JPS6153577A - 部分放電測定装置 - Google Patents
部分放電測定装置Info
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- JPS6153577A JPS6153577A JP17545484A JP17545484A JPS6153577A JP S6153577 A JPS6153577 A JP S6153577A JP 17545484 A JP17545484 A JP 17545484A JP 17545484 A JP17545484 A JP 17545484A JP S6153577 A JPS6153577 A JP S6153577A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の鵜する技術分野〕
本発明は高電圧電気機器絶縁あるいは使用絶縁材の部分
放電試験ζこ用いられる部分放電測定装置に関する。
放電試験ζこ用いられる部分放電測定装置に関する。
陽電圧電気機器の固体絶縁物からなる絶縁中に気泡やき
裂などの欠陥が存在すると、電気機器に電圧を印加した
際上記欠陥中の気体が火花放電を起こしていわゆる部分
放電が発生する。そこでこの部分放電によって試験回路
に流れる放電パルスを検出し、その放電電荷量、放電開
始電圧、放電消滅電圧、単位時間当りの放−パルス数（
パルス発生頻度）等を測定すれば、これらの諸量から絶
縁中の欠陥の大きさや形状をおよそ推定することができ
るとともｌこ、運転中の機器について冗期的な測定を繰
返すことにより絶縁の経年劣化をも推定することができ
る。このような理由から部分放電試験は高電圧１Ｂ気機
器絶縁の非破壊検光法あるいは絶縁診断法として広く知
られており、この部分放電試験に用いられる部分放電測
定装置も種々のものが市販されている（たとえば、日本
計６１１ｊ器製造所製ＣＤ−５／ＰＤＣ−５形測定器）
。
裂などの欠陥が存在すると、電気機器に電圧を印加した
際上記欠陥中の気体が火花放電を起こしていわゆる部分
放電が発生する。そこでこの部分放電によって試験回路
に流れる放電パルスを検出し、その放電電荷量、放電開
始電圧、放電消滅電圧、単位時間当りの放−パルス数（
パルス発生頻度）等を測定すれば、これらの諸量から絶
縁中の欠陥の大きさや形状をおよそ推定することができ
るとともｌこ、運転中の機器について冗期的な測定を繰
返すことにより絶縁の経年劣化をも推定することができ
る。このような理由から部分放電試験は高電圧１Ｂ気機
器絶縁の非破壊検光法あるいは絶縁診断法として広く知
られており、この部分放電試験に用いられる部分放電測
定装置も種々のものが市販されている（たとえば、日本
計６１１ｊ器製造所製ＣＤ−５／ＰＤＣ−５形測定器）
。
第５図は部分放電試験回路に接続された従来の部分放電
測定装置の構成を示す概念図である。図において、１は
被検体で、阻波器４を介して交流高電圧電源２をこ接続
されるとともに、被検体１と、結合コンデンサ３と、部
分放電測定器＠、１０の入力回路５とからなる放電パル
スの閉回路が形成されることにより、入力回路５に流れ
る放電パルス電流を検出することができる。図の場合、
入力回路５は特定の中心周波数たとえば１５０〜４００
ｋＨｚに同調特性を有する同調回路からなり、放電パ
ルス原波形のうちの特定の周波数成分が検出され信号処
理しやすいパルス波形に変換される。入力回路の出力パ
ルスは増幅器６でたとえば対数増幅され、可変減衰器７
を介して所定のしきい値を有する計数器８に入力される
。この測定装置における放電電荷量の校正は、被検体１
の両端子間に既知の放ｉｔ荷量（以下Ｑと略称する）を
注入し、可変減衰器７を調整して計数器８が計数を開始
する可変減衰器７の減衰量を求めることによって行われ
、その後は可変減衰器７をあらかじめ定まるＱの区分値
たとえば１００ＰＣ（ＩＰＣはｌＸｌ０ クーロン）
、３００ＰＣ，１００ＯＰＣ，３０００ＰＣといったス
テップに合うよう減衰量を調整することによって区分値
１こ対応する放電パルス数を求めることができる。しか
しながら、一つの被検体に対してＱの区分値やパルス発
生頻度（以下Ｎ／ ｔと略称する）等の一連の部分放電
特性を測定するためには、被検体の印加電圧をステップ
状に変える度に可変減衰器７を前述のステップで調整し
て計数器８のカウント数を遂−記録し、隣接するカウン
ト数Ｎの差を求めてＱの区分値に対応したＮ／を値を算
出する必要がある。したがって測定およびデータ整理に
多大の時間を要するという欠点を有するとともに、被検
体に高電圧を長時間印加することにより絶縁中の欠陥の
放電の様相が変わってしまい、再現性のよい測定データ
が得られ難いという欠点があり、その改善が求められて
いる。
測定装置の構成を示す概念図である。図において、１は
被検体で、阻波器４を介して交流高電圧電源２をこ接続
されるとともに、被検体１と、結合コンデンサ３と、部
分放電測定器＠、１０の入力回路５とからなる放電パル
スの閉回路が形成されることにより、入力回路５に流れ
る放電パルス電流を検出することができる。図の場合、
入力回路５は特定の中心周波数たとえば１５０〜４００
ｋＨｚに同調特性を有する同調回路からなり、放電パ
ルス原波形のうちの特定の周波数成分が検出され信号処
理しやすいパルス波形に変換される。入力回路の出力パ
ルスは増幅器６でたとえば対数増幅され、可変減衰器７
を介して所定のしきい値を有する計数器８に入力される
。この測定装置における放電電荷量の校正は、被検体１
の両端子間に既知の放ｉｔ荷量（以下Ｑと略称する）を
注入し、可変減衰器７を調整して計数器８が計数を開始
する可変減衰器７の減衰量を求めることによって行われ
、その後は可変減衰器７をあらかじめ定まるＱの区分値
たとえば１００ＰＣ（ＩＰＣはｌＸｌ０ クーロン）
、３００ＰＣ，１００ＯＰＣ，３０００ＰＣといったス
テップに合うよう減衰量を調整することによって区分値
１こ対応する放電パルス数を求めることができる。しか
しながら、一つの被検体に対してＱの区分値やパルス発
生頻度（以下Ｎ／ ｔと略称する）等の一連の部分放電
特性を測定するためには、被検体の印加電圧をステップ
状に変える度に可変減衰器７を前述のステップで調整し
て計数器８のカウント数を遂−記録し、隣接するカウン
ト数Ｎの差を求めてＱの区分値に対応したＮ／を値を算
出する必要がある。したがって測定およびデータ整理に
多大の時間を要するという欠点を有するとともに、被検
体に高電圧を長時間印加することにより絶縁中の欠陥の
放電の様相が変わってしまい、再現性のよい測定データ
が得られ難いという欠点があり、その改善が求められて
いる。
本発明は前述の状況に鑑みてなされたもので。
測定時間を短縮でき、したがって放電の様相の変化の影
響を受けることなく正確かつ効率的な部分放電試験を行
うに適した部分放電測定器を提供することを目的とする
。
響を受けることなく正確かつ効率的な部分放電試験を行
うに適した部分放電測定器を提供することを目的とする
。
本発明は、入力回路で検出され、増幅回路で増幅された
放電パルスを、増幅回路の出力側（こ電荷量区分値のス
テップ数だけ設けられ電荷量区分値に対応したしきい値
を有する電荷量区分回路１こより区分値を超える大きさ
のパルスのみを出力するようにし、各電荷量区分回路ｔ
こ対応して設けられた計数回路によりそれぞれ電荷量区
分値を超える放電パルス数を計数し、計数回路の出力側
に共通に設けられた記憶演算回路に前記計数値を一時記
憶させるとともＩこ隣接する電荷量区分値間の計数値の
差を演算して区分値ごとの累積パルス発生頻度を求め、
この値を表示器に区分値ごとに表示するよう構成するこ
とにより、上述の目的を達成したものである。
放電パルスを、増幅回路の出力側（こ電荷量区分値のス
テップ数だけ設けられ電荷量区分値に対応したしきい値
を有する電荷量区分回路１こより区分値を超える大きさ
のパルスのみを出力するようにし、各電荷量区分回路ｔ
こ対応して設けられた計数回路によりそれぞれ電荷量区
分値を超える放電パルス数を計数し、計数回路の出力側
に共通に設けられた記憶演算回路に前記計数値を一時記
憶させるとともＩこ隣接する電荷量区分値間の計数値の
差を演算して区分値ごとの累積パルス発生頻度を求め、
この値を表示器に区分値ごとに表示するよう構成するこ
とにより、上述の目的を達成したものである。
以下本発明を一実施例に基づいて説明する。
第１図は本発明の実施例を示す測定装置のブロック図で
ある。図において、入力回路５および増幅回路６につい
てはすでに従来技術について説明した通りである。１１
．ＩＩＡ、ＩＩＢ、・・・・・・。
ある。図において、入力回路５および増幅回路６につい
てはすでに従来技術について説明した通りである。１１
．ＩＩＡ、ＩＩＢ、・・・・・・。
１１Ｎは増幅回路６の出力側に並列に設けられた電荷量
区分回路で、増幅回路６の出力放電パルスの電荷量区分
値に対もする値のしきい値たとえば１００ＰＣ，１００
ＯＰＣ，１００ＯＯＰＣに対応する電圧値にそれぞれ設
定されており、増幅回路６の出力放電パルスを受けた複
数の電荷量区分回路１１゜１１Ａ、１１Ｂ等は、それぞ
れのしきい値を超える放電パルスのみを出力する。１２
，１２Ａ。
区分回路で、増幅回路６の出力放電パルスの電荷量区分
値に対もする値のしきい値たとえば１００ＰＣ，１００
ＯＰＣ，１００ＯＯＰＣに対応する電圧値にそれぞれ設
定されており、増幅回路６の出力放電パルスを受けた複
数の電荷量区分回路１１゜１１Ａ、１１Ｂ等は、それぞ
れのしきい値を超える放電パルスのみを出力する。１２
，１２Ａ。
１２Ｂ、・・・、１２Ｎ等は各電荷量区分回路１こ対応
してその出力側に設けられた計数回路で、各′［し荷量
区分回路の出力放電パルス信号をたとえば１秒間取込み
そのパルス数を計数する。１３は各計数回路の出力側に
共通１こ設けられた記憶演算回路で。
してその出力側に設けられた計数回路で、各′［し荷量
区分回路の出力放電パルス信号をたとえば１秒間取込み
そのパルス数を計数する。１３は各計数回路の出力側に
共通１こ設けられた記憶演算回路で。
各計数回路の計数値をそれぞれ一時記憶するとともに、
互い１こ隣接する電荷量区分値たとえば１００ｐｃと１
００ＯＰＣ，１００ＯＰＣと１００ＯＯＰＣ，１０００
０ＰＣ以上に対応する計数値の差すなわち（Ｎ１００−
Ｎｌ ０００ ） 、 （Ｎｌ ０００−ＮＩＯ０００
） 、 （Ｎ１００ＯＯ以上）を演算する。このよう番
こすることにより。
互い１こ隣接する電荷量区分値たとえば１００ｐｃと１
００ＯＰＣ，１００ＯＰＣと１００ＯＯＰＣ，１０００
０ＰＣ以上に対応する計数値の差すなわち（Ｎ１００−
Ｎｌ ０００ ） 、 （Ｎｌ ０００−ＮＩＯ０００
） 、 （Ｎ１００ＯＯ以上）を演算する。このよう番
こすることにより。
電荷区分値たとえば（１００〜１０００ＰＣ）、（１０
００〜１００ＯＯＰＣ）、（）１００ＯＯＰＣ）ごとに
区分された１秒間ごとのパルス発生数、すなわち放電パ
ルス発生頻度（Ｎｌｌ）の区分値を得ることができる。
００〜１００ＯＯＰＣ）、（）１００ＯＯＰＣ）ごとに
区分された１秒間ごとのパルス発生数、すなわち放電パ
ルス発生頻度（Ｎｌｌ）の区分値を得ることができる。
表示器１４は記憶演算回路による演算結果を表示または
記録するものである。上述の測定を被検体に印加する電
圧値を変える度に繰返し行うことにより、表示器には印
加電圧をパラメータとする放電電荷ｔＱ対放電パルス発
生頻度Ｎ／を特性データあるいは特性線図を表示するこ
とができる。
記録するものである。上述の測定を被検体に印加する電
圧値を変える度に繰返し行うことにより、表示器には印
加電圧をパラメータとする放電電荷ｔＱ対放電パルス発
生頻度Ｎ／を特性データあるいは特性線図を表示するこ
とができる。
ｖ、２図は前述の実施例１こおける電荷量区分回路の一
例を示す回路図で、差動増幅器からなる波高値弁別回路
を用いた場合の例を示したものである。
例を示す回路図で、差動増幅器からなる波高値弁別回路
を用いた場合の例を示したものである。
図において１５は差動増幅器、馬は入力抵抗、Ｒ。
は出力抵抗であり、Ｒ１，ＲＬを所定の値に保ち、しき
い値Ｖ、をそれぞれ電荷区分値に対応する値番こ設定し
ておくことにより、しきい値気を超える入力電圧ｖ１が
入力されたとき、出力側に高レベルの出力信号ｖ、）が
出力される。なお図中Ｊ）、、Ｄ、は過大入力に対する
保獲用ダイオードであり、Ｄ、、Ｄ。
い値Ｖ、をそれぞれ電荷区分値に対応する値番こ設定し
ておくことにより、しきい値気を超える入力電圧ｖ１が
入力されたとき、出力側に高レベルの出力信号ｖ、）が
出力される。なお図中Ｊ）、、Ｄ、は過大入力に対する
保獲用ダイオードであり、Ｄ、、Ｄ。
は出力信号ｖ６の出力レベルの規制用ダイオードである
。
。
第３図詔よび第４図は前述の実施例の測定装置を用いて
得られる被検体の部分放電特性の一例を示す特性線図で
、第３図は計数回路の出力計数値をグラフ化したもの、
第４図は表示器の表示内容をグラフ化したもので、第４
図は表示器に直接表示させ得る特性線図である。第３図
において、曲線１１１は被検体１１こ印加電圧Ｖ、を加
えたとき被検体の絶縁中で発生し、入力回路５で検出さ
れ、増幅回路６で増幅され、しきい値の異なる複数の電
荷量区分回路１１でそれぞれしきい値と比較され波高値
がしきい値を超えたことにより計数回路 （１２に
入力された放電パルス信号の発生頻度（Ｎｌ）と放ｉｔ
荷ｉ′Ｑとの関係を示す特性曲線、曲線１１２は印加電
圧をｖｚに高めたとき上記説明と同様にして得られる特
性曲線である。この測定装置においては、電荷量区分値
の段階的増加に対応してしきい値が段階的ｌこ高くなる
よう設定された複数の電荷量区分回路１１．１１Ａ、Ｉ
ＩＢ等を放電パルス信号が通ることにより、しきい値よ
り波高値が低い放電パルス信号が切捨てられるものの、
しきい値を超えるパルス信号はすべて計数されるために
、計数回路１２，１２Ａ、１２Ｂ等には放電パルス発生
頻度Ｎ／ｌの累積値が測定され、放電電荷量Ｑがある値
を超えるとＮｌｌが減少しはじめ、ざらにＱが増加する
とＮｌｌが零になるという累積分布曲線１１１，１１２
等が得られることになる。
得られる被検体の部分放電特性の一例を示す特性線図で
、第３図は計数回路の出力計数値をグラフ化したもの、
第４図は表示器の表示内容をグラフ化したもので、第４
図は表示器に直接表示させ得る特性線図である。第３図
において、曲線１１１は被検体１１こ印加電圧Ｖ、を加
えたとき被検体の絶縁中で発生し、入力回路５で検出さ
れ、増幅回路６で増幅され、しきい値の異なる複数の電
荷量区分回路１１でそれぞれしきい値と比較され波高値
がしきい値を超えたことにより計数回路 （１２に
入力された放電パルス信号の発生頻度（Ｎｌ）と放ｉｔ
荷ｉ′Ｑとの関係を示す特性曲線、曲線１１２は印加電
圧をｖｚに高めたとき上記説明と同様にして得られる特
性曲線である。この測定装置においては、電荷量区分値
の段階的増加に対応してしきい値が段階的ｌこ高くなる
よう設定された複数の電荷量区分回路１１．１１Ａ、Ｉ
ＩＢ等を放電パルス信号が通ることにより、しきい値よ
り波高値が低い放電パルス信号が切捨てられるものの、
しきい値を超えるパルス信号はすべて計数されるために
、計数回路１２，１２Ａ、１２Ｂ等には放電パルス発生
頻度Ｎ／ｌの累積値が測定され、放電電荷量Ｑがある値
を超えるとＮｌｌが減少しはじめ、ざらにＱが増加する
とＮｌｌが零になるという累積分布曲線１１１，１１２
等が得られることになる。
第５図の従来装置においては、曲線１１１を求めるため
１こ、印加電圧をＶ、＋こ保っておいて可変減衰器７の
減衰量を区分値の増加に対応して順次大きくし、計数器
８の表示を読取るという測定手順を必要としたために、
一つの曲線を求めるだけでも数分間を要し電圧ステップ
が多い場合には測定１こ１０分間もかかる場合があり、
この間ｉこ放電の様相が変化するなどの問題を生じたが
、本発明の装置においては１曲線１１１，１１２ そ
れぞれに対応する測定を同時に、かつ１秒間程の短時間
で行ってしまうために、試験時間が短縮されるとともに
放電の様相が変化する以前に測定を終らせることができ
るという利点が得られる。
１こ、印加電圧をＶ、＋こ保っておいて可変減衰器７の
減衰量を区分値の増加に対応して順次大きくし、計数器
８の表示を読取るという測定手順を必要としたために、
一つの曲線を求めるだけでも数分間を要し電圧ステップ
が多い場合には測定１こ１０分間もかかる場合があり、
この間ｉこ放電の様相が変化するなどの問題を生じたが
、本発明の装置においては１曲線１１１，１１２ そ
れぞれに対応する測定を同時に、かつ１秒間程の短時間
で行ってしまうために、試験時間が短縮されるとともに
放電の様相が変化する以前に測定を終らせることができ
るという利点が得られる。
第４図は表示器１４に出力される表示データを示す特性
線図で、計数回路１２の出力計数値信号を、記憶演算回
路の記憶部に一時記憶し、互いに隣接する電荷区分値に
対応する計数値信号の差を求めることにより第３図の累
積分布曲線は第４図の頻度分布曲線１４１．１４２ ｌ
こ変換され、印加電圧’ｉ’ｔ 、Ｖｔ等ｌこ対してど
の位の放電電荷ｉ−Ｑの放電パルスがどれ位の頻度分布
Ｎ／ｌで発生しているかを直ち１こ知ることができ、し
たがって従来装置においては直接得られなかった第４図
の特性曲線を自動的ｌこ表示できる利点が得られる。
線図で、計数回路１２の出力計数値信号を、記憶演算回
路の記憶部に一時記憶し、互いに隣接する電荷区分値に
対応する計数値信号の差を求めることにより第３図の累
積分布曲線は第４図の頻度分布曲線１４１．１４２ ｌ
こ変換され、印加電圧’ｉ’ｔ 、Ｖｔ等ｌこ対してど
の位の放電電荷ｉ−Ｑの放電パルスがどれ位の頻度分布
Ｎ／ｌで発生しているかを直ち１こ知ることができ、し
たがって従来装置においては直接得られなかった第４図
の特性曲線を自動的ｌこ表示できる利点が得られる。
本発明は前述のよう１こ、入力回路および増幅回路の後
ｌこしきい値の異なる複数の電荷量区分回路と計数回路
を設けて放電パルスの累積頻度対放電電荷量特性データ
を同時に測定できるよう１こするととも（こ、計数回路
の出力側に記憶演算回路を設けて放電パルスの発生頻度
対放電電荷量特性データをも同時ζこ測定できるよう構
成した。その給気従来の測定装置に比べて測定に要する
時間を著しく短縮でき、かつ従来測定１こ長時間を要す
るが故に被検体の部分放電の模様が変化してしまうとい
う問題点が排除され、精度のよい部分放電試験を効率よ
く行うことができる部分放電測定装置を提供することが
できる。
ｌこしきい値の異なる複数の電荷量区分回路と計数回路
を設けて放電パルスの累積頻度対放電電荷量特性データ
を同時に測定できるよう１こするととも（こ、計数回路
の出力側に記憶演算回路を設けて放電パルスの発生頻度
対放電電荷量特性データをも同時ζこ測定できるよう構
成した。その給気従来の測定装置に比べて測定に要する
時間を著しく短縮でき、かつ従来測定１こ長時間を要す
るが故に被検体の部分放電の模様が変化してしまうとい
う問題点が排除され、精度のよい部分放電試験を効率よ
く行うことができる部分放電測定装置を提供することが
できる。
第１図は本発明の一実施例を示す測定装置のブロック図
、第２図は前述の実施例１こおける電荷量区分回路の一
例を示す回路図、第３図は前述の実施例ζこおける計数
回路の出力データ内容を示す部分放電特性線図、第４図
は前述の実施例における表示器の表示データ内容を示す
部分放電特性線図。 第５図は部分放電試験回路１こ接続された従来の測定装
置の構成図である。 １・・・被検体、２・−・高電圧電源、５・・・入力回
路。 ６・・・増幅回路、７・・・可変減衰器、１１．ＩＩＡ
。 １１Ｂ、ＩＩＮ・・・電荷量区分回路、８，１２゜１２
Ａ’、１２Ｂ、１２Ｎ・・・計数回路、１３・・・記憶
演算回路、１４・・・表示器、Ｑ・・・放電電荷量、Ｎ
／ ｔ・・・パルス発生頻度。 第１図 第２図 放電電荷量Ｑ （対数値）→ 第３図 枚１！電指量Ｑ （対数値）→ 算４図 Ｑ 第５図
、第２図は前述の実施例１こおける電荷量区分回路の一
例を示す回路図、第３図は前述の実施例ζこおける計数
回路の出力データ内容を示す部分放電特性線図、第４図
は前述の実施例における表示器の表示データ内容を示す
部分放電特性線図。 第５図は部分放電試験回路１こ接続された従来の測定装
置の構成図である。 １・・・被検体、２・−・高電圧電源、５・・・入力回
路。 ６・・・増幅回路、７・・・可変減衰器、１１．ＩＩＡ
。 １１Ｂ、ＩＩＮ・・・電荷量区分回路、８，１２゜１２
Ａ’、１２Ｂ、１２Ｎ・・・計数回路、１３・・・記憶
演算回路、１４・・・表示器、Ｑ・・・放電電荷量、Ｎ
／ ｔ・・・パルス発生頻度。 第１図 第２図 放電電荷量Ｑ （対数値）→ 第３図 枚１！電指量Ｑ （対数値）→ 算４図 Ｑ 第５図
Claims (1)
- １）高電圧が印加された被検体の絶縁部分で発生する部
分放電パルスを検出してあらかじめ定まる放電電荷区分
値ごとのパルス発生頻度を同時に計測表示する測定装置
であって、前記部分放電パルスを検出して波形整形する
入力回路と、入力回路の出力パルスを入力とする増幅回
路と、この増幅回路の出力側に複数個並列に設けられた
それぞれしきい値の異なる電荷量区分回路と、この電荷
量区分回路に対応してそれぞれ設けられた計数回路と、
この計数回路の出力側に共通に設けられ計数回路の出力
信号を一時記憶して区分値ごとの放電パルス発生頻度を
演算する記憶演算回路と、この記憶演算回路の出力放電
パルス頻度を区分値ごとに表示する表示器とを備えたこ
とを特徴とする部分放電測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17545484A JPS6153577A (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 部分放電測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17545484A JPS6153577A (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 部分放電測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6153577A true JPS6153577A (ja) | 1986-03-17 |
| JPH0521429B2 JPH0521429B2 (ja) | 1993-03-24 |
Family
ID=15996351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17545484A Granted JPS6153577A (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 部分放電測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6153577A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6459084A (en) * | 1987-08-29 | 1989-03-06 | Ee T I Kk | Measuring instrument for partial discharging charge amount |
| JPH0479275U (ja) * | 1990-11-24 | 1992-07-10 | ||
| JPH0634696A (ja) * | 1992-07-14 | 1994-02-10 | Fujikura Ltd | 高周波部分放電検出システム |
| JPH07262866A (ja) * | 1994-03-23 | 1995-10-13 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 部分放電検出方法 |
| JP2005326379A (ja) * | 2004-05-17 | 2005-11-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 部分放電の損傷量検出方法及び部分放電の損傷量検出装置 |
Citations (1)
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| JPS54115176A (en) * | 1978-02-27 | 1979-09-07 | Shii Emu Shii Shii Kk | Electric insulator diagnoser |
-
1984
- 1984-08-23 JP JP17545484A patent/JPS6153577A/ja active Granted
Patent Citations (1)
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Also Published As
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|---|---|
| JPH0521429B2 (ja) | 1993-03-24 |
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