JPS6139941Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

この考案は電子測定機器類を内蔵した各種天び
んの測定精度を向上せしめるための改良に関す
る。 従来各種天びんに電子技術を応用した関連測定
機器類をその内部に組み込み、ひよう量測定の自
動化および精密化がはかられてきており、最小表
示単位が0.1mg以下にわたる高感度の天びんまで
も開発されている。しかしこのような高感度天び
んにおいてそのひよう量測定の自動化・精密化に
もかかわらず、天びんの性能に関係のない他の要
因による測定誤差、たとえば微小な空気流通によ
る測定誤差は感量が小さくなればなるほど大きな
測定誤差として現われる。殊に感量が１mg程度ま
たはそれ以下の高感度天びんにおいては、このよ
うな測定誤差は天びんの測定精度を大きく左右し
ている。従来室内の微小な空気流通、例えば外気
や測定者の呼気などに対しては、第１図に示すよ
うな風防ケース７内にさら１を収納することによ
り、外気や測定者の呼気が直接さら１に当たるこ
とを防止して測定精度を高めているが、天びん本
体内部における空気対流に関してはとかく無視さ
れがちであつた。従来測定の自動化・精密化をは
かるために、天びん本体にはコンデンサー、トラ
ンス、トランジスタ、レジスタ等からなる多くの
関連測定機器を内蔵しており、ひよう量に際して
は、これらの測定機器類は15W以上の電力を消費
することとなり、天びんの箱体内部はこの機器類
の放熱により室温に比べて５℃前後高温化され
る。この天びんに組み込まれた関連機器類の放熱
により、天びんの箱体内には気流が生じ、第１図
および第２図の矢線に示すように、上昇した気流
は軸穴を通つてさらを下部から押し上げまたは押
し下げることによつて大きな測定誤差を生むこと
となる。 この考案はこのような欠点に鑑み、さらの下方
に遮へい板を配置して、天びん本体に組み込んだ
関連測定機器類の放熱による気流からさらを保護
し、天びんの測定精度を向上せしめようとするも
のである。 次にこの考案にかかる天びんの実施例を図面に
基づいて説明する。第１図は従来の天びんの概観
を示す斜視図であり、第２図は第１図の部分断面
図である。（ここでは定感量形上さら天びんを示
している。）図中７はガラス・プラスチツクなど
の透明な風防ケースであり、前後方向にスライド
して開閉する。６はレジスタ、トランジスタ、コ
ンデンサ等を配置した基板、８はトランス、１０
は表示器、１２は電源スイツチを示している。さ
ら１は支持軸１３の上端部に固定され、更に支持
軸１３は箱体９の上板１５の軸穴２を通つて固定
部（図示せず）で支持されている。１１は被ひよ
う量物が箱体９内に入り込むことを防止する円筒
形のじやま板である。また図中の矢線は気流の経
路を示している。ひよう量に際して、箱体９に内
蔵された測定機器類は放熱し、この放熱によつて
加温された空気は上昇気流となつて箱体９内に気
流を生じ、図の矢線に示すように、更に軸穴２を
通つて上昇しさら１の下面を押しあげ、あるいは
支持軸１３に対して粘着抵抗による上向の力を発
生させることによりひよう量測定の誤差を生じ
る。また前記軸穴２を通過して上昇する気流は定
量ではなく、風防ケース７の開閉に併なう上昇気
流のみだれにより、さら１の下面に対する押し上
げや支持軸１３に対する粘着抵抗は一定しておら
ず、ひよう量表示値のバラツキを生ぜしめる。 第３図はこの考案にかかる天びんの実施の態様
を示す部分断面図である。図において遮へい板３
は倒立部分円すい形の場合を示している。この遮
へい板３はその上端部（すなわち大径部）で上板
１５に固定され、その下端部（すなわち小径部）
において支持軸１３と数ミリ以下の間隙を有して
いる。図の下方に内蔵された測定機器類（図示せ
ず）の放熱によつて生じる上昇気流は、遮へい板
３により、図の矢線に示すように、箱体９の上板
１５方向に拡散して対流し、上昇気流が直接さら
１の下面に当たつて押し上げることを防止してい
る。また遮へい板３下端部と支持軸１３との微小
な間隙から排出した微弱な気流は、図の破矢線で
示すように、上板１５の上方に拡散する。このよ
うな構成により箱体９内に組み込んだ測定機器類
の放熱によつて生ずる上昇気流が直接さら１の下
面に当たつてさら１を押し上げることにより生ず
るひよう量誤差や表示値のバラツキを大幅に解消
することが可能となる。 次に第２図に示す従来の天びんと第３図に示す
この考案とを実施した天びんとのひよう量結果を
比較した参考データを示す。このデータには感量
１mgの電磁力平衡式電上さら天びんを使用し、風
防ケース７を開閉して箱体９内から軸穴２を通過
する上昇気流を変動させた後、空掛の場合と10ｇ
の荷重物をさら１にのせた場合とを、３秒後およ
び５秒後の表示値を10回繰り返して測定し、各時
点ごとの表示値のバラツキの標準偏差を２度にわ
たつて求めたものである。

【表】 なおこのデータに於いて考案にかかる遮へい板
３の倒立部分円すい体下端部と支持軸１３との間
隙を１mmとつている。 上表からこの遮へい板３の実施によつて表示値
の安定性は２倍程度高められていることがわか
る。 第４図は同様にこの考案にかかる天びんを実施
した態様を示す部分断面図であるが、図において
はこの遮へい板が円板状の場合を示している。こ
の円板状の遮へい板５は上板１５とさら１との間
に設置され、上板１５上に脚４によつて支持され
ている。このとき遮へい板５とじやま板１１との
間隙は５mm程度であり、一方遮へい板５の小径と
支持軸１３との間隙は１mm程度であり、また遮へ
い板５の大径はさら１の径よりも十分に大きなも
のとする。図の下方に内蔵された測定機器類（図
示せず）の放熱により温められた空気は上昇気流
となつて箱体９内に生じた上昇気流は、軸穴２を
通つて上方に排出されるが、遮へい板５により図
の矢線に示すように遮へい板５の下面で水平方向
に拡散され、直接さら１の下面に当たつて押し上
げることを防止している。 この実施例においても遮へい板５の大径をさら
１の径よりも十分に大きくすれば第３図に示す倒
立部分円すい形の実施例と同程度の測定精度をう
ることが可能である。 この考案にかかる天びんは構造においてきわめ
て簡単であり、また従来の天びんにきわめて容易
に実施でき、かつ内蔵した測定機器類の放熱によ
る気流が直接さらの下面に当たつて押し上けるこ
とを防止して、測定精度を大幅に向上せしめ、ひ
よう量表示値の安定性をうることができたもので
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の天びん（電磁力平衡式電子上さ
ら天びん）の概観を示す斜視図であり、第２図は
第１図の部分断面図を示している。また第３図は
この考案にかかる天びんを実施した態様を示す部
分断面図であり、ここでは前記遮へい板の形状が
倒立部分円すい形の場合を示しており、第４図は
同様にこの考案にかかる天びんを実施した態様を
示す部分断面図であるが、ここでは前記遮へい板
の形状が円板状の場合を示している。 １……さら、６……レジスタ、トランジスタ、
コンデンサなどを配置した基板、８……トラン
ス、３，５……遮へい板。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 垂設した支持軸の上端部に固定されたさらを有
   し、そのさらの下方本体部に関連測定機器類が内
   蔵されてなる天びんにおいて、前記支持軸の外径
   寸法よりわずかに大きい内径寸法の穴を有する遮
   へい板を、その遮へい板の前記穴に前記支持軸を
   間隙を設けて挿通した状態で前記さらの下方に配
   置し固定部に取付けて、前記関連測定機器類の放
   熱により生じる気流を前記遮へい板に沿つてその
   外周方向へ導いてその気流が前記さらの下面に当
   たらないようにしたことを特徴とする天びん。