JPS6135351A - 溶接部等の超音波探傷方法 - Google Patents
溶接部等の超音波探傷方法Info
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- JPS6135351A JPS6135351A JP15815784A JP15815784A JPS6135351A JP S6135351 A JPS6135351 A JP S6135351A JP 15815784 A JP15815784 A JP 15815784A JP 15815784 A JP15815784 A JP 15815784A JP S6135351 A JPS6135351 A JP S6135351A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、溶接部等の超音波探傷方法に係り、特に探傷
における平面投影図の検出点の分布等を最小自乗法、標
準偏差等の統計的手法により処理して異常を判別する超
音波探傷方法に関するものである。
における平面投影図の検出点の分布等を最小自乗法、標
準偏差等の統計的手法により処理して異常を判別する超
音波探傷方法に関するものである。
「従来の技術」
従来、超音波探傷方法は、金属材料の溶接部等における
異常を検出する手法として広く適用されている。その手
法について、−例を説明すると、第８図に示すような溶
接部Ａがあるとき、超音波探触子Ｂより超音波ビームＣ
を発生させて、咳超音波ビームＣの路程における伝達条
件の変化に基づく検出点（以下指示という）をＸ方向及
びＹ方向について検出し、該指示により例えば第３図に
示すような平面投影図を作画して、欠陥の位置を判別す
るようにしている。
異常を検出する手法として広く適用されている。その手
法について、−例を説明すると、第８図に示すような溶
接部Ａがあるとき、超音波探触子Ｂより超音波ビームＣ
を発生させて、咳超音波ビームＣの路程における伝達条
件の変化に基づく検出点（以下指示という）をＸ方向及
びＹ方向について検出し、該指示により例えば第３図に
示すような平面投影図を作画して、欠陥の位置を判別す
るようにしている。
「発明が解決しようとする問題点」
しかしながら、第８図において、溶接部Ａの開先合わせ
の部分等には、溶接時に溶接材あるいは母材等の溶融金
属が垂れること等に起因して、超音波ビームＣが反射す
る部分Ｄ （以下裏波発生部りという）が、断続的にあ
るいは連続的に存在することが多い。このような裏波発
生部りの付近に欠陥Ｅがある場合や、裏波発生部りが断
続している間に欠陥Ｅがある場合には、前記平面投影図
を作画しても、第９図のように、裏波発生部りと欠陥Ｅ
とのエコーが接近する等により、その判別が困難なもの
となる。本発明は、このような問題点を解決して、超音
波探傷における精度を向上させることができるとともに
、溶接中心線を求めることにも応用可能である等の用途
範囲の広い超音波探傷方法の提供を目的とするものであ
る。
の部分等には、溶接時に溶接材あるいは母材等の溶融金
属が垂れること等に起因して、超音波ビームＣが反射す
る部分Ｄ （以下裏波発生部りという）が、断続的にあ
るいは連続的に存在することが多い。このような裏波発
生部りの付近に欠陥Ｅがある場合や、裏波発生部りが断
続している間に欠陥Ｅがある場合には、前記平面投影図
を作画しても、第９図のように、裏波発生部りと欠陥Ｅ
とのエコーが接近する等により、その判別が困難なもの
となる。本発明は、このような問題点を解決して、超音
波探傷における精度を向上させることができるとともに
、溶接中心線を求めることにも応用可能である等の用途
範囲の広い超音波探傷方法の提供を目的とするものであ
る。
「問題点を解決するための手段」
本発明は、このような目的を達成するための２つの方法
を提案するもので、第１の発明は、第１図のＳｌの如く
平面投影図において出力させた超音波探傷データの各指
示位置について、Ｓ２の如く最小自乗法により分布の中
心線を求め、次いでＳ３の如く該中心線に対する各指示
の標準偏差を求め、Ｓ４のように該標準偏差の大小を判
別することを特徴とするものであり、第２の発明は、第
１の発明の８３の次ぎに、第１図の８５に示す如く各部
分におけろ指示の小エリア標準偏差を求めるとともに、
さらに、Ｓ６のように該小エリア標準偏差及び中心線と
、全体の標準偏差及び中心線との差を算出する技術構成
を加えて判別することを特徴とするものである。
を提案するもので、第１の発明は、第１図のＳｌの如く
平面投影図において出力させた超音波探傷データの各指
示位置について、Ｓ２の如く最小自乗法により分布の中
心線を求め、次いでＳ３の如く該中心線に対する各指示
の標準偏差を求め、Ｓ４のように該標準偏差の大小を判
別することを特徴とするものであり、第２の発明は、第
１の発明の８３の次ぎに、第１図の８５に示す如く各部
分におけろ指示の小エリア標準偏差を求めるとともに、
さらに、Ｓ６のように該小エリア標準偏差及び中心線と
、全体の標準偏差及び中心線との差を算出する技術構成
を加えて判別することを特徴とするものである。
「実施例」
以下、本発明の一実施例を第２図ないし第７図に基づき
説明すると、平面投影図を作図する際に、第２図に示す
ように解析範囲にウィンドウＷをかけて、解析範囲外の
影響を除去するようにするとともに、第３図に示すよう
に、平面投影図において出力させた超音波探傷データの
各指示位置について、最小自乗法により第４図に示すよ
うに、各指示位置の分布の中心線Ｆを求め、次いで、第
５図に示すように、中心線Ｆに対する全部の指示の標準
偏差σ１を求める。この標準偏差σ１が異常に大きけれ
ば（例えば従来の類似データ等と比較＝３＝ して大差があるとき）、多数の欠陥Ｅが発生している可
能性がある。
説明すると、平面投影図を作図する際に、第２図に示す
ように解析範囲にウィンドウＷをかけて、解析範囲外の
影響を除去するようにするとともに、第３図に示すよう
に、平面投影図において出力させた超音波探傷データの
各指示位置について、最小自乗法により第４図に示すよ
うに、各指示位置の分布の中心線Ｆを求め、次いで、第
５図に示すように、中心線Ｆに対する全部の指示の標準
偏差σ１を求める。この標準偏差σ１が異常に大きけれ
ば（例えば従来の類似データ等と比較＝３＝ して大差があるとき）、多数の欠陥Ｅが発生している可
能性がある。
次いで、第５図までの手法に第６図及び第７図の手法を
加えることにより、標準偏差σ１が大きくなっている部
分をさらに詳細に判別することや、特定部分を詳細に判
別することができる。即ち、第６図に示すように、全体
を小部分ΔＸに分けて、その各小部分ΔＸの指示の中心
線ｆと、この中心線ｆに対する標準偏差σ２とを求め、
第７図に示すように、中心線Ｆと中心線ｆとの差Ｇを求
めるとともに、全体の標準偏差σ１と小エリア標準偏差
σ２とを比較して、異常の判別を行なう。このとき、中
心線のずれが大きく、かつ、標準偏差の分布の形状が横
に広がっている場合は、限定された小部分ΔＸに欠陥Ｅ
が存在することになる。
加えることにより、標準偏差σ１が大きくなっている部
分をさらに詳細に判別することや、特定部分を詳細に判
別することができる。即ち、第６図に示すように、全体
を小部分ΔＸに分けて、その各小部分ΔＸの指示の中心
線ｆと、この中心線ｆに対する標準偏差σ２とを求め、
第７図に示すように、中心線Ｆと中心線ｆとの差Ｇを求
めるとともに、全体の標準偏差σ１と小エリア標準偏差
σ２とを比較して、異常の判別を行なう。このとき、中
心線のずれが大きく、かつ、標準偏差の分布の形状が横
に広がっている場合は、限定された小部分ΔＸに欠陥Ｅ
が存在することになる。
また、従来技術では、裏波発生部りが不連続である場合
、連続的で規則的な場合と比較して、欠陥Ｅの検出が困
難であったが、この場合は、第７図のように中心線Ｆが
求められているので、簡単な比較により、欠陥Ｅを判別
することができるものである。
、連続的で規則的な場合と比較して、欠陥Ｅの検出が困
難であったが、この場合は、第７図のように中心線Ｆが
求められているので、簡単な比較により、欠陥Ｅを判別
することができるものである。
なお、一実施例においては、第２図のように、ウィンド
ウＷをかけるようにしたが、解析範囲外に指示が少なく
、最小自乗法によって求める中心線に影響を与えない場
合は、ウィンドウＷを省略することもできる。
ウＷをかけるようにしたが、解析範囲外に指示が少なく
、最小自乗法によって求める中心線に影響を与えない場
合は、ウィンドウＷを省略することもできる。
「発明の効果」
このように本発明によれば、溶接部に沿って超音波ビー
ムの裏波発生部が存在することを利用して、裏波発生部
及び欠陥から発生ずる超音波探傷データの各指示位置に
ついて、最小自乗法により分布の中心線を求め、中心線
に対する各指示の標準偏差を求めて、その大小を判別す
ることにより、欠陥を検出するものであり、裏波発生部
かの存在しても、検出精度に影響を与えることが少なく
できる。また、指示の小エリア標準偏差等を求めて、こ
れらと、全体の標準偏差及び中心線との差を算出して判
別するものであるから、欠陥の検出精度をさらに高める
ことができるとともに、溶接中心線を求めることにも、
応用可能である等の用途範囲の広い超音波探傷方法の提
供をすることができる。
ムの裏波発生部が存在することを利用して、裏波発生部
及び欠陥から発生ずる超音波探傷データの各指示位置に
ついて、最小自乗法により分布の中心線を求め、中心線
に対する各指示の標準偏差を求めて、その大小を判別す
ることにより、欠陥を検出するものであり、裏波発生部
かの存在しても、検出精度に影響を与えることが少なく
できる。また、指示の小エリア標準偏差等を求めて、こ
れらと、全体の標準偏差及び中心線との差を算出して判
別するものであるから、欠陥の検出精度をさらに高める
ことができるとともに、溶接中心線を求めることにも、
応用可能である等の用途範囲の広い超音波探傷方法の提
供をすることができる。
第１図は本発明の技術構成を示すフローヂャート、第２
図ないし第７図は本発明の一実施例を示す工程説明図、
第８図は超音波探傷例の説明図、第９図は裏波エコーと
欠陥エコーとの関係説明図である。 Ａ・・・・・溶接部、Ｂ・・・・・・超音波探傷子、Ｃ
・・・・・・超音波ビーム、Ｄ ・・裏波発生部、Ｅ・
・・・・欠陥、Ｆ・・・・・中心線、ｆ・・・・・・中
心線、Ｇ・・・・・・差、Ｗ・・・・・・ウィンドウ、
ΔＸ・・・・・・小部分、σ１ ・・・・全体の標準偏
差、σ、・・・・・・小エリア標阜偏差。 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 Ｘ 第７図
図ないし第７図は本発明の一実施例を示す工程説明図、
第８図は超音波探傷例の説明図、第９図は裏波エコーと
欠陥エコーとの関係説明図である。 Ａ・・・・・溶接部、Ｂ・・・・・・超音波探傷子、Ｃ
・・・・・・超音波ビーム、Ｄ ・・裏波発生部、Ｅ・
・・・・欠陥、Ｆ・・・・・中心線、ｆ・・・・・・中
心線、Ｇ・・・・・・差、Ｗ・・・・・・ウィンドウ、
ΔＸ・・・・・・小部分、σ１ ・・・・全体の標準偏
差、σ、・・・・・・小エリア標阜偏差。 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 Ｘ 第７図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （ｉ）溶接部等における超音波ビームの裏波発生部の付
近に分布する超音波探傷データの各指示位置について、
最小自乗法により分布の中心線を求めるとともに、該中
心線に対する各指示の標準偏差を求め、該標準偏差の大
小を判別することを特徴とする溶接部等の超音波探傷方
法。 （ｉｉ）溶接部等における超音波ビームの裏波発生部の
付近に分布する超音波探傷データの各指示位置について
、最小自乗法により分布の中心線を求めるとともに、該
中心線に対する各指示の標準偏差を求め、該標準偏差及
び全体の中心と、各部分における指示の小エリア標準偏
差との差を検出することを特徴とする溶接部等の超音波
探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15815784A JPS6135351A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | 溶接部等の超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15815784A JPS6135351A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | 溶接部等の超音波探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6135351A true JPS6135351A (ja) | 1986-02-19 |
Family
ID=15665509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15815784A Pending JPS6135351A (ja) | 1984-07-28 | 1984-07-28 | 溶接部等の超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6135351A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011053188A (ja) * | 2009-09-04 | 2011-03-17 | Tokyu Car Corp | 溶接部の異常検出方法 |
-
1984
- 1984-07-28 JP JP15815784A patent/JPS6135351A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011053188A (ja) * | 2009-09-04 | 2011-03-17 | Tokyu Car Corp | 溶接部の異常検出方法 |
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