JPS6140323B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6140323B2 JPS6140323B2 JP2840280A JP2840280A JPS6140323B2 JP S6140323 B2 JPS6140323 B2 JP S6140323B2 JP 2840280 A JP2840280 A JP 2840280A JP 2840280 A JP2840280 A JP 2840280A JP S6140323 B2 JPS6140323 B2 JP S6140323B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- detection
- outputs
- digital signal
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 39
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 4
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 4
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光検出装置、詳しくは位置決め装置
等に於いて、位置信号検出器として使用される光
検出部の出力を、温度、経時変化等に対し安定化
せしめる光検出装置に関するものである。
等に於いて、位置信号検出器として使用される光
検出部の出力を、温度、経時変化等に対し安定化
せしめる光検出装置に関するものである。
一般に光検出部は発光ダイオードと受光ダイオ
ードとの組合せよりなるが、発光ダイオードの電
流を一定とした場合、数十℃の温度変化、数千時
間以上の経時変化に対して受光ダイオードの出力
は数十％変動する。ところで、サーボ制御の位置
決め装置等に於いては、光検出装置の出力電圧に
より、位置信号や速度信号を得て、これらの信号
を使つて位置や速度を制御している。斯かる位置
決め装置等に於いて、位置や速度を制御するため
に使う光検出装置の出力電圧のずれは、位置信号
や速度信号のずれとなつて現われる。このずれは
設定値と光検出部等を介して伝達される制御量の
差である制御偏差が最小になるように設計されて
いる位置決め装置等の制御系の働きを狂わせ、本
来の機能が得られなくなる。
ードとの組合せよりなるが、発光ダイオードの電
流を一定とした場合、数十℃の温度変化、数千時
間以上の経時変化に対して受光ダイオードの出力
は数十％変動する。ところで、サーボ制御の位置
決め装置等に於いては、光検出装置の出力電圧に
より、位置信号や速度信号を得て、これらの信号
を使つて位置や速度を制御している。斯かる位置
決め装置等に於いて、位置や速度を制御するため
に使う光検出装置の出力電圧のずれは、位置信号
や速度信号のずれとなつて現われる。このずれは
設定値と光検出部等を介して伝達される制御量の
差である制御偏差が最小になるように設計されて
いる位置決め装置等の制御系の働きを狂わせ、本
来の機能が得られなくなる。
本発明の目的は、上記の欠点を解決するために
なされたものであり、周囲の温度変動や光源及び
受光素子の経時変化並びに光源の発光面のよごれ
による光量の減少等に対して光検出部の出力の安
定化を図り、その光検出部を使用する位置決め装
置等が安定に働く信頼性の高い光検出装置を提供
することにある。
なされたものであり、周囲の温度変動や光源及び
受光素子の経時変化並びに光源の発光面のよごれ
による光量の減少等に対して光検出部の出力の安
定化を図り、その光検出部を使用する位置決め装
置等が安定に働く信頼性の高い光検出装置を提供
することにある。
以下本発明の第１実施例について第１図乃至第
３図を参照しながら説明する。
３図を参照しながら説明する。
第１図にはサーボ機器例えばステツプモータの
回転位置に対応した光学的な位置信号を検出する
ための光検出部１が示されている。第１図ａに於
いて、２は光源たる例えば発光ダイオード、また
３ａ，３ｂは夫々第１の受光素子たる第１の受光
ダイオード及び第２の受光素子たる第２の受光ダ
イオードであり、これらは前記発光ダイオード２
と対向して配置されている。上記各受光ダイオー
ド３ａ，３ｂはモノリシツク基板上に形成されて
モジユール化されたものであり、その構成を第１
図ｃに示す。即ち、この第１図ｃに於いて、斜線
を施した部分が各受光ダイオード３ａ，３ｂの光
検出域で、この光検出域は例えばＮ型Siのモノリ
シツク基板３上にＰ型層を拡散することによつて
形成され、両受光域の面積は同一になるように構
成されている。斯ようにモノリシツク基板３上に
形成された各受光ダイオード３ａ，３ｂはその電
気的特性が略一致したものになる。一方、４は被
検出体たる回転円板で、これはその中央部がステ
ツプモータの回転軸５にこれと一体回転するよう
に連結され、且つその周縁部が発光ダイオード２
と受光ダイオード３ａ，３ｂとの間に位置されて
いる。この回転円板４の周縁部には、第１図ｂに
示すように所定個数の光通過用スリツト６がエツ
チング手法によつて互に等間隔を存した放射状に
形成されており、この場合スリツト６並びに各ス
リツト６間に位置した光遮断部７は夫々の円周方
向の占有機械角が等しくθに設定されている。そ
して第１図ｃに示すように、２個の光検出域を有
する第１の受光ダイオード３ａは、各光検出域の
機械的占有角（但し回転円板４の回転方向の角
度）並びに光検出域に挾まれた部分の機械的占有
角が夫々前記スリツト６並びに光遮断部７の機械
的占有角θと等しくなるように形成されており、
以て各光検出域に対してスリツト６が同時に対向
し得る構成になつている。また、同じく第１図ｃ
に示すように、２個の光検出域を有する第２の受
光ダイオード３ｂは、各光検出域の機械的占有角
並びに光検出域に挾まれた部分の機械的占有角が
夫々等しくθとなるように形成されていると共
に、前記第１の受光ダイオード３ａに対して機械
角θだけ回転円板４の回転方向にずれた配置に構
成されている。従つて、光検出部１に於いて回転
円板４を回転させると、第２図ａ，ｂに示すよう
に、第１の受光ダイオード３ａから正弦波的にレ
ベル変化する第１の検出信号S1が出力され、第２
の受光ダイオード３ｂから上記検出信号S1に対し
て逆位相の第２の検出信号S2が出力される。この
ように回転円板４の回転に応じたスリツト６と各
受光ダイオード３ａ，３ｂとの重なりぐあいによ
り、入力される光の総量が変わり、第２図ａ，ｂ
に示すように正弦波状或は余弦波状に変化する出
力信号が得られるが、これらの波形を加算した加
算信号S3は、回転円板４を回転させても変化せ
ず、第２図ｃに示すように常に一定になる。
回転位置に対応した光学的な位置信号を検出する
ための光検出部１が示されている。第１図ａに於
いて、２は光源たる例えば発光ダイオード、また
３ａ，３ｂは夫々第１の受光素子たる第１の受光
ダイオード及び第２の受光素子たる第２の受光ダ
イオードであり、これらは前記発光ダイオード２
と対向して配置されている。上記各受光ダイオー
ド３ａ，３ｂはモノリシツク基板上に形成されて
モジユール化されたものであり、その構成を第１
図ｃに示す。即ち、この第１図ｃに於いて、斜線
を施した部分が各受光ダイオード３ａ，３ｂの光
検出域で、この光検出域は例えばＮ型Siのモノリ
シツク基板３上にＰ型層を拡散することによつて
形成され、両受光域の面積は同一になるように構
成されている。斯ようにモノリシツク基板３上に
形成された各受光ダイオード３ａ，３ｂはその電
気的特性が略一致したものになる。一方、４は被
検出体たる回転円板で、これはその中央部がステ
ツプモータの回転軸５にこれと一体回転するよう
に連結され、且つその周縁部が発光ダイオード２
と受光ダイオード３ａ，３ｂとの間に位置されて
いる。この回転円板４の周縁部には、第１図ｂに
示すように所定個数の光通過用スリツト６がエツ
チング手法によつて互に等間隔を存した放射状に
形成されており、この場合スリツト６並びに各ス
リツト６間に位置した光遮断部７は夫々の円周方
向の占有機械角が等しくθに設定されている。そ
して第１図ｃに示すように、２個の光検出域を有
する第１の受光ダイオード３ａは、各光検出域の
機械的占有角（但し回転円板４の回転方向の角
度）並びに光検出域に挾まれた部分の機械的占有
角が夫々前記スリツト６並びに光遮断部７の機械
的占有角θと等しくなるように形成されており、
以て各光検出域に対してスリツト６が同時に対向
し得る構成になつている。また、同じく第１図ｃ
に示すように、２個の光検出域を有する第２の受
光ダイオード３ｂは、各光検出域の機械的占有角
並びに光検出域に挾まれた部分の機械的占有角が
夫々等しくθとなるように形成されていると共
に、前記第１の受光ダイオード３ａに対して機械
角θだけ回転円板４の回転方向にずれた配置に構
成されている。従つて、光検出部１に於いて回転
円板４を回転させると、第２図ａ，ｂに示すよう
に、第１の受光ダイオード３ａから正弦波的にレ
ベル変化する第１の検出信号S1が出力され、第２
の受光ダイオード３ｂから上記検出信号S1に対し
て逆位相の第２の検出信号S2が出力される。この
ように回転円板４の回転に応じたスリツト６と各
受光ダイオード３ａ，３ｂとの重なりぐあいによ
り、入力される光の総量が変わり、第２図ａ，ｂ
に示すように正弦波状或は余弦波状に変化する出
力信号が得られるが、これらの波形を加算した加
算信号S3は、回転円板４を回転させても変化せ
ず、第２図ｃに示すように常に一定になる。
さて、第３図には光検出部１からの第１及び第
２の検出信号S1及びS2を処理するための構成が示
されている。この第３図において８は検出用の第
１のデイジタル信号D1とレベル用の第２のデイ
ジタル信号D2とを出力する検出回路で、これは
以下に述べる各機能部分から成る。即ち、９は第
１の検出信号S1を入力しこれをその信号量に応じ
た第１のデイジタル信号D1に変換して出力する
第１のＡ―Ｄ変換器、１０は第２の検出信号S2を
入力しこれをその信号量に応じた第３のデイジタ
ル信号D3に変換して出力する第２のＡ―Ｄ変換
器であり、各Ａ―Ｄ変換器９，１０の出力信号は
加算回路１１により加算されてその加算結果が第
２のデイジタル信号D2として出力される。従つ
て、第１のデイジタル信号D1は、回転円板４の
回転に応じて第２図ａに示す如くレベル変化して
位置検出用に供され、第２のデイジタル信号D2
は回転円板４の回転に拘らず第２図ｃに示す如く
一定となつてレベル用に供される。
２の検出信号S1及びS2を処理するための構成が示
されている。この第３図において８は検出用の第
１のデイジタル信号D1とレベル用の第２のデイ
ジタル信号D2とを出力する検出回路で、これは
以下に述べる各機能部分から成る。即ち、９は第
１の検出信号S1を入力しこれをその信号量に応じ
た第１のデイジタル信号D1に変換して出力する
第１のＡ―Ｄ変換器、１０は第２の検出信号S2を
入力しこれをその信号量に応じた第３のデイジタ
ル信号D3に変換して出力する第２のＡ―Ｄ変換
器であり、各Ａ―Ｄ変換器９，１０の出力信号は
加算回路１１により加算されてその加算結果が第
２のデイジタル信号D2として出力される。従つ
て、第１のデイジタル信号D1は、回転円板４の
回転に応じて第２図ａに示す如くレベル変化して
位置検出用に供され、第２のデイジタル信号D2
は回転円板４の回転に拘らず第２図ｃに示す如く
一定となつてレベル用に供される。
斯かる構成の検出回路８から出力される第１の
デイジタル信号D1及び第２のデイジタル信号D2
は夫々安定化回路１２及び比較演算回路１３に入
力される。１４はボリユーム１５により調節可能
なデイジタル値の基準レベル信号ＤBを出力する
レベル設定回路で、その出力は前記比較演算回路
１３に入力される。この比較演算回路１３は、入
力された各信号D2，ＤBを比較演算するもので、
具体的にはＤＢ／Ｄ２を演算しその演算結果を制御信号 ＤCとして出力する。また、安定化回路１０は、
第１のデイジタル信号D1と制御信号ＤCとが入力
されるとD1×ＤCを演算してその演算結果を安定
化信号ＤSとして出力する。
デイジタル信号D1及び第２のデイジタル信号D2
は夫々安定化回路１２及び比較演算回路１３に入
力される。１４はボリユーム１５により調節可能
なデイジタル値の基準レベル信号ＤBを出力する
レベル設定回路で、その出力は前記比較演算回路
１３に入力される。この比較演算回路１３は、入
力された各信号D2，ＤBを比較演算するもので、
具体的にはＤＢ／Ｄ２を演算しその演算結果を制御信号 ＤCとして出力する。また、安定化回路１０は、
第１のデイジタル信号D1と制御信号ＤCとが入力
されるとD1×ＤCを演算してその演算結果を安定
化信号ＤSとして出力する。
しかして、今、第１及び第２の検出信号S1及び
S2の出力レベル並びにこれらを加算した加算信号
S3が第２図ａ，ｂ，ｃに実線で示すような状態に
ある時に、第１のデイジタル信号D1が信号量
Z1、第２のデイジタル信号D2が信号量Z2、設定さ
れた基準レベル信号ＤBが信号量ＺBであつたとす
ると、制御信号ＤCの信号量がＺＢ／Ｚ２になるから、
安 定化信号ＤSの信号量はZ1×ＺＢ／Ｚ２＝ＺSになる。一 方、前述したように各受光ダイオード３ａ，３ｂ
は、モノリシツク基板３上に形成されていて特性
のバラツキが小さくなると共に温度や経時変化等
による特性も同じ傾向で変化する。このため、発
光ダイオード２の輝度低下、或は温度変化及び経
時変化による各受光ダイオード３ａ，３ｂの出力
低下等によつて第１及び第２の検出信号S1及びS2
の出力レベルが第２図ａ，ｂに二点鎖線で示すよ
うに変化した場合でも、各検出信号S1，S2の変動
率は略等しく例えばｄになるから、これらの波形
を加算した加算信号S3は第３図ｃに二点鎖線で示
すように相変わらず一定となつて、その変動率は
ｄ＋ｄ／２＝ｄとなる。従つて、第１及び第２の検出 信号S1及びS2の出力レベルが上述した如く変化し
た場合には、第１のデイジタル信号D1の信号量
がZ1×ｄ＝Z′1に、及び第２のデイジタル信号D2
の信号量がZ2×ｄ＝Z′2に夫々変化するため、制
御信号D1の信号量がＺＢ／Ｚ′２に変化してこの時の安
定 化信号ＤSのレベルZ′SはZ′1×ＺＢ／Ｚ′２になる。
ところ が、 Z′s＝Z′1×ＺＢ／Ｚ′２ ＝（Z1×ｄ）×ＺＢ／（Ｚ２×ｄ） ＝Z1×ＺＢ／Ｚ２ ＝ＺS が成立するので、安定化信号ＤSの信号量は変わ
らない。即ち、第１及び第２の検出信号S1及びS2
の出力レベルが温度変化等の外的要因により変化
した場合でも常に一定信号量の安定化信号ＤSが
出力され、従つて、この安定化信号ＤSによつて
ステツプモータの位置決め制御を精密且つ安定し
て行なうことができる。また実施例のように各受
光ダイオード３ａ，３ｂを集積化することによつ
て信頼性向上や、検出器を取付ける時の受光ダイ
オード相互間の調整が不要になり、かつ簡単に高
い取付け精度を出すことができる。
S2の出力レベル並びにこれらを加算した加算信号
S3が第２図ａ，ｂ，ｃに実線で示すような状態に
ある時に、第１のデイジタル信号D1が信号量
Z1、第２のデイジタル信号D2が信号量Z2、設定さ
れた基準レベル信号ＤBが信号量ＺBであつたとす
ると、制御信号ＤCの信号量がＺＢ／Ｚ２になるから、
安 定化信号ＤSの信号量はZ1×ＺＢ／Ｚ２＝ＺSになる。一 方、前述したように各受光ダイオード３ａ，３ｂ
は、モノリシツク基板３上に形成されていて特性
のバラツキが小さくなると共に温度や経時変化等
による特性も同じ傾向で変化する。このため、発
光ダイオード２の輝度低下、或は温度変化及び経
時変化による各受光ダイオード３ａ，３ｂの出力
低下等によつて第１及び第２の検出信号S1及びS2
の出力レベルが第２図ａ，ｂに二点鎖線で示すよ
うに変化した場合でも、各検出信号S1，S2の変動
率は略等しく例えばｄになるから、これらの波形
を加算した加算信号S3は第３図ｃに二点鎖線で示
すように相変わらず一定となつて、その変動率は
ｄ＋ｄ／２＝ｄとなる。従つて、第１及び第２の検出 信号S1及びS2の出力レベルが上述した如く変化し
た場合には、第１のデイジタル信号D1の信号量
がZ1×ｄ＝Z′1に、及び第２のデイジタル信号D2
の信号量がZ2×ｄ＝Z′2に夫々変化するため、制
御信号D1の信号量がＺＢ／Ｚ′２に変化してこの時の安
定 化信号ＤSのレベルZ′SはZ′1×ＺＢ／Ｚ′２になる。
ところ が、 Z′s＝Z′1×ＺＢ／Ｚ′２ ＝（Z1×ｄ）×ＺＢ／（Ｚ２×ｄ） ＝Z1×ＺＢ／Ｚ２ ＝ＺS が成立するので、安定化信号ＤSの信号量は変わ
らない。即ち、第１及び第２の検出信号S1及びS2
の出力レベルが温度変化等の外的要因により変化
した場合でも常に一定信号量の安定化信号ＤSが
出力され、従つて、この安定化信号ＤSによつて
ステツプモータの位置決め制御を精密且つ安定し
て行なうことができる。また実施例のように各受
光ダイオード３ａ，３ｂを集積化することによつ
て信頼性向上や、検出器を取付ける時の受光ダイ
オード相互間の調整が不要になり、かつ簡単に高
い取付け精度を出すことができる。
第４図には本発明の第２実施例が示されてい
る。この第２実施例は前記第１実施例における検
出回路８を検出回路１６に置き換えただけのもの
であるから、この検出回路１６についてのみ説明
する。即ち、検出回路１６は、第１の検出信号S1
を入力しこれをその信号量に応じた第１のデイジ
タル信号D1に変換して出力する第１のＤ―Ａ変
換器１７と、第１及び第２の検出信号S1及びS2を
入力してこれを加算信号S3（これは第３図ｃに示
す波形である）を出力する加算回路１８と、その
加算信号S3を入力しこれをその信号量に応じた第
２のデイジタル信号D2に変換して出力する第２
のＡ―Ｄ変換器１９とより成る。このような構成
においても前記第１実施例と同様に安定化された
安定化信号ＤSを得ることができる。
る。この第２実施例は前記第１実施例における検
出回路８を検出回路１６に置き換えただけのもの
であるから、この検出回路１６についてのみ説明
する。即ち、検出回路１６は、第１の検出信号S1
を入力しこれをその信号量に応じた第１のデイジ
タル信号D1に変換して出力する第１のＤ―Ａ変
換器１７と、第１及び第２の検出信号S1及びS2を
入力してこれを加算信号S3（これは第３図ｃに示
す波形である）を出力する加算回路１８と、その
加算信号S3を入力しこれをその信号量に応じた第
２のデイジタル信号D2に変換して出力する第２
のＡ―Ｄ変換器１９とより成る。このような構成
においても前記第１実施例と同様に安定化された
安定化信号ＤSを得ることができる。
本発明による光検出装置は、以上説明したよう
に、温度や経時変化等による光源輝度や受光素子
の特性の変化に関係なく受光素子から得られる検
出信号を安定化できるものであり、特に上記検出
信号をデイジタル的に処理する構成であるから、
その処理が容易である。また、この光検出装置を
用いた位置検出装置は、受光素子と回路部を一体
化することが容易であり、簡単な構成で、温度や
特性の劣化等の環境条件や使用条件に対して極め
て安定で精度の高い位置信号が得られるためサー
ボ機器等の位置決め制御の誤差を極めて小さくで
き、信頼性も非常に高く、なおかつ検出器構部の
組立、調整も簡単で精度も向上するなど極めて優
れた効果を得ることが出来る。
に、温度や経時変化等による光源輝度や受光素子
の特性の変化に関係なく受光素子から得られる検
出信号を安定化できるものであり、特に上記検出
信号をデイジタル的に処理する構成であるから、
その処理が容易である。また、この光検出装置を
用いた位置検出装置は、受光素子と回路部を一体
化することが容易であり、簡単な構成で、温度や
特性の劣化等の環境条件や使用条件に対して極め
て安定で精度の高い位置信号が得られるためサー
ボ機器等の位置決め制御の誤差を極めて小さくで
き、信頼性も非常に高く、なおかつ検出器構部の
組立、調整も簡単で精度も向上するなど極めて優
れた効果を得ることが出来る。
第１図乃至第３図は本発明の第１実施例に関す
るもので、第１図は光検出部の構成を示す図、第
２図は検出信号の波形図、第３図は電気的構成の
ブロツク図である。また、第４図は本発明の第２
実施例を示す第３図相当図である。 図中、１は光検出部、２は発光ダイオード（光
源）、３ａは第１の受光ダイオード（第１の受光
素子）、３ｂは第２の受光ダイオード（第２の受
光素子）、４は回転円板（被検出体）、８及び１６
は検出回路、９及び１７は第１のＡ―Ｄ変換器、
１０及び１９は第２のＡ―Ｄ変換器、１１及び１
８は加算回路、１２は安定化回路、１３は比較演
算回路、１４はレベル設定回路、S1及びS2は夫々
第１及び第２の検出信号、S3は加算信号、D1及
びD2は夫々第１及び第２のデイジタル信号、ＤB
は基準レベル信号、D0は制御信号である。
るもので、第１図は光検出部の構成を示す図、第
２図は検出信号の波形図、第３図は電気的構成の
ブロツク図である。また、第４図は本発明の第２
実施例を示す第３図相当図である。 図中、１は光検出部、２は発光ダイオード（光
源）、３ａは第１の受光ダイオード（第１の受光
素子）、３ｂは第２の受光ダイオード（第２の受
光素子）、４は回転円板（被検出体）、８及び１６
は検出回路、９及び１７は第１のＡ―Ｄ変換器、
１０及び１９は第２のＡ―Ｄ変換器、１１及び１
８は加算回路、１２は安定化回路、１３は比較演
算回路、１４はレベル設定回路、S1及びS2は夫々
第１及び第２の検出信号、S3は加算信号、D1及
びD2は夫々第１及び第２のデイジタル信号、ＤB
は基準レベル信号、D0は制御信号である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光源とその光源からの光を検出し第１の検出
信号を出力する第１の受光素子とこの第１の受光
素子とモノリシツク基板上に形成されてモジユー
ル化され、且つ前記第１の検出信号に対して逆位
相の第２の検出信号を出力する第２の受光素子と
前記第１及び第２の受光素子と相対運動する被検
出体とよりなる光検出部と、前記第１及び第２の
検出信号が入力され検出用の第１のデジタル信号
とレベル用の第２のデジタル信号とを出力する検
出回路と、前記第２のデジタル信号と基準レベル
信号とが入力され両信号を比較演算してその差異
に対応する制御信号を出力する比較演算回路と、
前記基準レベル信号を設定するためのレベル設定
回路と、前記第１のデジタル信号と制御信号とが
入力されその制御信号に基づいて第１のデジタル
信号を安定化させるための安定化回路とより成る
光検出装置。 ２ 前記検出回路は、前記第１の検出信号を入力
し第１のデジタル信号を出力する第１のＡ―Ｄ変
換器と、前記第２の検出信号を入力し第３のデジ
タル信号を出力する第２のＡ―Ｄ変換器と、前記
第１及び第３のデジタル信号を入力し両信号を加
算した前記第２のデジタル信号を出力する加算回
路とよりなることを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の光検出装置。 ３ 前記検出回路は、前記第１の検出信号を入力
し第１のデジタル信号を出力する第１のＡ―Ｄ変
換器と、前記第１及び第２の検出信号を入力し両
信号を加算した加算信号を出力する加算回路と、
その加算信号を入力し前記第２のデジタル信号を
出力する第２のＡ―Ｄ変換器とよりなることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の光検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2840280A JPS56124016A (en) | 1980-03-06 | 1980-03-06 | Light detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2840280A JPS56124016A (en) | 1980-03-06 | 1980-03-06 | Light detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56124016A JPS56124016A (en) | 1981-09-29 |
| JPS6140323B2 true JPS6140323B2 (ja) | 1986-09-09 |
Family
ID=12247664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2840280A Granted JPS56124016A (en) | 1980-03-06 | 1980-03-06 | Light detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56124016A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0535650U (ja) * | 1991-10-10 | 1993-05-14 | 山村商事株式会社 | 取手付容器 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59136621U (ja) * | 1983-03-01 | 1984-09-12 | 旭光学工業株式会社 | カメラの絞り込み量検出装置 |
| JP5693502B2 (ja) * | 2012-03-15 | 2015-04-01 | 三菱電機株式会社 | 光学式エンコーダ |
-
1980
- 1980-03-06 JP JP2840280A patent/JPS56124016A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0535650U (ja) * | 1991-10-10 | 1993-05-14 | 山村商事株式会社 | 取手付容器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56124016A (en) | 1981-09-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4621256A (en) | Apparatus for measuring rate of angular displacement | |
| US4988945A (en) | Optical and magnetic encoder for serially transmitting absolute position signals with an auxiliary power supply | |
| US5493909A (en) | Method of and an apparatus for detecting control information | |
| US4654636A (en) | Displacement measuring apparatus | |
| US4649267A (en) | Automatic gain control circuit for encoder | |
| EP0102241A2 (en) | Optical rotary encoder | |
| JPH0376428B2 (ja) | ||
| KR20010033220A (ko) | 엔코더 | |
| JPH08178700A (ja) | インクリメンタルエンコーダ | |
| JPS6140323B2 (ja) | ||
| JPS6140324B2 (ja) | ||
| JP6372522B2 (ja) | 光センサ、及び駆動動作検出装置 | |
| US5485468A (en) | Data output encoder having resetting mechanism | |
| JP2001041776A (ja) | エンコーダ | |
| US3500449A (en) | Electronic encoder index | |
| US7276686B2 (en) | Method and device for detecting the opening angle of the shutter of an adjustable rotating shutter in a film camera | |
| JP3160372B2 (ja) | 回転角検出装置 | |
| JPS6026445B2 (ja) | フォトセンサ回路 | |
| TWI846979B (zh) | 編碼器裝置 | |
| JPS6138520A (ja) | 光センサ安定化方式 | |
| US5128883A (en) | Method for absolute position determination of multi-speed devices | |
| JPH0457966B2 (ja) | ||
| JPS6112529B2 (ja) | ||
| JPS5952974B2 (ja) | フオトセンサ回路 | |
| KR910005399Y1 (ko) | 경사 감지 연결회로 |