JPS6134417A

JPS6134417A - 開ル−プレ−ザジャイロ

Info

Publication number: JPS6134417A
Application number: JP9077585A
Authority: JP
Inventors: アンソニー・ダブリユ・ローレンス; ジヨン・アール・ハービスト; テイモシー・ウイリアムス
Original assignee: Northrop Grumman Corp
Current assignee: Northrop Grumman Corp
Priority date: 1984-04-25
Filing date: 1985-04-25
Publication date: 1986-02-18
Also published as: FR2563623B1; DE3500633A1; US4674881A; GB2157823B; JPH047929B2; GB8500522D0; GB2157823A; FR2563623A1; DE3500633C2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は角速度の検出装置に係り、特に開ループレーザ
ジャイロに関する。

−［発明の技術的背景とその問題点］一般に、レーザジャイロは互いに反対方向に進む光をリ
ング共振器に入射するようレーザを配置することによっ
て動作する波長の整数倍がリング共振器に適合するよう
な周波数を入射光が有すれば、そのリングは共振する。

リングが角速度を持つと１回転方向に放射線の進行する
みかけの路長はその逆方向に進行するそれよりも長くな
る。みかけの路長の変化は共振状態を乱す。この共振状
態はリングに入射する光の周波数を変えるこ、とにより
再確立することができる。共振状態の再確立に必要な周
波数の変化によってリングの角速度が割り出される。

閉ループレーザジャイロにおいては、リングに入射する
光の周波数をしばしば音響光学周波数シフターを用いて
変えることによって、リングを共振状態に維持する。こ
のようなジャイロはリングの回転中、共振器を共振状態
に維持するために入射波数が変化するという意味で閉ル
ープである。

このような閉ループレーザジャイロの一つが米国特許Ｎ
ｏ、４，３２６，８０３に開示されている。このジャイ
ロは、レーザ及びリング共振器の外に一対の周波数シフ
タが必要であり、このことはコストを上げ、かつ複雑に
するという欠点を有する。

［発明の目的］本発明の目的は、周波数シフタを必要としない開ループ
レーザジャイロを提供することである。

更に本発明の目的は、先行技術のものよりも簡単で実際
に経済的なレーザジャイロスコープを提供することであ
る。

更に本発明のもう一つの目的は、薄膜技術を用いて行な
われうるレーザジャイロスコープを提供することである
。

［発明の概要］本発明の開ループレーザジャイロは、一つのレーザと一
つの共振器を有する。このレーザからの互いに反対方向
に進行する光線を共振器に入射させる結合装置も設けら
れる。レーザの周波数は、共振器の共振周波数の上下に
一定レベル、即ちｄＣに重ねたステップで走査され、ス
テップ時に互いに反対方向に進行する光の一方の強度が
検出される。ステップ走査中の検出光の強度の差を測定
するための装置も設けられる。この差を感知する電子装
置はステップ走査のｄｃレベルを変えて差をゼロにもっ
ていくために用いられる。ついで互いに反対方向に進行
するもう一方の光の強度がステップ走査中に検出され、
三の強度差が測定される。この差がジャイロの回転速度
を表わす。

一つの好ましい実施例においては、共振器にレーザから
の互Ｊ、に反対方向に進行する光線を入射させるために
第−及び第二の入力導波路カプラが用いられる。この実
施例においては、ステップ走査中の一方の入力カプラの
光強度を検出する装置も用いられる。強度の差が測定さ
れ、その差に感応して、ステップ走査のｄｃレベルを変
えて、その差を０に持っていく電子装置も用いられる。

もう一つの入力カプラにおける光強度もステップ走査中
検出され、その強度差がジャイロの回転速度を表わす。

［発明の実施例］まず、ここに開示するレーザジャイロの動作理論を第１
．２及び３図を参照しながら説明する。

第３図におけるリング共振器１０の中の光の強度は、共
振器１０の共振波数ｆｏの関数である光周波数を共振器
の線幅ｒに依存する。第１図に示すように、最大強度工
。は共振器１０中を進行する光の周波数が周波数ｆ。の
とき得られる。周波数が共振周波数ｆｏから離れるに従
って、強度は急速に降下する。特に共振付近において導
波路振器ｌＯ中の強度と入力強度との関係は次式によっ
て与えられる。

ガンマは線幅すなわち第１図の曲線のＩ”Ｉｏ／２の強
度における幅である。周波数に関する■の導関数は次式
によって与えられる。

最大勾配は３７４強度点において得られ、次式で与えら
れる。

このように、勾配が最大となる３／４強度点において、
小さな周波数変化が共振器１０中の光の強度の大きな変
化をひき起す。この小さな周波数変化に対する強度の感
度を利用することによって開ループレーザジャイロが形
成される。　　　　。

次に小さな周波数変化によってもたらされる強度変化を
用いる方法を第２図を基に説明する。第１図に示すよう
に、曲線Ｉ２は周波数の関数として導波路共振器１０中
の光の強度をプロットしたものである。第３図のレーザ
１４のようなレーザの周波数が第２図の曲線１６に示す
ように変化すると、リング共振器１０中の光の強度も変
化する。

特に、レーザ１４は、インターバルＴ１の時、周波数ｆ
ｏ以下の周波数で動作し、インターバル１゛２の時はｆ
ｏより大きい周波数で動作して、それは図示するように
交互に連続する。この交互ステップ状の曲線１６は第２
図で偏り（ｏｆｆｓｅｔ）で表わされるｄｃレベルを有
する。レーザがｆ。以下の周波数で動作する時間Ｔ１で
は、導波路共振器ＩＯ中の強度は曲線１２と直線１８の
交点２０によって表わされる。同様にインターバルＴ２
では導波路共振器１０内の強度は曲線１２と直線２２の
交点２４で決定される。このように、インターバルＴユ
では共振器１０中の強度は点２０で表わされる値を持ち
、時間Ｔ２では点２４で表わされる値を持つ。曲線１６
のｄｅレベル、すなわち、第２図に示す偏りがｆθ以上
及びｆＯ以下のレーザ周波数を変えることによって０に
近づくと、点２０は地点２６に向けて上方に移動し、点
２４は地点２８に向けて下方に移動する。曲線１２が対
称のため、地点２６と２８は同じ強度にある。

次に、前述の理論がレーザジャイロにいかに利用されて
いるかを示すために第３図のレーザジャイロ３０につい
て説明する。レーザジャイロ３０は、導波路共振器１０
とレーザ１４、好ましくはガリウム・アルミニウム・ヒ
素ダイオードレーザを有する。ダイオードレーザ１４の
出力は入力導波路カプラ３２に沿って進行する。この導
波路カプラ３２は第２の入力導波路カプラ３４に近接し
て配置される。エバネッセント結合のメカニズムによっ
て、導波路３２を進行する光は導波路３４に伝播する。

導波路３２及び３４はレーザダイオード１４からの光エ
ネルギーの約半分が入力カプラ３２を進行し、もう半分
の光エネルギーが入力カプラ３４を進行するように配置
される。エネルギーが手早に分けられるため、導波路カ
プラ３２及び３４は、３デシベルカプラによって結合さ
れていると考えられる。さしあたり、光が入力カプラ３
４を進行しているとして、再びエバネッセント結合のメ
カニズムにより、導波路３４中を進行する光は地点３６
で導波路共振器１０に伝播する。

この光は導波路共振器１０を時計回りに進行する。

出力カプラ３８もまた、導波路共振器１０を時計回りに
進行する光が出力カプラ３８に伝播し、検出器４０によ
って検出されうるように導波路共振器ＩＯに結合される
。

覚えておくべき重要なことはレーザー４が、第２図に示
すように、導波路共振器１０の共振周波数ｆ、の上及び
下に周波数を変化させて動作することである。従って時
間Ｔ１では、検出器４０はレーザー４が共振周波数ｆＯ
以下で動作する時の導波路共振器中の光の強度を検出す
る。同様に、時間Ｔ２では、検出器４０はレーザ周波数
がｆＯ以上の時の共振器中の強度を検出する。第２図Ａ
に示すように、検出器４０の出力は時間ＴＩではスイッ
チ４４によってサンプルホールド素子４２に接続され、
時間Ｔ２ではサンプルホールド素子４６に接続されて、
２つの信号の差が差動回路（ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ　ｎ
ｅｔｗｏｒｋ）　４８によって計算される。

この差動回路４８からの出力は第３図に示すように、サ
ーボ増幅器５２への第１人力５０となる。

サーボ□増幅器５２への他の入力５４は、レーザダイオ
ード１４の強度をモニターする検出器５６からの出力で
ある。このように、信号５０はレーザダイオード１４の
出力に関して規格化される。サーボ増幅器５２の出力は
このような正規化信号５８となり、第２図の曲線１６で
示される交互ステップのｄｃレベルを変えるために用い
られる。

仮りにレーザジャイロ３０が第３図の平面で角速度を持
つと、導波路共振器１０における見掛けの路長は回転速
度のために変化する。この路長の変化が共振状態をｆＯ
からずらして乱す。ついで上述の制御体系は曲線１６の
ステップのｄｃレベルを変えて点２０と２４（第２図）
を新しい共振周、波数に合うよう移動させる。ここで、
入力カプラ３２中を連行する光を考えると、この光は地
点６０において導波路共振器１０に伝播し反時計回すに
進行する。この反時計回りに進行した光は出力カプラ３
８に伝播し検出器６２によって検出される。ジャイロ３
０が回転しているために、共振状態はこの反時計回りに
進む光に対しても異なり、そのことが回転速度の測定を
可能にする。検出器６２の出力は第２図Ａに示すような
方法でサンプリングされ、第２サーボ増幅器６６の入力
６４となる。サーボ増幅器６６へのもう一つの入力６８
は検出器５６からの出力である。サーボ増幅器６６の出
力はこのように規格化された差信号であり、時間ＴＩと
Ｔ２における反時計回りに進行する光の強度差を表わす
。この差がレーザジャイロ３０の角速度を示す。

また第３図において、レーザダイオード１４はペルチェ
冷却器のような熱電装置７０に取付けられ、でいる。こ
の熱電装置７０はレーザ１４の温度の計測する装置を有
し、この温度測定信号はサーボ増幅器７２の入力となり
、このサーボ増幅器７２は閉ループ形式に作用して、レ
ーザダイオード１４を一定温度に保持する。この温度サ
ーボはし−ザタイオード１４の縦モード変化（モードホ
ッピング）を防ぐために必要である。

第２図Ａに示した復調器は他の構造、例えばデジタル式
に、検出器信号によって駆動する電圧−周波数変換器を
用いることもできる。その場合、電圧−周波数出力はア
ップ・ダウンカウンタにおいて、Ｔ１．Ｔ２で機数され
る。その計数値は正確にカウントされ、積算誤差信号で
ある。第３図に示す３カプラレーザジヤイロ３０は公知
の２カブラレーザジヤイロよりも有利である。それは、
レーザと入力カプラとの間に周波数シフタがないため、
レーザに接続される共振ループ又は共振空胴の問題が除
去されるからである。すなわち、この装置は個々に分離
される。

第３図のレーザジャイロ３０は、検出器４０及び６２に
おいてファプリーペロ透過信号（ｔｒａｎｓ　−ｍｉｔ
ｔｅｄ　Ｆａｂｒｙ−Ｐｅｒｏｔ＋ｓｉｇｎａ１ｇ）を
用いている点で″直接的（ダイレクト）″と考えられる
。その信号は第１図及び第２図に示すように共振でピー
クに達する。検出器４０及び６２で感知した信号が共振
でピークに達すると、入力カプラ３２と３４での光強度
は共振状態で実質的に全光エネルギーが導波路共振器１
０中にあるので、最小になる。このことは第４図を用い
て次に説明するように′″逆（インバース）″操作を３
暗示する。開ループ薄膜レーザジャイロ８０はリング導
波路共振器８２とレーザダイオード８４を有する。一対
の入力力プラ８６と８８はレーザダイオード８４から導
波路共振器８２へ光エネルグーを伝達するために設置さ
れている。第３図の実施例と同様に、入力カプラ８６．
８８はレーザダイオード８４からのエネルギーのほぼ半
分が入力カプラ８Ｇに進行し、残りの半分が入力カプラ
８８に進行するように配置される。カプラ８６．８８は
導波路共振器８２に光が伝播するように導波路共振器に
対し配置される。入力カプラ８８の末端は検出器９０に
接続〆され、入力カプラ８６の末端は検出器９２に接続される
。レーザダイオード８４はレーザダイオードの温度を制
御する熱電装置９４に取付けられている。検出器９６は
第３図の実施例と同様に、規格化用のレーザダイオード
８４の出力をモニタするために設けられている。第２図
及び第３図に示した実施例と同様なステップ形でレーザ
ダイオード８４は動作する。しかしこの場合、検出器９
０からの出力はレーザダイオード８４の出力のｄｃレベ
ルを変えるために利用される。もちろん、検出器９０に
おける信号は、第２図に示した波形１２とは逆である。

すなわち、導波路共振器８２が共振状態になると、検出
器９０は最小値を示す。

従って、レーザジャイロ８０が角速度を持つと、サーボ
増幅器９８は周波数のステップ変化のｄｃレベルを調整
して時計回り番；進む光をリング共振状態に合致するよ
う維持する。次に検出器９２はジャイロ８０の角速度を
表わす信号を検出する。

注意すべきは、第４図の実施例は第３図の実施例におけ
るような出力カプラを必要とせず、そのため、より簡単
で製造コストが安いことである。

第５図は第３図及び第４図に示すような′″直接的″′
ジャイロと′逆の″ジャイロを組合せた本発明の一実施
例を示す。

それぞれ独立して発生するので、レーザジャイロ１００
の感度を改善するために結合することができる。明らか
なように、この実施例は規格化用のレーザ出力を検出す
る検出器の必要がない。本実施例はまた、ディファレン
シャル（差動）強度□のゆらぎの結果生ずるにせの速度
信号を除去する。

このレーザジャイロ１００は熱電装置１０４に取付けら
れたレーザダイオード１０２を有する。熱電装置１０４
は一般に１０６で示す温度サーボによって制御される。

レーザダイオード１０２は入力カプラ１０８，１１０に
進行する光を発生する、入力カプラ１０８．１１０は導
波路共振器１１２に光が伝播するように配置される。入
力カプラ１０８．１１０の末端はそれぞれ検出器１１４
，１１６と接続される。出力カプラ１１８の両端は検出
器１２０、ｌ　２’２と接続される。

次にレーザジャイロ１０６の制作について説明する。入
力カプラ１０８を進行する光は導波路共振器１１２にエ
バネッセント結合され、時計回りに進行する光線を発生
する。この時計回りに進む光は出力カプラ１１８に伝播
し検出器１２０によって検出される。検出器１２０の出
力は、入力カプラ１０８の光エネルギーに感応する検出
器１１４の出力と比較される。サーボ増幅器１２４は、
第３図の実施例で述べたと同様のやり方で、レーザダイ
オード１０２の周波数ステップのｄｃレベルを制御する
誤差信号を発生する。従って、レーザ出力のステップ波
形のｄｃレベルは導波路共振器１１２の共振状態に合う
よう調整される。反時計回りの光線に感応する検出器１
２２の出力は演算増幅器１２６における検出器１１６の
出力と比較され、演算増幅器１２６の出力はレーザジャ
イロ１００の角速度を示す。ジャイロ１００は感度がよ
り高く、規格化検出器の必要がない。

３．４．５図のレーザジャイロでは、ピークからピーク
までのレーザ周一数のゆれ又はステップが第１図に示す
ような最大値の３／４の強度点での共振器線の幅に等し
いとき、最大の感度が得られる。それは次式で与えられ
る。

ここで、ｄは導波路共振器の直径、ｎは共振器の有効屈
折率、λは波長、Ωは角速度である。上式から直径１イ
ンチの共振器は、波長が８０Ｏｎ＋ｎにおいて、０．１
°／ｓｅｅ／ｍＷの分解能を有することがわかる。その
分解能はショットノイズによって制限される。このよう
な共振器の線幅はおよそ８０メガヘルツである。このよ
うなジャイロでは、速度感度は次のような値となる。

角速度が±１０００°／ｓｅＣ，では、強度変化はおよ
そ０．０１であり、それは出力曲線においてわずかのず
れにすぎない。３／４の強度点では、リング共振器の幅
は２４メガヘルツであり、それ故レーザダイオードへの
入力として必要な電流のゆらぎは０　、０　＋、　　　
　　　。

６ミリアンペアの範囲内にあり、それは実行可能である
。

第６図は、上述の薄膜レーザダイオードの一つの可能な
構造である。ジャイロ１５０は基板としてガラス板１５
２を用いる。このガラス板１５２は例えば１７８インチ
の厚さであるが、もっと薄くともよい。ジャイ０．１５
・０は導、波路共振器１５４、任意の出力導波路カプラ
１５６、及び入力カプラ導波路１５８．１６０を有する
。これらのすべての導波路はイオン注入された、又はイ
オン交換された（ガラス中の銀）光固定（ｐｈｏｔｏｌ
ｏｃｋｅｄ）ポリマーである。これらの導波路は０．８
４ミクロンの波長で典型的に深さ１〜２ミクロン、幅５
〜１０ミクロンであるこのジャイロ１５０の構造の利点
は、一つの端辺１６２だけ構成要素を取付けるために研
摩すればよいことである。レーザ１６４は好ましくはガ
リウム・アルミニウム・ヒ素レーザである。ガリウム・
インジウム・ヒ素・リンレーザもまた１、３ミクロンの
操作では使用される。直接検出器１６６．１６８及びイ
ンバース検出器１７０．１７２も前述の研摩された端辺
１６２に取付けられる。こられの検出器は０．８４ミク
ロンの使用に対してシリコン検出器が好ましぐ、より長
い波長が用いられるときは他の検出器を使用すべきであ
る。

すべての電子部品がこの単一の研摩された端辺１６２に
配置された簡単なアセンブリであるため、このレーザジ
ャイロは比較的コストが低い。

薄膜レーザジャイロスコープのもう一つの実施例を第７
図に示す。ジャイロ２００はリング共振器２０２とレー
ザ２０４を有する。カプラ２０６．２０８はそれぞれ共
振器２０２へ光を結合させるよう及び共振器２０２から
光を受取れるよう配置される。レーザ２０４の光をカプ
ラ２０６又はカプラ２０８のいずれか一方に選んで光を
伝播させるための電気光学スイッチ２１０が設けられる
。

このように、前述した実施例で示したような二つのカプ
ラに半分づつエネルギーが分配されるのではなくて、レ
ーザ２０４からの全エネルギーが二つのカプラのうちの
いずれか一方に伝達される。

次に、ジャイロ２００の動作について説明する。

電子光学スイット２１０がレーザ２０４からの光がカプ
ラ２０８に伝達されるような状態にあるとすると、この
光は次に共振器２０２に伝播して反時計回りに進行する
。この光はついで、カプラ２０６に伝播してダイレクト
検出器２１２によって検出される。インバース信号は検
出器２１４で検出される。同様に、スイッチ２１０は他
方の状態にあるときは、光はカプラ２０６から共振器に
伝播して時計回りに進行する。この光はカプラ２０８に
伝播してダイレクト検出器２１６によって検出される。

またインバース検出器２１８も設けられている。これら
の検出器の出力は他の実施例で既に説明したように角速
度を推定するのに用いられる。

第８図は″インバース”動作の薄膜オープンループレー
ザジャイロのもう一つの実施例を示す。レーザジャイロ
３００はガラス基板３０２を有し、このガラス基板３０
２は、リング遜波路共振器３０４と入力カプラ３０６．
３０８を有し、導波路３０６．３０８における強度にそ
れぞれ応答する検出器３１０．３１２が設置されている
。レーザダイオード３１４はカプラ３０６．３０８にエ
ネルギーを入射する。ジャイロ３００は第４図の″イン
バース″ジャイロと同様に動作する。電子光学スイッチ
又は３デシパルスプリッタ−３１６がレーザ３１４から
のエネルギーをカプラ３０６．３０８に配分する。

第９図は本発明のオープンループ薄膜レーザジャイロの
更にもう一つの実施例を示す。薄膜レーザジャイロ４０
０はリング導波路共振器４０２と入力カプラ４０４を有
し、入力カプラ４０４の両端は検出器４０６．４０８に
接続されて電子光学スイッチ４１０によってレーザダイ
オード４１２からの光がカプラ４０４の一方又は他方に
伝達される。このように一つの状態では電子光学スイッ
チ４１０はレーザ４１２からの光をカプラ４０４の右手
側部分に入違させると、光はリング共振器４０−２に伝
播して時計回りに進行する。電子光学スイッチが他の状
態にあるときは、反時計回りに進行する光が導波路共振
器４０２に入射される。

″インバース″検出器４０６，４０８は第４図です　　
　　　　　、ｉでに述べたようにジャイロ４００の速度
を測定するために用いられる。この動作モードの利点は
、多数あるが、第一に、循環する光のフィードバックか
らレーザが絶縁されていること、第二に検出器が後方散
乱する光から絶縁されていることである。

以上の説明から明らかなように、本発明の目的は角速度
に応答する薄膜オープンループレーザジャイロ装置が開
示されることによって達成される。

［発明の効果］以上述べたように本発明のレーザジャイロはリング共振
器の共振周波数の上下にレーザダイオードの周波数を走
査させるという独特の体系を用い、角速度を決定する復
調技法を使用する。本発明のジャイロは閉ループレーザ
ジャイロでは公知の周波数シフターを必要としない。こ
のように本発明によればレーザジャイロは先行技術のも
のよりも実質的に簡単な構造でありより低源である。さ
らに、″インバース″動作の実施例では出力カプラが必
要ない。本発明の修正や変形は当分野の技術者にとって
は当然起こり得るが、このようなすべての修正及び変形
は添付の特許請求の範囲に含まれるものとする。

【図面の簡単な説明】第１図はリング共振器における周波数対強度のグラフで
ある。第２図はここに開示したレーザ走査をグラフ的に図示し
たものである。第２図Ａは第２図の走査による強度の差を求める一つの
方法を示す概略図である。第３図は本発明のレーザジャイロの一実施例を概略的に
図示したものである。第４図は逆作動のレーザジャイロを概略的に図示したも
のである。第５図はダイレクト及びインバースの両動作のレーザジ
ャイロの概略図である。第６図は本発明のレーザジャイロの実施構成図である。第７図は一つのスイッチ入を用いたレーザジャイロの一
実施例を図示したものである。第８図は強度規格化の必要のないレーザジャイロの一実
施例を示したものである。第９図は一つの電子光学的カプラ／スイッチを用いた開
ループレーザジャイロの他の実施例を示したものである
。１０．８２．１１２．１５４．２０２．３０４．４０２
・・・・・共振器１２・・・・・・・・・・共振器中の
強度−周波数曲線１４．８４．１０２．１６４，２０４
．３１４．４１２・・・・・レーザ（ダイオード）１６・・・・・・・・・・レーザの周波数曲線３０．１
００．１５０．２００．３００，４００・・・レーザジ
ャイロ３２．３４．８６．８８．１０８．１１０．１５
８，１６０．３０６，３０８．４０４・・・・・・・・
・入力カプラ３８．１１８．１５６・・・・・・・・・・・・・・・
・・・出力カプラ４０．５６．６２．９０．９２．９６
．１１４．１１６．１２０．１２２．１６６．１６８．
１７０．１７２．２１２，２１４．２１６．２１８．３
１０．３１２．４０６．４０８・・、、・・・・・・・
・検出器□ ４２．４６・・・・・・・・・サンプル・ホールド素子
５２．６６．７２．９８．１２４，１２６・・・・自サ
ーボ増幅器７０．９４．１０４・・・・熱電装置８０・・・・・・・・・・・・・開ループ薄膜ジャイロ
１５２．３０２・・・・・・・ガラス板２０６．２０８
・・・・・・・カプラ２１０．４１０・・・・・・・電気光学スイッチ代理人
　弁理士　　守　谷　−雄 ■検出器スイッチ手続補正書彷式）昭和６０年８月２９日特願昭６０−９０７７５号２、発明の名称開ループレーザジャイロ３、補正をする者事件との関係　　特許出願人ノースロップ・コーポレーション４、代理人　〒１０３東京都中央区日本橋本町３−９−５５、補正命令の日付昭和６０年７月３０日（発送日）６、補正の対象

Claims

【特許請求の範囲】１、レーザと、リング共振器と、前記レーザから前記共
振器に互いに反対方向に進行する光ビームを結合する手
段と、前記レーザの周波数を一定レベル変位させた状態
で、前記共振器の共振周波数の上下に亘って走査させる
手段と、前記の変位状態で前記の互いに反対方向に進行
する光の中の一方の光強度を検出する手段と、前記の変
位状態で検出した光の強度の第１の差を測定する手段と
、前記第１の光強度の差をゼロにするよう前記変位の一
定レベルを変えるために、検出された光強度の前記第１
の差に応答する手段と、前記の変位状態で前記互いに反
対方向に進行する光の中の他方の光強度を検出する手段
と、ジャイロの回転速度を示す、前記互いに反対方向に
進行する光の他方の変位状態での強度の第２の差を測定
する手段とから成ることを特徴とする開ループレーザジ
ャイロ。２、前記の変位状態で前記検出光の第１及び第２の強度
差を測定する手段が、一対のサンプル・ホールド素子か
ら成る特許請求の範囲第１項記載の開ループレーザジャ
イロ。３、前記の変位状態で検出光の前記第１及び第２の強度
差を測定する手段が、検出信号によって駆動される電圧
／周波数変換器から成り、この電圧／周波数変換出力が
アップダウンカウンタにおいて計数される特許請求の範
囲第１項記載の開ループレーザジャイロ。４、２つの入力カプラと１つの出力カプラとを備えて成
る特許請求の範囲第１項記載の開ループレーザジャイロ
。５、前記レーザ及び前記互いに反対方向に進行する光の
強度を検出する検出器を取付けるための一つの研摩され
た端面を有する基板を備えた特許請求の範囲第１項記載
の開ループレーザジャイロ。６、前記変位は最大強度の３／４の点における共振器線
の幅と同一である特許請求の範囲第１項記載の開ループ
レーザジャイロ。７、前記レーザはガリウム・アルミニウム・ヒ素化合物
レーザである特許請求の範囲第１項記載の開ループレー
ザジャイロ。８、前記検出器はシリコン検出器である特許請求の範囲
第１項記載の開ループレーザジャイロ。９、前記レーザはガリウム・インジウム・ヒ素化合物・
リンレーザである特許請求の範囲第１項記載の開ループ
レーザジャイロ。１０、前記レーザの温度を制御する熱電装置を備えて成
る特許請求の範囲第１項記載の開ループレーザジャイロ
。１１、レーザと、リング共振器と、前記レーザから前記
共振器へ互いに反対方向に進行する光を結合する第１及
び第２の入力導波路カプラと、一定レベル変位させた状
態で、前記共振器の共振周波数の上下に亘って前記レー
ザの周波数を走査する手段と、前記の変位状態で前記入
力カプラの中の一方の光の強度を検出する手段と、前記
の変位状態で前記一方の入力カプラの検出光の第１の強
度差を測定する手段と、前記第１の強度差をゼロにする
ように前記変位状態のレベルを変えるために、前記第１
の強度差に応答する手段と、前記変位状態で前記入力カ
プラの中の他方の光強度を検出する手段と、ジャイロの
回転速度を示す、前記の変位状態で前記入力カプラの他
方の光の第２の強度差を測定する手段とから成ることを
特徴とする開レープレーザジャイロ。１２、レーザと、リング共振器と、前記レーザから前記
共振器へ互いに反対方向に進行する光を結合する第１及
び第２の入力導波路カプラと、一つの出力カプラと、一
定レベル変位させた状態で前記共振器の共振周波数の上
下に亘って、前記レーザの周波数を走査させる手段と、
前記の変位状態で前記入力カプラの一方の光強度を検出
し、前記出力カプラの光強度を検出する手段と、前記の
変位状態で前記一方の入力カプラ及び前記出力カプラに
おける検出光の第１の強度差を測定する手段と、前記第
１の強度差をゼロにするように前記の変位レベルを変え
るために、前記第１の強度差に応答する手段と、前記の
変位状態で前記入力カプラの他方の光強度を検出し、前
記出力カプラの光強度を測定する手段と、ジャイロの回
転速度を示す、前記の変位状態で前記他方の入力カプラ
及び前記出力カプラにおける光の第２の強度差を測定す
る手段とから成ることを特徴とする開ループレーザジャ
イロ。