JPS6129736A - 半透膜の性能試験装置 - Google Patents

半透膜の性能試験装置

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JPS6129736A
JPS6129736A JP15154584A JP15154584A JPS6129736A JP S6129736 A JPS6129736 A JP S6129736A JP 15154584 A JP15154584 A JP 15154584A JP 15154584 A JP15154584 A JP 15154584A JP S6129736 A JPS6129736 A JP S6129736A
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JP
Japan
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gas
piston
pressure
gas chamber
performance
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JP15154584A
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English (en)
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JPH0260255B2 (ja
Inventor
Masaharu Matsuda
正治 松田
Chiyoji Kanzawa
神沢 千代志
Kenji Haratani
賢治 原谷
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/08Investigating permeability, pore-volume, or surface area of porous materials
    • G01N15/082Investigating permeability by forcing a fluid through a sample

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は多成分混合気体に含まれている有用な気体成分
を半透膜によって分離濃縮する際に用いる半透膜の性能
試験を行う半透膜の性能試験装置に関するものであり、
特に現在色々と開発が進められている各種半透膜の性能
を迅速に、かつ正確に判定して、従来の半透膜の改良及
び新規な半透膜の開発に寄与するだめのものである。
〔従来技術〕
従来の気体分離用の半透膜の性能試験装置は、主として
減圧法によるものであり、大気圧との圧力差によって膜
を透過する気体の量を測定するというのが一般的手法で
ある。
したがって、このような方法では半透膜の両側における
気体の圧力差は一気圧以上に設定することはできないと
いう制約があるために、気体透過流速の小さい膜の性能
測定には極めて長時間を要するという欠点があった。
また、気体透過流速の大きい膜の性能を測定する際には
、減圧側のガス溜用の容器を犬容、量のものにしなけれ
ば測定に必要な圧力差を保持することができないという
欠点がある。
さらに、膜性能の判定には減圧側の容器内に流入する気
体によって圧力が刻々変化するため、その変化量を記録
して解析するという手段が必要不可欠であり、いわゆる
非定常の状態下での測定値を定常状態の値に換算すると
いう煩雑さは避は得ないという欠点があった。
〔発明の目的〕
そこで、本発明は前記従来の欠点を解消するためになさ
れたものであり、半透膜の片側を大気圧とし、その反対
側の気体を加圧することによって、膜面側における圧力
差を常に一定に保持しつつ膜の気体透過性能を測定する
ことにより、極めて有効適切な半透膜の性能試験装置を
提供することを目的としたものである。
〔発明の構成〕
即ち、本発明の半透膜の性能試験装置は、ピストンを摺
動自在に内蔵した耐圧シリンダの該ピストンの前部に標
準透過ガスを充填可能な透過ガス室を有し、かつその透
過ガス室と更にその前方の透過ガス取シ出し口との間に
被試験用の半透膜を配設すると共に、該ピストンの後部
を加圧流体で一定圧で押圧しながら該ピストンの移動量
を測定可能にすることにより構成される。
〔実施例〕 以下図面を参照して本発明の詳細な説明するが、図面は
その一実施例における半透膜の性能試験装置の概略側断
面図である。
まず、ピストン7をその軸方向に摺動自在に内蔵した耐
圧シリンダ6の前端部に透過膜2を固定するためのセル
6取付用の7ランジ4が設けてあシ、このフランジ4と
セル6の背面は0リングを介して接合固定できるように
なっている。
また、耐圧シリンダ6の7ランジ4近傍に圧力検出器取
付具5及びガス注入口5′、さらにガス排出口5“が設
けてあり、透過ガス室15を構成し、そこに所望の標準
透過ガスをすみやかに注入して充填し、そして排出する
ことができるようになっている。
ピストン7の外周面には少なくとも1箇以上のQ IJ
ング7′が嵌合されており、ピストン7が耐圧シリンダ
6内周面を軸方向に容易に摺動可能ならしめ、かつ耐圧
シリンダ6後部への標準透過ガスの漏洩を防止している
ピストン7の軸径部には、ねじ10が施してあり、この
ねじ10に嵌合して圧力制御用ハンドル13が設置され
ておシ、この圧力制御用ハンドル13の位置を調節する
ことによって耐圧シリンダ6の前部の透過ガス室15に
任意の圧力を生せしめることができる。
また、耐圧シリンダ6の後部には加圧空気、または加圧
水あるいは加圧油などの加圧流体を注入するガス注入口
8及びガス排出口8′が設けられてあシ、測定中はここ
から注入された空気、または水あるいは油の加圧流体に
よって耐圧シリンダ6の前部の透気ガス室15内の標準
透過ガスの圧力が一定に保持される。
ピストン7の軸中央部には、副尺目盛板11が設けてあ
り、これと装置固定用の架台14に設けた目盛板11′
との組合せによりピストン7の移動量、つまシガスの膜
透過量を読みとることによシ正確に測定可能となってい
る。
ピストン7の軸の固定方法は、耐圧シリンダ6後部に接
合した高圧ガスシール用蓋9の内周面に嵌合された0リ
ング及び架台14に接合されたピストン軸受け12によ
ってなされ、このピストン軸受け12には図示されてい
ない回シ止め金具が設けてあって、ピストン7が軸方向
には容易に移動できるが、横方向には回転できないよう
罠なっている。
透過膜固定用のセル6の端部には、透過ガス取出し用の
蓋16があり、例えばガスクロマトグラフィーのごとき
分析装置にこれを連結することによシ、標準透過ガスの
成分組成を定量分析することができ、また、この蓋16
の背面には透過ガス取出し口1に連通せる細い溝が施し
てあシ、この面を利用して不織布、またはp紙マあるい
はポーラスな金属板を介して半透膜2を押圧してセル6
に固定することができる。
上記の実施例における性能試験装置を用いて酸素と窒素
との分離に用いるシリコンゴム及び複合膜の基本用の膜
として使用される半透膜、例えばポリスルフォン膜のガ
ス透過性能を測定した結果を下記の表に示しておシ、従
来の高真空法による測定装置では、測定開始前の予備操
作に少なくとも数10分間を要するため、本発明の装置
を用いれば、従来の方法よりはるかに短時間で測定でき
ることが判る。
〔発明の効果〕
以上の構成からなる本発明の半透膜の性能試験装置では
、被試験用の半透膜の両側に任意の圧力差を容易に設定
することができ、気体透過流速の大きい膜試料から小さ
い膜試料までその性能を短時間に判定できるという利点
がある。
また、本発明の装置は上記加圧側の圧力が常に一定に保
持されていることから、単位時間に加圧側から大気側に
移動した気体量がそのまま試料膜の気体透過量として把
握でき、従来法のごとき圧力変化を量変化に換算し、さ
らに非定常の状態下で得られたデーターを解析して定常
状態の値にもどすという煩雑な処理を全く必要とせず、
個人差なく測定できるという利点がある。
さらに、この装置の構造要素の一部である気体加圧部は
、−ピストンによって構成されており、測定開始時のそ
のピストンの位置と測定終了時の位置とを確認するだけ
の機械的な単純操作で、極めて容易に、かつ正確に気体
の透過量を判定することができるので、その操作が簡単
であり、加えて標準試料として使用する気体の容量は前
記耐圧シリンダ内に一回充填するだけで済み、極めて経
済的に有利なものである。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例における半透膜の性能試験装置
の概略側断面図である。 1・・・透過ガス取出し口、2・・・透過膜、6・・・
耐圧シリンダ、7・・・ピストン、8・・・ガス注入口
、8′・・・ガス排出口、11・・・副尺目盛、11′
・・・目盛板、15・・・透過ガス室。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ピストンを摺動自在に内蔵した耐圧シリンダの該ピスト
    ンの前部に標準透過ガスを充填可能な透過ガス室を有し
    、かつその透過ガス室と更にその前方の透過ガス取り出
    し口との間に被試験用の半透膜を配設すると共に、該ピ
    ストンの後部を加圧流体で一定圧で押圧しながら該ピス
    トンの移動量を測定可能にしたことを特徴とする半透膜
    の性能試験装置。
JP15154584A 1984-07-20 1984-07-20 半透膜の性能試験装置 Granted JPS6129736A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15154584A JPS6129736A (ja) 1984-07-20 1984-07-20 半透膜の性能試験装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP15154584A JPS6129736A (ja) 1984-07-20 1984-07-20 半透膜の性能試験装置

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Publication Number Publication Date
JPS6129736A true JPS6129736A (ja) 1986-02-10
JPH0260255B2 JPH0260255B2 (ja) 1990-12-14

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ID=15520852

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JP15154584A Granted JPS6129736A (ja) 1984-07-20 1984-07-20 半透膜の性能試験装置

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63199053U (ja) * 1987-06-13 1988-12-21
FR2845771A1 (fr) * 2002-10-09 2004-04-16 Ncv Ind Appareil de caracterisation de materiaux et procede associe
CN104524982A (zh) * 2014-12-16 2015-04-22 中国科学院上海应用物理研究所 一种精确测量滤膜微小通量的装置
CN113230896A (zh) * 2021-03-31 2021-08-10 重庆中烟工业有限责任公司 一种用于针头过滤器的过滤膜破损检测装置
CN121026918A (zh) * 2025-10-31 2025-11-28 南通怡瑞丰纺织工艺品有限公司 一种纺织材料检测用分离式透气性检测装置

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JPH0260255B2 (ja) 1990-12-14

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