JPS6146452Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6146452Y2 JPS6146452Y2 JP1980111522U JP11152280U JPS6146452Y2 JP S6146452 Y2 JPS6146452 Y2 JP S6146452Y2 JP 1980111522 U JP1980111522 U JP 1980111522U JP 11152280 U JP11152280 U JP 11152280U JP S6146452 Y2 JPS6146452 Y2 JP S6146452Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- moisture content
- display
- measurement
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は穀物の含水率値を測定し、得られた複
数の測定値から平均値を自動的に算出するように
した手動の含水率測定装置に関する。
数の測定値から平均値を自動的に算出するように
した手動の含水率測定装置に関する。
従来、穀物を一対の電極間で圧砕挾持してその
電極間に発生する電気抵抗値から含水率値を測定
する形式の含水率測定装置においては、１回の測
定に必要とするサンプルの穀粒は高々20粒前後で
ある。この為、ある量を持つた穀物の含水率値を
正確に測定するために、必ず複数のサンプルにつ
き測定を行い、得られた個々の測定値に基づいて
平均値を求め、この平均値をこの穀物の含水率値
とみなしていた。したがつて、特に測定者が測定
毎にサンプルを採取して測定を行う形式の手動含
水率測定装置においては、上記のように平均値を
求めるために１人の測定者がサンプル毎の測定値
を順次記録し、後に計算する必要があり、その測
定手順は、手間がかかり煩しいものであつた。こ
の為慣れない測定者においては、正確な平均値を
得にくいという不具合が発生した。これを解決す
る手段として、サンプル毎に得られる測定値から
自動的に平均値を計算して表示する装置等が考え
られるが、この場合には、次のような点を考慮す
る必要がある。例えば籾のような穀物をサンプル
とする場合に、未熟米等の穀粒がサンプルに混入
すると、そのサンプルの測定値のみ異常に高い含
水率値となり、この値を単純に平均値の計算に加
えると穀物全体としての正しい含水率値を得られ
ないことになる。
電極間に発生する電気抵抗値から含水率値を測定
する形式の含水率測定装置においては、１回の測
定に必要とするサンプルの穀粒は高々20粒前後で
ある。この為、ある量を持つた穀物の含水率値を
正確に測定するために、必ず複数のサンプルにつ
き測定を行い、得られた個々の測定値に基づいて
平均値を求め、この平均値をこの穀物の含水率値
とみなしていた。したがつて、特に測定者が測定
毎にサンプルを採取して測定を行う形式の手動含
水率測定装置においては、上記のように平均値を
求めるために１人の測定者がサンプル毎の測定値
を順次記録し、後に計算する必要があり、その測
定手順は、手間がかかり煩しいものであつた。こ
の為慣れない測定者においては、正確な平均値を
得にくいという不具合が発生した。これを解決す
る手段として、サンプル毎に得られる測定値から
自動的に平均値を計算して表示する装置等が考え
られるが、この場合には、次のような点を考慮す
る必要がある。例えば籾のような穀物をサンプル
とする場合に、未熟米等の穀粒がサンプルに混入
すると、そのサンプルの測定値のみ異常に高い含
水率値となり、この値を単純に平均値の計算に加
えると穀物全体としての正しい含水率値を得られ
ないことになる。
本考案は上記の事情に鑑みて、自動的に平均値
の計算を行い得るようにするとともにサンプル毎
に得られる測定値を平均値の計算に加えるかどう
か測定者が判別処理できる指令スイツチを設け、
異常な測定値を示すサンプルの含水率値はその平
均値計算に加えないようにした。これにより、慣
れない測定者においても容易に、かつ正確に含水
率値を測定することを可能にする手動の含水率測
定装置を提供することを目的とするものである。
の計算を行い得るようにするとともにサンプル毎
に得られる測定値を平均値の計算に加えるかどう
か測定者が判別処理できる指令スイツチを設け、
異常な測定値を示すサンプルの含水率値はその平
均値計算に加えないようにした。これにより、慣
れない測定者においても容易に、かつ正確に含水
率値を測定することを可能にする手動の含水率測
定装置を提供することを目的とするものである。
以下、本考案の実施例を図面により具体的に説
明する。第１図は、本考案を適用する含水率測定
装置の外観平面図である。図において１は筐体で
あり、その上面には透明な表示窓２が形成され、
この表示窓２の下には、含水率値を表示する数字
表示素子３が設けられて測定した含水率値をデジ
タル表示する。更にこの近くには電源表示灯４が
設けられている。また表示窓２の近傍には、測定
して得た含水率値の記憶を指令する指令スイツチ
５、記憶した含水率値の数を表示する表示器６が
設けられ、発光表示素子７を複数個有する。次に
筐体１の内部（図示しない）には測定回路を構成
する回路基板を平面状に固定するとともに、電源
用の電池収納ケース、また籾すり器、ブラシ、ス
プーン等の測定補助具を格納する。また筐体１の
右側端には穀物圧砕用のハンドル８を設け、これ
を回転することによりハンドル８の下部に位置す
る上部電極、下部電極からなる一対の電極間に介
在した穀物を圧砕挾持する。ストツパー９は、ハ
ンドル８の回転を規制して圧砕時の電極間隔を常
に一定に保つために設ける。ハンドル８がストツ
パー９でその回転を規制される位置には、測定ス
イツチ１０が設けられており、ハンドル８に設け
られたマグネツトによりON，OFFされる。
明する。第１図は、本考案を適用する含水率測定
装置の外観平面図である。図において１は筐体で
あり、その上面には透明な表示窓２が形成され、
この表示窓２の下には、含水率値を表示する数字
表示素子３が設けられて測定した含水率値をデジ
タル表示する。更にこの近くには電源表示灯４が
設けられている。また表示窓２の近傍には、測定
して得た含水率値の記憶を指令する指令スイツチ
５、記憶した含水率値の数を表示する表示器６が
設けられ、発光表示素子７を複数個有する。次に
筐体１の内部（図示しない）には測定回路を構成
する回路基板を平面状に固定するとともに、電源
用の電池収納ケース、また籾すり器、ブラシ、ス
プーン等の測定補助具を格納する。また筐体１の
右側端には穀物圧砕用のハンドル８を設け、これ
を回転することによりハンドル８の下部に位置す
る上部電極、下部電極からなる一対の電極間に介
在した穀物を圧砕挾持する。ストツパー９は、ハ
ンドル８の回転を規制して圧砕時の電極間隔を常
に一定に保つために設ける。ハンドル８がストツ
パー９でその回転を規制される位置には、測定ス
イツチ１０が設けられており、ハンドル８に設け
られたマグネツトによりON，OFFされる。
次に第２図は、本考案の一実施例を示す測定装
置のブロツク図である。試料穀物を圧砕挾持して
電気抵抗を測定する一対の電極１１，１２は、電
気抵抗を電圧に変換する抵抗／電圧変換回路１３
に接続されている。１４は上記抵抗／電圧変換回
路１３のアナログ量としての出力電圧を入力し、
これをデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路、
１５は上記Ａ／Ｄ変換回路でデジタル量に変換さ
れた測定データを入力して記憶する表示記憶回
路、１６は上記表示記憶回路１５に記憶された測
定データを数字表示素子３に表示するための表示
ドライブ回路である。１７は指令スイツチ５、測
定スイツチ１０からの信号を入力して測定時にお
ける各種タイミングパルス（T1〜T6）を発生する
タイミング発生回路、１８は前記表示記憶回路１
５に記憶された測定データを指令スイツチ５の指
令に基づいて順次一時記憶する記憶回路、１９は
前記記憶回路１８に記憶された測定データに基づ
いて平均値を計算する演算回路である。上記Ａ／
Ｄ変換回路１４、表示記憶回路１５、記憶回路１
８、演算回路１９は、それぞれタイミング発生回
路１７のタイミングパルス信号（T1〜T6）に従つ
たタイミングで動作する。
置のブロツク図である。試料穀物を圧砕挾持して
電気抵抗を測定する一対の電極１１，１２は、電
気抵抗を電圧に変換する抵抗／電圧変換回路１３
に接続されている。１４は上記抵抗／電圧変換回
路１３のアナログ量としての出力電圧を入力し、
これをデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路、
１５は上記Ａ／Ｄ変換回路でデジタル量に変換さ
れた測定データを入力して記憶する表示記憶回
路、１６は上記表示記憶回路１５に記憶された測
定データを数字表示素子３に表示するための表示
ドライブ回路である。１７は指令スイツチ５、測
定スイツチ１０からの信号を入力して測定時にお
ける各種タイミングパルス（T1〜T6）を発生する
タイミング発生回路、１８は前記表示記憶回路１
５に記憶された測定データを指令スイツチ５の指
令に基づいて順次一時記憶する記憶回路、１９は
前記記憶回路１８に記憶された測定データに基づ
いて平均値を計算する演算回路である。上記Ａ／
Ｄ変換回路１４、表示記憶回路１５、記憶回路１
８、演算回路１９は、それぞれタイミング発生回
路１７のタイミングパルス信号（T1〜T6）に従つ
たタイミングで動作する。
次に、この実施例の作用を第１〜第３図により
説明する。まず試料穀物がハンドル８の回転によ
り電極１１，１２間で圧砕挾持されると同時に測
定スイツチ１０がハンドル８に設けられたマグネ
ツトによりONして測定が開始される。電極１
１，１２間に発生した電気抵抗値は、抵抗／電圧
変換回路１３により穀物の含水率値に対応したア
ナログ量である電圧に変換された後、さらにタイ
ミングパルス（T1）により動作するＡ／Ｄ変換回
路１４を介してデジタル量に変換されて、次にタ
イミングパルス（T2）により表示記憶回路１５に
測定データ（Mi）として一時記憶される。次に
表示記憶回路１５に記憶された測定データ
（Mi）は、表示ドライブ回路１６を経て数字表示
素子３に測定値としてデジタル表示される。この
状態で、指令スイツチ５がONするとタイミング
パルス（T3）を入力する記憶回路１８は表示記憶
回路１５に記憶されている測定データ（Mi）の
変換値データ（mi）を記憶し、次にタイミング
パルス（T4）により演算回路１９は、記憶された
複数のデータ（mi）に基づいて平均値（；
＝〓〓mi／ｎ）を計算する。この平均値（）
はタイミングパルス（T5）で表示記憶回路１５に
記憶された後、以後いままで数字表示素子３に表
示されていた測定データ（Mi）に代つて穀物の
平均含水率値として表示される。同時に記憶回路
１８に記憶されているデータ（mi）の記憶数は
演算回路１９、表示記憶回路１５を介して、表示
器６の発光表示素子７にその記憶数に対応した数
だけ点灯して表示される。これらの表示は、ハン
ドル８が逆回転して測定スイツチ１０がOFFさ
れると同時に消される。しかし記憶回路１８に記
憶されているデータ（mi）は、測定スイツチ１
０のOFFによつてもその記憶内容は消去され
ず、記憶回路１８は、以後の測定において指令ス
イツチ５の指令により順次新たにデータ（mi）
を記憶する。次に測定スイツチ１０がONして測
定データ（Mi）が表示されている間に、指令ス
イツチ５がONされない時は、該測定データ
（Mi）は記憶回路１８に記憶されなく平均値計算
も行なわれず平均値（）も表示されない。こ
のように測定スイツチ１０がONしている間に、
指令スイツチ５がONすると現在表示されている
測定データ（Mi）が記憶回路１８に記憶される
と同時に、演算回路１９で平均値（）が計算
されて、数字表示素子３に平均含水率値として表
示される。次に新たな試料穀物の平均含水率値を
測定する場合には、まず測定スイツチ１０が
OFFしている間に、指令スイツチ５をONする。
これによりタイミングパルス（T6）が記憶回路１
８に入力されて、それまで記憶されていたデータ
（mi）の記憶が消去される。以上の各回路動作の
タイミングはタイミングパルス発生回路１７によ
り出力されるタイミングパルス（T1〜T6）に基づ
いて行なわれる。
説明する。まず試料穀物がハンドル８の回転によ
り電極１１，１２間で圧砕挾持されると同時に測
定スイツチ１０がハンドル８に設けられたマグネ
ツトによりONして測定が開始される。電極１
１，１２間に発生した電気抵抗値は、抵抗／電圧
変換回路１３により穀物の含水率値に対応したア
ナログ量である電圧に変換された後、さらにタイ
ミングパルス（T1）により動作するＡ／Ｄ変換回
路１４を介してデジタル量に変換されて、次にタ
イミングパルス（T2）により表示記憶回路１５に
測定データ（Mi）として一時記憶される。次に
表示記憶回路１５に記憶された測定データ
（Mi）は、表示ドライブ回路１６を経て数字表示
素子３に測定値としてデジタル表示される。この
状態で、指令スイツチ５がONするとタイミング
パルス（T3）を入力する記憶回路１８は表示記憶
回路１５に記憶されている測定データ（Mi）の
変換値データ（mi）を記憶し、次にタイミング
パルス（T4）により演算回路１９は、記憶された
複数のデータ（mi）に基づいて平均値（；
＝〓〓mi／ｎ）を計算する。この平均値（）
はタイミングパルス（T5）で表示記憶回路１５に
記憶された後、以後いままで数字表示素子３に表
示されていた測定データ（Mi）に代つて穀物の
平均含水率値として表示される。同時に記憶回路
１８に記憶されているデータ（mi）の記憶数は
演算回路１９、表示記憶回路１５を介して、表示
器６の発光表示素子７にその記憶数に対応した数
だけ点灯して表示される。これらの表示は、ハン
ドル８が逆回転して測定スイツチ１０がOFFさ
れると同時に消される。しかし記憶回路１８に記
憶されているデータ（mi）は、測定スイツチ１
０のOFFによつてもその記憶内容は消去され
ず、記憶回路１８は、以後の測定において指令ス
イツチ５の指令により順次新たにデータ（mi）
を記憶する。次に測定スイツチ１０がONして測
定データ（Mi）が表示されている間に、指令ス
イツチ５がONされない時は、該測定データ
（Mi）は記憶回路１８に記憶されなく平均値計算
も行なわれず平均値（）も表示されない。こ
のように測定スイツチ１０がONしている間に、
指令スイツチ５がONすると現在表示されている
測定データ（Mi）が記憶回路１８に記憶される
と同時に、演算回路１９で平均値（）が計算
されて、数字表示素子３に平均含水率値として表
示される。次に新たな試料穀物の平均含水率値を
測定する場合には、まず測定スイツチ１０が
OFFしている間に、指令スイツチ５をONする。
これによりタイミングパルス（T6）が記憶回路１
８に入力されて、それまで記憶されていたデータ
（mi）の記憶が消去される。以上の各回路動作の
タイミングはタイミングパルス発生回路１７によ
り出力されるタイミングパルス（T1〜T6）に基づ
いて行なわれる。
次に、第４図は本考案の他の実施例を示す測定
装置のブロツク図である。第２図と共通する部分
については符号を同一として説明を省略する。２
０は制御のタイミングをとるための基準クロツク
を発振するクロツク発振回路、２１は各種データ
処理、演算回路を行う演算処理装置（CPU）２
２を含むマイクロコンピユータであり、その内部
には予めプログラムを記憶しているリードオンリ
ーメモリー（ROM）２３、演算結果や入力デー
タ等を一時記憶する複数の記憶領域からなるリー
ドおよびライト可能なデータ用ランダムアクセス
メモリ（RAM）２４、Ａ／Ｄ変換回路１４と指
令スイツチ５と測定スイツチ１０からの信号を入
力する入力データバツフア２５、数字表示素子
３，３′及び表示器６の発光表示素子７等を表示
駆動するための表示制御回路２６等から構成され
ている。
装置のブロツク図である。第２図と共通する部分
については符号を同一として説明を省略する。２
０は制御のタイミングをとるための基準クロツク
を発振するクロツク発振回路、２１は各種データ
処理、演算回路を行う演算処理装置（CPU）２
２を含むマイクロコンピユータであり、その内部
には予めプログラムを記憶しているリードオンリ
ーメモリー（ROM）２３、演算結果や入力デー
タ等を一時記憶する複数の記憶領域からなるリー
ドおよびライト可能なデータ用ランダムアクセス
メモリ（RAM）２４、Ａ／Ｄ変換回路１４と指
令スイツチ５と測定スイツチ１０からの信号を入
力する入力データバツフア２５、数字表示素子
３，３′及び表示器６の発光表示素子７等を表示
駆動するための表示制御回路２６等から構成され
ている。
次に第５図は、プログラムのフローチヤートを
示す図である。このプログラムは、ROM２３に
記憶されており、マイクロコンピユータ２１に接
続するＡ／Ｄ変換回路１４、数字表示素子３，
３′、表示器６等は、このプログラムに従つて動
作する。以下、このフローチヤートの動作説明を
する。まず図示しない電源スイツチをONするこ
とにより、プログラムがスタートする。次に測定
スイツチ１０がONかどうか判定される。ここで
測定スイツチ１０がONするとＡ／Ｄ変換回路１
４が動作して、電極１１，１２間で圧砕挾持され
る試料穀物の電気抵抗値に対応する抵抗／電圧変
換回路１３の出力電圧をデジタル量に変換する。
このデジタル量に変換された測定データ（Mi）
は、表示制御回路２６を経て数字表示素子３によ
り測定値としてデジタル表示される。次に指令ス
イツチ５がONしているかどうかの判定が行なわ
れる。ONしていない場合には、測定スイツチ１
０がOFFするまで測定データ（Mi）の表示を繰
り返す。指令スイツチ５がONした場合には、直
前に表示されている測定データ（Mi）を平均値
を計算するためのデータ（mi）としてRAM２４
に記憶する。次にこの記憶されたデータ（mi）
に基づいて演算処理装置２２は、平均値（）
を計算し、この平均値（）を数字表示素子
３′に平均含水率値として表示するとともに、表
示器６にRAM２４に記憶しているデータ（mi）
の記憶数（＝測定回数）を表示する。測定スイツ
チ１０がOFFすると数字表示素子３，３′での表
示は全て消される。次に新たな試料穀物の平均含
水率を測定する場合には、測定スイツチ１０が
OFFの状態で指令スイツチ５をONすることによ
りRAM２４に記憶されているデータ（mi）は全
て消去されて、新たな測定が可能となる。
示す図である。このプログラムは、ROM２３に
記憶されており、マイクロコンピユータ２１に接
続するＡ／Ｄ変換回路１４、数字表示素子３，
３′、表示器６等は、このプログラムに従つて動
作する。以下、このフローチヤートの動作説明を
する。まず図示しない電源スイツチをONするこ
とにより、プログラムがスタートする。次に測定
スイツチ１０がONかどうか判定される。ここで
測定スイツチ１０がONするとＡ／Ｄ変換回路１
４が動作して、電極１１，１２間で圧砕挾持され
る試料穀物の電気抵抗値に対応する抵抗／電圧変
換回路１３の出力電圧をデジタル量に変換する。
このデジタル量に変換された測定データ（Mi）
は、表示制御回路２６を経て数字表示素子３によ
り測定値としてデジタル表示される。次に指令ス
イツチ５がONしているかどうかの判定が行なわ
れる。ONしていない場合には、測定スイツチ１
０がOFFするまで測定データ（Mi）の表示を繰
り返す。指令スイツチ５がONした場合には、直
前に表示されている測定データ（Mi）を平均値
を計算するためのデータ（mi）としてRAM２４
に記憶する。次にこの記憶されたデータ（mi）
に基づいて演算処理装置２２は、平均値（）
を計算し、この平均値（）を数字表示素子
３′に平均含水率値として表示するとともに、表
示器６にRAM２４に記憶しているデータ（mi）
の記憶数（＝測定回数）を表示する。測定スイツ
チ１０がOFFすると数字表示素子３，３′での表
示は全て消される。次に新たな試料穀物の平均含
水率を測定する場合には、測定スイツチ１０が
OFFの状態で指令スイツチ５をONすることによ
りRAM２４に記憶されているデータ（mi）は全
て消去されて、新たな測定が可能となる。
次に第６図は、他のプログラムのフローチヤー
トを示す図である。第５図のフローチヤートと共
通する部分についての動作説明は省略する。プロ
グラムがスタートすると、まずＡ／Ｄ変換回路１
４を動作させて一対の電極１１，１２間に発生す
る電気抵抗値が所定値以上かどうかを判定する。
この所定値以上かどうかの判定は、先のフローチ
ヤートの例において測定スイツチ１０のON、
OFFの判定に対応する。この所定値は、籾、玄
米、麦等を試料穀物とする場合には、含水率値で
10〜12％程度である。所定値以上の場合は、再び
Ａ／Ｄ変換回路を動作させて入力される測定デー
タ（Mi）を数字表示素子３に測定値として表示
する。この状態で、指令スイツチ５がONされる
と、表示されている測定データ（Mi）をRAM２
４に平均値の計算用のデータ（mi）として記憶
する。次にこの記憶されたデータ（mi）が所定
数に達したかの判定が行なわれる。所定数（例え
ば５）に達したと判定されると、次に平均値
（）が計算されて、数字表示素子３′に表示値
（平均含水率値）として表示される。所定数以下
の場合には、平均値（）の表示は行なわない
で、穀物圧砕用のハンドル８が逆回転されて測定
データ（Mi）が所定値以下になるまで測定デー
タ（Mi）を数字表示素子３に含水率値として表
示する。このように本実施例においては記憶され
たデータ（mi）の記憶数が所定値になつた場合
にのみその平均値を計算し、その結果を平均含水
率値として表示するようにしたので、測定者の意
志によらないで常に同一数の記憶されたデータ
（mi）に基づいた平均含水率値が得られるので、
より安定した正確な測定が行なわれる。また本実
施例では測定スイツチ１０を設ける必要がないの
で、測定データ（Mi）を記憶するための指令ス
イツチのみ操作すればよく、スイツチの誤操作も
防止できる。
トを示す図である。第５図のフローチヤートと共
通する部分についての動作説明は省略する。プロ
グラムがスタートすると、まずＡ／Ｄ変換回路１
４を動作させて一対の電極１１，１２間に発生す
る電気抵抗値が所定値以上かどうかを判定する。
この所定値以上かどうかの判定は、先のフローチ
ヤートの例において測定スイツチ１０のON、
OFFの判定に対応する。この所定値は、籾、玄
米、麦等を試料穀物とする場合には、含水率値で
10〜12％程度である。所定値以上の場合は、再び
Ａ／Ｄ変換回路を動作させて入力される測定デー
タ（Mi）を数字表示素子３に測定値として表示
する。この状態で、指令スイツチ５がONされる
と、表示されている測定データ（Mi）をRAM２
４に平均値の計算用のデータ（mi）として記憶
する。次にこの記憶されたデータ（mi）が所定
数に達したかの判定が行なわれる。所定数（例え
ば５）に達したと判定されると、次に平均値
（）が計算されて、数字表示素子３′に表示値
（平均含水率値）として表示される。所定数以下
の場合には、平均値（）の表示は行なわない
で、穀物圧砕用のハンドル８が逆回転されて測定
データ（Mi）が所定値以下になるまで測定デー
タ（Mi）を数字表示素子３に含水率値として表
示する。このように本実施例においては記憶され
たデータ（mi）の記憶数が所定値になつた場合
にのみその平均値を計算し、その結果を平均含水
率値として表示するようにしたので、測定者の意
志によらないで常に同一数の記憶されたデータ
（mi）に基づいた平均含水率値が得られるので、
より安定した正確な測定が行なわれる。また本実
施例では測定スイツチ１０を設ける必要がないの
で、測定データ（Mi）を記憶するための指令ス
イツチのみ操作すればよく、スイツチの誤操作も
防止できる。
以上本考案によれば、従来のように、サンプル
毎に得られる測定値を毎回記録する必要もなく、
穀物の平均含水率値を容易に得ることができると
同時に、異常な含水率値を平均含水率値の計算に
加えないようにすることができるので、より正確
な測定値が得られる。
毎に得られる測定値を毎回記録する必要もなく、
穀物の平均含水率値を容易に得ることができると
同時に、異常な含水率値を平均含水率値の計算に
加えないようにすることができるので、より正確
な測定値が得られる。
第１図は本考案の一実施例を適用する含水率測
定装置の外観平面図、第２図は本考案の一実施例
である測定装置のブロツク図、第３図は第２図の
動作を説明するためのタイムチヤート、第４図は
マイクロコンピユータを使用した測定装置のブロ
ツク図、第５図、６図は第４図の動作のフローチ
ヤートを示す図である。 ３，３′……数字表示素子、５……指令スイツ
チ、８……ハンドル、１１，１２……電極、１３
……抵抗／電圧変換回路、１４……Ａ／Ｄ変換回
路、１８……記憶回路、１９……演算回路、２１
……マイクロコンピユータ、２４……RAM。
定装置の外観平面図、第２図は本考案の一実施例
である測定装置のブロツク図、第３図は第２図の
動作を説明するためのタイムチヤート、第４図は
マイクロコンピユータを使用した測定装置のブロ
ツク図、第５図、６図は第４図の動作のフローチ
ヤートを示す図である。 ３，３′……数字表示素子、５……指令スイツ
チ、８……ハンドル、１１，１２……電極、１３
……抵抗／電圧変換回路、１４……Ａ／Ｄ変換回
路、１８……記憶回路、１９……演算回路、２１
……マイクロコンピユータ、２４……RAM。
Claims (1)
- 試料穀物を一対の電極間で圧砕挟持して、その
電気抵抗値から含水率値を測定する含水率測定装
置において、前記電気抵抗値を穀物の含水率値に
変換する変換手段と、前記含水率値を記憶可能な
記憶手段と、前記記憶手段に含水率値を記憶指令
する指令スイツチと、前記記憶手段に記憶された
複数の含水率値からその平均値を算出する演算手
段と、前記圧砕挟持中の穀物の含水率値を入力し
て表示値として表示するとともに、前記指令スイ
ツチの動作に連動して平均値を表示する表示手段
とを具備したことを特徴とする平均値表示機能を
有する含水率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980111522U JPS6146452Y2 (ja) | 1980-08-05 | 1980-08-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980111522U JPS6146452Y2 (ja) | 1980-08-05 | 1980-08-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5735651U JPS5735651U (ja) | 1982-02-25 |
| JPS6146452Y2 true JPS6146452Y2 (ja) | 1986-12-27 |
Family
ID=29472625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980111522U Expired JPS6146452Y2 (ja) | 1980-08-05 | 1980-08-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6146452Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58148656U (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-05 | 株式会社ケツト科学研究所 | 穀物含水率測定装置 |
| JP2626374B2 (ja) * | 1991-10-31 | 1997-07-02 | 株式会社島津製作所 | Ｔｏｃ計 |
| JP5654825B2 (ja) * | 2010-10-05 | 2015-01-14 | 日置電機株式会社 | 絶縁抵抗測定装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5116991A (ja) * | 1974-07-31 | 1976-02-10 | Kett Electric Lab | Suibunsokuteisochi |
| JPS5922897B2 (ja) * | 1977-11-10 | 1984-05-29 | 株式会社ケット科学研究所 | 穀類乾燥機制御装置 |
| JPS56149947U (ja) * | 1980-04-11 | 1981-11-11 |
-
1980
- 1980-08-05 JP JP1980111522U patent/JPS6146452Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5735651U (ja) | 1982-02-25 |
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