JPS615232A - 配向層の形成方法 - Google Patents
配向層の形成方法Info
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- JPS615232A JPS615232A JP4096485A JP4096485A JPS615232A JP S615232 A JPS615232 A JP S615232A JP 4096485 A JP4096485 A JP 4096485A JP 4096485 A JP4096485 A JP 4096485A JP S615232 A JPS615232 A JP S615232A
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Landscapes
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業トの利用可能性〕
本発明は、少なくとも1つの+ルの扁平な表向を、#、
(供給源ないしは蒸着源かち出゛ζ分散し該)口Iil
に0°と異なった入射角の下に衝突する部分流Q、二暴
露させて、該表面上に配向層を形成する方法と、その方
法を実施する装置、並びに、これらの形成方法及び装置
のための液晶基体に関する。
(供給源ないしは蒸着源かち出゛ζ分散し該)口Iil
に0°と異なった入射角の下に衝突する部分流Q、二暴
露させて、該表面上に配向層を形成する方法と、その方
法を実施する装置、並びに、これらの形成方法及び装置
のための液晶基体に関する。
この形式の装置は、米国特許第3834792号によっ
て従来から知られている。
て従来から知られている。
この形成方法は、液晶表示装置において液晶に指向して
基体面に配向層を形成するごとに′l!1に適合してい
る。その場合、該基体面には、例えばSiO系の傾斜蒸
着によって、傾斜柱状要素から成る構造が形成される(
グツトマン、L、Al1か、「傾斜蒸着酸化珪素フィル
ムのトポグラソイ及びその液晶配向にネ寸する効果J、
電子装置6、二対するIEEEI−ランザクションズ、
Vol 、 FED −24、No、 7.197
7、p795〜804)、これらの要素は、基体面に続
く境界層内に、ちる液晶の光軸を、成るイ憂先方向と平
行に配向させるC′とにより、液晶内のコヒーレンスに
基づいで、全表示セル内の液晶の形態を木質的に変更さ
−1る。
基体面に配向層を形成するごとに′l!1に適合してい
る。その場合、該基体面には、例えばSiO系の傾斜蒸
着によって、傾斜柱状要素から成る構造が形成される(
グツトマン、L、Al1か、「傾斜蒸着酸化珪素フィル
ムのトポグラソイ及びその液晶配向にネ寸する効果J、
電子装置6、二対するIEEEI−ランザクションズ、
Vol 、 FED −24、No、 7.197
7、p795〜804)、これらの要素は、基体面に続
く境界層内に、ちる液晶の光軸を、成るイ憂先方向と平
行に配向させるC′とにより、液晶内のコヒーレンスに
基づいで、全表示セル内の液晶の形態を木質的に変更さ
−1る。
米国特許第3834792号に、Lっ゛C既知のこの形
成方法によれば、蒸着層を形成しようとする1対の基板
を、木質的には点状の蒸着a+λの1.方に、この蒸着
源からの粒子流が、基板に幻する垂線との間の約80°
の入射角で基板面に衝突するように、真空装置中に収納
する。基板と蒸着源との間の相対的な空間位置は、蒸着
の間変更されない。
成方法によれば、蒸着層を形成しようとする1対の基板
を、木質的には点状の蒸着a+λの1.方に、この蒸着
源からの粒子流が、基板に幻する垂線との間の約80°
の入射角で基板面に衝突するように、真空装置中に収納
する。基板と蒸着源との間の相対的な空間位置は、蒸着
の間変更されない。
配向層によって定まる光軸の優先方向&;l:、基体面
の各点において、配向層の厚さだけでなく、蒸着源から
放出される粒子流の入射方向にも依存し、その場合に、
前記優先方向と基体面との間の傾斜バイアス角度は11
粒子流の入射角に依存しくジェッファー、T、J、、ネ
ールンク、J、r液晶の傾斜バイアス角度の正確な決定
」、シュー−。アプライド、フィジックス、Vol、
48 、NO,’、)、197’Lp 1783−1.
792も参照)、また優先方向のアジマス方位は、入射
粒子流の’c 、t’1. L’L対応1−7でいるた
め、粒子流が空間的にこの、1、)に発散さ′11.る
5ユとによって、全基体面Qこわたろ優先方向の一イ5
トな整列は、蒸着源と基体面との間の距離が基体面の長
さに比へて非常に大きい場合にし7か達成されない。
の各点において、配向層の厚さだけでなく、蒸着源から
放出される粒子流の入射方向にも依存し、その場合に、
前記優先方向と基体面との間の傾斜バイアス角度は11
粒子流の入射角に依存しくジェッファー、T、J、、ネ
ールンク、J、r液晶の傾斜バイアス角度の正確な決定
」、シュー−。アプライド、フィジックス、Vol、
48 、NO,’、)、197’Lp 1783−1.
792も参照)、また優先方向のアジマス方位は、入射
粒子流の’c 、t’1. L’L対応1−7でいるた
め、粒子流が空間的にこの、1、)に発散さ′11.る
5ユとによって、全基体面Qこわたろ優先方向の一イ5
トな整列は、蒸着源と基体面との間の距離が基体面の長
さに比へて非常に大きい場合にし7か達成されない。
アジマス方イ☆のこの−・様さ−(1′+倒バイアス角
度の不規則性は比較的少な(作用するー は、液晶の満
足な光特性を実現するうえに絶対に必要である。
度の不規則性は比較的少な(作用するー は、液晶の満
足な光特性を実現するうえに絶対に必要である。
例えば192点×280点の大表面の7トリノクス表示
装置と約+4X20cmの活性面4二1rいて、許容さ
れうるアジマス変動が5°、Lりも少ない配向層を形成
するには、従来の方法の場合、蒸着源から基体面までの
距離を230Cmよりも大きくすることが必要になる。
装置と約+4X20cmの活性面4二1rいて、許容さ
れうるアジマス変動が5°、Lりも少ない配向層を形成
するには、従来の方法の場合、蒸着源から基体面までの
距離を230Cmよりも大きくすることが必要になる。
このように距1ギ1を人きくすると、真空室か大形化し
て設備コストが高くなり、ポンプ作動時間が長くなり、
基板の歩留りか低生する。
て設備コストが高くなり、ポンプ作動時間が長くなり、
基板の歩留りか低生する。
他ブjでは、従来の方法を前記の大きさの基板るこ適用
し7た場合、薄着距離を、小形の真空室によって実現可
能な、約30cmという大きさにすると、アジマス方向
が約30°変動する。この大きさオーダーの変動と、そ
れに結びイζjいた液晶の回転角の変動とは、完成した
表示セルの到底認容しえない応答時間、作動電圧及び色
の変動を惹起させる。
し7た場合、薄着距離を、小形の真空室によって実現可
能な、約30cmという大きさにすると、アジマス方向
が約30°変動する。この大きさオーダーの変動と、そ
れに結びイζjいた液晶の回転角の変動とは、完成した
表示セルの到底認容しえない応答時間、作動電圧及び色
の変動を惹起させる。
別の既知の方法(コシダ、N:I−?fj、品の大表面
擬ホメオトロピック配向及びゲストボストポジティブ ジンクス、Vol. 5 2 、No. 9、]98
1、p534〜536)によれば、点蒸着源の代りに長
さ約40龍の直線状の蒸着源が用いられる。しかし2、
幾何学的な理由から明らかなように、全蒸着面にわたっ
て一様な優先方向のアジマス配向は、無限長の蒸着源の
みによって達成される。蒸着源を限られた長さに引伸ば
すことは、不規則性を多少緩和しうるにすぎない。更に
、蒸着源の長さを大きくすると、粒子粒の密度が不規則
になり、電子流蒸着法の適用の効果が失われる。
擬ホメオトロピック配向及びゲストボストポジティブ ジンクス、Vol. 5 2 、No. 9、]98
1、p534〜536)によれば、点蒸着源の代りに長
さ約40龍の直線状の蒸着源が用いられる。しかし2、
幾何学的な理由から明らかなように、全蒸着面にわたっ
て一様な優先方向のアジマス配向は、無限長の蒸着源の
みによって達成される。蒸着源を限られた長さに引伸ば
すことは、不規則性を多少緩和しうるにすぎない。更に
、蒸着源の長さを大きくすると、粒子粒の密度が不規則
になり、電子流蒸着法の適用の効果が失われる。
更に別の方法(ヒロシマ、K:「ガラスフリットシール
に順応可能な制御された高傾倒角ネマチック整列1、J
.アプライド、フィシ、、クス、Vol。
に順応可能な制御された高傾倒角ネマチック整列1、J
.アプライド、フィシ、、クス、Vol。
21、No.12、1982、p761〜763)によ
れば、基板面に衝突する粒子流のアジマスが定常的に変
化するように、蒸着工程の間基板を角度依存角速度ご回
動させる。
れば、基板面に衝突する粒子流のアジマスが定常的に変
化するように、蒸着工程の間基板を角度依存角速度ご回
動させる。
この方法では、大きな基板と比較的小さな蒸着源一基板
間の距闘fについて優先方向の十分に規則的な一様なア
ジマス配向が得られないことはさておいて、各々の基板
について固有の回動自在な保持がそれに対応して制御さ
れる駆動と共に必要になるため、この方法を実施するた
めに必要な装置は、高価に、また複雑になる。そのため
1回の作業工程によってF着処理される基板の数も少な
くなる。
間の距闘fについて優先方向の十分に規則的な一様なア
ジマス配向が得られないことはさておいて、各々の基板
について固有の回動自在な保持がそれに対応して制御さ
れる駆動と共に必要になるため、この方法を実施するた
めに必要な装置は、高価に、また複雑になる。そのため
1回の作業工程によってF着処理される基板の数も少な
くなる。
米国特許第30/16839号によゲζ公知の、平行溝
付き極板の選択蒸着方法によれば、−・側に配向された
溝の側面に、、傾斜方向からの粒子流によって、金属層
がイ1与され、横格子のロンドが形成される。溝の側面
に、厚さ及び長さについて可及的に均等な蒸着層を形成
するために、蒸着源と基板との間に絞りが配設され、こ
の絞りを通過する部分流を通って蒸着過程の間に基板を
粒子流と大体平行に移動させる。蒸着された金属層は、
単に光不透過層の機能を有するにすぎない。粒子流に対
して大体平行に基板を移動させるため、入射角は一定に
なるが、基板面にわたる入射方向のアジマス変化はそれ
によっては影響されない。そのため、液晶の配向層の形
成にこの既知の方法を適用することは、主要なアジマス
配向について大きな改良をもたらさない。
付き極板の選択蒸着方法によれば、−・側に配向された
溝の側面に、、傾斜方向からの粒子流によって、金属層
がイ1与され、横格子のロンドが形成される。溝の側面
に、厚さ及び長さについて可及的に均等な蒸着層を形成
するために、蒸着源と基板との間に絞りが配設され、こ
の絞りを通過する部分流を通って蒸着過程の間に基板を
粒子流と大体平行に移動させる。蒸着された金属層は、
単に光不透過層の機能を有するにすぎない。粒子流に対
して大体平行に基板を移動させるため、入射角は一定に
なるが、基板面にわたる入射方向のアジマス変化はそれ
によっては影響されない。そのため、液晶の配向層の形
成にこの既知の方法を適用することは、主要なアジマス
配向について大きな改良をもたらさない。
特許請求の範囲第1、9、11項によって規定される本
発明は、特にアジマス方向について優先方向が規則的に
一様に整列された配向層を、大きな表面と、蒸着源と基
体面との間のわずがな距離について形成するための、明
細四本文の冒頭に述べた形式の方法と、該方法を実施す
るだめの廉価な装置と、該方法に従って製造される液晶
基板とを提供する。
発明は、特にアジマス方向について優先方向が規則的に
一様に整列された配向層を、大きな表面と、蒸着源と基
体面との間のわずがな距離について形成するための、明
細四本文の冒頭に述べた形式の方法と、該方法を実施す
るだめの廉価な装置と、該方法に従って製造される液晶
基板とを提供する。
本発明の利点は、蒸着される表面の全部の点がアジマス
方向について入射粒子流に正確に同じ仕方で暴露される
ことに存する。これによって配向層の液晶光軸の優先方
向のアジマス配向が士.分に規則的になる。板の大きさ
は成る方向について真空室の寸法のみによって制限され
る。蒸着源とそれに指向した板縁部との間の距離は、所
要の床面度に小さくすることができる。
方向について入射粒子流に正確に同じ仕方で暴露される
ことに存する。これによって配向層の液晶光軸の優先方
向のアジマス配向が士.分に規則的になる。板の大きさ
は成る方向について真空室の寸法のみによって制限され
る。蒸着源とそれに指向した板縁部との間の距離は、所
要の床面度に小さくすることができる。
また、本発明の形成方法によれば、複数の板を単一の作
業工程において蒸着処理できるため経済性が高くなる。
業工程において蒸着処理できるため経済性が高くなる。
本発明の形成方法を実施するための形成装置は、堅強で
簡単な構造をもち、廉価に製造することができる。
簡単な構造をもち、廉価に製造することができる。
次に図面に示した本発明の好ましい実施例を参照して説
明する。
明する。
本発明による形成方法を実施するための、第1図の斜視
図に示した幾何学的な形態は、供給源面17内に配され
た供給源、好ましくは点状の供給源1と、光源面17と
平行にこれから成る距離に配置された絞り3とを備えて
おり、絞り3は、図示を節電にするために正方形の開し
−1として小された絞り開口4と共に、部分的に切欠い
て図示されている。絞り3の一ヒ方には、供紹源1から
放出されで絞り開口4により制限される粒子流がイの表
面131−に入射するように、板2が配設されている。
図に示した幾何学的な形態は、供給源面17内に配され
た供給源、好ましくは点状の供給源1と、光源面17と
平行にこれから成る距離に配置された絞り3とを備えて
おり、絞り3は、図示を節電にするために正方形の開し
−1として小された絞り開口4と共に、部分的に切欠い
て図示されている。絞り3の一ヒ方には、供紹源1から
放出されで絞り開口4により制限される粒子流がイの表
面131−に入射するように、板2が配設されている。
。
板2は、供給源面17と直交する原位置(破線で示す)
から、その表面13が供給1京1に指向するように、同
動軸12の回りに回動角δ回動される。
から、その表面13が供給1京1に指向するように、同
動軸12の回りに回動角δ回動される。
SiO、SiO□、TiO□、MgF2、八1□O1又
は他の配向層の形成に適した材料の供給源1は、抵抗加
熱によるか又は電子流を介して、粒子流を送出するよう
に励起される。生成した粒子流が板2の表面13、ヒに
成る所定の入射角で入射するのに十分な程度に指向され
る限り、粒子流を発生させるための別の任意の方法を用
いても差支えない。
は他の配向層の形成に適した材料の供給源1は、抵抗加
熱によるか又は電子流を介して、粒子流を送出するよう
に励起される。生成した粒子流が板2の表面13、ヒに
成る所定の入射角で入射するのに十分な程度に指向され
る限り、粒子流を発生させるための別の任意の方法を用
いても差支えない。
板2は、粒子流が表面13のどの部分にも成る入射角δ
≠06において入射)(゛るように位置決めされる。入
射角δは、慣用されるように、粒子流の1つの流線と板
2の垂線との間の角度である。
≠06において入射)(゛るように位置決めされる。入
射角δは、慣用されるように、粒子流の1つの流線と板
2の垂線との間の角度である。
本発明によれば、板2と供給源1とは、表面13と平行
に、粒子流の方向と人体直角に、成る一定の速度で、第
]の位置から第2の位置に向って相対的に移動させる。
に、粒子流の方向と人体直角に、成る一定の速度で、第
]の位置から第2の位置に向って相対的に移動させる。
だの相対的な移動に当り、板2ば休止位置に保ち、供給
源1と絞り3とから成るユニットの方を移動させてもよ
い。しかし、抵抗加熱方式の供給源の場合には、この相
対移動方式の場合、高電流の可撓配線が必要になる。そ
のため、供給源1と絞り3とを位置固定させ板2を移動
させる相対移動方式が有利である。
源1と絞り3とから成るユニットの方を移動させてもよ
い。しかし、抵抗加熱方式の供給源の場合には、この相
対移動方式の場合、高電流の可撓配線が必要になる。そ
のため、供給源1と絞り3とを位置固定させ板2を移動
させる相対移動方式が有利である。
本発明による形成方法の好ましい実施例によれば、板2
の移動は、同動軸12と平行に、従って供給源面17と
平行に延びる直線の方向に、即ち第1図の矢印の方向に
行わせる。
の移動は、同動軸12と平行に、従って供給源面17と
平行に延びる直線の方向に、即ち第1図の矢印の方向に
行わせる。
絞り開口4 (例えば一定の幅のスリット状の開口)は
、移動方向の両側が境界された粒子流のみを通過させる
。この境界は、板2がその第1及び第2位置では、該粒
子流の外にあり、移動の間に該粒子流を完全に通過する
ようになされている。
、移動方向の両側が境界された粒子流のみを通過させる
。この境界は、板2がその第1及び第2位置では、該粒
子流の外にあり、移動の間に該粒子流を完全に通過する
ようになされている。
第1位置と第2位置との中間にある位置において、粒子
流は、第1図に示すように、表面工3の成る部分面に入
射する。極端な場合には、この部分面11は、全部の表
面13と同一になりうる。
流は、第1図に示すように、表面工3の成る部分面に入
射する。極端な場合には、この部分面11は、全部の表
面13と同一になりうる。
板2の第1位置及び第2位置は、本発明による形成方法
を実施する装置の実施例に関連して、第2a、2b図に
図示されている。イバ給源1及び絞り開口4を備えた絞
り3の上方には、移動方向と直角の方向に多数の板2が
2つの扇形の形状にキャリッジ6−トに並置してあり、
このキャリッジは、2つのレール(1つのみ符号7aに
よ−1て示す)に沿って移動させることができる。キャ
リッジ6は、移動方向に延長するウオーム8を有j7、
ごのウオームは、歯車9と噛合っている。歯車9は、板
2と共にキャリッジ6を移動させるように、電動機10
によって駆動される。
を実施する装置の実施例に関連して、第2a、2b図に
図示されている。イバ給源1及び絞り開口4を備えた絞
り3の上方には、移動方向と直角の方向に多数の板2が
2つの扇形の形状にキャリッジ6−トに並置してあり、
このキャリッジは、2つのレール(1つのみ符号7aに
よ−1て示す)に沿って移動させることができる。キャ
リッジ6は、移動方向に延長するウオーム8を有j7、
ごのウオームは、歯車9と噛合っている。歯車9は、板
2と共にキャリッジ6を移動させるように、電動機10
によって駆動される。
絞り開口4ば、図示した例によれば、中心面5に対して
好ましくは対称に位置している。中心面5ば、供給源]
を通って、移動方向と直角に、従って第1図の同動軸1
2と直角に延長している。
好ましくは対称に位置している。中心面5ば、供給源]
を通って、移動方向と直角に、従って第1図の同動軸1
2と直角に延長している。
第3図は、第2a、2b図に示した形成装置の正面図、
即ち、移動方向に見た図である。2つのレール7a、7
bの間には、7枚づつ2組の扇状に配列された板2が見
られ、各々の板2は、その全高にわたって表面が粒子流
によって完全に照射されるが、隣接する板2には蔭をつ
くらないように、供給源1に対して位置決めされ傾斜さ
れている。
即ち、移動方向に見た図である。2つのレール7a、7
bの間には、7枚づつ2組の扇状に配列された板2が見
られ、各々の板2は、その全高にわたって表面が粒子流
によって完全に照射されるが、隣接する板2には蔭をつ
くらないように、供給源1に対して位置決めされ傾斜さ
れている。
板2」二の各々の点は、第4a図に例示的に記入された
直線a、b、Cによって示すように、移動方向と平行に
延びる板面内の1つの直線上にある。
直線a、b、Cによって示すように、移動方向と平行に
延びる板面内の1つの直線上にある。
粒子流を通って板2が移動すると、直線a、b、cEの
点ば、個所Pa、 Pb−Pcにおいて粒子流に入り、
個所Qa、Ob、OCにおいて粒子流を離れる。その場
合、同一の直線上にある各々の点には、正確に合致した
同一の入射方向の粒子流が時間的に逐次衝突するので、
この直線に沿って配向層が正確にかつ一様に形成される
。
点ば、個所Pa、 Pb−Pcにおいて粒子流に入り、
個所Qa、Ob、OCにおいて粒子流を離れる。その場
合、同一の直線上にある各々の点には、正確に合致した
同一の入射方向の粒子流が時間的に逐次衝突するので、
この直線に沿って配向層が正確にかつ一様に形成される
。
別々の直線」−にある点について6,1:それぞれの入
射角δa1δb16Cは相異し、第4b図に示すように
、δa〈δb〈δCとなる。しかl−、、開口幅が一定
ならば、供給tX1から遠隔の直線、例えば直線C上に
ある点が供給源1に近い直線例えば直線a上にある点よ
りも長い時間を要するとしても、入射方向を表わす直線
は正確に同一・のアジマス方向を指向する。そのため、
板2の全表面に亘って、液晶の光軸の優先方向のアジマ
ス配向に関して配向層が一様に形成される。
射角δa1δb16Cは相異し、第4b図に示すように
、δa〈δb〈δCとなる。しかl−、、開口幅が一定
ならば、供給tX1から遠隔の直線、例えば直線C上に
ある点が供給源1に近い直線例えば直線a上にある点よ
りも長い時間を要するとしても、入射方向を表わす直線
は正確に同一・のアジマス方向を指向する。そのため、
板2の全表面に亘って、液晶の光軸の優先方向のアジマ
ス配向に関して配向層が一様に形成される。
実施例
パルツアー社製BA−71.0型の標y11H型頁空室
中において、第2a、2b図に示した装置を使用して、
24 X 20 cmの大きさの2枚の基板に、4cm
幅の絞り開口4を経てSiOを蒸着する。供給源1から
基板の24cmの長さの基板の下部縁までの距離は3Q
cmである。4cm/分の移動速瓜を用いて、約8分間
で配向層を蒸着源する。基板の表面上からみると、供給
源1ば、この幾何学的形状の。
中において、第2a、2b図に示した装置を使用して、
24 X 20 cmの大きさの2枚の基板に、4cm
幅の絞り開口4を経てSiOを蒸着する。供給源1から
基板の24cmの長さの基板の下部縁までの距離は3Q
cmである。4cm/分の移動速瓜を用いて、約8分間
で配向層を蒸着源する。基板の表面上からみると、供給
源1ば、この幾何学的形状の。
場合、約86の円弧上を移動するように見えるであろう
。
。
入射角δのわずかな相異は、配向層における液晶の光軸
と表1「1との間の角度の同様にわずかな偏より、即ち
バイアス傾きを惹起させるにずぎす、これは完成した液
晶表示の光電気的特性をごくわずか変更させるにすぎな
い。
と表1「1との間の角度の同様にわずかな偏より、即ち
バイアス傾きを惹起させるにずぎす、これは完成した液
晶表示の光電気的特性をごくわずか変更させるにすぎな
い。
蒸着される配向層のアジマス配向は、板2と供給源1と
を本発明に従って相対的に移動させることによって表面
13全体に亘り完全に一定になるとしても、入射方向δ
の変化(第41)図参照)及び特に蔚着層の厚みの変化
は解消されない。この変化は、供給源1から放出される
粒子流の特定的な強度分布と、供給/g、1−板2間の
距離に基因する。
を本発明に従って相対的に移動させることによって表面
13全体に亘り完全に一定になるとしても、入射方向δ
の変化(第41)図参照)及び特に蔚着層の厚みの変化
は解消されない。この変化は、供給源1から放出される
粒子流の特定的な強度分布と、供給/g、1−板2間の
距離に基因する。
板2の中心部に対する粒子流の入射角が約85″であり
、また板2の中心部が供給′n、1から64cmの距離
にあるように、35.5 X 35.5cm (+ 4
X14インチ)の大きさの基板を供給源lに対して相
対的に配置した、実用的な場合に、基板の−1−縁から
下縁にかけて、y着層の厚さは3倍になり、入射角は8
6.1°がら83°に減少’!i” Z)。
、また板2の中心部が供給′n、1から64cmの距離
にあるように、35.5 X 35.5cm (+ 4
X14インチ)の大きさの基板を供給源lに対して相
対的に配置した、実用的な場合に、基板の−1−縁から
下縁にかけて、y着層の厚さは3倍になり、入射角は8
6.1°がら83°に減少’!i” Z)。
入射角δの変化を少なくし、又は完全に除くために、本
発明による形成方法の別の実施態様によれば、板2は、
移動の間に、供給#]に対して凹面状に曲げた状態に保
たれる。湾曲したJ古根J−に蒸着するうえに重要な幾
何学的パラメーターを第5図に示す。
発明による形成方法の別の実施態様によれば、板2は、
移動の間に、供給#]に対して凹面状に曲げた状態に保
たれる。湾曲したJ古根J−に蒸着するうえに重要な幾
何学的パラメーターを第5図に示す。
供給源面17内にある供給t1.1から放出された粒子
流は、湾曲した板2に衝突する。第5図は、中心部5を
通る断面によりこの構成を人ねし、ている。板2の1一
部縁Qこ衝突する粒子流の上部縁流は、供給源面17°
との間に角度β1を形成し1、距離r1を経過する。仮
2の下部縁に衝突する下部縁流の場合の角度はβ。、経
過する距離はr。である。2つの縁流の中間にある各々
の粒子流は、角度δ、距離rにあり、また湾曲した仮2
−ヒの衝突点に引いた接線ないしはこれに対する垂線に
よって限定された入射角δを存する。
流は、湾曲した板2に衝突する。第5図は、中心部5を
通る断面によりこの構成を人ねし、ている。板2の1一
部縁Qこ衝突する粒子流の上部縁流は、供給源面17°
との間に角度β1を形成し1、距離r1を経過する。仮
2の下部縁に衝突する下部縁流の場合の角度はβ。、経
過する距離はr。である。2つの縁流の中間にある各々
の粒子流は、角度δ、距離rにあり、また湾曲した仮2
−ヒの衝突点に引いた接線ないしはこれに対する垂線に
よって限定された入射角δを存する。
そのほかに、第5図には、絞り而14が作成されている
。絞り面】4と粒子流(β、r)との交点は、直線パラ
メーターXを形成し、このバー)メーターXは、粒子流
を確定する。パラメーターr、β、Xに依存する入射角
δに対する要求は成る数学的曲線を示す式に到達する。
。絞り面】4と粒子流(β、r)との交点は、直線パラ
メーターXを形成し、このバー)メーターXは、粒子流
を確定する。パラメーターr、β、Xに依存する入射角
δに対する要求は成る数学的曲線を示す式に到達する。
こtl、 &;l:、対数螺線として知られ、既に規定
された極座標β、rに次のように記入される。
された極座標β、rに次のように記入される。
r = r (、ex、p((β−β。)/lan (
90−δ)(1)ここに座標r0、β0ば、固定の基ン
jl一点としζ、下部縁流の衝突点に所属される。
90−δ)(1)ここに座標r0、β0ば、固定の基ン
jl一点としζ、下部縁流の衝突点に所属される。
上部縁流のσi突点の極座標は、式(11により規定さ
れた対数螺線の成る曲線区間に亘る線形積分を板2の高
さhに等しいとおく条件から得られる。
れた対数螺線の成る曲線区間に亘る線形積分を板2の高
さhに等しいとおく条件から得られる。
rl ”’ r o L!xp((β、−βo) /
jan (90−δ))(3]板2の既知の高さと所定
の入射角δとについて、式(1)、(211,(31か
ら、第3図に示した複数の扇状に配列された板の対応す
る位置及び曲率が計算される。14枚の扱2に対するこ
の計(γの結果を第6a図に示す。
jan (90−δ))(3]板2の既知の高さと所定
の入射角δとについて、式(1)、(211,(31か
ら、第3図に示した複数の扇状に配列された板の対応す
る位置及び曲率が計算される。14枚の扱2に対するこ
の計(γの結果を第6a図に示す。
この第6aし1かられかるように、同一−・の入射角δ
(第6a図の例でばδ−85°)について必要な板20
曲率の値はわずかである。これは特に第7図に示され、
この第7図には、第[−i a図に示した長さ35.5
cmの14枚の板の基線(直線)からの偏よりDか長
さしの関数として、縦軸の目盛の幅を拡大して図示され
ている。7枚づつ2組の対称扇状の配列に力]応U7て
、7つの界なった曲線が得られ、曲率の値は、第6a図
の外側の仮2から内側の板2に向って増大し、最大の曲
率は約2IImである。
(第6a図の例でばδ−85°)について必要な板20
曲率の値はわずかである。これは特に第7図に示され、
この第7図には、第[−i a図に示した長さ35.5
cmの14枚の板の基線(直線)からの偏よりDか長
さしの関数として、縦軸の目盛の幅を拡大して図示され
ている。7枚づつ2組の対称扇状の配列に力]応U7て
、7つの界なった曲線が得られ、曲率の値は、第6a図
の外側の仮2から内側の板2に向って増大し、最大の曲
率は約2IImである。
基板には、例えば約0.7 inの厚さのガラス基板か
用いられ、n11述した寸法のガラス2N板は中心部か
ら15朋以−ヒ曲げることができるので、第7図に示し
た最大2I1mの偏よりは問題なく実現される。
用いられ、n11述した寸法のガラス2N板は中心部か
ら15朋以−ヒ曲げることができるので、第7図に示し
た最大2I1mの偏よりは問題なく実現される。
第6a図に示した板2の位置及び湾曲は、側面に配置し
た直立保持板にフライス削りによっ゛ζ形成した対応し
た湾曲状の溝に板2を圧入するご、とによって、蒸着上
程のために例えば固定す2)、、保持板自身番よ、第3
図に示したキャリッジ(第6d図には、図面をわかり易
くする1・1的から図示されていない)に取付りる。
た直立保持板にフライス削りによっ゛ζ形成した対応し
た湾曲状の溝に板2を圧入するご、とによって、蒸着上
程のために例えば固定す2)、、保持板自身番よ、第3
図に示したキャリッジ(第6d図には、図面をわかり易
くする1・1的から図示されていない)に取付りる。
本発明による形成方法の別の実施、態様においては、供
給a、1と板2との間の距離の変化と、供給源1から放
出される粒子流の所定の強度分布とを勘案する。この強
度分布は、近イ以的乙、云r、os (90″−β)則
(ここにβは、第5図において規定した極角度である)
に従うので、入射角δを−・定として、蒸着層の厚さd
について、次の比例関係が成立する。
給a、1と板2との間の距離の変化と、供給源1から放
出される粒子流の所定の強度分布とを勘案する。この強
度分布は、近イ以的乙、云r、os (90″−β)則
(ここにβは、第5図において規定した極角度である)
に従うので、入射角δを−・定として、蒸着層の厚さd
について、次の比例関係が成立する。
d〜(w/r)sin β (4)上式(
4)においてrは、第5図に示した距離ないしは半径を
表わし、Wば、第5図のパラメーターXによって規定さ
れた絞り而14の個所においての絞り開lコ4の幅を表
わしている。
4)においてrは、第5図に示した距離ないしは半径を
表わし、Wば、第5図のパラメーターXによって規定さ
れた絞り而14の個所においての絞り開lコ4の幅を表
わしている。
一定の厚さの配向層を得るには、式(4)において幅W
は、r/sin βに比例すべきである。式(1)を用
いて、書き直すと、 ここにkは、基準化係数を表わし、2は供給源面17と
絞り面14との間の距離を表わしている。
は、r/sin βに比例すべきである。式(1)を用
いて、書き直すと、 ここにkは、基準化係数を表わし、2は供給源面17と
絞り面14との間の距離を表わしている。
基準化係数には、絞り開口4の最大幅を実用的な値例え
ば70111I+に制限する。
ば70111I+に制限する。
弐(5)に従って計算された第6a図の絞り3の絞り開
口4は、第6b図の上面図に1ス1示され、また全体の
絞り開口は、部分領域16にV画されている。14枚の
各々の板2に1つの固イ1の部分領域16が所属され、
各々の部分領J!i1 [iは1.全粒子流の対応した
1つの部分流15を絞る働きをしている。成る1つの選
定された板2′に所属する部分領域、16は、第6b図
に、境界線(破線)により示されている。各々の部分領
域16内において、幅Wは、絞り面14内のX座標値に
依る・シて、式(5)から定められる。全部の部分領域
は、簡略化の目的から、19の大きな絞り開口4に合(
j[され、2つの隣接した部分領域16の間には対応し
たのこ歯状の遷移域がある。更に、第6b図かられかる
ように、外側の部分領域の幅Wは、内側の部分領域の幅
Wに比べて多少大きいが、それは、所属する板2が供給
源1から対応して隔てられ、角度βが小さくなるにつれ
て強度分布が減少するためである。
口4は、第6b図の上面図に1ス1示され、また全体の
絞り開口は、部分領域16にV画されている。14枚の
各々の板2に1つの固イ1の部分領域16が所属され、
各々の部分領J!i1 [iは1.全粒子流の対応した
1つの部分流15を絞る働きをしている。成る1つの選
定された板2′に所属する部分領域、16は、第6b図
に、境界線(破線)により示されている。各々の部分領
域16内において、幅Wは、絞り面14内のX座標値に
依る・シて、式(5)から定められる。全部の部分領域
は、簡略化の目的から、19の大きな絞り開口4に合(
j[され、2つの隣接した部分領域16の間には対応し
たのこ歯状の遷移域がある。更に、第6b図かられかる
ように、外側の部分領域の幅Wは、内側の部分領域の幅
Wに比べて多少大きいが、それは、所属する板2が供給
源1から対応して隔てられ、角度βが小さくなるにつれ
て強度分布が減少するためである。
蒸着の際に板2を対数螺線に従って湾曲させず、扁平に
保った場合(第3図参照) 、j!l]−4)入射角δ
が一定でない場合には、式(4)によるものと異なった
次の比例関係が得られる。
保った場合(第3図参照) 、j!l]−4)入射角δ
が一定でない場合には、式(4)によるものと異なった
次の比例関係が得られる。
d〜(w/ r 2) ・sin β’r、’(:O8
δ、(6)式(6)においてrll、δ1は、中心面5
内にあって板2の表面J3に水平中心線において衝突す
る粒子流の成る流線の長さ及び入射角を、それぞれ表わ
している。
δ、(6)式(6)においてrll、δ1は、中心面5
内にあって板2の表面J3に水平中心線において衝突す
る粒子流の成る流線の長さ及び入射角を、それぞれ表わ
している。
この場合、厚さdを一定とすると、幅Wと他の量との間
に比例関係が成立する。
に比例関係が成立する。
w〜(r2/sinβ) ・(1/ r ’、 ・co
s δ、))(71以上を要約すると、本発明の形成方
法によればば、完全に一様なアジマス配向を備えた配向
層が形成される。本発明のその他の好ま(7い実施態様
による形成方法によれば、蒸着層の厚さ並びに入射角の
変動か更に除かれるので、液晶表示装置の大きな基板に
、全部のパラメーターについて−・様な配向層を備える
ことができる。この配向層を備えた液晶表示装置は、完
全に一様な光学特性、光電気特性を備えたものになる。
s δ、))(71以上を要約すると、本発明の形成方
法によればば、完全に一様なアジマス配向を備えた配向
層が形成される。本発明のその他の好ま(7い実施態様
による形成方法によれば、蒸着層の厚さ並びに入射角の
変動か更に除かれるので、液晶表示装置の大きな基板に
、全部のパラメーターについて−・様な配向層を備える
ことができる。この配向層を備えた液晶表示装置は、完
全に一様な光学特性、光電気特性を備えたものになる。
扁平な板2ないしは液晶基板の層構成を、各部について
異なる縮尺を用いた第8図について説明する。厚さ0.
5〜1.5 +I+1、好ましくは0.7吐又は1.1
鰭のガラス製電極支持Fi18−Ir、に、厚さ10〜
200nm、好ましくは70nmの水晶閉止層19が形
成されている。この阻止層19によってNaイオンの移
動を阻止又は少なくとも減少させる。
異なる縮尺を用いた第8図について説明する。厚さ0.
5〜1.5 +I+1、好ましくは0.7吐又は1.1
鰭のガラス製電極支持Fi18−Ir、に、厚さ10〜
200nm、好ましくは70nmの水晶閉止層19が形
成されている。この阻止層19によってNaイオンの移
動を阻止又は少なくとも減少させる。
阻止層19ヒには、5〜10%の5nO7をドープした
、好ましくはIn、2O.、の構造導電層又は電極層2
0がある。電極層20の厚さは、20−・300nm、
好ましくは120〜130nmである。
、好ましくはIn、2O.、の構造導電層又は電極層2
0がある。電極層20の厚さは、20−・300nm、
好ましくは120〜130nmである。
電極層20上に、ポリマー例えばポリアミド又はポリビ
ニルアルコール特にポリイミド又はポリイミドアミドの
保護層21があり、この保護層は電極層20上に、オフ
セット印刷、タンポン印刷又はスクリーン印刷によって
イ」与する。保護層21の厚さば50〜1100nであ
る。電極層20の面抵抗は100オーム(正方形表面部
分の抵抗)である。この保護層は、良好な阻止層を形成
し、液晶表示装置の長い使用寿命を保証する。
ニルアルコール特にポリイミド又はポリイミドアミドの
保護層21があり、この保護層は電極層20上に、オフ
セット印刷、タンポン印刷又はスクリーン印刷によって
イ」与する。保護層21の厚さば50〜1100nであ
る。電極層20の面抵抗は100オーム(正方形表面部
分の抵抗)である。この保護層は、良好な阻止層を形成
し、液晶表示装置の長い使用寿命を保証する。
保護層21中には、好ましくは長さが20〜100μm
で直径が5〜8μmのガラス繊維のスペーサーaが埋込
まれている。これらのスペーサーは、液晶セルの両ガラ
ス基板間に一定の距離を保つために用いられる。
で直径が5〜8μmのガラス繊維のスペーサーaが埋込
まれている。これらのスペーサーは、液晶セルの両ガラ
ス基板間に一定の距離を保つために用いられる。
保護層21上には、前述した材料のうちの1つからでき
ている配向層23が傾斜蒸着によって入射方向Aから入
射角度δで適用される。この蒸着によって壁面に対する
角度20°−−−30°で壁に対し液晶分子を配向させ
ることができる。ごの配向層23がないと、保護Fi2
1の普通の摩擦によって、壁付近の液晶分子の約1°の
(Ji斜角が得られるに過ぎない。配向層23の〜さば
2〜20nmの範囲にある。スペーサーの蔭には配向層
23ばなく、ここでは液晶の配向は乱される。しかしこ
の欠陥は巨視的にはしよう乱ではない。
ている配向層23が傾斜蒸着によって入射方向Aから入
射角度δで適用される。この蒸着によって壁面に対する
角度20°−−−30°で壁に対し液晶分子を配向させ
ることができる。ごの配向層23がないと、保護Fi2
1の普通の摩擦によって、壁付近の液晶分子の約1°の
(Ji斜角が得られるに過ぎない。配向層23の〜さば
2〜20nmの範囲にある。スペーサーの蔭には配向層
23ばなく、ここでは液晶の配向は乱される。しかしこ
の欠陥は巨視的にはしよう乱ではない。
第9図に示した層構造は、第8図に示した各層のほかに
、酸化物特にGdg(L+の支持層22を更に備えてい
る。この支持層の厚さば50=]、OOnmであり、有
機結合剤と共に、硝酸ガドリニウムとして、スクリーン
印刷によって付与される。保護層21はこの場合には遠
心法により適用され、厚さは2〜10nmである。
、酸化物特にGdg(L+の支持層22を更に備えてい
る。この支持層の厚さば50=]、OOnmであり、有
機結合剤と共に、硝酸ガドリニウムとして、スクリーン
印刷によって付与される。保護層21はこの場合には遠
心法により適用され、厚さは2〜10nmである。
第8図の実施例においても、第9図の実施例においても
スペーサーaを配向層23上又はその上方に配置するこ
とができる。ガラス繊維の代りにガラス球を用いてもよ
い。
スペーサーaを配向層23上又はその上方に配置するこ
とができる。ガラス繊維の代りにガラス球を用いてもよ
い。
第1図は、本発明による形成方法に用いられる供給源、
絞り及び板の幾何学的形態を示す斜視図、第2a図ば、
本発明による形成装置を実施するための形成方法をその
初期の]−稈において示す側面図、第2b図は第2a図
の形成装置をその終期の工程において示す側面図、第3
図は第2a図の形成装置の正面図、第4a図はアジマス
方向を惹起させるための本発明の形成方法の特別の構成
を示す側面図、第4b図は第4a図の正面図、第5図は
湾曲した板トに蒸着する場合に必要な幾何学的パラメー
ターを示す説明図、第6a図は本発明の好ましい実施態
様による湾曲した板の積層体を示す略配列図、第6b図
は第6a図の構成に対する絞り開口の好ましい形成を示
す上面図、第7図は板の長さに対する第6a図の湾曲板
の変形量を示す線図、第8図は第1〜6a図に示した液
晶基板の層構造を示す断面図、第9図は本発明の変形実
施例による別の層構造を示す断面図である。 符号の説明 1・・・・・・供給源 2.2′・・・・・・板3・
・・・・・絞り 4・・・・・・絞り開口13・・
・・・・表面 FIG、5 1而のlj+害(円台に変更なし) FIG、61] FIG、 8 手続補正書(方式) 昭和 卑0°7°I9 日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 3、補正をする者 事件との関係 出願人 名 称 ビービーシー アクチェンゲゼルンヤフトブラ
ウン ボウ゛エリ ラント コムパニ−4、代理人 5、補正命令の日付 昭和60年6月25日別紙のと
おり(内容に変更なし)。
絞り及び板の幾何学的形態を示す斜視図、第2a図ば、
本発明による形成装置を実施するための形成方法をその
初期の]−稈において示す側面図、第2b図は第2a図
の形成装置をその終期の工程において示す側面図、第3
図は第2a図の形成装置の正面図、第4a図はアジマス
方向を惹起させるための本発明の形成方法の特別の構成
を示す側面図、第4b図は第4a図の正面図、第5図は
湾曲した板トに蒸着する場合に必要な幾何学的パラメー
ターを示す説明図、第6a図は本発明の好ましい実施態
様による湾曲した板の積層体を示す略配列図、第6b図
は第6a図の構成に対する絞り開口の好ましい形成を示
す上面図、第7図は板の長さに対する第6a図の湾曲板
の変形量を示す線図、第8図は第1〜6a図に示した液
晶基板の層構造を示す断面図、第9図は本発明の変形実
施例による別の層構造を示す断面図である。 符号の説明 1・・・・・・供給源 2.2′・・・・・・板3・
・・・・・絞り 4・・・・・・絞り開口13・・
・・・・表面 FIG、5 1而のlj+害(円台に変更なし) FIG、61] FIG、 8 手続補正書(方式) 昭和 卑0°7°I9 日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 3、補正をする者 事件との関係 出願人 名 称 ビービーシー アクチェンゲゼルンヤフトブラ
ウン ボウ゛エリ ラント コムパニ−4、代理人 5、補正命令の日付 昭和60年6月25日別紙のと
おり(内容に変更なし)。
Claims (16)
- (1)少なくとも1つの板(2、2′)の扁平な表面(
13)を、源(1)から出て発散し該表面(13)に0
°と異なった入射角δの下に衝突する粒子流に暴露させ
て、該表面上に配向層を形成する方法において、 イ)源(1)と板(2、2′)との間に、絞り開口(4
)を備えた絞り(3)を配し、 ロ)板(2、2′)と源(1)とを、表面(13)と平
行に、部分流の方向に対してほぼ直角に、ほぼ一定の速
度で、第1位置から第2位置に向って相対的に移動させ
、 ハ)板(2、2′)の表面(13)が第1位置と第2位
置においては粒子流の外側にあるが移動の途中で部分流
を横断するように移動方向に両側が境界された粒子流の
みを絞り開口(4)が通過させることを特徴とする形成
方法。 - (2)移動の際に源(1)の絞り開口(4)が固定され
、相対的な移動が板(2、2′)の移動のみによって行
われることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の形
成方法。 - (3)イ)源(1)が大体点状の源であり、 ロ)絞り開口(4)が、源(1)を通る中心面(5)と
対称であり、 ハ)板(2、2′)の移動が中心面(5)と直角の直線
に沿って行われることを特徴とする特許請求の範囲第2
項記載の形成方法。 - (4)移動方向と直角に配された絞り開口(4)の境界
が、互いに平行に延長し、移動方向と直角に指向するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の形成方法。 - (5)移動方向に測定した絞り開口(4)の幅(w)が
(r^2/sinβ)(1/r_m・cosδ_m)に
近似的に比例するように、移動方向と直角の絞り開口(
4)の境界を、板(2、2′)に関係した絞り域内にお
いて推移させ、上式においてr、βは、源(1)を原点
とする極座標系においての、中心面(5)上において表
面(13)内にある点の極座標を表わし、該点は、同じ
開口幅(w)の領域において開口(4)を通る直線によ
って源(1)に結合され、r_m、δ_mは、中心面(
5)内にある粒子流の1つの流線の長さ及び入射角を表
わし、該流線は板(2)の表面(13)に板(2)の水
平中心面上において衝突することを特徴とする特許請求
の範囲第3項記載の形成方法。 - (6)板(2、2′)が移動の間源(1)に対して凹面
に保たれ、中心面(5)との板(2、2′)の交線が基
本的にr=r_0exp((β−β_0)/tan(9
0−δ)形の対数螺線の推移に従い、上式においてr、
β、r_0、β_0は、源(1)を原点とする極座標系
の、前記交線上にある2つの点の極座標であり、δは、
点(r、β)に衝突する粒子流の入射角を表わすことを
特徴とする特許請求の範囲第3項記載の形成方法。 - (7)移動方向に測定した絞り開口(4)の幅(w)が
近似的にr/sinβに比例するように、移動方向と直
角の絞り開口(4)の境界が、板(2、2′)に関係す
る絞り領域内において推移し、上式においてr、βは、
源(1)を原点とする極座標系において中心面(5)の
表面(13)上にある点の極座標を表わし、該点は、同
じ開口幅(w)の領域において開口(4)を通過する直
線によって源(1)に結合されることを特徴とする特許
請求の範囲第6項記載の形成方法。 - (8)移動方向と直角に次々に扇状に配置された複数の
板(2、2′)を同時に移動させることを特徴とする特
許請求の範囲第2〜7項のいずれか1項記載の形成方法
。 - (9)移動方向に延長する少なくとも1つのレール(7
a、7b)と、レール(7a、7b)に沿って移動可能
なワゴンないしはキャリッジ(6)とを有することを特
徴とする特許請求の範囲第1〜8項のいずれか1項記載
の形成方法を実施する形成装置。 - (10)位置固定された被動歯車(9)を有し、該被動
歯車が、キャリッジ(6)に配設され移動方向に延びる
ウォーム(8)と噛合うことを特徴とする特許請求の範
囲第9項記載の形成装置。 - (11)特許請求の範囲第1〜10項のいずれか1項記
載の形成方法及び形成装置のための液晶基体(2、2′
)であって、 イ)透明な電極基板(18)と、 ロ)該電極基板(18)上に配された構造化された電極
層(20)と、 ハ)電極層(20)上に配された保護層(21)とを有
するものにおいて、 ニ)厚さ≦20nmの液晶分子のための配向層(23)
を保護層(21)上に配したことを特徴とする液晶基板
。 - (12)イ)電極基板(18)が0.5mm〜1.5m
mの厚さをもち、 ロ)特に電極基板(18)が約0.7mm又は約1.1
mmの厚さをもち、 ハ)電極層(20)がSnO_2ドープされたIn_2
O_3層であり、 ニ)電極層(20)が20nm〜300nmの厚さをも
ち、 ホ)特に電極層(20)が120nm〜130nmの厚
さをもつことを特徴する特許請求の範囲第11項記載の
液晶基板。 - (13)イ)ガラス繊維又はガラス球の1個以上のスペ
ーサー(a)が層構造中において電極層(20))の上
方に配され、 ロ)1個以上のスペーサー(a)が直径が2〜10μm
であり、 ハ)特にスペーサー(a)の直径が5〜8μmであるこ
とを特徴する特許請求の範囲第11項又は第12項記載
の液晶基板。 - (14)イ)保護層(21)がポリイミド層又はポリイ
ミドアミド層であり、 ロ)保護層(21)の厚さが2〜150nmであり、 ハ)特に該厚さが50〜100nmであることを特徴す
る特許請求の範囲第11〜13項のいずれか1項記載の
液晶基板。 - (15)イ)電極層(20)と保護層(21)との間に
支持層(22)が配され、 ロ)支持層(22)がスペーサー(a)を少なくとも部
分的に囲み、 ハ)支持層(22)の厚みを100nm以下とすること
を特徴する特許請求の範囲第13項記載の液晶基板。 - (16)イ)支持層(22)が実質的にGd_2O_3
層であり、 ロ)保護層(21)が支持層(22)上に配され、 ハ)保護層(21)がポリイミド層又はポリイミドアミ
ド層であり、 ニ)保護層(21)の厚さが2〜10nmであることを
特徴とする特許請求の範囲第15項記載の液晶基板。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3407794.4 | 1984-03-02 | ||
| DE3407794 | 1984-03-02 | ||
| DE3424530.8 | 1984-07-04 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS615232A true JPS615232A (ja) | 1986-01-11 |
Family
ID=6229460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4096485A Pending JPS615232A (ja) | 1984-03-02 | 1985-03-01 | 配向層の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS615232A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61132931A (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-20 | コミツサリア タ レネルギー アトミーク | 液晶配向層析出装置 |
| US4897290A (en) * | 1986-09-26 | 1990-01-30 | Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. | Method for manufacturing the substrate for liquid crystal display |
| JP2008038245A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-02-21 | Seiko Epson Corp | 成膜装置及び成膜方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5127948A (en) * | 1974-09-02 | 1976-03-09 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Ekishohyojisochino seizohoho |
| JPS5699318A (en) * | 1980-01-11 | 1981-08-10 | Citizen Watch Co Ltd | Orientation treatment of liquid crystal cell substrate |
-
1985
- 1985-03-01 JP JP4096485A patent/JPS615232A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5127948A (en) * | 1974-09-02 | 1976-03-09 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Ekishohyojisochino seizohoho |
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| JP2008038245A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-02-21 | Seiko Epson Corp | 成膜装置及び成膜方法 |
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