JPS6143740B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6143740B2
JPS6143740B2 JP56151045A JP15104581A JPS6143740B2 JP S6143740 B2 JPS6143740 B2 JP S6143740B2 JP 56151045 A JP56151045 A JP 56151045A JP 15104581 A JP15104581 A JP 15104581A JP S6143740 B2 JPS6143740 B2 JP S6143740B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scan
latch
data processing
screen
processing device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP56151045A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5852755A (ja
Inventor
Hiroshi Yonemasu
Hidekyo Ozawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP56151045A priority Critical patent/JPS5852755A/ja
Publication of JPS5852755A publication Critical patent/JPS5852755A/ja
Publication of JPS6143740B2 publication Critical patent/JPS6143740B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318558Addressing or selecting of subparts of the device under test

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Digital Computer Display Output (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、スキヤンアウトされたラツチなどの
信号名およびその状態値がデイスプレイ上に表示
されるようになつたデータ処理システムにおい
て、デイスプレイ上に表示されているラツチなど
の状態値を鍵盤などを用いて書替えると、対応す
るラツチの状態値をも変更されるようにしたスキ
ヤンイン方式に関するものである。
本体系計算機とサービス・プロセツサとを備
え、サービス・プロセツサが本体系計算機のラツ
チやレジスタの状態をスキヤンアウトできると共
に、ラツチやレジスタに任意の値をスキヤンイン
できるようになつた計算機システムは公知であ
る。本体系計算機から取出されたスキヤンアウ
ト・データはサービス・プロセツサによつて編集
され、そのラツチやレジスタの信号名とその状態
値が対をなしてサービス・プロセツサのデイスプ
レイ上に表示される。
本体系計算機の制御回路を構成するラツチを強
制的にセツトしたり、エラー・ラツチをセツトし
て疑似障害を発生させることが出来れば、ホスト
計算機の制御回路の試験や診断に有効であるが、
従来はこれを行うため、ホスト計算機のラツチの
セツト端子又はリセツト端子をクリツプしてい
た。しかし、この方法では先ずセツト又はリセツ
トしたい実装位置を調べ、物理的にクリツプしな
ければならず不便である。また、回路のLSI化が
進むとクリツプできないラツチもでてくる。
本発明は、上記の考察に基づくものであつて、
第1のデータ処理装置、並びに第1のデータ処理
装置に対してスキヤンインおよびスキヤンアウト
できる第2のデータ処理装置を有するデータ処理
システムにおいて、第2のデータ処理装置におけ
るスキヤンイン動作を簡単に行い得るようにした
スキヤンイン方式を提供することを目的としてい
る。そしてそのため、本発明のスキヤンイン方式
は、第1のデータ処理装置と、該第1のデータ処
理装置のラツチに対してスキヤンアウトおよびス
キヤンインする機能を有する第2のデータ処理装
置とを具備するデータ処理システムにおいて、上
記第2のデータ処理装置は、上記第1のデータ処
理装置の状態を自己のデイスプレイ装置の画面上
に編集表示すると共に、上記画面上のラツチの状
態値がオペレータによつて変更されたとき、画面
上におけるラツチの変更された状態値と上記第1
のデータ処理装置のラツチの状態値とが一致する
ようにスキヤンインによつて上記第1のデータ処
理装置のラツチの状態値を変更するように構成さ
れていることを特徴とするものである。以下、本
発明を図面を参照しつつ説明する。
第1図は本発明が適用されるデータ処理システ
ムの概要を示す図、第2図はスキヤンアウト回路
の概要を示す図、第3図はスキヤンイン回路の概
要を示す図、第4図はスキヤン画面の1例を示す
図、第5図はフアイル3の表示フオーマツトおよ
びスキヤン・アドレスを示す図、第6図は本体系
装置のラツチを示す図、第7図はスキヤンインが
行われる場合の画面上の変化を説明する図、第8
図はサービス・プロセツサで行われるスキヤンイ
ン動作のフローチヤートである。
第1図において、1は本体系装置、2はインタ
フエース回路、3はフアイル、4はメモリ、5は
サービス・プロセツサの中央処理装置、6はデイ
スプレイ・コントローラ、7はデイスプレイ、8
はキーボードをそれぞれ示している。
第1図において、1点鎖線の下側はサービス・
プロセツサを示しており、サービス・プロセツサ
は、インタフエース回路2、フアイル3、メモリ
4、中央処理装置5、デイスプレイ・コントロー
ラ6、デイスプレイ7およびキーボードなどを有
している。サービス・プロセツサは、本体系装置
1のラツチの状態をスキヤンアウトする機能およ
び本体系装置1のラツチに任意の値をスキヤンイ
ンする機能を有している。スキヤン・モードに設
定されているときに、フアイル3よりとり出した
スキヤンアドレスを元にして、ラツチの状態が本
体系装置から読出され、サービス・プロセツサに
取込まれる。取込まれたスキヤンアウト・データ
はサービス・プロセツサによつて編集されデイス
プレイ7に表示される。オペレータは、デイスプ
レイ7のスキヤンアウト画面を見て、カーソルで
訂正したいスキヤンアウト・データを指摘し、こ
のスキヤンアウト・データを所望の値に変更する
と、サービス・プロセツサは該当するラツチの状
態値を画面上の変更された値に変更する。
第2図はスキヤンアウト回路の概要を説明する
ものであつて、9はスキヤン・アドレス・レジス
タ、10−0ないし10−2はラツチ、11と1
2はセレクタ、13−1と13−2はLSIをそれ
ぞれ示している。なお、スキヤンアウトに関して
は、LSI13−1と13−2は同様な構成を有し
ている。
スキヤン・アドレス・レジスタ9はラツチを特
定するものであり、スキヤン・アドレス・レジス
タ9の上位側はLSIアドレスを示しており、スキ
ヤン・アドレス・レジスタ9の下位側はLSI内ア
ドレスを示している。スキヤン・アドレス・レジ
スタ9の下位側はセレクタ11の制御情報とな
り、セレクタ11はこの値に応じてラツチ10−
0ないし10−2の中のいずれか1個を選択す
る。スキヤン・アドレス・レジスタ9の上位側は
セレクタ12の制御情報となり、セレクタ12は
LSI13−1およびLSI13−2から読出された
スキヤンアウト・データの中のいずれか1個を選
択する。セレクタ12から出力されるスキヤンア
ウト・データはサービス・プロセツサに送られ
る。
第3図はスキヤンイン回路の概要を示すもので
ある。第3図において、15と16は分配器をそ
れぞれ示している。なお、スキヤンインに関して
はLSI13−1と13−2は同様な構成を有して
いる。スキヤン・アドレス・レジスタ9の上位側
はLSIを指定するものであり、下位側はLSI内の
ラツチを指定するものである。分配器15には、
スキヤン・アドレス・レジスタ9の上位側とスキ
ヤンイン・セツトの信号とが入力される。スキヤ
ン・アドレス・レジスタ9にスキヤン・アドレス
がセツトされ、スキヤンイン・セツト信号が論理
「1」となると、スキヤン・アドレス・レジスタ
9の上位側で定まる分配器15の出力線上の信号
が論理「1」となる。分配器15の出力はスキヤ
ンイン・セツト信号として各LSI内の分配器16
に入力される。分配器16の入力側はスキヤン・
アドレス・レジスタ9の下位側および分配器15
の対応する出力線に接続されている。いま、LSI
13−1の分配器16に「1」のスキヤンイン・
セツト信号が入力されたとすると、スキヤン・ア
ドレス・レジスタ9の下位側で定まる分配器16
の出力線の信号が論理「1」とされる。ラツチ1
0−0,10−1,10−2の各セツト端子は分
配器16の対応する出力線に接続されており、分
配器16の対応する出力線が論理「1」となる
と、セツトされる。なお、スキヤンイン・リセツ
トに関しても同様な回路が設けられている。
第4図はスキヤン画面の1例を示す図である。
さきに述べたように、スキヤンアウト・データは
デイスプレイ7上に表示されるが、デイスプレイ
画面上には、信号名とその状態値が表示される。
第6図に示すように、複数のラツチ13のそれぞ
れに対してLATCH1、LATCH2……………等の
信号名が与えられ、レジスタに対しても
REGISTERという信号名が与えられている。第
4図のスキヤン画面では「REGISTER4」となつ
ているが、これは16進表示であり、2進数表示で
はレジスタの内容は「0100」となる。
第5図はフアイルの表示フオーマツトおよびス
キヤン・アドレスを示す図である。フアイル3は
表示フオーマツト域とスキヤンアドレス域とを有
している。表示フオーマツト域は複数の行に分割
され、各行はデイスプレイ画面の各行に対応して
いる。表示フオーマツト域における第1行ないし
第N行の各行には「LATCHi= 」(ただし、
i=1、2……………N)と記入され、第N+1
行には「REGISTER= 」と記入されてい
る。スキヤン・アドレス域は複数の行に分割さ
れ、第i行にはLATCHiのスキヤン・アドレスが
記入され、第N+1行ないし第N+4行には
REGISTERのビツト0ないしビツト3のスキヤ
ン・アドレスが記入されている。スキヤンアウト
が指令されると、先ずスキヤンアドレス域の第1
行のスキヤン・アドレスに従つてスキヤンアウト
が行われ、そのスキヤンアウト・データと表示フ
オーマツト域の第1行の表示フオーマツトとが合
成され、スキヤンアウト・データが「0」のとき
には「LATCH1=0」とデイスプレイ画面の第
1行に表示される。次にスキヤン・アドレス域の
第2行のスキヤン・アドレスに従つてスキヤン・
アウトが行われ、そのスキヤンアウト・データと
表示フオーマツト域の第2行の表示フオーマツト
とが合成され、合成されたものがデイスプレイ画
面の第2行に表示される。以下、同様にしてスキ
ヤンアウトが行われる。
第7図はスキヤンインを行う場合の画面上の変
化を説明する図である。REGISTERの値を
“7”にスキヤンインする場合には、第7図イに
示すようにキーボード8を操作してカーソルを表
示データの下に移動し、キーボード8から“7”
を入力する。この状態でENTERキーを押してス
キヤンインを起動すると、サービス・プロセツサ
はフアイル3からREGISTERビツト0ないしビ
ツト3のスキヤン・アドレスを取出し、
REGISTERのビツト0のラツチをスキヤンイ
ン・リセツトで「0」にし、ビツト1ないしビツ
ト3をそれぞれスキヤンイン・セツトで「1」に
する。スキヤンイン動作が終了すると、サービ
ス・プロセツサは再びラツチの状態をスキヤンア
ウトし、画面に表示する。この例では、第7図ロ
に示すようにREGISTERの値が“7”となり、
スキヤンインが行われたことが確認される。
第8図はサービス・プロセツサで行われるスキ
ヤンイン動作のフローチヤートである。フアイル
3はページで管理され、各ページに表示フオーマ
ツト域とスキヤン・アドレス域とが設けられてい
る。第5図はその1ページ分を示すものである。
また、サービス・プロセツサのメモリ4には何ペ
ージを表示しているかの制御情報が格納されてい
る。さきに述べたように、画面上のカーソル位置
に入力データが書込まれた後にENTERキーが押
下されると、サービス・プロセツサはカーソル位
置と入力データとを読取る。次に、メモリ4上の
制御情報から現在何ページのデータに基づいて表
示が行われているかを調べる。該当するページを
求めた後に、背景上の何れの位置にカーソルがあ
るかによつてスキヤン・アドレスを検索する。ス
キヤン・アドレスを求めた後、そのスキヤン・ア
ドレスおよび入力データを使つてスキヤンインを
行う。
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ばラツチの信号名およびその状態値を示すスキヤ
ン画面を利用してスキヤンインを行つているの
で、従来方式に比し、スキヤンインを容易に行い
得るという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が適用されるデータ処理システ
ムの概要を示す図、第2図はスキヤンアウト回路
の概要を示す図、第3図はスキヤンイン回路の概
要を示す図、第4図はスキヤン画面の1例を示す
図、第5図はフアイル3の表示フオーマツトおよ
びスキヤン・アドレスを示す図、第6図は本体系
装置のラツチを示す図、第7図はスキヤンインが
行われる場合の画面上の変化を説明する図、第8
図はサービス・プロセツサで行われるスキヤンイ
ン動作のフローチヤートである。 1……本体系装置、2……インタフエース回
路、3……フアイル、4……メモリ、5……サー
ビス・プロセツサの中央処理装置、6……デイス
プレイ・コントローラ、7……デイスプレイ、8
……キーボード、9……スキヤンアウト・アドレ
ス・レジスタ、10−0ないし10−2……ラツ
チ、11と12……セレクタ、13−1と13−
2……LSI、15と16……分配器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 第1のデータ処理装置と、該第1のデータ処
    理装置のラツチに対してスキヤンアウトおよびス
    キヤンインする機能を有する第2のデータ処理装
    置とを具備するデータ処理システムにおいて、上
    記第2のデータ処理装置は、上記第1のデータ処
    理装置の状態を自己のデイスプレイ装置の画面上
    に編集表示すると共に、上記画面上のラツチの状
    態値がオペレータによつて変更されたとき、画面
    上におけるラツチの変更された状態値と上記第1
    のデータ処理装置のラツチの状態値とが一致する
    ようにスキヤンインによつて上記第1のデータ処
    理装置のラツチの状態値を変更するように構成さ
    れていることを特徴とするスキヤンイン方式。
JP56151045A 1981-09-24 1981-09-24 スキャンイン方式 Granted JPS5852755A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56151045A JPS5852755A (ja) 1981-09-24 1981-09-24 スキャンイン方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56151045A JPS5852755A (ja) 1981-09-24 1981-09-24 スキャンイン方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5852755A JPS5852755A (ja) 1983-03-29
JPS6143740B2 true JPS6143740B2 (ja) 1986-09-29

Family

ID=15510088

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56151045A Granted JPS5852755A (ja) 1981-09-24 1981-09-24 スキャンイン方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5852755A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5852755A (ja) 1983-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5164911A (en) Schematic capture method having different model couplers for model types for changing the definition of the schematic based upon model type selection
JP2856640B2 (ja) 論理回路図エディタシステム
JPH0312573A (ja) テストデータ変更回路を有する論理回路テスト装置
US4335425A (en) Data processing apparatus having diagnosis function
US4586156A (en) Word processing system for displaying information in full character and layout mode
JPS6143740B2 (ja)
JPH08161476A (ja) インターフェース用検査装置
KR0163497B1 (ko) 정지화상화일시스템
JP2007114881A (ja) 回路図作成装置、回路図作成エディタプログラム及び回路図作成方法
JP2998674B2 (ja) 設計作業における文書作成支援装置
JPS6150340B2 (ja)
JP3018886B2 (ja) プローブ設定方法
JP2005352883A (ja) 回路シミュレーションプログラム及び装置
US4841298A (en) Bit pattern conversion system
JP2629785B2 (ja) 半導体記憶回路装置の検査装置
JP2877505B2 (ja) Lsi実装ボード及びデータ処理装置
JPS6196481A (ja) 印刷基板試験装置における試験デ−タ変換方法
JP2560999B2 (ja) 文字列出力方法
JPH05342292A (ja) 回路図データ変換装置
JP3275663B2 (ja) ディジタル測定装置
KR100195199B1 (ko) 메타얼라인 모드 데스티네이션 어드레스 발생회로 및 이를 이용한 그래픽 콘트롤러
JPS63115270A (ja) Cadシステム
JP2940186B2 (ja) 配線経路/通過ガイドの配線可不可の状態表示方式
JPS60232597A (ja) 表示装置
JPH0666759B2 (ja) デ−タ障害検出回路