JPS615445A - 温度制御装置 - Google Patents
温度制御装置Info
- Publication number
- JPS615445A JPS615445A JP59126253A JP12625384A JPS615445A JP S615445 A JPS615445 A JP S615445A JP 59126253 A JP59126253 A JP 59126253A JP 12625384 A JP12625384 A JP 12625384A JP S615445 A JPS615445 A JP S615445A
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- Japan
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- temperature
- laser diode
- opening
- comparator
- time
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/14—Reducing influence of physical parameters, e.g. temperature change, moisture, dust
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は温度制御装置に関し、↓り詳＋ｔｆｌｌ ［は
訟み書き用の光源としてレーザダイオードユニットな用
いている記録装置に適用しつる温度制御装置に関するも
のである。
訟み書き用の光源としてレーザダイオードユニットな用
いている記録装置に適用しつる温度制御装置に関するも
のである。
（従来技術）
読み書き用の光源としてレーザ光を用いる記録装置が知
られている。光源としては従来、ガスレーザ等が用いら
れてきたが、技術開発により半導体レーザの便用が可能
になり、レーザダイオードユニットの実用化がなされる
に至った。
られている。光源としては従来、ガスレーザ等が用いら
れてきたが、技術開発により半導体レーザの便用が可能
になり、レーザダイオードユニットの実用化がなされる
に至った。
矛６図は本発明を適用することのできる記録装置の一例
を示したもので、装置本体はケーシングＣＳ で覆わ
れており、その内側には装置本体の正面Ａに向かって右
奥にファ／１．左奥に熱定着器２が配信されている。こ
の記録装置は、レーザダイオードユニットＬＤＵからの
レーザ光をホロスキャナを用いて偏向するとい５Ｍ込方
式を用いるものであり、感光体上に書込まれた潜滓は周
知の転写式電子写真法に準じた方式によりトナー現１象
されてカセット４から送り出される普通紙からなる記録
紙に転写され、熱定着されてトレイ６上に送出される。
を示したもので、装置本体はケーシングＣＳ で覆わ
れており、その内側には装置本体の正面Ａに向かって右
奥にファ／１．左奥に熱定着器２が配信されている。こ
の記録装置は、レーザダイオードユニットＬＤＵからの
レーザ光をホロスキャナを用いて偏向するとい５Ｍ込方
式を用いるものであり、感光体上に書込まれた潜滓は周
知の転写式電子写真法に準じた方式によりトナー現１象
されてカセット４から送り出される普通紙からなる記録
紙に転写され、熱定着されてトレイ６上に送出される。
レーザダイオードユニットＬＤＵ Ｋ関しては、レーザ
光の発振波長の変動を抑えるという制御のために、レー
ザダイオード自体を温度制御素子としてのベルチェ効果
素子８幅度検知手段としてのサーミスタ等を用いて温度
制御するという手段を採っている。構成の一例を説明し
た２・４図において、光学系鋳物５上Ｏてレーザダイオ
ードＬＤ 、サーミ、゛ツｊ゛ 上記の諸
部材は、放熱フィ／９、断熱部側１０． １１． １２
． １３等で包囲さ１１ている。又、光路用の開口は断
熱性の１／２波長板で塞がれている。レーザダイオード
ＬＤ からのレーザガはコリメートレンズＬｃ 及
び１／２波長板１４を経て図示？省略したホロスキャナ
ーへ向かう。
光の発振波長の変動を抑えるという制御のために、レー
ザダイオード自体を温度制御素子としてのベルチェ効果
素子８幅度検知手段としてのサーミスタ等を用いて温度
制御するという手段を採っている。構成の一例を説明し
た２・４図において、光学系鋳物５上Ｏてレーザダイオ
ードＬＤ 、サーミ、゛ツｊ゛ 上記の諸
部材は、放熱フィ／９、断熱部側１０． １１． １２
． １３等で包囲さ１１ている。又、光路用の開口は断
熱性の１／２波長板で塞がれている。レーザダイオード
ＬＤ からのレーザガはコリメートレンズＬｃ 及
び１／２波長板１４を経て図示？省略したホロスキャナ
ーへ向かう。
肖該記＠装置では、主電源ケオフＶＣすることにより熱
定着器のヒータがオフＶＣなり、且つ、レーザダイオー
ドが発光し、そのｍＷ制御機能も働ろく様になるが、記
録プロセス上、熱定着器よりも先順位にて用いられるレ
ーザダイオードが所定の設定湯度ＫＪＭ整されるまでの
所要時間に比べて、熱定堝器が所定の設定温間まで加熱
されるに要する時間は、通常の使用条件の丁では長く設
定されろ。それにも拘らず、レーザダイオードの臨度調
節時間が記録装置の立上り時間に直接影響を与える場合
がある。例えば、主電源がオフにされて記録装置が運転
状態におかれ、所要の記録機能を果した後、主電源がオ
フにされると、直ちにファン１も停止するので、熱定着
器２０余熱がレーザダイオードに一層強く作用し、又、
主電源のオフと共に、既にレーザダイオードに対する温
度制御機能が効かなくなっているのでレーザダイオード
の温度が高められろこととなる。従って、特にレーザダ
イオードの使用面における設定温度がその環境温度に対
してかなり低い場合には、上記余熱による温度上昇の影
響が残っている状態で再び主電源なオンにすると、ベル
チェ効果素子１５の冷却能力によっては、レーザダイオ
ードを所定の設定温度にするまでかなりの時間を費すこ
とになるので ′□：ある。
定着器のヒータがオフＶＣなり、且つ、レーザダイオー
ドが発光し、そのｍＷ制御機能も働ろく様になるが、記
録プロセス上、熱定着器よりも先順位にて用いられるレ
ーザダイオードが所定の設定湯度ＫＪＭ整されるまでの
所要時間に比べて、熱定堝器が所定の設定温間まで加熱
されるに要する時間は、通常の使用条件の丁では長く設
定されろ。それにも拘らず、レーザダイオードの臨度調
節時間が記録装置の立上り時間に直接影響を与える場合
がある。例えば、主電源がオフにされて記録装置が運転
状態におかれ、所要の記録機能を果した後、主電源がオ
フにされると、直ちにファン１も停止するので、熱定着
器２０余熱がレーザダイオードに一層強く作用し、又、
主電源のオフと共に、既にレーザダイオードに対する温
度制御機能が効かなくなっているのでレーザダイオード
の温度が高められろこととなる。従って、特にレーザダ
イオードの使用面における設定温度がその環境温度に対
してかなり低い場合には、上記余熱による温度上昇の影
響が残っている状態で再び主電源なオンにすると、ベル
チェ効果素子１５の冷却能力によっては、レーザダイオ
ードを所定の設定温度にするまでかなりの時間を費すこ
とになるので ′□：ある。
さらに、記録装置の使用上の都合により、主電源のオフ
・オフが頻繁゛に繰り返さＪするような場合や長［１−
Ｗ間の使用の後、短時間後に再び主電源をオフＶ？：１
−る等により記録装置全体の温度分布がレーザダイオー
ドの謂、しｙ ｐ７．１節時間に影響する場合には、記
録装置の立上りＩＩＩ間を遅らせるという問題を生ずる
。
・オフが頻繁゛に繰り返さＪするような場合や長［１−
Ｗ間の使用の後、短時間後に再び主電源をオフＶ？：１
−る等により記録装置全体の温度分布がレーザダイオー
ドの謂、しｙ ｐ７．１節時間に影響する場合には、記
録装置の立上りＩＩＩ間を遅らせるという問題を生ずる
。
（目 的）
従って、本発明の目的は、レーザダイオードな一所定の
設定温度に短時間にて調節するための補助手段を具備し
た記録装置を提供することにある。
設定温度に短時間にて調節するための補助手段を具備し
た記録装置を提供することにある。
（構 成）
本発明は上ａｔの目的？達成させろため、記録装置のケ
ー／７り上であってレーザダイオードユニットの近傍に
温度ル、ｌ！１節用の開閉機構を設け、これを開閉制御
することを特徴としたものである。
ー／７り上であってレーザダイオードユニットの近傍に
温度ル、ｌ！１節用の開閉機構を設け、これを開閉制御
することを特徴としたものである。
以下、本発明の一実症例に基づいて具体的にη）ａ明す
る。
る。
矛６図ｖＣオ６いて、開閉機構はレーザダイオードユニ
ットＬＤＵ０）直上部に相当するクーノノグ部若しくは
レーザダイオードユニットＩ、ＤＵの側部に相当するケ
ーノング部に設げらねる。前者の位置を図中打上２０で
示し、後者の位置を符号２１で示す。
ットＬＤＵ０）直上部に相当するクーノノグ部若しくは
レーザダイオードユニットＩ、ＤＵの側部に相当するケ
ーノング部に設げらねる。前者の位置を図中打上２０で
示し、後者の位置を符号２１で示す。
開閉（幾構の一例は′Ａ−１図（ａ）、（ｂ）に示す通
りであり、ケーンノブＣ８に形成した開口２ｇに開閉自
在の蓋２２が取付けられている。蓋２２は軸２６を支７
轍として回動自在であり、レバー２４の矢印方向・＼の
往復運動に応じて開口２５の開閉が行なわれる。該レバ
ー２４の上記往復運動は例えＶ：電磁ソレノイドのプラ
ノジャの動きと連動して行なうことができる。」・１図
（、）は蓋２２が閉じた状態、矛１図（ｂ）は蓋２２が
開いた状態を各々示す。
りであり、ケーンノブＣ８に形成した開口２ｇに開閉自
在の蓋２２が取付けられている。蓋２２は軸２６を支７
轍として回動自在であり、レバー２４の矢印方向・＼の
往復運動に応じて開口２５の開閉が行なわれる。該レバ
ー２４の上記往復運動は例えＶ：電磁ソレノイドのプラ
ノジャの動きと連動して行なうことができる。」・１図
（、）は蓋２２が閉じた状態、矛１図（ｂ）は蓋２２が
開いた状態を各々示す。
次に、ｕ１４閉ｆｉｌｌ構の他の例を矛２図（、）、（
Ｄ）に示す。この例では蓋２２′を６個並設し、レバー
２４′の往復運動と連ロジ１させてこれら５個の蓋２２
′を同時に開閉するようにしている。矛２図（ａ）は蓋
２２′が閉じた状態５矛ン図〔【〕）は蓋２２′が開い
た状態？各々示す。レバー２４′の駆動手段は上記例に
準する。この構成によれば、異物落下等による機内浸入
が防止され、且つ開口のほぼ全面にわたる通気性の確保
ができる。
Ｄ）に示す。この例では蓋２２′を６個並設し、レバー
２４′の往復運動と連ロジ１させてこれら５個の蓋２２
′を同時に開閉するようにしている。矛２図（ａ）は蓋
２２′が閉じた状態５矛ン図〔【〕）は蓋２２′が開い
た状態？各々示す。レバー２４′の駆動手段は上記例に
準する。この構成によれば、異物落下等による機内浸入
が防止され、且つ開口のほぼ全面にわたる通気性の確保
ができる。
上記各側の如き、開閉機構を作動させて開口２５を開け
ば、ケーシング内の熱は外部へ対流にぼり放出されるの
でレーザダイオードユニットＬＤＵ周辺の熱エネルギー
を低めることができ、ペルチェ効果素子によるレーザダ
イオードの源度訓節時間を短縮することができる。
ば、ケーシング内の熱は外部へ対流にぼり放出されるの
でレーザダイオードユニットＬＤＵ周辺の熱エネルギー
を低めることができ、ペルチェ効果素子によるレーザダ
イオードの源度訓節時間を短縮することができる。
次に、開ｌ′Ｐ′１磯構の制御１ｌＪｊの仕方について
説明する、」・５図において、塩度検出器２乙の例とし
ては、＠２書・４図におけるサーミスタ６或いは、レー
ザダイオートユニノ） ＬＤＵの近傍に配置された温度
検出素子若しくはサーミスタが皐けられる。
説明する、」・５図において、塩度検出器２乙の例とし
ては、＠２書・４図におけるサーミスタ６或いは、レー
ザダイオートユニノ） ＬＤＵの近傍に配置された温度
検出素子若しくはサーミスタが皐けられる。
この温度検出器２６は、環境温度を抑１足し、比較器２
７にリアルタイムで温度情報を出力する。
７にリアルタイムで温度情報を出力する。
一方、記憶装置２８ｖｃは、レーザダイオードユニ若し
くは、レーザダイオードユニ７ ） ＬＤＵの所定の設
定幅度隋報が記憶されている。そして、この記憶装置２
８の温度情報も比較器２７に出力される。
くは、レーザダイオードユニ７ ） ＬＤＵの所定の設
定幅度隋報が記憶されている。そして、この記憶装置２
８の温度情報も比較器２７に出力される。
比較器２７は上記２つの入力を比較する。その結果、設
定温度よりも環境温度が高ければ、制御器２９からの制
御信号で駆動装置３０を駆動し、開閉機構の蓋を開く様
に作動させる。或いは、環境温度が低ければ上記蓋な閉
じる様に作動させる。
定温度よりも環境温度が高ければ、制御器２９からの制
御信号で駆動装置３０を駆動し、開閉機構の蓋を開く様
に作動させる。或いは、環境温度が低ければ上記蓋な閉
じる様に作動させる。
環境温度が設定温度より高い場合の制御法について牙６
図を参照しながら説明する。
図を参照しながら説明する。
開閉制御例１４
主電源が時点ｔ１ でオンにされると温度検出器２６
に温度検出信号Ｓｏ が立ち上り、検出温度と設
定温度とを比較する。その結果、環境温度の方が高いと
、制御器２９かもの駆動信号Ｓ１ が立ち上り、開、
閉機構を蓋が開いた状態におく。この状態は環境温度か
設定温度になるまでのウオーミングアツプ時間Ｔ１
の間たけ保持され、上記温度に調節されると駆動信号Ｓ
１ は立ち下り、蓋は閉じた状態にさせられろ。
に温度検出信号Ｓｏ が立ち上り、検出温度と設
定温度とを比較する。その結果、環境温度の方が高いと
、制御器２９かもの駆動信号Ｓ１ が立ち上り、開、
閉機構を蓋が開いた状態におく。この状態は環境温度か
設定温度になるまでのウオーミングアツプ時間Ｔ１
の間たけ保持され、上記温度に調節されると駆動信号Ｓ
１ は立ち下り、蓋は閉じた状態にさせられろ。
開閉制御例２
開閉機構の蓋は主電源がオフの間は閉じた状態におかれ
ている。そ゛して、主電源がオフになると、検出温度と
設定温度とが比較され、その結果、環境温度の方が高い
とこのオ／の状態が継続している間だげａ 、’Ｔｈ’
ｒ信号ｓ２ は立ち上り、蓋を開いた状態におく。
ている。そ゛して、主電源がオフになると、検出温度と
設定温度とが比較され、その結果、環境温度の方が高い
とこのオ／の状態が継続している間だげａ 、’Ｔｈ’
ｒ信号ｓ２ は立ち上り、蓋を開いた状態におく。
Ｉ＃ｉｌｌ閉制御例３゜
開閉機構の蓋は主電源がオフの間は開いた状態におかれ
ている。そして、主電源がオフになると。
ている。そして、主電源がオフになると。
検出温度と設定温度とが比較され、その結果、環境温度
の方が高いと駆動信号ｓ３ は変化ぜす、蓋は開いた
状態に維持される。
の方が高いと駆動信号ｓ３ は変化ぜす、蓋は開いた
状態に維持される。
次に、環境温度が設定温度より低い場合の制御法につい
て矛７図を参照しなかＶ−）説明する。
て矛７図を参照しなかＶ−）説明する。
開閉制側１例４
主電源が時点ｔ２ でオ／にされると温度検出器２６
に幅問検Ｕ）偏角ｓｏ が立ち上り、検出温度と
設定温度とを・比較する。その結果、環境瀧肋の方が低
いと、駆動信号ｓ４ は変化せず、主電源がオフのと
きと同（、」り、開閉機構のＮは閉じた状態に維持され
る。
に幅問検Ｕ）偏角ｓｏ が立ち上り、検出温度と
設定温度とを・比較する。その結果、環境瀧肋の方が低
いと、駆動信号ｓ４ は変化せず、主電源がオフのと
きと同（、」り、開閉機構のＮは閉じた状態に維持され
る。
開閉制御例５
時点ｔ２ にて検出温度と設定温度とが比較され、そ
の結果、環境温度の方が低いと制御器２９からの駆動言
上８５ が立ち下り、環境温度が設定時間になるまで
のウオーミングアツプ時間Ｔ２ の叩たけ開閉機構な
蓋が閉じた状態におく。
の結果、環境温度の方が低いと制御器２９からの駆動言
上８５ が立ち下り、環境温度が設定時間になるまで
のウオーミングアツプ時間Ｔ２ の叩たけ開閉機構な
蓋が閉じた状態におく。
開閉制御例６
開閉機構の蓋は主電源がオフの時は閉じている。
そして、時点ｔ２ にて検出温度と設定温度とが比較
され、その結果、環境温度の方が低いと、なお、所定の
ウオーミングアンプ時間Ｔ２ の間だけ開閉機構の蓋
は閉じた状態に維持される。そして、上記ウオーミング
アツプ時間Ｔ２ を経過すると同時ＶＣ駆動信号ｓ６
が立ち上り、主電源がオフにされるまで、蓋を開い
た状態におく。
され、その結果、環境温度の方が低いと、なお、所定の
ウオーミングアンプ時間Ｔ２ の間だけ開閉機構の蓋
は閉じた状態に維持される。そして、上記ウオーミング
アツプ時間Ｔ２ を経過すると同時ＶＣ駆動信号ｓ６
が立ち上り、主電源がオフにされるまで、蓋を開い
た状態におく。
（効 果）
本発明では、主電源がオフにさ２すると、レーザダイオ
ードの環境温度と設定温度とな比較し、その結果に応じ
又開閉機構を制御するので、設定温度にするまでの所要
時間を短縮することができ好都合である。
ードの環境温度と設定温度とな比較し、その結果に応じ
又開閉機構を制御するので、設定温度にするまでの所要
時間を短縮することができ好都合である。
牙１図、矛２図は各々、開閉機構の構成例な説明した断
面図、１・６図は本発明の実姉に好適な記＠装置の外ｒ
＄Ａ斜視図、２・４図は一例としてのレーザダイオード
ユニットの断面図、第５図は開閉機構の制Φ１［ンステ
ムを説明したブロック図、副・６図、ｊ・７図は゛各々
、蓋の開閉制御法を例示したタイミノグチヤードである
。 ６ ・サーミスタ、２２．２２’・・蓋、ＬＤ・レーザ
ダイオード、ＣＳ・・・ケー／ノグ。 第 １ 四 第 ？ 図 第 、５ 図 ろ 葛５′図 爛 Ｇ 図 第７図
面図、１・６図は本発明の実姉に好適な記＠装置の外ｒ
＄Ａ斜視図、２・４図は一例としてのレーザダイオード
ユニットの断面図、第５図は開閉機構の制Φ１［ンステ
ムを説明したブロック図、副・６図、ｊ・７図は゛各々
、蓋の開閉制御法を例示したタイミノグチヤードである
。 ６ ・サーミスタ、２２．２２’・・蓋、ＬＤ・レーザ
ダイオード、ＣＳ・・・ケー／ノグ。 第 １ 四 第 ？ 図 第 、５ 図 ろ 葛５′図 爛 Ｇ 図 第７図
Claims (1)
- 読み書き用の光源としてケーシング内に装着されたレ
ーザダイオードユニットを用いている記録装置において
、レーザダイオードの近傍に配置した温度検知手段から
の温度情報と、レーザダイオードの機能上要求される所
定の設定温度とを記録装置の主電源のオンと連動して比
較し、その結果に基づいてレーザダイオード近傍のケー
シング部に形成した温度調節用の開閉機構を開閉制御す
ることを特徴とする温度制御装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59126253A JPS615445A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 温度制御装置 |
| JP59134157A JPS6113451A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-29 | 温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59126253A JPS615445A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 温度制御装置 |
| JP59134157A JPS6113451A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-29 | 温度制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS615445A true JPS615445A (ja) | 1986-01-11 |
Family
ID=26462476
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59126253A Pending JPS615445A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | 温度制御装置 |
| JP59134157A Pending JPS6113451A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-29 | 温度制御装置 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59134157A Pending JPS6113451A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-29 | 温度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (2) | JPS615445A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63119432A (ja) * | 1986-11-07 | 1988-05-24 | Kureha Chem Ind Co Ltd | ４，４′−ジヒドロキシビフエニルの製造方法 |
| US5216544A (en) * | 1988-08-26 | 1993-06-01 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Beam-combining laser beam source device |
| JPH0260180A (ja) * | 1988-08-26 | 1990-02-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | 合波用レーザ光源装置 |
| JP2004133963A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Pioneer Electronic Corp | ピックアップ装置 |
-
1984
- 1984-06-19 JP JP59126253A patent/JPS615445A/ja active Pending
- 1984-06-29 JP JP59134157A patent/JPS6113451A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6113451A (ja) | 1986-01-21 |
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