JPS6151912A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JPS6151912A JPS6151912A JP59174632A JP17463284A JPS6151912A JP S6151912 A JPS6151912 A JP S6151912A JP 59174632 A JP59174632 A JP 59174632A JP 17463284 A JP17463284 A JP 17463284A JP S6151912 A JPS6151912 A JP S6151912A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diffusion
- type
- boron
- emulsion
- diffused
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P32/00—Diffusion of dopants within, into or out of wafers, substrates or parts of devices
- H10P32/10—Diffusion of dopants within, into or out of semiconductor bodies or layers
- H10P32/14—Diffusion of dopants within, into or out of semiconductor bodies or layers within a single semiconductor body or layer in a solid phase; between different semiconductor bodies or layers, both in a solid phase
- H10P32/1408—Diffusion of dopants within, into or out of semiconductor bodies or layers within a single semiconductor body or layer in a solid phase; between different semiconductor bodies or layers, both in a solid phase from or through or into an external applied layer, e.g. photoresist or nitride layers
- H10P32/141—Diffusion of dopants within, into or out of semiconductor bodies or layers within a single semiconductor body or layer in a solid phase; between different semiconductor bodies or layers, both in a solid phase from or through or into an external applied layer, e.g. photoresist or nitride layers the applied layer comprising oxides only
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P32/00—Diffusion of dopants within, into or out of wafers, substrates or parts of devices
- H10P32/10—Diffusion of dopants within, into or out of semiconductor bodies or layers
- H10P32/17—Diffusion of dopants within, into or out of semiconductor bodies or layers characterised by the semiconductor material
- H10P32/171—Diffusion of dopants within, into or out of semiconductor bodies or layers characterised by the semiconductor material being group IV material
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は半導体装置の製造方法にかかり、とくに半導体
装置の製造工程における不純分元素の拡散方法に関する
ものである。
装置の製造工程における不純分元素の拡散方法に関する
ものである。
(従来技術)
半導体装置は高純腿な半導体基板(以後、ウェハーと呼
ぶ)へ不純分元素を拡散する−こけいくつかの方法があ
る。
ぶ)へ不純分元素を拡散する−こけいくつかの方法があ
る。
例えば高温に加熱した半導体基板の表面に拡散目的の元
素を含む気体を接触させる方法。又は拡散目的元素を含
む固体を半導体基板に隣接して背き高温に加熱して拡散
する方法。あるいは電気エネルギーで高速に加速した拡
散目的原子を半導体等板に当てる方法等でちる。
素を含む気体を接触させる方法。又は拡散目的元素を含
む固体を半導体基板に隣接して背き高温に加熱して拡散
する方法。あるいは電気エネルギーで高速に加速した拡
散目的原子を半導体等板に当てる方法等でちる。
これらの方法に対して半導体基板上に拡散目的元素を含
有するエマルジョン型の溶液(以後、拡散源と呼ぶ)を
塗布した後、熱処理により拡散を行なう方法がある。
有するエマルジョン型の溶液(以後、拡散源と呼ぶ)を
塗布した後、熱処理により拡散を行なう方法がある。
(発明の目的)
本発明の目的はこのエマルジョン型の溶液を塗布して熱
拡散する方法において、複数種類の不純分元素を含有す
るエマルジョン溶液を用いて、同時に、複数種類の不純
分元素の拡散をし、工程の簡略化を計るものである。
拡散する方法において、複数種類の不純分元素を含有す
るエマルジョン溶液を用いて、同時に、複数種類の不純
分元素の拡散をし、工程の簡略化を計るものである。
(発明の構成)
この発明は半導体基板上に拡散目的元素を含有するエマ
ルジョン型の溶液を塗布し熱拡散を行なう方法において
、複数の拡散目的元素を含有するエマルジョン溶液を用
いることを特徴とする半導体装置の製造方法である。
ルジョン型の溶液を塗布し熱拡散を行なう方法において
、複数の拡散目的元素を含有するエマルジョン溶液を用
いることを特徴とする半導体装置の製造方法である。
(発明の効果)
半導体装置の製造工程は多数の単一工程の組合せによっ
て成り立っているが、その中でも特に熱拡散工程は製造
時間が長くかかる。本発明によれば、a数の不純分元素
を同時に拡散することができるので、この製造工程の数
を低減でき、且つ製造時筒も大幅に短縮できる。
て成り立っているが、その中でも特に熱拡散工程は製造
時間が長くかかる。本発明によれば、a数の不純分元素
を同時に拡散することができるので、この製造工程の数
を低減でき、且つ製造時筒も大幅に短縮できる。
(実施例)
次に本発明の実施列を図面にもとすいて説明する。
まず第1図のようにN型の基板1を用いて、工)択拡散
を行なうために、感光性樹脂を用いて、シリコン識化膜
2に部分的に露光部を形成し開孔部を設ける。この上に
if 4 、”fJが異なり、拡散係数が異なる不純分
元素(ヒ累とホウ素)を含有するエマルジョン型溶液3
をスピンナーで塗布して(第2図)約1000°Cで熱
拡散する。ヒ素よりもホはホウ素の方が深く拡散する。
を行なうために、感光性樹脂を用いて、シリコン識化膜
2に部分的に露光部を形成し開孔部を設ける。この上に
if 4 、”fJが異なり、拡散係数が異なる不純分
元素(ヒ累とホウ素)を含有するエマルジョン型溶液3
をスピンナーで塗布して(第2図)約1000°Cで熱
拡散する。ヒ素よりもホはホウ素の方が深く拡散する。
これによって電導型がそれぞれ、1→N型、5→Pfi
、4→NuのNPN型のトランジスタが形成される(第
3図)。
、4→NuのNPN型のトランジスタが形成される(第
3図)。
(発明のまとめ)
以上のように、複数の拡散目的元素を含有するエマルジ
ョン溶液を塗布して、つ、zノ・−に同時に熱拡散を行
なうと工程の大幅な短縮と、製造時間の短縮になる。
ョン溶液を塗布して、つ、zノ・−に同時に熱拡散を行
なうと工程の大幅な短縮と、製造時間の短縮になる。
第1図乃至第3図は本発明の実施例を示すもので、第1
図は半導体基板上に選択拡散用にバターニング状態にし
た断面図であり、第2図は第1図の表面に拡散源を塗布
した状態を示す断面図であり、第3図は熱処理により不
純分がそれぞれ拡散し九状態を示す断面図である。 同、図において、
図は半導体基板上に選択拡散用にバターニング状態にし
た断面図であり、第2図は第1図の表面に拡散源を塗布
した状態を示す断面図であり、第3図は熱処理により不
純分がそれぞれ拡散し九状態を示す断面図である。 同、図において、
Claims (1)
- 半導体基板上に拡散目的元素を含有するエマルジョン型
の溶液を塗布し、熱拡散を行なう方法において、複数の
拡散目的元素を含有するエマルジョン溶液を用いること
を特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59174632A JPS6151912A (ja) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59174632A JPS6151912A (ja) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6151912A true JPS6151912A (ja) | 1986-03-14 |
Family
ID=15981984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59174632A Pending JPS6151912A (ja) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6151912A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5340752A (en) * | 1992-10-23 | 1994-08-23 | Ncr Corporation | Method for forming a bipolar transistor using doped SOG |
-
1984
- 1984-08-22 JP JP59174632A patent/JPS6151912A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5340752A (en) * | 1992-10-23 | 1994-08-23 | Ncr Corporation | Method for forming a bipolar transistor using doped SOG |
| EP0594340A3 (en) * | 1992-10-23 | 1996-04-24 | Ncr Int Inc | Method for forming a bipolar transistor |
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