JPS6130641Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6130641Y2 JPS6130641Y2 JP6721678U JP6721678U JPS6130641Y2 JP S6130641 Y2 JPS6130641 Y2 JP S6130641Y2 JP 6721678 U JP6721678 U JP 6721678U JP 6721678 U JP6721678 U JP 6721678U JP S6130641 Y2 JPS6130641 Y2 JP S6130641Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- objective lens
- eye
- target
- light
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 28
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 7
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 4
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 2
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 description 8
- 206010064127 Solar lentigo Diseases 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はアイレフラクトメーターに関する。
アイレフラクトメーターは、ターゲツトを被検
眼の眼底に投影し、その結像状態を電気的検出あ
るいは観察しながらターゲツトを光軸方向に移動
調節し、合焦状態におけるターゲツトの位置によ
り被検眼の屈曲度を矯正デイオプター度数として
測定するもので、測定は被検眼の遠方視状態のも
とで行わねばならない。このため、アイレフラク
トメーターには、遠方注視目標を被検眼に投影す
るための光学系が設けられる。
眼の眼底に投影し、その結像状態を電気的検出あ
るいは観察しながらターゲツトを光軸方向に移動
調節し、合焦状態におけるターゲツトの位置によ
り被検眼の屈曲度を矯正デイオプター度数として
測定するもので、測定は被検眼の遠方視状態のも
とで行わねばならない。このため、アイレフラク
トメーターには、遠方注視目標を被検眼に投影す
るための光学系が設けられる。
一般のアイレフラクトメーターにおいては、対
物レンズの前面反射光が測定光学系に入るのを防
止するために、対物レンズに関して被検眼の瞳と
ほぼ共役な位置に設定した照明絞りの対物レンズ
前面による反射像が生ずる対物レンズ後面の中心
に黒点を設けてあるが、前述の遠方注視目標が対
物レンズを通して同軸投影される場合には、対物
レンズ上の黒点が遠方注視目標とともに被検眼に
投影され、被検者がこの黒点を意識して自己調節
を働かせる恐れがある。このため、従来のアイレ
フラクトメーターは、遠方注視目標を対物レンズ
前方、すなわち対物レンズと被検眼との間に設け
たコールドミラー等を介して投影するように構成
されている。このような従来の配置は、被検者に
対物レンズ上の黒点を意識させない点では効果が
あるが、コールドミラーの分だけ光学系が長くな
るという欠点がある。
物レンズの前面反射光が測定光学系に入るのを防
止するために、対物レンズに関して被検眼の瞳と
ほぼ共役な位置に設定した照明絞りの対物レンズ
前面による反射像が生ずる対物レンズ後面の中心
に黒点を設けてあるが、前述の遠方注視目標が対
物レンズを通して同軸投影される場合には、対物
レンズ上の黒点が遠方注視目標とともに被検眼に
投影され、被検者がこの黒点を意識して自己調節
を働かせる恐れがある。このため、従来のアイレ
フラクトメーターは、遠方注視目標を対物レンズ
前方、すなわち対物レンズと被検眼との間に設け
たコールドミラー等を介して投影するように構成
されている。このような従来の配置は、被検者に
対物レンズ上の黒点を意識させない点では効果が
あるが、コールドミラーの分だけ光学系が長くな
るという欠点がある。
また,別の配置として、注視目標系の光軸を測
定光学系の光軸に対し傾斜させて、被検者が注視
目標を注視している間は、対物レンズの黒点が視
野から外れるようにしたものもある。しかし、こ
の配置は、被検眼の光軸と測定光学系の光軸とを
合致させて測定を行なうという他覚式検眼の理想
から外れたものである。特に近赤外光により測定
を行なうようになつた赤外線レフラクトメーター
においては、被検眼が測定光により眩惑感を受け
るという問題もなく、被検眼の光軸と測定光学系
の光軸とを合致させることが強く望まれる。
定光学系の光軸に対し傾斜させて、被検者が注視
目標を注視している間は、対物レンズの黒点が視
野から外れるようにしたものもある。しかし、こ
の配置は、被検眼の光軸と測定光学系の光軸とを
合致させて測定を行なうという他覚式検眼の理想
から外れたものである。特に近赤外光により測定
を行なうようになつた赤外線レフラクトメーター
においては、被検眼が測定光により眩惑感を受け
るという問題もなく、被検眼の光軸と測定光学系
の光軸とを合致させることが強く望まれる。
したがつて、本考案は測定光学系の光軸と同軸
に遠方注視目標を投影することのできるアイレフ
ラクトメーターを提供することを目的とする。
に遠方注視目標を投影することのできるアイレフ
ラクトメーターを提供することを目的とする。
本考案の値の目的は、遠方注視目標投影光路に
有害光遮断のための黒点等が存在しないようなア
イレフラクトメーターを提供することである。
有害光遮断のための黒点等が存在しないようなア
イレフラクトメーターを提供することである。
すなわち、本考案においては、対物レンズの後
面に、従来のアイレフラクトメーターにおけるよ
うに対物レンズの後面に黒点を設けず、測定光学
系の光軸上において、結像レンズに関して照明絞
りの対物レンズ前面による反射像とほぼ共役な位
置に、有害光線遮断用の遮光マスクを配置してあ
り、撮影光路への有害光線の混入は、レンズ後面
に設けた黒点の場合と同様に防止でき、しかもこ
のマスクは注視目標投影のための光路中には位置
しないので、遠方注視のための障害になることは
ない。遮光マスクの大きさは、従来対物レンズの
後面に設けられていた黒点の大きさに、測定光学
系の結像レンズの拡大倍率を乗じた大きさにすれ
ばよい。
面に、従来のアイレフラクトメーターにおけるよ
うに対物レンズの後面に黒点を設けず、測定光学
系の光軸上において、結像レンズに関して照明絞
りの対物レンズ前面による反射像とほぼ共役な位
置に、有害光線遮断用の遮光マスクを配置してあ
り、撮影光路への有害光線の混入は、レンズ後面
に設けた黒点の場合と同様に防止でき、しかもこ
のマスクは注視目標投影のための光路中には位置
しないので、遠方注視のための障害になることは
ない。遮光マスクの大きさは、従来対物レンズの
後面に設けられていた黒点の大きさに、測定光学
系の結像レンズの拡大倍率を乗じた大きさにすれ
ばよい。
以下、本考案の実施例を図について説明する
と、第1図において、ターゲツト投影系は、光源
ランプ1、集光レンズ2、ターゲツト3及び投影
レンズ4を有し、レンズ4を通つた光は、反射ミ
ラー5により反射され照明絞り22を通つた後孔
あきミラー6により反射されて測定光軸7に沿つ
て対物レンズ8により被検眼Eに投影され、眼底
にターゲツト像を結像する。測定光学系は、対物
レンズ8の光軸上で孔あきミラー6の後方に配置
された結像レンズ9及び接眼レンズ10を有し、
眼底のターゲツト像からの光は、対物レンズ8及
び孔あきミラー6の孔を通り結像レンズ9により
11の点に結像し、接眼レンズ10を通して観察
される。ターゲツト3が赤外光により投影される
場合には、11の位置に撮像管の光電面が配置さ
れる。
と、第1図において、ターゲツト投影系は、光源
ランプ1、集光レンズ2、ターゲツト3及び投影
レンズ4を有し、レンズ4を通つた光は、反射ミ
ラー5により反射され照明絞り22を通つた後孔
あきミラー6により反射されて測定光軸7に沿つ
て対物レンズ8により被検眼Eに投影され、眼底
にターゲツト像を結像する。測定光学系は、対物
レンズ8の光軸上で孔あきミラー6の後方に配置
された結像レンズ9及び接眼レンズ10を有し、
眼底のターゲツト像からの光は、対物レンズ8及
び孔あきミラー6の孔を通り結像レンズ9により
11の点に結像し、接眼レンズ10を通して観察
される。ターゲツト3が赤外光により投影される
場合には、11の位置に撮像管の光電面が配置さ
れる。
注視目標投影系は、光源12、集光レンズ1
3、注視目標14及び投影レンズ15を有し、投
影レンズ15を通つた光は、反射ミラー16及び
孔あきミラー6と対物レンズ8との間のハーフミ
ラー17により反射されて、対物レンズ8を通り
被検眼Eに達する。
3、注視目標14及び投影レンズ15を有し、投
影レンズ15を通つた光は、反射ミラー16及び
孔あきミラー6と対物レンズ8との間のハーフミ
ラー17により反射されて、対物レンズ8を通り
被検眼Eに達する。
照明絞りの対物レンズ8の前面による反射像が
生じている対物レンズ8の後面中心に従来と同様
に黒点8aが設けられていると仮定すると、この
黒点はハーフミラー17及び孔あきミラー6の中
心孔を通り、結像レンズ9により20で示す像面
に結像する。したがつて、本考案においては、こ
の像面20に遮光マスク21を配置する。この遮
光マスク21の大きさは、従来対物レンズ8の後
面に設けられていた黒点8aの大きさに、結像レ
ンズ9の拡大倍率を乗じた大きさとすればよい。
生じている対物レンズ8の後面中心に従来と同様
に黒点8aが設けられていると仮定すると、この
黒点はハーフミラー17及び孔あきミラー6の中
心孔を通り、結像レンズ9により20で示す像面
に結像する。したがつて、本考案においては、こ
の像面20に遮光マスク21を配置する。この遮
光マスク21の大きさは、従来対物レンズ8の後
面に設けられていた黒点8aの大きさに、結像レ
ンズ9の拡大倍率を乗じた大きさとすればよい。
この配置によれば、対物レンズ後面の黒点と同
様に有害光線の遮断効果が得られると同時に、注
視目標の投影光路に黒点等の遮光物がないので、
遠方注視の障害が完全に除かれる。
様に有害光線の遮断効果が得られると同時に、注
視目標の投影光路に黒点等の遮光物がないので、
遠方注視の障害が完全に除かれる。
図面は本考案の実施例を示すアイレフラクトメ
ーターの光学系の概略図である。 8……対物レンズ、9……結像レンズ、14…
…注視目標、20……像面、21……遮光マス
ク。
ーターの光学系の概略図である。 8……対物レンズ、9……結像レンズ、14…
…注視目標、20……像面、21……遮光マス
ク。
Claims (1)
- 測定用ターゲツトを対物レンズを通して被検眼
眼底に投影するためのターゲツト投影系と、眼底
のターゲツト像を前記対物レンズ及び結像レンズ
を通して結像する測定光学系と、遠方注視目標を
前記対物レンズを通して被検眼に投影する注視目
標系とを包含するアイレフラクトメーターにおい
て、前記ターゲツト投影系には、被検眼の瞳と対
物レンズに関してほぼ共役な位置に照明絞りを有
し、前記観察光学系の光軸上に前記照明絞りの対
物レンズ前面による反射像と前記結像レンズに関
してほぼ共役な位置に有害光線遮断用の遮光マス
クを配置したことを特徴とするアイレフラクトメ
ーター。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6721678U JPS6130641Y2 (ja) | 1978-05-18 | 1978-05-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6721678U JPS6130641Y2 (ja) | 1978-05-18 | 1978-05-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54168795U JPS54168795U (ja) | 1979-11-28 |
| JPS6130641Y2 true JPS6130641Y2 (ja) | 1986-09-08 |
Family
ID=28973964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6721678U Expired JPS6130641Y2 (ja) | 1978-05-18 | 1978-05-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6130641Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016028687A (ja) * | 2014-07-23 | 2016-03-03 | 株式会社ニデック | 走査型レーザー検眼鏡 |
-
1978
- 1978-05-18 JP JP6721678U patent/JPS6130641Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54168795U (ja) | 1979-11-28 |
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