JPS6143052B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6143052B2 JPS6143052B2 JP52136488A JP13648877A JPS6143052B2 JP S6143052 B2 JPS6143052 B2 JP S6143052B2 JP 52136488 A JP52136488 A JP 52136488A JP 13648877 A JP13648877 A JP 13648877A JP S6143052 B2 JPS6143052 B2 JP S6143052B2
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- JP
- Japan
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- declination
- slits
- slit
- eye
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 20
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 claims description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
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- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
- G01M11/0264—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested by using targets or reference patterns
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/103—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for determining refraction, e.g. refractometers, skiascopes
- A61B3/1035—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for determining refraction, e.g. refractometers, skiascopes for measuring astigmatism
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、乱視軸及び屈折度測定装置に関する
もので、人眼の乱視軸の検出及び屈折度の測定に
用いられるレフラクトメーター、レンズの検査に
用いられるレンズメーター等に適用することがで
きる。
もので、人眼の乱視軸の検出及び屈折度の測定に
用いられるレフラクトメーター、レンズの検査に
用いられるレンズメーター等に適用することがで
きる。
レフラクトメーターは、被検眼瞳を通してター
ゲツト像を投影し、網膜上においてターゲツト像
が合焦状態で結像する際のターゲツトの位置によ
り、被検眼の屈折度を測定するものであり、ター
ゲツトは直線状に並んだ一対のスリツトに対し一
対の偏角プリズムを組合わせて構成される。各偏
角プリズムの偏角方向はスリツトに対し直角方向
であり、二つのプリズムは互に180゜異つた偏角
方向をもつて配置される。乱視軸の検出のために
は別のターゲツトが設けられ、このターゲツト
は、直径方向に並んだ一対のスリツトに対しスリ
ツト方向に傾斜した偏角プリズムを組合わせて構
成される。
ゲツト像を投影し、網膜上においてターゲツト像
が合焦状態で結像する際のターゲツトの位置によ
り、被検眼の屈折度を測定するものであり、ター
ゲツトは直線状に並んだ一対のスリツトに対し一
対の偏角プリズムを組合わせて構成される。各偏
角プリズムの偏角方向はスリツトに対し直角方向
であり、二つのプリズムは互に180゜異つた偏角
方向をもつて配置される。乱視軸の検出のために
は別のターゲツトが設けられ、このターゲツト
は、直径方向に並んだ一対のスリツトに対しスリ
ツト方向に傾斜した偏角プリズムを組合わせて構
成される。
このような従来のレフラクトメーターを用いて
検眼を行なう場合、被検眼に投影された乱視測定
用ターゲツトをイメージローテーター等の光学素
子により投影像を回転させながら、ターゲツト像
が一軸上に整列する位置を検出して、乱視軸の方
向を知り、次いで被検眼に投影された屈折度測定
用のターゲツトを光軸方向に動かして、その乱視
軸における屈折度を測定し、さらにもう一方の乱
視軸を検出するために乱視軸検出用ターゲツトを
回転させ同様な操作により他の乱視軸の方向を知
り、また同様な操作によりその乱視軸における屈
折度を測定するという、非常に面倒な操作を繰り
返す必要があつた。また、このように乱視眼では
2回屈折度を測定するが、1回目と2回目の屈折
度測定時の時間にづれがどうしても生じるため、
それぞれの時の被検眼の屈折調節状態が異ること
が応々にして出てこれが誤差となる。
検眼を行なう場合、被検眼に投影された乱視測定
用ターゲツトをイメージローテーター等の光学素
子により投影像を回転させながら、ターゲツト像
が一軸上に整列する位置を検出して、乱視軸の方
向を知り、次いで被検眼に投影された屈折度測定
用のターゲツトを光軸方向に動かして、その乱視
軸における屈折度を測定し、さらにもう一方の乱
視軸を検出するために乱視軸検出用ターゲツトを
回転させ同様な操作により他の乱視軸の方向を知
り、また同様な操作によりその乱視軸における屈
折度を測定するという、非常に面倒な操作を繰り
返す必要があつた。また、このように乱視眼では
2回屈折度を測定するが、1回目と2回目の屈折
度測定時の時間にづれがどうしても生じるため、
それぞれの時の被検眼の屈折調節状態が異ること
が応々にして出てこれが誤差となる。
本発明は、検眼におけるこのような面倒な操作
を不要とし、簡便に測定を行なうと同時に誤差の
生じにくい装置を提供するものであり、本発明の
原理は、検眼用のレフラクトメーターだけではな
く、レンズメーターや自覚式の検眼器等にも適用
することができる。
を不要とし、簡便に測定を行なうと同時に誤差の
生じにくい装置を提供するものであり、本発明の
原理は、検眼用のレフラクトメーターだけではな
く、レンズメーターや自覚式の検眼器等にも適用
することができる。
本発明の特徴は、屈折度測定用ターゲツトの構
成にあり、このターゲツトは、平行又は直線状に
並んだ一対のスリツトと、前記スリツトに対し直
交する他の一対のスリツトと、各スリツトに組合
わされた偏角プリズム又は回折素子のような偏角
素子からなる。偏角素子の偏角方向は各スリツト
と直交する方向であり、同一対のスリツトに対応
する偏角素子は互に逆方向の偏角を有する。乱視
軸検出用ターゲツトは、従来のレフラクトメータ
ーに用いられたものと同様な構成でよいが、望ま
しくは、平行又は直線状に並んだ一対のスリツト
と該スリツトに直交する他の一対のスリツトに対
し、偏角方向がスリツト長手方向で、且つ対をな
すスリツトに対応する偏角方向が互になるように
偏角素子を配置して構成する。
成にあり、このターゲツトは、平行又は直線状に
並んだ一対のスリツトと、前記スリツトに対し直
交する他の一対のスリツトと、各スリツトに組合
わされた偏角プリズム又は回折素子のような偏角
素子からなる。偏角素子の偏角方向は各スリツト
と直交する方向であり、同一対のスリツトに対応
する偏角素子は互に逆方向の偏角を有する。乱視
軸検出用ターゲツトは、従来のレフラクトメータ
ーに用いられたものと同様な構成でよいが、望ま
しくは、平行又は直線状に並んだ一対のスリツト
と該スリツトに直交する他の一対のスリツトに対
し、偏角方向がスリツト長手方向で、且つ対をな
すスリツトに対応する偏角方向が互になるように
偏角素子を配置して構成する。
本発明の原理に基づいてレフラクトメーターを
構成すると、その検眼操作は非常に簡単になる。
すなわち、まず乱視軸検出用ターゲツトにより乱
視軸の検出を行ない、次いで屈折度測定用ターゲ
ツトを投影して、直径方向に相対向する一対のス
リツト像の合致により、一つの乱視軸における屈
折度を測定し、そのままターゲツトを光軸方向に
動かして、他の一対のスリツト像の合致により他
方の乱視軸における屈折度を測定することができ
る。故に1回目と2回目の屈折度測定時の時間の
づれが殆んどないので同一条件で被検眼の測定が
出来るので誤差が入りにくい。乱視眼のほとんど
は、二つの乱視軸が互に直交するいわゆる正乱視
であるので、上述の手順により、乱視検査の目的
を十分に達成することができる。また、乱視軸検
出用ターゲツトとして、十字状に配置した4個の
スリツトに対しそれぞれ偏角プリズムを組合わせ
たものを用いれば、乱視軸の検出に際し、二つの
乱視軸が互に直交していない不正乱視を検出する
ことが可能になる。
構成すると、その検眼操作は非常に簡単になる。
すなわち、まず乱視軸検出用ターゲツトにより乱
視軸の検出を行ない、次いで屈折度測定用ターゲ
ツトを投影して、直径方向に相対向する一対のス
リツト像の合致により、一つの乱視軸における屈
折度を測定し、そのままターゲツトを光軸方向に
動かして、他の一対のスリツト像の合致により他
方の乱視軸における屈折度を測定することができ
る。故に1回目と2回目の屈折度測定時の時間の
づれが殆んどないので同一条件で被検眼の測定が
出来るので誤差が入りにくい。乱視眼のほとんど
は、二つの乱視軸が互に直交するいわゆる正乱視
であるので、上述の手順により、乱視検査の目的
を十分に達成することができる。また、乱視軸検
出用ターゲツトとして、十字状に配置した4個の
スリツトに対しそれぞれ偏角プリズムを組合わせ
たものを用いれば、乱視軸の検出に際し、二つの
乱視軸が互に直交していない不正乱視を検出する
ことが可能になる。
以下、本発明をレフラクトメーターに適用した
実施例について説明する。第1図は本発明による
レフラクトメーターの光学系を示す概略斜視図
で、このレフラクトメーターは、投影光学系と観
察光学系とからなり、投影光学系は、光源F、レ
ンズL1,L2、5角形プリズムRP1、孔あきプリズ
ムRP2、イメージローテーターRP3及び投影レン
ズL3からなり、投影レンズL3が被検眼Eの瞳E1
に対向して配置される。5角形プリズムRP1は、
光源FからレンズL1,L2を通過した光を垂直下
方に反射し、プリズムPR2はこの反射光を前方に
投影レンズL3に向けて反射する。
実施例について説明する。第1図は本発明による
レフラクトメーターの光学系を示す概略斜視図
で、このレフラクトメーターは、投影光学系と観
察光学系とからなり、投影光学系は、光源F、レ
ンズL1,L2、5角形プリズムRP1、孔あきプリズ
ムRP2、イメージローテーターRP3及び投影レン
ズL3からなり、投影レンズL3が被検眼Eの瞳E1
に対向して配置される。5角形プリズムRP1は、
光源FからレンズL1,L2を通過した光を垂直下
方に反射し、プリズムPR2はこの反射光を前方に
投影レンズL3に向けて反射する。
レンズL1,L2間にはターゲツトTが光軸方向
に移動可能に配置される。ターゲツトTは、屈折
度測定用ターゲツトT1と乱視軸検出用ターゲツ
トT2とからなる。屈折度測定用ターゲツトT1
は、十字状に配置された4個のスリツトS1,S2,
S3,S4とこれらスリツトに組合わされた偏角プリ
ズムP1,P2,P3,P4とからなり、各プリズムは、
その偏角方向が十字線に対し直交し且つそれぞれ
隣り合つたプリズムの偏角方向が互に90°づつ異
るように配置されている。したがつて、十字線方
向すなわち直径方向に相対向するプリズムP1,P2
及びP3,P4は互に反対方向の偏角を有する。乱視
軸検出用のターゲツトT2は、十字状に配置され
た4個のスリツトS5,S6,S7,S8とこれらスリツ
トに組合わされた偏角プリズムP5,P6,P7,P8と
からなり、各偏角プリズムは、直径方向外向きに
傾斜した偏角を有する。これら二つのターゲツト
T1,T2は交互に投影光路に挿入される。勿論、
同一ターゲツト板上に二つのターゲツトT1,T2
を設けて、同時に同一光学系で両方のターゲツト
を投影することも可能である。さらに、二つのタ
ーゲツトT1,T2を別の光学系により同時に被検
眼眼定に投影してもよい。5角形プリズムRP1と
孔あきプリズムRP2との間には各ターゲツトの4
個のスリツトに対応して4個の絞りA1,A2,
A3,A4が設けられ、光源Fのフイラメント像
は、レンズL1、ターゲツトT、レンズL2及びプ
リズムRP1を経て絞りA1,A2,A3,A4の位置に
結像する。被検眼Eは、その瞳E1が、投影レン
ズL3に関し絞りA1,A2,A3,A4と共役になるよ
うに位置決めする。観察光学系は、被検眼の眼底
に結像したスリツト像を、レンズL3及び孔あき
プリズムRP2の中心孔を通して観察するレンズ
L4,L3からなる。
に移動可能に配置される。ターゲツトTは、屈折
度測定用ターゲツトT1と乱視軸検出用ターゲツ
トT2とからなる。屈折度測定用ターゲツトT1
は、十字状に配置された4個のスリツトS1,S2,
S3,S4とこれらスリツトに組合わされた偏角プリ
ズムP1,P2,P3,P4とからなり、各プリズムは、
その偏角方向が十字線に対し直交し且つそれぞれ
隣り合つたプリズムの偏角方向が互に90°づつ異
るように配置されている。したがつて、十字線方
向すなわち直径方向に相対向するプリズムP1,P2
及びP3,P4は互に反対方向の偏角を有する。乱視
軸検出用のターゲツトT2は、十字状に配置され
た4個のスリツトS5,S6,S7,S8とこれらスリツ
トに組合わされた偏角プリズムP5,P6,P7,P8と
からなり、各偏角プリズムは、直径方向外向きに
傾斜した偏角を有する。これら二つのターゲツト
T1,T2は交互に投影光路に挿入される。勿論、
同一ターゲツト板上に二つのターゲツトT1,T2
を設けて、同時に同一光学系で両方のターゲツト
を投影することも可能である。さらに、二つのタ
ーゲツトT1,T2を別の光学系により同時に被検
眼眼定に投影してもよい。5角形プリズムRP1と
孔あきプリズムRP2との間には各ターゲツトの4
個のスリツトに対応して4個の絞りA1,A2,
A3,A4が設けられ、光源Fのフイラメント像
は、レンズL1、ターゲツトT、レンズL2及びプ
リズムRP1を経て絞りA1,A2,A3,A4の位置に
結像する。被検眼Eは、その瞳E1が、投影レン
ズL3に関し絞りA1,A2,A3,A4と共役になるよ
うに位置決めする。観察光学系は、被検眼の眼底
に結像したスリツト像を、レンズL3及び孔あき
プリズムRP2の中心孔を通して観察するレンズ
L4,L3からなる。
第2図は乱視軸検出用のターゲツトT2が投影
光路に挿入された場合の被検眼眼底におけるター
ゲツト像を示すもので、第2図aはターゲツト像
の方向が乱視軸に合致していない場合で、この状
態でイメージローテーターRP3を操作してターゲ
ツト像の方向を乱視軸の一つに合致させると、被
検眼Eが正乱視の場合には、第2図bに示すよう
に、4個のスリツト像S5′〜S8′が十字線上に完
全に合致するが、被検眼Eが不正乱視の場合に
は、第2図Cに示すように、一方の組のスリツト
像たとえばS5′,S6′が十字線からずれた位置に
残る。このように、被検眼の不正乱視の検出を、
乱視軸の検出と同時に容易に行なうことができ
る。なお光学系全体を回転することによつても、
同様の効果を得ることはもちろんである。
光路に挿入された場合の被検眼眼底におけるター
ゲツト像を示すもので、第2図aはターゲツト像
の方向が乱視軸に合致していない場合で、この状
態でイメージローテーターRP3を操作してターゲ
ツト像の方向を乱視軸の一つに合致させると、被
検眼Eが正乱視の場合には、第2図bに示すよう
に、4個のスリツト像S5′〜S8′が十字線上に完
全に合致するが、被検眼Eが不正乱視の場合に
は、第2図Cに示すように、一方の組のスリツト
像たとえばS5′,S6′が十字線からずれた位置に
残る。このように、被検眼の不正乱視の検出を、
乱視軸の検出と同時に容易に行なうことができ
る。なお光学系全体を回転することによつても、
同様の効果を得ることはもちろんである。
第3図は、屈折度測定用ターゲツトT2を通し
た眼定投影像を示すもので、投影像が合焦状態に
ないときには第3図aに示すようにスリツト像は
十字線から外れた状態にあり、この状態からター
ゲツトT1を光軸方向に動かして第3図bのよう
に一方の組のスリツト像S1′,S2′を合致させる
ことにより、乱視の一軸における屈折度を測定で
き、また被検眼が正乱視の場合には、ターゲツト
T1を再び光軸方向に動かして第3図Cのように
スリツト像S3′,S4′を合致させることにより他
軸における屈折度を測定することができる。被検
眼が不正乱視の場合にのみ、第1回の屈折度測定
の後にイメージローテーターの調整により第二乱
視軸の検出操作を加えればよい。尚、乱視軸検出
用ターゲツトと屈折度測定用ターゲツトとの対応
関係を明らかにするため、相対応するターゲツト
にたとえばMで示すようなマークを付すことが好
ましい。
た眼定投影像を示すもので、投影像が合焦状態に
ないときには第3図aに示すようにスリツト像は
十字線から外れた状態にあり、この状態からター
ゲツトT1を光軸方向に動かして第3図bのよう
に一方の組のスリツト像S1′,S2′を合致させる
ことにより、乱視の一軸における屈折度を測定で
き、また被検眼が正乱視の場合には、ターゲツト
T1を再び光軸方向に動かして第3図Cのように
スリツト像S3′,S4′を合致させることにより他
軸における屈折度を測定することができる。被検
眼が不正乱視の場合にのみ、第1回の屈折度測定
の後にイメージローテーターの調整により第二乱
視軸の検出操作を加えればよい。尚、乱視軸検出
用ターゲツトと屈折度測定用ターゲツトとの対応
関係を明らかにするため、相対応するターゲツト
にたとえばMで示すようなマークを付すことが好
ましい。
第1図は本発明をレフラクトメーターに適用し
た例を示す光学系の斜視図、第2図は乱視軸検出
のための投影像を示し、第3図は屈折度測定のた
めの投影像を示す。
た例を示す光学系の斜視図、第2図は乱視軸検出
のための投影像を示し、第3図は屈折度測定のた
めの投影像を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 平行又は直線状に並んだ一対のスリツトと、
前記スリツトに対し直交する他の一対のスリツト
の各々に対し、偏角素子を、偏角方向がスリツト
と直交し且つ同一対のスリツトに対応する偏角素
子の偏角方向が互に逆になるように配置した屈折
度測定用ターゲツトと、平行又は直線状に並んだ
少くとも一対のスリツトに対し、偏角素子を、そ
の偏角方向がスリツト長手方向であり且つ対をな
すスリツトの偏角素子の偏角方向が互に逆になる
ように配置した乱視軸検出用ターゲツトと、これ
らターゲツトを被検物を通して投影する手段と、
投影像を合焦する手段と、投影像を光軸のまわり
に回転させる手段とからなる乱視軸及び屈折度測
定装置。 2 前記第1項において、乱視軸検出用ターゲツ
トは互に直交する二対のスリツトを有し、各スリ
ツトに対し偏角方向がスリツト長手方向で且つ対
をなすスリツトに対応する偏角素子の偏角方向が
互に逆になるように偏角素子が配置されたことを
特徴とする装置。 3 前記第1項又は第2項において、投影像を光
軸まわりに回転させる手段は、ターゲツトと被検
物との間に配置された像回転用光学素子からなる
ことを特徴とする装置。 4 前記第1項ないし第3項のいずれかにおい
て、装置は人眼の乱視軸の検出及び屈折度の測定
を行なうレフラクトメーターであり、ターゲツト
は被検眼の網膜上に投影されるようになつてお
り、投影像を被検眼瞳を通して観察する観察光学
系が設けられたことを特徴とする装置。 5 前記第1項ないし第3項のいずれかにおい
て、装置はレンズメーターであり、ターゲツト像
はスクリーン上に投影されるようになつたことを
特徴とする装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13648877A JPS5469455A (en) | 1977-11-14 | 1977-11-14 | Device for measuring astigmatism axis and refracting power |
| US05/960,056 US4293199A (en) | 1977-11-14 | 1978-11-13 | Apparatus for detecting astigmatic axes and measuring refractive powers |
| DE2849407A DE2849407C3 (de) | 1977-11-14 | 1978-11-14 | Vorrichtung zum Bestimmen der Richtungen von astigmatischen Brennlinien und zum Messen der Brechkräfte eines Prüflings |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13648877A JPS5469455A (en) | 1977-11-14 | 1977-11-14 | Device for measuring astigmatism axis and refracting power |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5469455A JPS5469455A (en) | 1979-06-04 |
| JPS6143052B2 true JPS6143052B2 (ja) | 1986-09-25 |
Family
ID=15176307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13648877A Granted JPS5469455A (en) | 1977-11-14 | 1977-11-14 | Device for measuring astigmatism axis and refracting power |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4293199A (ja) |
| JP (1) | JPS5469455A (ja) |
| DE (1) | DE2849407C3 (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55155631A (en) * | 1979-05-21 | 1980-12-04 | Tokyo Optical | Projector for target in infrared eye refractometer |
| JPS5668428A (en) * | 1979-11-09 | 1981-06-09 | Tokyo Optical | Refraction force measuring apparatus |
| JPS56106640A (en) * | 1980-01-30 | 1981-08-25 | Asahi Optical Co Ltd | Measuring device for error of eye refraction |
| JPS6330990Y2 (ja) * | 1980-02-07 | 1988-08-18 | ||
| JPS6330991Y2 (ja) * | 1980-02-26 | 1988-08-18 | ||
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