) 電子線装置