JPS6145206A - 合焦検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明は、合焦検出装置、更に詳しくは、カメラ、顕微
鏡等の光学装置の焦点状態を検出するための合焦検出装
置に関する。

（従来技術） 結像レンズによって形成される物体像の合焦状態を検出
する方法として、光電検出手段上に投影された俄の鮮鋭
度を表わす評価値を求める鮮鋭度検出方法と、結像レン
ズの射出瞳の瞳分割された一方と他方を通過した光束に
よシ光７検出手段上に投影された２つの像の横ずれ状態
を表わす評価値を求める横ずれ検出方法とが知られてい
る。両者はそれぞれ長所、短所を有していて互いに相補
的な関係にあシ、両者を使い分けることによシ正確な合
焦検出を行なうことができる。

一方、本出願人け、既に、特願昭５７−１００７５９号
（特開昭５９−１５２０７号公報）において、上記の横
ずれ検出方法による合焦検出装置として、瞳分割を行な
って横ずれを発生させるための光学系忙ストライプマス
クを用いたものを提察した。

以下に、上記ストライブマスクを利用した従来の合焦検
出装置について説明する。

Ｆ７図は、鮮鋭度検出方法と横ずれ検出方法とを使い分
けることのできる合焦検出方法を適用した一眼レフレッ
クスカメラにおける従来の合焦検出装置の断面図である
。第７因において、撮影しンズｌからの光束は、一部が
ハーフミラ−３ａとして形成されたクイックリターンミ
ラー３によって反射されて上方の７フインダー系（図示
せず）に導かれると共に、ハーフミラ−３ａを透過した
光束は、クイックリターンミラー３の後方に設けた全反
射ミラー４によって下方の合焦検出装置５のビームスプ
リッタ−６ＶＣ導かれる。ビームスプリッタ−６は２つ
の光路分割面５ａ　、５ｂを有しているので、このビー
ムスプリッタ−６によりて入射光束は２つの光束に分岐
される。ビームスプリッタ−６の下方には横ずれ発生光
学系７を挾んでＣＣＤ或いはＭＯＳ等の自己走査機能を
有する固体撮像素子等の受光基板８が配置されている。

この受光基板８上には砥面と垂直をなす水平方向に２つ
の受光素子列１１．１２が配列されている。２つの受光
素子列１１．１２＃ｉ上記ビームスプリッタ−６ＦＣよ
って分岐された２つの光束をそれぞれ受光するものであ
シ、同受光素子列１１．１２の各受光面は予定焦平面９
０前後にそれぞれ一定距離Δを隔てた位置１３Ａ　、　
１３Ｂと光学的に等価の位置にある。

上記横ずれ発生光学系７は、ガラス、高分子フィルム等
の透明基板の表面に蒸着或いは印刷等によル同じく、紙
面と垂直な方向にｎ個のマスク７ａ（第８　ｒ！ｇＪ（
ＡＸＢ）参照）を整列して形成したストライプマスク板
をもって構成されている。マスク７ａと受光素子列１１
．１２の配置関係は第８図（Ａ）。

（Ｂ）に示すよう忙なっている。受光素子列１１．１２
はそれぞれ２ｎ個の受光素子からなシ、像の鮮鋭度検出
と横ずれ検出とを行なうものである。即ち、受光素子列
１１はｎ個の受光素子１１ＡＩ〜ｌ　ＩＡｎと、この各
受光素子と交互に配置されるｎ個の受光素子１１Ｂ１〜
１１Ｂｎとからなシ、６対の受光素子１１Ａ１！１１Ｂ
ｓ　〜１１Ａｎ　ｌ　１１Ｂｎの各一部は各マスク７ａ
　　と対向している。同様に、受光素子列１２はｎ個の
受光素子１２Ａ、〜１２Ａｎと、この各受光素子と交互
に配置されるｎ個の受光素子１２Ｂ１〜１２Ｂｎ　　と
からなシ、６対の受光素子１２Ａ１　ｇ　１２Ｂ１〜１
２Ａｎ　＋１２Ｂｎの各一部は各マスク７ａと対向して
いる。

横ずれ発生光学系７のマスク７ａによシ、撮影レンズｌ
の射出瞳の２つの領域、即ち、第７叩において、光軸２
を含む紙面に平行な面を境とする手前側の領域を透過し
た光束と向い側の領域を透過した光束とが分離されて各
光束が、２つの受光素子列１１．１２に対してそれぞれ
Ａ群の受光素子１１Ａｓ　〜１１Ａｎ　、　　１２Ａ１
〜１２ＡｎとＢ群の受光素子１１ＢＩ〜１ｌＢｎ　、　
１２Ｂ１〜１２Ｂｎに入射する。例えば、１対の受光素
子１１Ａｎ＋　ＩＩＢｎについて言えば、ｉ　８　Ｉｔ
　（Ｂ）ｋ示すように、マスク７ａが存在することによ
シ、一方の受光素子１１Ａｎに主として射出瞳の一方の
領域を透過した光束が入射し、他方の受光素子１１Ｂｎ
ＦｃＩＩｉ主として射出；偵の他方の領域を透過した光
束が入射することになる。このように、横ずれ発生光学
系７は２つの受光素子列１１．１２のＡ群の受光素子と
Ｂ群の受光素子に、受光量の角度依存性をもたせている
。

上記２つの受光素子列１１．１２の光電変換出力は、第
９図に示すように、制御回路１４からの制御信号によフ
読み出され、それぞれサンプルホールド回路１５．１６
でサンプリングホールドされたのち、Ａ／Ｄ変換器１７
．１８によってディジタル値に変換される。ディジタル
値に変換された信号は演算装置１９に導かれると、ここ
で、像の横ずれ状態および鮮鋭度の評価値を求める演算
が行なわ。

れ、この演算結果に基づき、表示器２０により焦点状態
の表示が行なわれると共に、モータ態動回路２１が作動
して上記撮影レンズ１が合焦位置に駆動される。

上記受光素子列１１．１２のＡ、Ｂ各群の受光素子出力
Ａｔ、　Ｂｉ　は受光面の変位（受光素子Ｎｏ　）に対
して、第１０図にそれぞれ包絡線２２．２３で示すよう
に変化するものとすると、上記鮮鋭度検出には、隣シ合
う受光素子出力ＡｉとＢｉとを合成した出力Ｃｔｓ即ち Ｃｉ　’−Ａｉ　＋　Ｂｉ　　・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・（１）が用いられ、
この合成出力Ｃｉは第１０図に包絡線２４で示すように
変化する。そして、上記演算装置１９では、鮮鋭度検出
の評価関数として、受光素子列１１．１２の評価関数を
それぞれＳｆ　ｍ　Ｓｔとすると、例えば、 ＳＳ　＊　Ｓ２　＝　ＩＣｉ＋ｔ　−Ｃｉ　ｌ　ｍａｘ
　　＝＝・（２）が用いられる。、また、横ずれ検出の
評価関数としては、受光素子列１１．１２？評価関数を
それぞれｙ、、　Ｙ、とすると、例えば、 Ｙｌ　＊　Ｙ２　＝Σ（ｌ　Ａｎ＋ｓ　−Ｂｎ−ｘ　Ｉ
−ＩＡｎ−ｚ−Ｂｎ＋ｉ　ｌ　）　”−（３）が用いら
れる。さらに、上記の鮮鋭度評価関数Ｓ１＋Ｓｘ、横ず
れ評価関数Ｙｓ　、　Ｙａから合焦状態を判定するため
の鮮鋭度評価関欽Ｓ％横ずれ評価関数Ｙは次式で求めら
れる。

Ｓ　”’　Ｓｌ　−Ｓ黛・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・〔４）
Ｙ＝Ｙ、＋Ｙ箕　・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・（５）これらの評価
関数は撮影レンズ１の移動量に対して第１１図に示すよ
うに変化する。

また、上記評価関数とは別に、鮮鋭度検出と横ずれ検出
とを−使い分けるため把上記評価関数ＳとＹとを切シ換
えるが、この両関数Ｓ、Ｙの切シ換えのために切換関数
が用いられる。一般的ＪＣは、７　　高周波成分を多く
含む被写体については鮮鋭度肝１゛　ゆあ、８７よ、ア
□７．ゎゎ、４ッ、□多く含む被写体については横ずれ
評価関数Ｙ１／ｃよりて評価がなされるように選択が行
なわれる。

ところで、上記の合焦検出装置においては、横ずれ検出
による評価はある程度の精度を出すことができるが、鮮
鋭度検出釦よる評価は上記（１）式に示すように横ずれ
検出のための隣り合う１対の受光素子出力ＡＩとＢ１と
を合成しているので、受光素子１１Ａｉ（１２Ａｌ）、
１１Ｂｉ（１２Ｂｉ）、１１Ａｉ＋ｔ（１２Ａｉ＋ｘ）
。

１１Ｂｉ＋１（１２Ｂｉ＋１）　、・・・・・・のピッ
チをＰとすると、との鮮鋭度検出時のサンプリングピッ
チは２Ｐとなシ（第１０１ｉｉ！！ｌ参照）、ストライ
プマスクの全くかかりて込ない受光素子列を用いた鮮鋭
度検出による評価に較べて精度が落ちてしまうという問
題がある。

そこで、上記受光素子列１１（１２）とマスク７ａとの
配列構成を変えて、第１２図に示すようにした合焦検出
装置２５がある。上記第１の従来例に対してこれをＷＸ
２の従来例とすると、との第２の従来例は、マスク７ａ
にかかつている受光素子１１Ｂｉ（１２Ｂｉ）と１１Ａ
Ｉ＋１　（１２ＡＩ＋１　）の間にマスク７ａの影　　
　　′響を受けない０群の受光素子１１Ｃｉ　（１２Ｃ
ｉ　）を配列し、この０群の受光素子出力Ｃｉを用いて
鮮鋭度検出による評価を行なうよう処する。従りて、こ
の場合の受光素子列１１’、　１２’のＡ、　Ｂ、　Ｃ
の各群の受光素子出力Ａｔ、Ｂｉ、Ｃｊは受光面の変位
　（受光素子Ｎｏ）に対して、第１３図にそれぞれ包路
線２６．２７．２８で示すように変化し、受光素子ピッ
チをＰとすると、Ａ、Ｂ各群の横ずれ検出用の受光素子
のサンプリングピッチおよび０群の鮮鋭度検出用の受光
素子のサンプリングピッチはそれぞれ３Ｐとなる。この
ため、横ずれ検出による評価はこのサンプリングピッチ
が大きいことによプ精度か出ない。また、鮮鋭度検出に
よる評価は０群の受光素子Ｃｉにマスク７ａがかかつて
いないので、Ｆ値の小さなｉ：ｉｉｌ影レンズ１に対し
ては精度良く検出できるが、Ｆ値の大きな撮影レンズ１
に対してはサンプリングピッチが大きいため検出不能或
いは検出精度が非常に悪くなる。

さらに、第３の従来例として、第１４図に示すように構
成された合焦検出波ｅ、３０がある。この合焦検出装置
３０の受光基板には４つの受光素子列１１，３１，１２
．３２が配列されている。受光素子列１１と３１の受光
面は予定焦平面９の前方に一定距離Δを隔てた位［１３
Ａ（第７の参照）と光学的に等価の位置にあシ、受光素
子列１２と３２の受光面は予定焦平面９の後方に一定距
離Δを隔てた位置１３Ｂ（第７図参照）と光学的に等価
の位置にある。そして、受光素子列１１．１２について
は、前記ａ！、１の従来例と同様に、それぞれＡ群のｎ
個の受光素子１１Ａｓ　〜１１Ａｎ　、　　１２Ａ１−
１２Ａｎ　とＢ群のｎ個の受光素子１１Ｂ１〜１１Ｂｎ
　、　　１２Ｂ１−％−１２Ｂｎからなシ、Ａ群、Ｂ群
の隣シ合う６対の受光素子の一部が各マスク７ａと対向
した横ずれ検出用の受光素子列である。受光素子列３１
．３２については、それぞれ２ｎ個の受光素子３１Ｃｔ
〜３１Ｃｚｎ　ｔ　３２Ｃ１〜３２Ｃ２ｘＬからなる鮮
鋭度検出用の受光素子列である。

従って、この場合、横ずれ検出による評価は前記ｔｇｌ
の従来例の場合と同じく精度が良く、また、鮮鋭度検出
による評価も、マスク７ａの影響を受けず、かつ受光素
子ピッチＰでサンプリングできるので、非常に精度が良
くなる。しかしながら、この第３の従来例の場合、４つ
の受光素子列１１゜３１．１２．３２を有していること
から、これらの各受光素子列の各受光素子出力を読み出
して順次転送するための４本のＣＣＤ転送路３３．３４
．３５．３６が設けられておシ、従ってこれらのＣＣＤ
転送路３３〜３６の出力端に接続される４個の出力増幅
器３７、３８．３９．４０　　を必要としている。この
ため、しまう。

以上の３つの従来の合焦検出装置を比較してまとめると
、以下の表のようになる。

上記の表から、上述した従来の合焦検出装置は、いずれ
も、合焦検出精度および消費電力等の全ての点で満足で
きるものではなく、実用上問題があることが明らかであ
る。

（目的） 本発明の目的は、上述した従来の問題点に鑑み、横ずれ
検出、鮮鋭度検出をともＦＣ精度良く行ない、しかも信
号処理回路の規模、消費電力を小さく抑えることのでき
る合焦検出装置を提供するＩ／ｃする。

（概要） 本発明の合焦検出装置は、横ずれ検出のための受光素子
列と鮮鋭度検出のための受光素子列とを配置し、両受光
素子列の出力を読み出すための信号伝送路を共用したも
のである。

（実施例） 以下、本発明の実施例を図面によって説明する。

第２．３図は本発明の一実施例を示す合焦検出装置であ
って、同合焦検出装［４５は例えば、−眼レフレックス
カメラに適用窟れる場合には、前曲＠７図に示したと同
様に、カメラ本体底部に配設されている。ビームスプリ
ッタ６、横ずれ発生光♀系７および受光基板４８からな
るこの合焦検出装置４５は、前記第３の従来の合焦検出
装置３゜光緊子列１１，１２はそれぞれＡ群のｎ個の受
光素子１１ＡＩ〜１ＩＡｎ　、　　１２Ａｔ〜１２Ａｎ
とＢ群のｎ個の受光素子１１Ｂｘ−１１Ｂｎ＊　１２Ｂ
ｉ〜１２Ｂｎからなシ、Ａ、　Ｂ群の隣り合う６対の受
光素子の一部が各マスク７ａと対向して横ずれ検出用の
ものとなりておシ、マスク７ａの全くかかつていない受
光素子列３１．３２はそれぞれ２ｎ個の受光素子３１０
１〜３１Ｃ２ｎ　８３２Ｇ１〜３２Ｃ２ｎからなる鮮鋭
度検出用のものとなっている。受光素子列１１と３１の
受光面が前記第７■に示した予定焦平面９の前方の位置
１３Ａと光学的に等価の位置にあシ、受光素子列１２と
３２の受光面が予定焦平面９の後方位置１３Ｂと等価の
位置にあることも前記第３の従来例と同様である。従り
て、受光素子列１１と１２の受光素子出力を用いて演算
することによって像の横ずれ評価を行ない、受光、　　
素子列３１と３２の受光素子出力を用いて演算すること
によって像の鮮鋭度評価を行ない、いずれも高い精度で
評価を行なうことができる。

この合焦検出装［４５が前記従来の合焦検出装置３０と
異なるところは、従来は１つの受光素子列について１本
のＣＯＤ転送路を設けていたのに対して、受光素子列１
１と３１に共通のＣＣＤ転送路４１と受光素子列１２と
３２に共通のＣＣＤ転送路４２の計２本のＣＯＤ転送路
を設けていることである。そして、横ずれ検出用受光素
子列１１の受光素子出力と鮮鋭度検出用受光素子列３１
の受光素子出力とを同時に読み出すことをせず、いずれ
か一方の受光素子列の出力を選択して共通のＣＣＤ転送
路４１によシ読み出すようにする。ＣＣＤ転送路４２に
ついても同様である。上記ＣＯＤ転送路４１．４２で順
次読み出された信号は出力増幅器４３．４４で増幅され
るが、この出力増幅器４３．４４も２台だけでよく、消
費電力は前記合焦検出装置３０の場合に較べて１／！に
なる。

このような構成の受光素子列の詳細を第１図に示す、同
一の光路位置に置かれた２つの受光素子列１１と３１に
：ついて説明すると、この２つの受光素子列１１と３１
間のＣＣＤ転送路４１は、駆動用パルスφｉによって駆
動されるＣＯＤシフトレジスタ５０と、上記受光素子列
１１，３１の各受光素子に蓄積された電荷をＣＯＤシフ
トレジスタ５０に移送するため、それぞれ移送ゲートパ
ルスφＴｌ　。

φＴ２が印加される移送ゲート５１．５２とからなる。

移送グー）　５１．５２は後述するアルゴリズムに従い
、そのいずれか一方に移送ゲートパルスφＴ１又はφＴ
２が与えられることによシ受光素子列１１．３１のいず
れか一方の電荷がＣＯＤシフトレジスタ５０に移送され
る。従りて、２つの受光素子列１１と３１のいずれか一
方の電荷を１本のＣＯＤシフトレジスタ５０で読み出す
ことができる。他の２つの受光素子列１２と３２につｈ
ても上記と同様に構成され、受光素子列１２と３．２の
いずれか一方の電プ、　　荷２”本ＯＣＣＤ　−／７　
）　ｖ？ｘｐ　ｓ６″″読み出す゛）□　　　ことがで
きる。

つまり、以上のように構成することによシ、後述のアル
ゴリズムに従って、横ずれ検出と鮮鋭度検出とを切シ換
えることができ、低消費電力化が図れると共に、イＪ号
処理回路も簡単になる。

次に、上記第１．３ｒｇＪに示した構成の合焦検出装置
に用いられる合焦判定アルゴリズムについて、第４因に
示すフローチャートを用いて説明する。

まず、この合焦検出装置忙撮影レンズｌを通りた光束が
入射して光積分が開始される。積分値が所定のレベルに
達したら、この光積分動作が打切られ、移送グー）５１
に移送ゲートパルスφＴ１が印加され、横ずれ検出用受
光素子列１１．１２の電荷がＣＯＤシフトレジスタ５０
によシ読み出される。

このとき、鮮鋭度検出用受光素子列３１．３２の電荷は
図示しない手段によってクリアされる。続いて、横ずれ
検出用受光素子列１１．１２の出力信号を用いて被写体
の光強度分布が緩かに変化しているか、急峻に変化して
いるかの判定を行なう。ここでは、この判定を被写体の
１グレ一ド度の判定”と呼び、Ｇ判定と略称する。なお
、このＧ判定には、切換関数Ｋが用いられる。受光素子
列の隣シ合９２つの受光素子間の出力差の絶対値の最大
値をＭｌとし、受光素子列の出力の最大値から最小値を
引いた最大の濃度差をＤとすると、上記切換関数には、 Ｋ＝Ｍｌ、２’Ｄ曲・四・・曲・・凹曲・・（６）であ
る。この切換関数にの値が大きければ、被写体の光強度
分布が急峻に変化しているステップ状被写体（高周波状
被写体を含む）であり、このＫＯ値が小さければ光強度
分布が緩かに変化しているグレード状被写体（低周波状
被写体を含む）であると判断できる。実際のＧ判定には
、この切換関数にの値がある一定のしきい値αよ〕大き
いか小さいかの比較によって行なわれる。

上記Ｇ判定において、グレード状被写体（“Ｇ”）であ
ると判定された場合には、そのまま上記横ずれ検出用受
光素子列１１．１２の出力信号を用いて前記（３１，（
５１式に基いた横ずれ評価関数Ｙの演算が行なわれ、そ
の判定結果が表示される。表示のあとは再び最初の光積
分動作に戻る。またステップ状被写体（“Ｓ”）　　で
あると判定された場合には、上記横ずれ検出用受光素子
列１１．１２の出力信号を用いて、前記（１）、　（２
）、　（４）式に基いた鮮鋭度評価関数Ｓの演算が行な
われ、その判定結果が表示される。

このあと、続いて２回目の光積分が行なわれ、この光積
分動作が終ると、今度は移送ゲート５２に移送ゲートパ
ルスφＴ２が印加され、鮮鋭度検出用受光素子列３１．
３２の電荷がＣＯＤシフトレジスタ５０によ〕読み出さ
れる。このときも、構ずれ検出用受光素子列１１．１２
の電荷は図示しない手段によってクリアされる。続いて
、鮮鋭度検出用受光素子列３１．３２の出力信号を用い
て２回目のＧ判定が行なわれる。このＧ判定の結果、グ
レード状被写体（′″Ｇ’）の場合には、上記最初の光
積分動作に戻る。また、ステップ状被写体（′″Ｓ”）
の場合には、上記の読み出された鮮鋭度検出用受光素子
列３１．３２の出力信号を用いて鮮鋭度評価関数の演算
が行なわれ、その判定結果が表示される。表示のあとは
、再び、この２回目の光積分動作に戻る。このステップ
状被写体に対する鮮鋭度評価Ｆｉ極めて正確に行なわれ
る。

なお、上記合焦判定アルゴリズムのフローチャートにお
いて、最初に横ずれ検出用受光素子列１１゜１２の電荷
を読み出す理由は、１回目の合焦判定では、撮影レンズ
は大きくピントずれした位置にある確率が高く、被写体
の光強度分布はボケのためにグレード状になっている。

このため、横ずれ検出出力を評価する方が有利であるか
らである。

また、横ずれ検出では、撮影レンズのデフォーカス量そ
のものを計算できるので、レンズ駆動まで含めたオー）
７ｆ−カス動作では、１回の合焦判定で撮影レンズを合
焦位置近傍まで移動させることができる利点がらる。さ
らに、撮影レンズがたまたま合焦位置近傍にあり、被写
体がステップ状のものであっても、横ずれ検出用受光素
子列１１゜１２の出力信号から前記（１）、　（２）、
　（４）式から像の鮮鋭度を評価することができるから
である。

上記ｇＸ１図に示す実施例は、２つの受光素子列に対し
て１本のＣＯＤシフトレジスタ５０を設けたものである
が、他の実施例として、第５図に示すように、２つの受
光素子列１１と３１　（又は１２と３２＞ｔｉ対して２
木のＣＯＤシフトレジスタ６１゜６２を設けるようにし
てもよい。この場合、ＣＯＤシフトレジスタ６１と６２
は出力端において、１つの合成器６３を介して出力増幅
器４３（又は４４）に接続される。従って、移送ゲート
パルスφＴが移送ゲート５１．５２に印加されることに
よって受光素子列１１（１２）の電荷はＣＯＤシフトレ
ジスタ６１によって読み出され、受光素子列３１（３２
）の電荷はＣＯＤシフトレジスタ６２によって読み出さ
れるが、合成器６３には図示しないパルスが印加される
ようになっておシ、これによシ受光素子列１１（１２）
の電荷と受光素子列３１（３２）の電荷とは、交互に、
即ち、時系列で読み出され、出力増幅器４３　（４４）
によシ増幅されるよう忙なっている０ このよう＆Ｃ＠成した合焦検出装置では、第６図に示す
ように横ずれ検出用受光素子列１１．１２の出力Ａ１ｍ
’ｆｈｅＡｓｍＢｓｍ・・・・・・と鮮鋭度検出用受光
素子列３１．３２の出力Ｃｓ　＃　Ｃｓ　＊　Ｃｓ　ａ
・・・・・・とが交互に読み出されるが、このあとＡ／
Ｄ変換するに際してけ（第９１５ｉ！ｌ参照）、上記第
４図に示したフローチャートのアルゴリズムに従って、
横ずれ検出用受光素子列１１．１２の出力のみ、或いは
、鮮鋭度検出用受光素子列３１．３２の出力のみをＡ／
Ｄ変換するようにしてもよい。

なお、以上の各実施例において、横ずれ発生光学系７は
ストライブマスク板として説明を行なったが、ストライ
プマスク板の他に、微小臨界角プリズムアレイ（特開昭
５８−５９４１８号公報参照）或いはフライアイレンズ
（特開昭５５−１１１９２７号公報参照）等を用いても
よい。

また、横ずれ検出用受光素子列と鮮鋭度検出用受光素子
列は各１列ずつを１組として２組を用い、予定焦平面９
０前後の位１１ｉｆ　１３Ａ、　１３Ｂ　（ｇｇ　７図
参照）と等価の位置にそれぞれ１組ずつ配列されるよう
にしているが、必ずしもこのような４列の受光素子列を
用いた合焦検出装置に限らず、例えば、予定焦平面９と
等価の位置に横ずれ検出用受光素子列と鮮鋭度検出用受
光素子列とを１列ずつ配置するようにしだ合焦検出装置
にも本発明を適用でき、この場合、受光素子出力の読み
出し用信号伝送路は１本でよいことになる。

（効Ｒ：） 以上述べたように、本発明によれば、横ずれ検出用受光
素子列と鮮鋭度検出用受光素子列とを並設し、両受光素
子列の出力を共通の信号伝送路で時系列で読み出すよう
にしているので、信号処理回路が１′！ｉ社になると共
に消費電力が少なくて済み、さらに、鮮鋭度検出用受光
素子列と横ずれ検出用受光素子列とが独立していてそれ
ぞれの受光素子出力のサンプリングピッチを小さくでき
るので、合焦検出精度が向上し、特に鮮鋭度評価を行な
う場合、ステップ状被写体、高周波状被写体などに対し
ても極めて高精度の評価を行なうことができる等の優れ
た効果を発揮する。

【図面の簡単な説明】

第１因は、本発明の一実廁例を示す合焦検出装置の基本
構成を説明するための受光部および信号伝送路の配置構
成図、 第２図は、本発明の一実施例を示す合焦検出装置の拡大
断面図、 第３図は、上記第２図に示す合焦検出装置のビームスプ
リッタを除いた平面■、 第４図は、上記第１〜３図に示す合焦検出装置の合焦判
定アルゴリズムの一例を説明するフローチャート、 第５図は、本発明の他の実施例を示す合焦検出装置の基
本４Ｂ成を説明する丸めの受光部および信号伝送路の配
置措成図、 第６図は、上記第５図に示す合焦検出装置の１対の受光
素子列の読み出し出力を表わした線図、Ｗ１７図は、−
眼しフレックスカメラ忙適用された従来のＭｌの合焦検
出装置の断面図、第８図（Ａ）および（Ｂ）は、上記第
７図に示す合焦検出装置のビームスプリッタを除いた平
面図およびＸ−Ｘ線に溢う断面図、 第９図は、上記第７図に示す合焦検出装置の電１′、Ａ
工。７．。ｙ／ｕ、 第１０図は、上記第７−に示す合焦検出装置における各
受光素子列の受光素子番号に対する出力線図、 第１１図は、上記第７図に示す合焦検出装置の受光素子
列出力による評価関数を表わす曲線邸、第１２図は、従
来の第２の合焦検出装置のビームスプリッタを除いた平
面図、 第１３図は、第１２図に示す合焦検出装置における各受
光素子列の受光素子番号に対する出力ｍ図、第１４１！
！１１：ｔ、従来の第３０合焦検出装置のビームスズ１
Ｊツタを除いた平面図である。 ｌ・・・撮影レンズ（結偉光学系） １１．１２・・・横ずれ検出用受光素子列３１．３２・
・・鮮鋭度検出用受光素子列３３〜３６．４１．４２・
・・ＣＯＤ転送路（時系列信号伝送路） ３７〜４０．４３．４４・・・出力増幅器（時系列信号
伝送路） ６３・・・合成器（時系列信号伝送路）禿８図（Ａ） ＋１Ａｎ　　　　ｌｌＩｊｎ 馬９図 外１０図 Ｔ：九宗士Ｎｏ。 外１１図 受光素子Ｎｏ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 結像光学系のデフォーカス量に応じた像の鮮鋭度を検出
   する受光素子列と、結像光学系のデフォーカス量に応じ
   た、瞳分割された像の横ずれ状態を検出する受光素子列
   とを少なくとも各１列ずつ有した合焦検出装置において
   、 上記鮮鋭度検出用受光素子列の出力と上記横ずれ検出用
   受光素子列の出力とを共通の時系列信号伝送路で読み出
   すようにしたことを特徴とする合焦検出装置。