JPS6140544A - 補償補正手段を有する流体分析装置 - Google Patents
補償補正手段を有する流体分析装置Info
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- JPS6140544A JPS6140544A JP12728085A JP12728085A JPS6140544A JP S6140544 A JPS6140544 A JP S6140544A JP 12728085 A JP12728085 A JP 12728085A JP 12728085 A JP12728085 A JP 12728085A JP S6140544 A JPS6140544 A JP S6140544A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は流体例えば血清の構成成分分析用の装置及び方
法に関する。より特には本発明は装置の試験場所で光学
的分析によって血清試料の構成成分を確認する血清分析
装置及び方法に関する。
法に関する。より特には本発明は装置の試験場所で光学
的分析によって血清試料の構成成分を確認する血清分析
装置及び方法に関する。
〈従来の技術〉
この様な装置では、血清試料を吸引して、か\°る試料
を装置の試験場所に置かれているキュベツトとして知ら
れている透明な試験容器に入れるために第一の探針(プ
ローベ)を使用する。次に第二の探針がそれを既にキュ
ベツトの中に入っている血清試料と接触させるために典
型的にキュベツトに運ばれる試薬を吸引するために使用
される。白業界周知の方法によれば、特定の試薬が血清
試料の予めきまつ6一 ている構成成分と結合し、続いての光学的分析のために
その成分をキュベツト中で遊離させる。別の成分を分析
する必要のある場合には、別の試薬が通常使用される。
を装置の試験場所に置かれているキュベツトとして知ら
れている透明な試験容器に入れるために第一の探針(プ
ローベ)を使用する。次に第二の探針がそれを既にキュ
ベツトの中に入っている血清試料と接触させるために典
型的にキュベツトに運ばれる試薬を吸引するために使用
される。白業界周知の方法によれば、特定の試薬が血清
試料の予めきまつ6一 ている構成成分と結合し、続いての光学的分析のために
その成分をキュベツト中で遊離させる。別の成分を分析
する必要のある場合には、別の試薬が通常使用される。
試料と特定の試薬との接触によって血清試料の特定の構
成成分が遊離させられて後、周知の方法でキュベツトに
光束を当てることにより、その成分を光学的に分析出来
る。
成成分が遊離させられて後、周知の方法でキュベツトに
光束を当てることにより、その成分を光学的に分析出来
る。
キュベツト中の遊離している血清の構成成分は、試料の
特性に応じて異なった波長でその光を吸収する。変動さ
せられた光束は分析中の試料から放たれた時、典型的に
はこの光束を異なった波長によって特徴付けられる複数
個の別々の光線へと回折(分散)させる光学装置を通過
する。それぞれ異なった波長によって特徴付けられてい
るこれらの異なった光線は光学装置に対して予め定めら
れる経路で伝播してゆく。
特性に応じて異なった波長でその光を吸収する。変動さ
せられた光束は分析中の試料から放たれた時、典型的に
はこの光束を異なった波長によって特徴付けられる複数
個の別々の光線へと回折(分散)させる光学装置を通過
する。それぞれ異なった波長によって特徴付けられてい
るこれらの異なった光線は光学装置に対して予め定めら
れる経路で伝播してゆく。
従来の光学的分析装置は、これらの予め定められた経路
のそれぞれに沿った焦点位置に光応答回路素子を配置す
ることによって、これらの別々の光線が予め定められた
位置関係で伝播するという事実を利用している。これら
の回路素子は典型的にはそれに衝突する光の強さに比例
する電気信号を発生する。従って、かXる回路素子の一
つを第一の波長によって特徴付けられている光線と衝突
する位置においた場合、その光の相対強度が強い時には
比較的強い電気信号を発する。他方、隣接する回路素子
を第二の波長によって特徴付けられている別の光線と衝
突する位置においた場合、その光の相対強度が弱ければ
、比較的弱い電気信号を発する。
のそれぞれに沿った焦点位置に光応答回路素子を配置す
ることによって、これらの別々の光線が予め定められた
位置関係で伝播するという事実を利用している。これら
の回路素子は典型的にはそれに衝突する光の強さに比例
する電気信号を発生する。従って、かXる回路素子の一
つを第一の波長によって特徴付けられている光線と衝突
する位置においた場合、その光の相対強度が強い時には
比較的強い電気信号を発する。他方、隣接する回路素子
を第二の波長によって特徴付けられている別の光線と衝
突する位置においた場合、その光の相対強度が弱ければ
、比較的弱い電気信号を発する。
次にか\る回路素子によって発生させられた電流信号は
3″″OJmr’KMMK@#;5Ait、 −+°゛
′“1°7″′“° 2、ている特定の構成成分に
当てられた光の吸収率に相当する信号を発生する。この
信号はその成分の特質を示している。
3″″OJmr’KMMK@#;5Ait、 −+°゛
′“1°7″′“° 2、ている特定の構成成分に
当てられた光の吸収率に相当する信号を発生する。この
信号はその成分の特質を示している。
更にこの信号をマイクロプロセッサの制御下で他の電子
回路構成によって、さらに増幅して、例えば人の読取れ
る形の眼で見えるディスプレーに出来るデジタル出力を
与えることが出来る。
回路構成によって、さらに増幅して、例えば人の読取れ
る形の眼で見えるディスプレーに出来るデジタル出力を
与えることが出来る。
前記の光学的流体分析装置は成功裏に使用されて来てい
るが、かなりの欠点と短所がつきまとう。多くのか\る
分析装置の操作に有害な影響を与える問題は、光応答回
路素子によって発せられる信号がバイアス電圧、擬似信
号等に起因する固有誤差の影響を受けやすいという事実
に関連する。これらの問題を克服する努力はこれ迄、こ
れらの固有誤差を補償するためにかなりの回路パラメー
ターを調整するポテンシオメータを使用することを伴っ
ていた。ポテンシオメータ及びその他の回路成分はそれ
自身、実質上のドリフト及び付随した誤差を伴うために
、この努力は完全に満足がゆくものでは無かった。例え
ばポテンシオメータの回路特性は経時変化するばかりで
なく、温度変化によって実質上変化する。
るが、かなりの欠点と短所がつきまとう。多くのか\る
分析装置の操作に有害な影響を与える問題は、光応答回
路素子によって発せられる信号がバイアス電圧、擬似信
号等に起因する固有誤差の影響を受けやすいという事実
に関連する。これらの問題を克服する努力はこれ迄、こ
れらの固有誤差を補償するためにかなりの回路パラメー
ターを調整するポテンシオメータを使用することを伴っ
ていた。ポテンシオメータ及びその他の回路成分はそれ
自身、実質上のドリフト及び付随した誤差を伴うために
、この努力は完全に満足がゆくものでは無かった。例え
ばポテンシオメータの回路特性は経時変化するばかりで
なく、温度変化によって実質上変化する。
〈発明の目的〉
従って、流体例えば血清、分析用の改良された装置を提
供することが本発明の第一の目的である。か\る装置に
改良を加え、それによってか\る装置に固有の多くの誤
差を、正確な、信頼出来る方法で補償するか、さもなく
ば相殺することが、本発明の第二の目的である。この分
析を達成するために改良された方法を提供することが本
発明の第三の目的である。本発明のその他の目的は、多
くの利点、特徴及び長所と共に、以下に要約されている
本発明の詳細な記載を一読すれば明らかとなろう。
供することが本発明の第一の目的である。か\る装置に
改良を加え、それによってか\る装置に固有の多くの誤
差を、正確な、信頼出来る方法で補償するか、さもなく
ば相殺することが、本発明の第二の目的である。この分
析を達成するために改良された方法を提供することが本
発明の第三の目的である。本発明のその他の目的は、多
くの利点、特徴及び長所と共に、以下に要約されている
本発明の詳細な記載を一読すれば明らかとなろう。
〈発明の構成〉
本発明の前述の目的は、実質上遊離している流体の成分
を光学的分析のために光束に曝すことによって、流体の
構酸成分を分析する装置で達成される。この装置には、
光束に応答して、異なる選択された波長で成分を通過す
る光束の効果に相当したパラメータを有する第一及び第
二情報信号を発する光応答装置が含1れる。電子装置は
情報信号中の誤差に相当するパラメータを有する補償信
号を発生する。
を光学的分析のために光束に曝すことによって、流体の
構酸成分を分析する装置で達成される。この装置には、
光束に応答して、異なる選択された波長で成分を通過す
る光束の効果に相当したパラメータを有する第一及び第
二情報信号を発する光応答装置が含1れる。電子装置は
情報信号中の誤差に相当するパラメータを有する補償信
号を発生する。
第一情報信号を受けるために光応答装置に接続された第
一入力、及び第一補償信号を受けるために電子装置に接
続された第二入力を有する第一信号操作装置はその出力
に第一補正済情報信号を発生する。同様に、第二情報信
号を受けるために光応答装置に接続された第一入力、及
び第二補償信号を受けるために電子装置に接続された第
二入力を有する第二信号操作装置はその出力に第二補正
済情報信号を発生する。
一入力、及び第一補償信号を受けるために電子装置に接
続された第二入力を有する第一信号操作装置はその出力
に第一補正済情報信号を発生する。同様に、第二情報信
号を受けるために光応答装置に接続された第一入力、及
び第二補償信号を受けるために電子装置に接続された第
二入力を有する第二信号操作装置はその出力に第二補正
済情報信号を発生する。
この改良された装置は更に、第一補正済情報信号を受け
るために第一信号操作装置の出力に接続された第一入力
、及び第二補正済情報信号を受けるために第二信号操作
装置の出力に接続された第二入力を有する信号発生装置
を含み得る。信号発生装置はその出力に、流体の成分の
吸収率に対応し、そしてそれ故にか\る成分の分析(f
iのを示す信号を発生する。
るために第一信号操作装置の出力に接続された第一入力
、及び第二補正済情報信号を受けるために第二信号操作
装置の出力に接続された第二入力を有する信号発生装置
を含み得る。信号発生装置はその出力に、流体の成分の
吸収率に対応し、そしてそれ故にか\る成分の分析(f
iのを示す信号を発生する。
本発明の第二の態様では、流体の実質上遊離した成分を
光束に曝して、その光をそれぞれ異なる波長を持った別
個の光線に回折(分散)させることによる流体の構成成
分の分析のための方法が開示される。この方法は、それ
ぞれ回折(分散)させられた光線のそれぞれの一つの強
度に相当するパラメータを有する、第一及び第二情報信
号を発生する工程を含む。それぞれが第一及び第二情報
信号中の誤差に相当するパラメータをそれぞれ有する第
一及び第二補償信号を近くで発生させる。それぞれ第一
情報信号と第一補償信号のパラメータ間の差及び第二情
報信号と第二補償信号のパラメータ間の差に相当する第
一及び第二補正済情報信号を発生させる。補正済情報信
号は装置に供給して分析中の遊離した成分を示す出力信
号を発生させる。この出力信号は典型的には第一及び第
二補正済情報信号の比の対数に相当する。
光束に曝して、その光をそれぞれ異なる波長を持った別
個の光線に回折(分散)させることによる流体の構成成
分の分析のための方法が開示される。この方法は、それ
ぞれ回折(分散)させられた光線のそれぞれの一つの強
度に相当するパラメータを有する、第一及び第二情報信
号を発生する工程を含む。それぞれが第一及び第二情報
信号中の誤差に相当するパラメータをそれぞれ有する第
一及び第二補償信号を近くで発生させる。それぞれ第一
情報信号と第一補償信号のパラメータ間の差及び第二情
報信号と第二補償信号のパラメータ間の差に相当する第
一及び第二補正済情報信号を発生させる。補正済情報信
号は装置に供給して分析中の遊離した成分を示す出力信
号を発生させる。この出力信号は典型的には第一及び第
二補正済情報信号の比の対数に相当する。
〈発明の典型的態様の詳細な記載〉
さて図1を説明する。光束12を発生する光源10が略
図的に示されている。この様に略図的に示しであるが、
光源10には光学的分析を進めるために必要な光束12
を与えるためのすべての必要な光学的要素例えばフィル
ター、光路等が含まれていることを当業者は理解されよ
う。
図的に示されている。この様に略図的に示しであるが、
光源10には光学的分析を進めるために必要な光束12
を与えるためのすべての必要な光学的要素例えばフィル
ター、光路等が含まれていることを当業者は理解されよ
う。
光12は光源10から分析すべき血清試料の遊離させら
れた成分20に向けられる。成分20は通常(図示され
ていない)透明なキュベツト中に入れられており、それ
を通して光を当てる。周知の操作によって、幾分かの光
12は成分20によって吸収される。従って、光源10
から発した光束の変化を受けたものが成分20から放出
されて通常の光学装置25を通過して、そこで回折(分
散)されて、それぞれ異なった波長を有することを特徴
とする複数個体)の別々の光線22,22al・・・2
2nを形成する。分析の目的には如何なる好ましい本数
の別個の光線を使用することも出来るが、この好ましい
態様では604Nm乃至34ONmの範囲の波長を有す
ることを特徴とする16本のか\る光線を使用すること
とする。
れた成分20に向けられる。成分20は通常(図示され
ていない)透明なキュベツト中に入れられており、それ
を通して光を当てる。周知の操作によって、幾分かの光
12は成分20によって吸収される。従って、光源10
から発した光束の変化を受けたものが成分20から放出
されて通常の光学装置25を通過して、そこで回折(分
散)されて、それぞれ異なった波長を有することを特徴
とする複数個体)の別々の光線22,22al・・・2
2nを形成する。分析の目的には如何なる好ましい本数
の別個の光線を使用することも出来るが、この好ましい
態様では604Nm乃至34ONmの範囲の波長を有す
ることを特徴とする16本のか\る光線を使用すること
とする。
光学装置25に対する光線22.22al・・・22n
の伝播経路は良く知られそして良く理解されている物税
法則によってきまっている。従って、予め定められてい
る集束(焦点)位置249 24al・・・24nはそ
れぞれ光線22゜22a、・・・22nの伝播経路によ
ってきめられている。従って光応答回路素子例えば通常
のホトダイオードを位置24.24a+ ・・・24n
のそれぞれに置くことによって、位t24+ 24a
、・・・24nのいずれかに当る(衝突する)光の強さ
に相当するパラメータ(例えば電流の大きさ)を有する
電気信号を発生させることが出来る。
の伝播経路は良く知られそして良く理解されている物税
法則によってきまっている。従って、予め定められてい
る集束(焦点)位置249 24al・・・24nはそ
れぞれ光線22゜22a、・・・22nの伝播経路によ
ってきめられている。従って光応答回路素子例えば通常
のホトダイオードを位置24.24a+ ・・・24n
のそれぞれに置くことによって、位t24+ 24a
、・・・24nのいずれかに当る(衝突する)光の強さ
に相当するパラメータ(例えば電流の大きさ)を有する
電気信号を発生させることが出来る。
複数個の適切に配置したホトダイオード及び関連回路構
成、又は位置24.24a・・・24nのいずれかの位
置に当る光の強度に相当するパラメータを有する電気的
情報信号を発生させるための他の装置は図2の光応答装
置3oで示される。光応答装置30は通常(図示してい
ない)マイクロプロセッサの制御下で作動して、典型的
には複数個の位置241 24a、・・・24nの中か
ら二つの隣接位置を選んで、それらの二つの位置に当る
光によって発生させられた情報信号を対応する出力32
.34に出す。従って、隣接位[24及び24aが選ば
れた場合には、それらの位置の一つに当る光によって発
生させられた情報信号が出力32に加えられ、それらの
位置の他方に当る光によって発生させられた情報信号が
出力34に加えられる。
成、又は位置24.24a・・・24nのいずれかの位
置に当る光の強度に相当するパラメータを有する電気的
情報信号を発生させるための他の装置は図2の光応答装
置3oで示される。光応答装置30は通常(図示してい
ない)マイクロプロセッサの制御下で作動して、典型的
には複数個の位置241 24a、・・・24nの中か
ら二つの隣接位置を選んで、それらの二つの位置に当る
光によって発生させられた情報信号を対応する出力32
.34に出す。従って、隣接位[24及び24aが選ば
れた場合には、それらの位置の一つに当る光によって発
生させられた情報信号が出力32に加えられ、それらの
位置の他方に当る光によって発生させられた情報信号が
出力34に加えられる。
光応答装置30の出力32は第一信号操作装置40の入
力42に接続されており、そして出力34は第二信号操
作装置50の入力52に接続されている。第一信号操作
装置40は、第一信号操作装置40の入力42に加えら
れる第一情報信号に固有の誤差に相当するパラメータ(
例えば電圧の大きさ)を有する第一補償信号を受ける構
成の第二入力44を有する。同様に、第二信号操作装置
は、入力52に加えられる第二情報信号に固有の誤差に
相当するパラメータ(例えば電圧の大きさ)を有する第
二補償信号を受ける構成の第二入力54を有する。この
好ましい態様では、第一及び第二補償信号とも電子装置
60によって近くで発 1生させられてそれ
ぞれその出力62.64に現われる。補償信号の特定の
構成は種々のバイアス電圧、擬似信号等の関数であり、
これらは、すべてマイクロプロセッサによって制御され
ている、電子装置60によって予め定めて、電子装置付
属の記憶装置中に蓄積させることが出来る。
力42に接続されており、そして出力34は第二信号操
作装置50の入力52に接続されている。第一信号操作
装置40は、第一信号操作装置40の入力42に加えら
れる第一情報信号に固有の誤差に相当するパラメータ(
例えば電圧の大きさ)を有する第一補償信号を受ける構
成の第二入力44を有する。同様に、第二信号操作装置
は、入力52に加えられる第二情報信号に固有の誤差に
相当するパラメータ(例えば電圧の大きさ)を有する第
二補償信号を受ける構成の第二入力54を有する。この
好ましい態様では、第一及び第二補償信号とも電子装置
60によって近くで発 1生させられてそれ
ぞれその出力62.64に現われる。補償信号の特定の
構成は種々のバイアス電圧、擬似信号等の関数であり、
これらは、すべてマイクロプロセッサによって制御され
ている、電子装置60によって予め定めて、電子装置付
属の記憶装置中に蓄積させることが出来る。
第一信号操作装置40は、第一補正済情報信号Cそれは
この好ましい態様では入力42に加えられた第一情報信
号と入力44に加えられた第一補償信号のパラメータの
間の算術差に相当する)を発する出力46を有する。同
様に第二信号操作装置50は、第二補正済情報信号(そ
れはこの好ましい態では入力52に加えられた第二情報
信号と入力54に加えられた第二補償信号のパラメータ
の間の算術差に相当する)を発する出力56を有する。
この好ましい態様では入力42に加えられた第一情報信
号と入力44に加えられた第一補償信号のパラメータの
間の算術差に相当する)を発する出力46を有する。同
様に第二信号操作装置50は、第二補正済情報信号(そ
れはこの好ましい態では入力52に加えられた第二情報
信号と入力54に加えられた第二補償信号のパラメータ
の間の算術差に相当する)を発する出力56を有する。
第一信号操作装置40の出力は信号発生装置70の入カ
フ2に接続されている。信号発生装置70は第二信号操
作装置50の出力56に接続されている第二の入カフ4
を有する。信号発生装置70はその出カフ6に、入カフ
2と74に加えられた信号の比の対数に相当する信号を
発生させる回路構成を有する。このかg−比信号は成分
20を経て光学装置25中で回折(分散)されて後、隣
接する集光位置に当る光の吸収率を示すので、この信号
は成分の特性を示している。この様に、バイアス電圧、
擬似信号等から生ずる誤差を補正した、成分の正確なア
ナログ表示が出カフ6にあられれる。このアナログ表示
は、もちろん、マイクロプロセッサの制御下で(図示さ
れていない)他の回路構成を通してその分析結果を人が
読取れるディスプレーとして出すことも出来る。
フ2に接続されている。信号発生装置70は第二信号操
作装置50の出力56に接続されている第二の入カフ4
を有する。信号発生装置70はその出カフ6に、入カフ
2と74に加えられた信号の比の対数に相当する信号を
発生させる回路構成を有する。このかg−比信号は成分
20を経て光学装置25中で回折(分散)されて後、隣
接する集光位置に当る光の吸収率を示すので、この信号
は成分の特性を示している。この様に、バイアス電圧、
擬似信号等から生ずる誤差を補正した、成分の正確なア
ナログ表示が出カフ6にあられれる。このアナログ表示
は、もちろん、マイクロプロセッサの制御下で(図示さ
れていない)他の回路構成を通してその分析結果を人が
読取れるディスプレーとして出すことも出来る。
次に図3を説明すると、光応答装置30が回路配列80
、該配列80に接続された増幅装置90、及びいずれも
増幅装置と接続されている一対の多重変換装置100.
110を含むことが示されている。この好ましい態様で
は、配列 、80は、好ましくは多数のホ
トダイオード素子より成るS ]−592−01Ham
narna t su ダイオード配列であり、その
三つを例示して参照番号82.84及び86で示した。
、該配列80に接続された増幅装置90、及びいずれも
増幅装置と接続されている一対の多重変換装置100.
110を含むことが示されている。この好ましい態様で
は、配列 、80は、好ましくは多数のホ
トダイオード素子より成るS ]−592−01Ham
narna t su ダイオード配列であり、その
三つを例示して参照番号82.84及び86で示した。
図1の記載に関連して前述した様に、配列80のダイオ
ード素子のすべては光学装置25中で回折(分散)され
た光線の予め定められた経路に予め位置がきめられてお
シ、そして当る光線の強度に相当する電流の大きさを持
った電気信号を発する。図3で示す様に、配列80中の
ダイオードのそれぞれは導線88を経て接地されている
カンードを有し、また増幅装置90のそれぞれの入力に
接続されているアノードを有する。それで、この好まし
い態様では、ダイオード82.84及び86のアノード
ばそれぞれ増幅装置90の入力93.95及び97に接
続されている。
ード素子のすべては光学装置25中で回折(分散)され
た光線の予め定められた経路に予め位置がきめられてお
シ、そして当る光線の強度に相当する電流の大きさを持
った電気信号を発する。図3で示す様に、配列80中の
ダイオードのそれぞれは導線88を経て接地されている
カンードを有し、また増幅装置90のそれぞれの入力に
接続されているアノードを有する。それで、この好まし
い態様では、ダイオード82.84及び86のアノード
ばそれぞれ増幅装置90の入力93.95及び97に接
続されている。
増幅装置90は好ましくは配列80を構成するホトダイ
オードから渡された信号の利得を調節する一群の)(a
rrjs5180演算増幅器より成る。この好ましい態
様では16個の増幅器が使用されており、その三つを参
照番号92゜94及び96で示す。増幅器92.94及
び96はそれぞれ、それと組合わされている入力93.
95及び97に接続されている。増幅装置90を構成し
ている各増幅器の出力は多重変換装置100の個々の入
力に通じており、また別の多重変換装置1100個々の
入力にも通じている。多重変換装置はPrecisio
n Monol jtics、 Inc、 (PMr)
MUX16デバイスであっても良く、少くとも16個の
入力を有し、その三つを多重変換装置100については
参照番号102.104及び106で、そして多重変換
装置110については参照番号112.114及び11
6で示す。従ってこの好ましい態様では、増幅器92の
出力は入力102及び入力112の両方に通じており、
増幅器94下 の出力は入力104及び入力114の両方に通じており
、そして増幅器96の出力は入力106及び入力116
の両刃に通じている。
オードから渡された信号の利得を調節する一群の)(a
rrjs5180演算増幅器より成る。この好ましい態
様では16個の増幅器が使用されており、その三つを参
照番号92゜94及び96で示す。増幅器92.94及
び96はそれぞれ、それと組合わされている入力93.
95及び97に接続されている。増幅装置90を構成し
ている各増幅器の出力は多重変換装置100の個々の入
力に通じており、また別の多重変換装置1100個々の
入力にも通じている。多重変換装置はPrecisio
n Monol jtics、 Inc、 (PMr)
MUX16デバイスであっても良く、少くとも16個の
入力を有し、その三つを多重変換装置100については
参照番号102.104及び106で、そして多重変換
装置110については参照番号112.114及び11
6で示す。従ってこの好ましい態様では、増幅器92の
出力は入力102及び入力112の両方に通じており、
増幅器94下 の出力は入力104及び入力114の両方に通じており
、そして増幅器96の出力は入力106及び入力116
の両刃に通じている。
多重変換装置100及び110は典型的にはマイクロプ
ロセッサの制御下で作動して、その16入力に加えられ
た16個の信号のいずれか一つを選んで、その選ばれた
信号をその出力にあられす。従って多重変換装置100
は選ばれた信号をその出力108に表わし、そして多重
変換装置110は選ばれた信号をその出力118に表わ
す。典型的には、多重変換装置100及び110の出力
108及び118にそれぞれ表われた信号は、装置が分
析中の特定の成分の特性をたしかめるために配列80か
らの隣接したホトダイオード素子によって発生されたも
のである。これらの信号はこれ迄、本明細書中では第一
及び第二情報信号と呼ばれていた。
ロセッサの制御下で作動して、その16入力に加えられ
た16個の信号のいずれか一つを選んで、その選ばれた
信号をその出力にあられす。従って多重変換装置100
は選ばれた信号をその出力108に表わし、そして多重
変換装置110は選ばれた信号をその出力118に表わ
す。典型的には、多重変換装置100及び110の出力
108及び118にそれぞれ表われた信号は、装置が分
析中の特定の成分の特性をたしかめるために配列80か
らの隣接したホトダイオード素子によって発生されたも
のである。これらの信号はこれ迄、本明細書中では第一
及び第二情報信号と呼ばれていた。
電子装置160は好ましくは、紀−及び第二AD567
デイジタルーアナログ変換器170及び180を有する
。この好ましい態様では変換器170及び180は対応
する情報信号に付随する誤差に相当する予め定められて
いるディジタル誤差信号を受取る。前述した様に、これ
らの誤差はこのタイプの回路構成に固有のバイアス電圧
、・擬似信号等の結果である。これらの予め定められて
いるディジタル誤差信号は次に変換器170及び180
に使用するために、記憶装置190に入力して記憶させ
ることが出来、そして従って予め定められている参照信
号と呼ぶことが出来る。
デイジタルーアナログ変換器170及び180を有する
。この好ましい態様では変換器170及び180は対応
する情報信号に付随する誤差に相当する予め定められて
いるディジタル誤差信号を受取る。前述した様に、これ
らの誤差はこのタイプの回路構成に固有のバイアス電圧
、・擬似信号等の結果である。これらの予め定められて
いるディジタル誤差信号は次に変換器170及び180
に使用するために、記憶装置190に入力して記憶させ
ることが出来、そして従って予め定められている参照信
号と呼ぶことが出来る。
本装置の他の要素の多くについて説明した様に、記憶装
置190は典型的にはマイクロプロセッサの制御下で作
動する。
置190は典型的にはマイクロプロセッサの制御下で作
動する。
ディジタル−アナログ変換器170は記憶装置N190
によって供給されたディジタル誤差信号をアナログ形に
変換して、その出力174に補償信号をつくり出す。同
様にディジタル−アナログ変換器180は記憶装置19
0にょって供給されたディジタル誤差信号をアナログ形
に変換して、その出力184に補償信号をつくり出す。
によって供給されたディジタル誤差信号をアナログ形に
変換して、その出力174に補償信号をつくり出す。同
様にディジタル−アナログ変換器180は記憶装置19
0にょって供給されたディジタル誤差信号をアナログ形
に変換して、その出力184に補償信号をつくり出す。
変換器170の出力174は(図示されていない)電流
電圧変換器を通して第一信号操作装置40、特には演算
増幅器120の入力120に、接続されている。同様な
方法で、変換器180の出力184は、(図示されてい
ない)電流−電圧変換器を通して第二信号操作装置50
に通じている。
電圧変換器を通して第一信号操作装置40、特には演算
増幅器120の入力120に、接続されている。同様な
方法で、変換器180の出力184は、(図示されてい
ない)電流−電圧変換器を通して第二信号操作装置50
に通じている。
多重変換器100の出力108は(図示されていない)
緩衝器を通して第一信号操作装置40に接続されており
、40は好ましくはPMI演算増幅器120及びPMI
多重変換器130を持っている。演算増幅器120は好
ましくは一対の入力122.124及び出力126があ
り、後者は入力122.124に加えられた二個の信号
の間の算術差に相当する出力信号をつくり出す。従って
演算増幅器120の出力1う6につくり出された信号は
、入力122に加えられた情報信号と入力124に加え
られた補償信号の間の差を表わしている。これが、多重
変換器140の選択でその出力134にあられれる補正
済の情報信号をつくり出す。
緩衝器を通して第一信号操作装置40に接続されており
、40は好ましくはPMI演算増幅器120及びPMI
多重変換器130を持っている。演算増幅器120は好
ましくは一対の入力122.124及び出力126があ
り、後者は入力122.124に加えられた二個の信号
の間の算術差に相当する出力信号をつくり出す。従って
演算増幅器120の出力1う6につくり出された信号は
、入力122に加えられた情報信号と入力124に加え
られた補償信号の間の差を表わしている。これが、多重
変換器140の選択でその出力134にあられれる補正
済の情報信号をつくり出す。
この態様では、増幅器120の利得制御が、少なくとも
一部分、4マイクロFコンデンサ128に並列接続され
たIK抵抗器127、而してこの並列結合は入力122
と出力126との間に結びつけられている、によって与
えられている。1に抵抗器129が増幅器120の出力
126と多重変換器134の入力132の間に接続され
ている。好ましくはマイクロプロセッサの制御下で作動
する、多重変換器134が(簡単のために入力132だ
けが図示されている)その様々の入力で受取る複数個の
信号の一つを選んで、その信号をその出力134に表わ
す。入力132に加えられた信号がかくして選ばれた時
、補正術情報信号が出力134にあられれる。
一部分、4マイクロFコンデンサ128に並列接続され
たIK抵抗器127、而してこの並列結合は入力122
と出力126との間に結びつけられている、によって与
えられている。1に抵抗器129が増幅器120の出力
126と多重変換器134の入力132の間に接続され
ている。好ましくはマイクロプロセッサの制御下で作動
する、多重変換器134が(簡単のために入力132だ
けが図示されている)その様々の入力で受取る複数個の
信号の一つを選んで、その信号をその出力134に表わ
す。入力132に加えられた信号がかくして選ばれた時
、補正術情報信号が出力134にあられれる。
第二信号操作装置50は構造及び機能が、本質的に第一
信号操作装置と同一であり、従ってその回路構成の詳細
な記載と説明は不要でおる。第二信号操作装置50も演
算増幅器140と多重変換器150があり、後者は出力
154を持ち、そこに第二補正済情報信号が出ると言っ
たら充分である。
信号操作装置と同一であり、従ってその回路構成の詳細
な記載と説明は不要でおる。第二信号操作装置50も演
算増幅器140と多重変換器150があり、後者は出力
154を持ち、そこに第二補正済情報信号が出ると言っ
たら充分である。
第一信号操作装置40及び第二信号操作装置50の出力
134及び154にそれぞれあられれる補正済の情報信
号は信号発生装置70の対応する入カフ2及び74に加
えられる。この好ましい態様では、信号発生装置70は
Burr−Brown log 比増幅器より成る。こ
の増幅器はその出カフ6にその人カフ2及び74に加え
られた信号の比の対数に相当する信号をつくり出+。こ
の信号はそして、分析中の特定の成分の特性を示してい
る。更に前述した様に、この信号を、すべてマイクロプ
ロセッサの制御下の、他の回路構成によって増幅して人
が読める形でそれらの特性を表示することか出来る。
134及び154にそれぞれあられれる補正済の情報信
号は信号発生装置70の対応する入カフ2及び74に加
えられる。この好ましい態様では、信号発生装置70は
Burr−Brown log 比増幅器より成る。こ
の増幅器はその出カフ6にその人カフ2及び74に加え
られた信号の比の対数に相当する信号をつくり出+。こ
の信号はそして、分析中の特定の成分の特性を示してい
る。更に前述した様に、この信号を、すべてマイクロプ
ロセッサの制御下の、他の回路構成によって増幅して人
が読める形でそれらの特性を表示することか出来る。
これ迄述べたところは流体例えば血清の構成成分を確認
するための新規な装置である。回路構成が流体を分析し
て、その結果をこの種類の装置に固有の多くの誤差を考
慮に人 。
するための新規な装置である。回路構成が流体を分析し
て、その結果をこの種類の装置に固有の多くの誤差を考
慮に人 。
れた正確な、信頼出来る方法で表示することを可能とし
ている。更に、装置にはそれ自身ドリフト、変化及び擬
似ゆらぎの影響を受ける回路成分の使用を最も少くして
いるので、改良された実用性能が確認されている。
ている。更に、装置にはそれ自身ドリフト、変化及び擬
似ゆらぎの影響を受ける回路成分の使用を最も少くして
いるので、改良された実用性能が確認されている。
ここで開示した本発明の典型的態様は好ましいものであ
り、それは当業者が本発明の真の範囲を離れること無く
多くの変更及び修正をするものと考えられる。か\る変
更及図1は血清の試料の遊離させた成分に光学的分析の
ために光束をあてるところを略図的に示している。
り、それは当業者が本発明の真の範囲を離れること無く
多くの変更及び修正をするものと考えられる。か\る変
更及図1は血清の試料の遊離させた成分に光学的分析の
ために光束をあてるところを略図的に示している。
図2は本発明の要部態様を示すブロック図である。
図3は図2に示した本発明のブロック図を更に詳しく示
すブロック図である。
すブロック図である。
10・・・光源
12・・・光束
20・・・血清試料の分析すべき遊離させた成分(通常
キュベツトに入れである) 22.2281−・・・・・22n・・・別々の光線2
4 + 24’ ” +・・・・・24n・・・ホト
ダイオードを置く光線の集光C焦点)位置 25・・・通常の光学装置 30・・・光応答装置 32.34・・・光応答装置の出力 40・・・・・・・・・・・・第一信号操作装置42.
44・・・ の(第一及び第二)入力4
6・・・・・・・・・・・・ の出力5
0・・・・−・・・・・・・第二信号操作装置52.5
4・・・ の(第一及び第二)入力56
・・・・・・・・・・・・ の出力
60・・・・・・・・・・・・電子装置62.64
・・・ l の出力 フ0・・・・・・・・・・・・信号発生装置72.74
・・・ l の入カ フ6・・・・・・・・・・・・ r の出力80
・・・・・・・・・・・・回路配列81、 82. 8
6・・・ダイオード88・・・・・・・・・・・・導線 90・・・・・・・・・・・・増幅装置92、 94.
96・・・増幅器 93、 95. 97・・・ l の入力100.11
0・・・・・・多重変換装置102.104,106,
112,114.116・・・多重変換装置の入力10
8.118・・・・・・多重変換装置の出力120.1
40・・・・・・演算増幅器122.124・・・・・
・ I の入力126・・・・・・・・・・・・・
・・・・・ r の出力127・・・・・・・・・
・・・・・・・・・IK抵抗器128・・・・・・・・
・・・・・・・・・・4マイクロフアラツドコンデンサ
129・・・・・・・・・・・・・・・・・・IK抵抗
器130.150・・・・・・多重変換装置132・・
・・・・・・・・・・・・・・・・ p の入力
134.154・・・・・・ r の出力170
.180・・・・・・ディジタル−アナログ変換器(D
A変換器) 172.182・・・ディジタル−アナログ変換器の入
力174.184・・・ の
出力190・・・・・・・・・・・・・・・記憶装置−
30−、、
キュベツトに入れである) 22.2281−・・・・・22n・・・別々の光線2
4 + 24’ ” +・・・・・24n・・・ホト
ダイオードを置く光線の集光C焦点)位置 25・・・通常の光学装置 30・・・光応答装置 32.34・・・光応答装置の出力 40・・・・・・・・・・・・第一信号操作装置42.
44・・・ の(第一及び第二)入力4
6・・・・・・・・・・・・ の出力5
0・・・・−・・・・・・・第二信号操作装置52.5
4・・・ の(第一及び第二)入力56
・・・・・・・・・・・・ の出力
60・・・・・・・・・・・・電子装置62.64
・・・ l の出力 フ0・・・・・・・・・・・・信号発生装置72.74
・・・ l の入カ フ6・・・・・・・・・・・・ r の出力80
・・・・・・・・・・・・回路配列81、 82. 8
6・・・ダイオード88・・・・・・・・・・・・導線 90・・・・・・・・・・・・増幅装置92、 94.
96・・・増幅器 93、 95. 97・・・ l の入力100.11
0・・・・・・多重変換装置102.104,106,
112,114.116・・・多重変換装置の入力10
8.118・・・・・・多重変換装置の出力120.1
40・・・・・・演算増幅器122.124・・・・・
・ I の入力126・・・・・・・・・・・・・
・・・・・ r の出力127・・・・・・・・・
・・・・・・・・・IK抵抗器128・・・・・・・・
・・・・・・・・・・4マイクロフアラツドコンデンサ
129・・・・・・・・・・・・・・・・・・IK抵抗
器130.150・・・・・・多重変換装置132・・
・・・・・・・・・・・・・・・・ p の入力
134.154・・・・・・ r の出力170
.180・・・・・・ディジタル−アナログ変換器(D
A変換器) 172.182・・・ディジタル−アナログ変換器の入
力174.184・・・ の
出力190・・・・・・・・・・・・・・・記憶装置−
30−、、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、流体の実質上遊離させた成分に光学的分析用の光束
をあてて、流体の構成成分を分析する装置において、該
光束に応答して、選ばれた異なる波長で該成分中を通過
する該光束が受けた効果に相当するパラメータを有する
第一及び第二情報信号を発生するための光応答装置;該
情報信号中の誤差に相当するパラメータを有する第一及
び第二補償信号を発生するための電子装置;該第一情報
信号を受けるために該光応答装置に接続された第一入力
及び、該第一補償信号を受けるために該電子装置に接続
された第二入力を有する第一信号操作装置、而して該第
一信号操作装置はその出力に、該第一情報信号と該第一
補償信号のパラメータ間の差に相当する第一補正済情報
信号を発する; 該第二情報信号を受けるために該光応答装置に接続され
た第一入力及び、該第二補償信号を受けるために該電子
装置に接続された第二入力を有する第二信号操作装置、
而して該第二信号操作装置はその出力に、該第二情報信
号と該第二補償信号のパラメータ間の差に相当する第二
補正済情報信号を発する;及び 該第一補正済情報信号を受けるために該第一信号操作装
置の出力に接続された第一入力及び、該第二補正済情報
信号を受けるために該第二信号操作装置の出力に接続さ
れた第二入力を有する信号発生装置、而して該信号発生
装置はその出力に、該流体の該成分の分析(値)に相当
する出力を発する、 を有することを特徴とする流体の構成成分の光学的分析
装置。 2、該第一及び第二信号操作装置が演算増幅器を有する
特許請求の範囲第1項記載の分析装置。 3、該演算増幅器の各々が、それらのそれぞれの出力に
、それらのそれぞれの組の入力に加えられた信号間の算
術差に相当する信号を発生させる特許請求の範囲第2項
記載の分析装置。 4、該光応答装置に、異なる波長で該成分を通過する光
の強度にそれぞれ相当する複数個の信号を発する構成の
ダイオート配列、該配列からの該信号の一つ宛をそれぞ
れ受ける構成の複数個の入力を有して該配列に接続され
た第一多重変換器、及び該配列からの該信号の一つ宛を
それぞれ受ける構成の複数個の入力を有して、該配列に
接続された第二多重変換器;而して該第一多重変換器は
該配列から受けた該信号の選ばれた一つに相当する出力
信号を発する構成であり且つ該第二多重変換器は該配列
から受けた該信号の別に選ばれた一つに相当する出力信
号を発する構成である、を有する特許請求の範囲第1項
記載の分析装置。 5、該配列の各ダイオードが予め定められた波長で該成
分を通過する光に応答する特許請求の範囲第4項記載の
分析装置。 6、該信号発生装置が対数比回路構成を有し、それによ
つてその出力が第一補正済情報信号と第二補正済情報信
号との比の対数に相当するものとなる特許請求の範囲第
1項記載の分析装置。 7、該電子装置に、該光束を該光応答装置に当てるに先
立つて、該第一及び第二補償信号のパラメータとみなさ
れるデータを蓄積するための記憶装置を有する特許請求
の範囲第1項記載の分析装置。 8、流体の実質上遊離させた成分に光束をあてて、その
光をそれぞれ異なる波長を有する個別の光線に分散させ
ることにより行なう流体の構成成分の分析方法に於て、
a、それぞれが該光線の異なつた一つの強度に相当する
パラメータを持つた第一及び第二情報信号を発生させ;
b、それぞれ該第一及び第二情報信号中の誤差に相当す
るパラメータをそれぞれ有する第一及び第二補償信号を
近くで発生させ; c、それぞれ、該第一情報信号と該第一補償信号のパラ
メータ間の差、及び該第二情報信号と該第二補償信号の
パラメータ間の差、に相当する第一及び第二補正済情報
信号を発生させ、且つ d、該第一及び第二補正済情報信号を、該遊離された成
分の特性を示す出力信号を発生するための装置に加える
ことを特徴とする流体の構成成分の分析方法。 10、該出力信号が該第一及び第二補正済情報信号の比
の対数である特許請求の範囲第9項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US62005984A | 1984-06-13 | 1984-06-13 | |
| US620059 | 1984-06-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140544A true JPS6140544A (ja) | 1986-02-26 |
Family
ID=24484402
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12728085A Pending JPS6140544A (ja) | 1984-06-13 | 1985-06-13 | 補償補正手段を有する流体分析装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0167816A2 (ja) |
| JP (1) | JPS6140544A (ja) |
| KR (1) | KR860000556A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6429738A (en) * | 1987-07-24 | 1989-01-31 | Terumo Corp | Instrument for measuring degree of saturation of oxygen |
| US6706808B2 (en) | 1999-08-03 | 2004-03-16 | Owens Corning Fiberglas Technology, Inc. | Binder compositions exhibiting reduced emissions |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19810483A1 (de) * | 1998-03-11 | 1999-09-23 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Bestimmung des Sensor-Offsets bei HC- und/oder NOx-Sensoren |
| DE69942250D1 (de) * | 1998-06-12 | 2010-05-27 | Radiometer Medical Aps | Verfahren zur qualitätskontrolle eines spektrophotometers |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS564036A (en) * | 1979-06-15 | 1981-01-16 | Bodenseewerk Geosystem Gmbh | Signal evaluation circuit for absorbance measuring instrument |
-
1985
- 1985-06-04 EP EP85106877A patent/EP0167816A2/en not_active Withdrawn
- 1985-06-12 KR KR1019850004115A patent/KR860000556A/ko not_active Ceased
- 1985-06-13 JP JP12728085A patent/JPS6140544A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS564036A (en) * | 1979-06-15 | 1981-01-16 | Bodenseewerk Geosystem Gmbh | Signal evaluation circuit for absorbance measuring instrument |
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|---|---|---|---|---|
| JPS6429738A (en) * | 1987-07-24 | 1989-01-31 | Terumo Corp | Instrument for measuring degree of saturation of oxygen |
| US6706808B2 (en) | 1999-08-03 | 2004-03-16 | Owens Corning Fiberglas Technology, Inc. | Binder compositions exhibiting reduced emissions |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR860000556A (ko) | 1986-01-29 |
| EP0167816A2 (en) | 1986-01-15 |
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