JPS6146860B2 - - Google Patents
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- JPS6146860B2 JPS6146860B2 JP56155801A JP15580181A JPS6146860B2 JP S6146860 B2 JPS6146860 B2 JP S6146860B2 JP 56155801 A JP56155801 A JP 56155801A JP 15580181 A JP15580181 A JP 15580181A JP S6146860 B2 JPS6146860 B2 JP S6146860B2
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- circuit
- output
- mode setting
- setting register
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- Expired
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はデータ処理装置における診断回路に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a diagnostic circuit in a data processing device.
従来のデータ処理装置ではシフト機能を有する
レジスタを縦続接続し1本のシフトパスを構成し
て回路の試験あるいは診断を行つてきたが一方向
のみのシフトパスの場合、シフトパス中に故障が
あつても故障箇所を容易に切り分けできず、した
がつて1本のシフトパスが複数の交換単位の回路
から構成される場合でも故障時にシフトパスを構
成するすべての回路部を交換する必要があつた。
また、故障箇所を容易に切り分け可能とするため
に両方向のシフトパスを設ける場合は回路が複雑
になりかつ金物量が増大する欠点をもつていた。 In conventional data processing devices, circuit testing or diagnosis has been performed by cascading registers with a shift function to form a single shift path.However, in the case of a shift path in only one direction, even if there is a failure during the shift path, the failure will not occur. It is not possible to easily separate the parts, so even if one shift path is composed of circuits of a plurality of replacement units, it is necessary to replace all the circuit parts constituting the shift path in the event of a failure.
Furthermore, if a shift path is provided in both directions in order to easily isolate the failure location, the circuit becomes complicated and the amount of hardware increases.
本発明の目的は少ない金物量で一定のシフトパ
ス単位毎に試験あるいは診断可能にすることによ
り、シフトパスの故障部分を切り分け可能にした
診断回路を有するデータ処理装置を提供すること
にある。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a data processing device having a diagnostic circuit that can isolate a faulty part of a shift path by making it possible to test or diagnose a fixed shift path unit with a small amount of hardware.
前記目的を達成するために本発明によりデータ
処理装置の診断回路は多数のシフトレジスタを接
続してなり、相互に論理的に接続された複数のシ
フトパス単位と、前段のシフトパス単位出力か、
自段のシフトパス単位出力のいずれかを出力する
シフトパス出力信号切換回路と、前記シフトパス
出力信号切換回路の切換モードがシフトイン信号
の所定値により設定されるモード設定レジスタ
と、前記モード設定レジスタをシフトパス単位か
ら切離し、シフトパス動作中に前記モード設定レ
ジスタの内容を保持する制御回路とで構成してあ
る。 In order to achieve the above object, the diagnostic circuit of a data processing device according to the present invention is formed by connecting a large number of shift registers, and includes a plurality of shift path units logically connected to each other, and a shift path unit output of the previous stage.
a shift path output signal switching circuit that outputs one of the shift path unit outputs of its own stage; a mode setting register in which the switching mode of the shift path output signal switching circuit is set by a predetermined value of a shift-in signal; The control circuit is separated from the unit and maintains the contents of the mode setting register during shift pass operation.
上記構成によれば各シフトパス単位を含む回路
ブロツク毎に故障切り分けが可能となり本発明の
目的は完全に達成される。 According to the above configuration, failure can be isolated for each circuit block including each shift path unit, and the object of the present invention is completely achieved.
以下、図面を参照して本発明をさらに詳しく説
明する。 Hereinafter, the present invention will be explained in more detail with reference to the drawings.
第1図は本発明によるデータ処理装置の一実施
例を示すブロツク図で、多数のシフトレジスタを
接続してなるシフトパスをもつ複数の回路ブロツ
クとその制御回路から構成される例である。本実
施例は一定のシフトパス単位を含み構成される回
路ブロツクを2つ接続して一つのシフトパスを形
成したものである。 FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a data processing device according to the present invention, and is an example composed of a plurality of circuit blocks having shift paths formed by connecting a large number of shift registers and a control circuit thereof. In this embodiment, one shift path is formed by connecting two circuit blocks each including a fixed shift path unit.
図中、3は回路ブロツクとを接続する端子
を示しており、回路ブロツクはモード設定レジ
スタ1と、NAND回路31〜34および36〜3
9により構成されモード設定レジスタ1をシフト
パスより切り離し制御をする制御回路と、シフト
レジスタ11〜1nにより構成され、回路ブロツ
クはシフトパス出力信号切換回路2と、シフト
レジスタ21〜2mにより構成される。シフトモ
ード信号101はモード設定レジスタ1、シフト
レジスタ11〜1nおよびシフトレジスタ21〜
2mに接続され、クロツク信号102はNAND回
路32〜34で構成されるOR回路の出力106
を通してモード設定レジスタ1へ、さらにシフト
レジスタ11〜1n、シフトレジスタ21〜2m
へと接続される。モード切換信号103はNAND
回路31の出力105を通してNAND回路32に
接続され、また、NAND回路31の出力104を
通してNAND回路33、AND回路35および
NAND回路36に接続される。 In the figure, 3 indicates a terminal for connecting to the circuit block, and the circuit block is connected to the mode setting register 1 and the NAND circuits 31 to 34 and 36 to 3.
9 and controls the mode setting register 1 by separating it from the shift path, and shift registers 11 to 1n, and the circuit block is composed of a shift path output signal switching circuit 2 and shift registers 21 to 2m. The shift mode signal 101 is transmitted to the mode setting register 1, shift registers 11 to 1n, and shift registers 21 to 1n.
2m, and the clock signal 102 is the output 106 of an OR circuit composed of NAND circuits 32 to 34.
to mode setting register 1 through shift registers 11 to 1n, and shift registers 21 to 2m.
connected to. Mode switching signal 103 is NAND
The output 105 of the circuit 31 is connected to the NAND circuit 32, and the output 104 of the NAND circuit 31 is connected to the NAND circuit 33, the AND circuit 35, and
Connected to the NAND circuit 36.
シフトイン信号201はモード設定レジスタ1
に接続され、このモード設定レジスタ1の出力1
07はNAND回路33へ、また出力202は
NAND回路37〜39で構成されるOR回路の出
力203よりシフトレジスタ11に接続される。
シフトレジスタ11のシフトアウト信号204は
n―2個のシフトレジスタを経由してシフトレジ
スタ1nのシフトアウト信号205はシフトパス
出力信号切換回路2の一方の入力に接続され、ま
たシフトレジスタ21に接続される。このシフト
レジスタ21のシフトアウト信号206はm―2
個のシフトレジスタを経由してシフトレジスタ2
mに接続され、シフトレジスタ2mのシフトアウ
ト信号207は前記シフトパス出力信号切換回路
2のもう一方の入力に接続され、出力208がシ
フトアウト信号となる。またモード設定レジスタ
の第2ビツトの出力108はAND回路35を通
して出力109になり切換信号としてシフトパス
出力信号切換回路2に供給される。 Shift-in signal 201 is mode setting register 1
output 1 of this mode setting register 1.
07 goes to the NAND circuit 33, and the output 202 goes to the NAND circuit 33.
The output 203 of the OR circuit composed of NAND circuits 37 to 39 is connected to the shift register 11.
The shift-out signal 204 of the shift register 11 passes through n-2 shift registers, and the shift-out signal 205 of the shift register 1n is connected to one input of the shift path output signal switching circuit 2, and is also connected to the shift register 21. Ru. The shift out signal 206 of this shift register 21 is m-2
shift register 2 via shift registers
The shift out signal 207 of the shift register 2m is connected to the other input of the shift path output signal switching circuit 2, and the output 208 becomes the shift out signal. Further, the output 108 of the second bit of the mode setting register passes through the AND circuit 35 and becomes the output 109, which is supplied to the shift path output signal switching circuit 2 as a switching signal.
次にシフトパスの故障診断の動作について説明
する。 Next, the operation of shift path failure diagnosis will be explained.
通常の動作ではモード切換信号103を論理
0、シフトモード信号101を論理1にしてクロ
ツク102が供給されるのでシフトイン信号はパ
ス201―202―203―204―205―2
06―207―208を通してシフトアウトされ
る。201〜208は故障が検出されたとき故障
箇所を交換単位であるブロツク、ブロツクに
切り分けする場合、まずモード設定レジスタ1に
モード値をシフトインする。この場合モード設定
レジスタ1のaビツトには論理1、bビツトにも
論理1が設定される。次にモード切換信号103
を論理1にすることにより回路ブロツク側のシ
フトパスのみ診断可能となる。モード切換信号1
03の論理1ではNAND回路31の出力105は
論理0となり、また前記aビツトにセツトした値
により出力107は論理0となりNAND回路32
および33によりクロツク信号102のモード設
定レジスタ1への供給が停止される。また、
NAND31の出力104が論理1になりAND回
路35の出力109が有効になりbビツトの値論
理1が伝達され、この結果、シフトパス出力切換
回路2は切換えられて回路ブロツクのシフトパ
ス単位の出力205が208に出力される。さら
にNAND回路36によりNAND回路38が閉じる
ためシフトウアト信号202の回路ブロツクの
シフトパス単位への供給は断たれ、モード設定レ
ジスタ1はシフトパスから切離される。シフトパ
スは201―203―204―205―208と
形成され、このような状態でクロツクを供給する
ことによりブロツクのシフトパスとは無関係に
ブロツクのシフトパスの診断を行うことができ
るため両ブロツクの故障箇所切り分けが可能とな
る。 In normal operation, the clock 102 is supplied with the mode switching signal 103 set to logic 0 and the shift mode signal 101 set to logic 1, so the shift-in signal passes through the paths 201-202-203-204-205-2.
Shifted out through 06-207-208. 201 to 208 first shift a mode value into the mode setting register 1 when a failure is detected and the failure location is divided into blocks, which are units of replacement. In this case, the a bit of the mode setting register 1 is set to logic 1, and the b bit is also set to logic 1. Next, mode switching signal 103
By setting this to logic 1, only the shift path on the circuit block side can be diagnosed. Mode switching signal 1
03, the output 105 of the NAND circuit 31 becomes a logic 0, and the value set in the a bit causes the output 107 to become a logic 0, and the NAND circuit 32
and 33, the supply of the clock signal 102 to the mode setting register 1 is stopped. Also,
The output 104 of the NAND 31 becomes logic 1, the output 109 of the AND circuit 35 becomes valid, and the b-bit value logic 1 is transmitted. As a result, the shift path output switching circuit 2 is switched and the output 205 of the shift path unit of the circuit block is changed. 208. Further, since the NAND circuit 38 is closed by the NAND circuit 36, the supply of the shift wait signal 202 to each shift path unit of the circuit block is cut off, and the mode setting register 1 is separated from the shift path. The shift path is formed as 201-203-204-205-208, and by supplying the clock in this state, the shift path of the block can be diagnosed regardless of the shift path of the block, so it is possible to isolate the failure location of both blocks. becomes possible.
本発明は以上説明したように回路ブロツクにシ
フトパス出力切換回路をもたせ、このシフトパス
出力切換回路の切換モードを設定するモード設定
レジスタを故障箇所切り分け動作中シフトパスよ
り切離すことによりシフトパスの故障診断を回路
ブロツク単位に容易に行なうことができる効果が
ある。 As explained above, the present invention provides a shift path output switching circuit in a circuit block, and disconnects the mode setting register for setting the switching mode of the shift path output switching circuit from the shift path during operation to isolate the failure location, thereby diagnosing the shift path failure. It has an effect that can be easily achieved in block units.
第1図は本発明によるデータ処理装置の実施例
を示すブロツク図である。
1……モード設定レジスタ、2……シフトパス
出力信号切換回路、3……ブロツク間接続端子、
11〜1n・21〜2m……シフトレジスタ、3
1〜34・36〜39……NAND回路、35……
AND回路。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a data processing apparatus according to the present invention. 1...Mode setting register, 2...Shift path output signal switching circuit, 3...Inter-block connection terminal,
11~1n・21~2m...Shift register, 3
1~34・36~39...NAND circuit, 35...
AND circuit.
Claims (1)
に論理的に接続された複数のシフトパス単位と、
前段のシフトパス単位出力か、自段のシフトパス
単位出力のいずれかを出力するシフトパス出力信
号切換回路と、前記シフトパス出力信号切換回路
の切換モードがシフトイン信号の所定値により設
定されるモード設定レジスタと、前記モード設定
レジスタをシフトパス単位から切離し、シフトパ
ス動作中に前記モード設定レジスタの内容を保持
する制御回路とからなる診断回路を有するデータ
処理装置。1. A plurality of shift path units that are formed by connecting a large number of shift registers and are logically connected to each other,
a shift pass output signal switching circuit that outputs either a shift pass unit output of the preceding stage or a shift pass unit output of the current stage; and a mode setting register in which a switching mode of the shift pass output signal switching circuit is set by a predetermined value of a shift-in signal. and a control circuit that separates the mode setting register from a shift pass unit and holds the contents of the mode setting register during a shift pass operation.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56155801A JPS5856047A (en) | 1981-09-29 | 1981-09-29 | Data processor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56155801A JPS5856047A (en) | 1981-09-29 | 1981-09-29 | Data processor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5856047A JPS5856047A (en) | 1983-04-02 |
| JPS6146860B2 true JPS6146860B2 (en) | 1986-10-16 |
Family
ID=15613738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56155801A Granted JPS5856047A (en) | 1981-09-29 | 1981-09-29 | Data processor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5856047A (en) |
-
1981
- 1981-09-29 JP JP56155801A patent/JPS5856047A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5856047A (en) | 1983-04-02 |
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