JPS6144257Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6144257Y2 JPS6144257Y2 JP13438080U JP13438080U JPS6144257Y2 JP S6144257 Y2 JPS6144257 Y2 JP S6144257Y2 JP 13438080 U JP13438080 U JP 13438080U JP 13438080 U JP13438080 U JP 13438080U JP S6144257 Y2 JPS6144257 Y2 JP S6144257Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- objective lens
- lens
- light receiving
- optical path
- Prior art date
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- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、光学式デイスクプレーヤーの焦点ず
れ検出機構に関する。
れ検出機構に関する。
光学式デイスクプレーヤーの焦点制御方式とし
ては、非点収差方式が一般的であり、第１図はこ
の方式の原理的模式図を顕わす。この方式は、光
源１を出たレーザービームを対物レンズ２を介し
てデイスクレコード３上のトラツクに集光照射
し、反射光を再び前記対物レンズ２を介して前記
光源１前方の光路中に配したハーフミラー４に入
射して光路変更を為し、変更された光路に配した
シリンドリカルレンズ５を介して受光板６にビー
ムを照射する基本構成を用いて、トラツク上に於
ける照射ビームを合焦点位置に制御するものであ
る。この方式に於てトラツクに対するビームの照
射状態は受光板６に於ける受光パターンの形状変
化として現われる。何故なら、前記受光板６に於
けるｘ方向の変化は前記対物レンズ２と前記シリ
ンドリカルレンズ５によつて決定されるが、ｙ方
向の変化は前記対物レンズ２によつてのみ決定さ
れるからである。そこで前記受光板６は受光パタ
ーンが、第２図ａに図示する様にｙ方向長くなつ
たとき前記対物レンズ２が近付き過ぎていること
を、またｃに図示する様にｘ方向に長くなつたと
き前記対物レンズ６が遠過ぎることをそれぞれ示
す位置に固定されている。従つて前記対物レンズ
２の合焦点位置では、第２図に図示する様にほぼ
円となる。この受光パターンの変化は、前記受光
板６を第２図に図示する様にｘ字状に分割し、対
向する光電変換部S1，S3とS2，S4の和出力を比較
することにより電気的に検出可能となり、従来機
構はこの検出出力に応じて図示省略した対物レン
ズ変位機構を変位せしめている。
ては、非点収差方式が一般的であり、第１図はこ
の方式の原理的模式図を顕わす。この方式は、光
源１を出たレーザービームを対物レンズ２を介し
てデイスクレコード３上のトラツクに集光照射
し、反射光を再び前記対物レンズ２を介して前記
光源１前方の光路中に配したハーフミラー４に入
射して光路変更を為し、変更された光路に配した
シリンドリカルレンズ５を介して受光板６にビー
ムを照射する基本構成を用いて、トラツク上に於
ける照射ビームを合焦点位置に制御するものであ
る。この方式に於てトラツクに対するビームの照
射状態は受光板６に於ける受光パターンの形状変
化として現われる。何故なら、前記受光板６に於
けるｘ方向の変化は前記対物レンズ２と前記シリ
ンドリカルレンズ５によつて決定されるが、ｙ方
向の変化は前記対物レンズ２によつてのみ決定さ
れるからである。そこで前記受光板６は受光パタ
ーンが、第２図ａに図示する様にｙ方向長くなつ
たとき前記対物レンズ２が近付き過ぎていること
を、またｃに図示する様にｘ方向に長くなつたと
き前記対物レンズ６が遠過ぎることをそれぞれ示
す位置に固定されている。従つて前記対物レンズ
２の合焦点位置では、第２図に図示する様にほぼ
円となる。この受光パターンの変化は、前記受光
板６を第２図に図示する様にｘ字状に分割し、対
向する光電変換部S1，S3とS2，S4の和出力を比較
することにより電気的に検出可能となり、従来機
構はこの検出出力に応じて図示省略した対物レン
ズ変位機構を変位せしめている。
前述の構成で問題となるのが、デイスクレコー
ドのピツト形状に起因する誤動作である。本来、
ピツトはトラツク方向及びトラツクの幅方向に垂
直な段差を形成することが望ましいが、実際の段
部は傾斜しており、場合によつてはトラツクの幅
方向に関し段部の傾斜が平均的にアンバランスと
なる。そこで、この様に、トラツクの内外の段部
の傾斜が異なると照射ビームの回折が不均一とな
り、結果的に、前記受光板６の受光パターンがｘ
方向に変位する。ビームの照射分布がｘ方向に変
位すると第１・第３光電変換部S1，S3の光電変換
出力が第２・第４光電変換部S2，S4の変換出力に
比し減少し、合焦点状態にも拘らず第２図ｃの状
態と同様の検出出力を得ることになる。従つて、
前記対物レンズ２は前記デイスクレコード３に誤
つて近接する傾向に陥る。
ドのピツト形状に起因する誤動作である。本来、
ピツトはトラツク方向及びトラツクの幅方向に垂
直な段差を形成することが望ましいが、実際の段
部は傾斜しており、場合によつてはトラツクの幅
方向に関し段部の傾斜が平均的にアンバランスと
なる。そこで、この様に、トラツクの内外の段部
の傾斜が異なると照射ビームの回折が不均一とな
り、結果的に、前記受光板６の受光パターンがｘ
方向に変位する。ビームの照射分布がｘ方向に変
位すると第１・第３光電変換部S1，S3の光電変換
出力が第２・第４光電変換部S2，S4の変換出力に
比し減少し、合焦点状態にも拘らず第２図ｃの状
態と同様の検出出力を得ることになる。従つて、
前記対物レンズ２は前記デイスクレコード３に誤
つて近接する傾向に陥る。
そこで、本考案は前述する様な誤動作を解消し
た新規且つ有効な焦点ずれ検出機構を提供せんと
するものである。
た新規且つ有効な焦点ずれ検出機構を提供せんと
するものである。
以下、本考案を図示する一実施例に従い説明す
る。本実施例の概略構成は、第３図に図示する通
り、光源１より発したレーザービームを対物レン
ズ２を介してデイスクレコード３上のトラツクに
集光照射し、反射光を前記対物レンズ２を再び介
して前記光源１前方光路中のハーフミラー４に入
射し、その変更された反射光路中に所定間隔を隔
てて円錐体レンズ７及び受光板６を配するもので
ある。
る。本実施例の概略構成は、第３図に図示する通
り、光源１より発したレーザービームを対物レン
ズ２を介してデイスクレコード３上のトラツクに
集光照射し、反射光を前記対物レンズ２を再び介
して前記光源１前方光路中のハーフミラー４に入
射し、その変更された反射光路中に所定間隔を隔
てて円錐体レンズ７及び受光板６を配するもので
ある。
本実施例は、従来用いられていたシリンドリカ
ルレンズに代えて円錐体レンズ７を用いることを
第１の特徴とする。即ち、この円錐体レンズ７は
第４図の断面図に図示する通り、前記対物レンズ
２によつて集光されつつある光を底面部７ａに入
射し錐面部７ｂを透過せしめることにより、透過
光を特定の面でリング状に集光せしめるものであ
る。そこで本実施例は、デイスクレコード３に対
し照射ビームが合焦点状態にあるとき、リング状
の集光面に前記受光板６を固定している。従つて
受光面に於けるビームの受光パターンは、前記デ
イスクレコード３が合焦点位置より後方にあると
き合焦点時の形状〔第５図ｂ〕より外方に広がり
〔第５図ｃ〕、前記デイスクレコード３が合焦点位
置より手前にあるとき、合焦点時の形状〔第５図
ｂ〕より内方に広がる。そこで照射形状変化を捕
えれば焦点検出動作が可能となる。
ルレンズに代えて円錐体レンズ７を用いることを
第１の特徴とする。即ち、この円錐体レンズ７は
第４図の断面図に図示する通り、前記対物レンズ
２によつて集光されつつある光を底面部７ａに入
射し錐面部７ｂを透過せしめることにより、透過
光を特定の面でリング状に集光せしめるものであ
る。そこで本実施例は、デイスクレコード３に対
し照射ビームが合焦点状態にあるとき、リング状
の集光面に前記受光板６を固定している。従つて
受光面に於けるビームの受光パターンは、前記デ
イスクレコード３が合焦点位置より後方にあると
き合焦点時の形状〔第５図ｂ〕より外方に広がり
〔第５図ｃ〕、前記デイスクレコード３が合焦点位
置より手前にあるとき、合焦点時の形状〔第５図
ｂ〕より内方に広がる。そこで照射形状変化を捕
えれば焦点検出動作が可能となる。
また本実施例は、前述の円錐体レンズ７を用い
ることによつて受光板６上に形成した特殊な光電
変換素子S1，S2，S3の形状を第２の特徴とする。
即ち、光電変換素子は、中央の第１素子S1と、該
第１素子S1の外周を２分割形成する前記第２・第
３素子S2，S3とより成り、第２・第３素子S2，S3
の光電変換出力の和出力レベルと、第１素子S1の
光電変換出力レベルが合焦点状態で一致する様に
構成されている。従つて前述のレベル差が“０”
となる様に前記対物レンズ２を図示省略した変位
手段にて変位せしめれば合焦点制御が可能とな
る。更に本実施例は、トラツキングのため外周の
第２・第３素子S2，S3をトラツク方向に分割して
両者の光電変換出力レベルの差をトラツキング検
出出力としている。
ることによつて受光板６上に形成した特殊な光電
変換素子S1，S2，S3の形状を第２の特徴とする。
即ち、光電変換素子は、中央の第１素子S1と、該
第１素子S1の外周を２分割形成する前記第２・第
３素子S2，S3とより成り、第２・第３素子S2，S3
の光電変換出力の和出力レベルと、第１素子S1の
光電変換出力レベルが合焦点状態で一致する様に
構成されている。従つて前述のレベル差が“０”
となる様に前記対物レンズ２を図示省略した変位
手段にて変位せしめれば合焦点制御が可能とな
る。更に本実施例は、トラツキングのため外周の
第２・第３素子S2，S3をトラツク方向に分割して
両者の光電変換出力レベルの差をトラツキング検
出出力としている。
上述せる如く、本実施例によれば、デイスクレ
コードのトラツクピツトの段部が幅方向にアンバ
ランスとなつても受光板上の光電変換素子の中心
に対しリング状の照射ビームの中心が外れるのみ
で、焦点検出出力が変更されることはなく、確実
な焦点制御が可能となる。
コードのトラツクピツトの段部が幅方向にアンバ
ランスとなつても受光板上の光電変換素子の中心
に対しリング状の照射ビームの中心が外れるのみ
で、焦点検出出力が変更されることはなく、確実
な焦点制御が可能となる。
第１図は、従来の焦点検出機構の光学系模式
図、第２図ａ，ｂ，ｃはその受光パターンの説明
図、第３図は本考案の一実施例を示す光学模式
図、第４図は円錐体レンズの光学説明図、第５図
は本実施例の受光パターン説明図をそれぞれ顕わ
す。 主な図番の説明、１……光源、２……対物レン
ズ、３……デイスクレコード、４……ハーフミラ
ー（光路変更手段）、７……円錐体レンズ、６…
…受光板。
図、第２図ａ，ｂ，ｃはその受光パターンの説明
図、第３図は本考案の一実施例を示す光学模式
図、第４図は円錐体レンズの光学説明図、第５図
は本実施例の受光パターン説明図をそれぞれ顕わ
す。 主な図番の説明、１……光源、２……対物レン
ズ、３……デイスクレコード、４……ハーフミラ
ー（光路変更手段）、７……円錐体レンズ、６…
…受光板。
Claims (1)
- レーザー光を発する光源と、レーザー光をデイ
スクレコード面に集光する対物レンズと、前記デ
イスクレコードより反射され再び前記対物レンズ
を介した光の光路を変更する光路変更手段と、変
更光をリング状に集光する円錐体レンズと、該円
錐体レンズの透過光を受光すべく中央に形成した
円形受光素子と該円形受光素子の外周に形成した
リング状受光素子とを備える受光板とをそれぞれ
配して成る光学式デイスクプレーヤの焦点ずれ検
出機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13438080U JPS6144257Y2 (ja) | 1980-09-19 | 1980-09-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13438080U JPS6144257Y2 (ja) | 1980-09-19 | 1980-09-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5756329U JPS5756329U (ja) | 1982-04-02 |
| JPS6144257Y2 true JPS6144257Y2 (ja) | 1986-12-13 |
Family
ID=29494573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13438080U Expired JPS6144257Y2 (ja) | 1980-09-19 | 1980-09-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6144257Y2 (ja) |
-
1980
- 1980-09-19 JP JP13438080U patent/JPS6144257Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5756329U (ja) | 1982-04-02 |
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