JPS6161043A - メツキ液分析装置 - Google Patents
メツキ液分析装置Info
- Publication number
- JPS6161043A JPS6161043A JP18389084A JP18389084A JPS6161043A JP S6161043 A JPS6161043 A JP S6161043A JP 18389084 A JP18389084 A JP 18389084A JP 18389084 A JP18389084 A JP 18389084A JP S6161043 A JPS6161043 A JP S6161043A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid
- sent
- pure water
- plating liquid
- plating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/73—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using plasma burners or torches
Landscapes
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- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメッキ液分析装置に関し、竹に、メッキ液を希
釈するための改良に関するものである。
釈するための改良に関するものである。
従来、用いられていたこの棟の装置においては、メッキ
液が希釈されることなく誘導結合高周波プラズマ発光分
光分析部の噴輯部に供給されている。
液が希釈されることなく誘導結合高周波プラズマ発光分
光分析部の噴輯部に供給されている。
しかしながら、以上のような構成においては、メッキ液
を所定の成分濃度に維持することが極めて困難であり、
そのため、メッキ液を霧化するための噴霧部が詰まり、
安定に作動出来なくなり、プラズマトーチの先端が詰ま
りを起し、測定結果にバラツキが発生していた。
を所定の成分濃度に維持することが極めて困難であり、
そのため、メッキ液を霧化するための噴霧部が詰まり、
安定に作動出来なくなり、プラズマトーチの先端が詰ま
りを起し、測定結果にバラツキが発生していた。
本発明は以上のような欠点をすみやかに除去するための
極めて効果的な手段を提供することを目的とするもので
あり、メッキ浴からのメッキ液を定−一取り上げるだめ
の定量分取装置と、この定量分取装置で分取された定量
のメッキ液を一定量の純水で押出して攪拌槽に送り込む
ための定圧器と、この攪拌槽からの希釈メッキ液を分析
するための銹導結合高周汲プラズマ発光分光分析部とよ
りなる手段である。
極めて効果的な手段を提供することを目的とするもので
あり、メッキ浴からのメッキ液を定−一取り上げるだめ
の定量分取装置と、この定量分取装置で分取された定量
のメッキ液を一定量の純水で押出して攪拌槽に送り込む
ための定圧器と、この攪拌槽からの希釈メッキ液を分析
するための銹導結合高周汲プラズマ発光分光分析部とよ
りなる手段である。
前記定圧器によりメッキ液に純水を供給してメツキ液を
希釈することが出来る。
希釈することが出来る。
以下、図面と共に本発明によるメッキ液分析装置の一車
施例について討明する。
施例について討明する。
図面において符号１０で示されるものは容器１０ａに収
納されたメッキ液１０ｂを有するメッキ浴であり、この
メッキ浴１０のメッキ液１０ｂけ第１．第２．第３流路
切換器１１，１２．１３を介して定量分取器Ｍ、１４に
送られる。この定量分取装置１４には純水槽１５が定圧
器を兼ねた第１ポンプ１５ａ、％Ｔ４流路切換器１６お
よび分配器１６ａを介して接続されており、この純水槽
１５の純水液は第２ポンプ１７を介して、洗浄時のみ攪
拌槽１８に供給されるように構成されている。
納されたメッキ液１０ｂを有するメッキ浴であり、この
メッキ浴１０のメッキ液１０ｂけ第１．第２．第３流路
切換器１１，１２．１３を介して定量分取器Ｍ、１４に
送られる。この定量分取装置１４には純水槽１５が定圧
器を兼ねた第１ポンプ１５ａ、％Ｔ４流路切換器１６お
よび分配器１６ａを介して接続されており、この純水槽
１５の純水液は第２ポンプ１７を介して、洗浄時のみ攪
拌槽１８に供給されるように構成されている。
この攪拌槽１８内（ｒ／はモータ１９を有する攪拌子２
０が回転自在に設けられると共に、前記定量分取装置１
４はパイプ１４ａを介して前記攪拌槽１８に接続され、
この攪拌槽１８の底ｊｆｙ、 １８ ａにはドレインパ
ルプ２１が取付けられている。
０が回転自在に設けられると共に、前記定量分取装置１
４はパイプ１４ａを介して前記攪拌槽１８に接続され、
この攪拌槽１８の底ｊｆｙ、 １８ ａにはドレインパ
ルプ２１が取付けられている。
さらに、この攪拌槽１８には第６ボンプ２２を有する第
５流路切換器２３を介して内標準沿槽２４が接続されて
いる。
５流路切換器２３を介して内標準沿槽２４が接続されて
いる。
前記攪拌槽１８内の溶液は多数の較正液容器２５を図示
しないシーケンス制御回路により切換えることが出来る
較正液切換器２６に接続されており、この較正液切換器
２６の出力液は第６流路切換器２７および出力ライン２
８を介して工ＣＰ装置３２に接続されている。この第６
締路切換器２７には定量分取器２９が接続されると共に
、第４ポンプ５０が接続され、さらに、塩酸液を有する
ブランク液槽３１が第４ポンプ６０を介して接続されて
いる。
しないシーケンス制御回路により切換えることが出来る
較正液切換器２６に接続されており、この較正液切換器
２６の出力液は第６流路切換器２７および出力ライン２
８を介して工ＣＰ装置３２に接続されている。この第６
締路切換器２７には定量分取器２９が接続されると共に
、第４ポンプ５０が接続され、さらに、塩酸液を有する
ブランク液槽３１が第４ポンプ６０を介して接続されて
いる。
以上のような構成において、本発明によるメッキ液分析
装置を作動する場合について述べると、メッキ浴１０中
のメッキ液は、図示しない圧力により第１流路切換器１
１、第２流路切換器１２および第５流路切換器１３を経
て定量分取器１４内に貯えられる。この状態で、図示し
ないシーケンス制御回路により、定圧器を構成する第１
ポンプ１５ａ内に定量貯えられた純水液が第４流路切換
器１６および分配器１６＆を介して定量分取器１４内に
送られ、この純水液の圧力によって純水して攪拌器１８
内に送られる。
装置を作動する場合について述べると、メッキ浴１０中
のメッキ液は、図示しない圧力により第１流路切換器１
１、第２流路切換器１２および第５流路切換器１３を経
て定量分取器１４内に貯えられる。この状態で、図示し
ないシーケンス制御回路により、定圧器を構成する第１
ポンプ１５ａ内に定量貯えられた純水液が第４流路切換
器１６および分配器１６＆を介して定量分取器１４内に
送られ、この純水液の圧力によって純水して攪拌器１８
内に送られる。
この攪拌器１８内に送られた希釈メッキ液中には、第３
ポンプ２２によって定量汲みとられた内標準液槽２４中
の内植準液が送り込まれ、攪拌槽１８内で攪拌される。
ポンプ２２によって定量汲みとられた内標準液槽２４中
の内植準液が送り込まれ、攪拌槽１８内で攪拌される。
この攪拌器１８内で攪拌された希釈メッキ液および内槽
Ｍ液との混合液は較正液切換器２６を通過１７て定量分
取器２９内に送られ、第４ポンプ３０の作動によりブラ
ンク液槽５１内のブランク液（塩酸液）と共に出力液と
して、出力ライン２８からＩＯＰ装置３２（公知の噴霧
器、プラズマトーチおよびポリクロメータからなるプラ
ズマ発光分光分析装Ｒ）に供給されて測定される。
Ｍ液との混合液は較正液切換器２６を通過１７て定量分
取器２９内に送られ、第４ポンプ３０の作動によりブラ
ンク液槽５１内のブランク液（塩酸液）と共に出力液と
して、出力ライン２８からＩＯＰ装置３２（公知の噴霧
器、プラズマトーチおよびポリクロメータからなるプラ
ズマ発光分光分析装Ｒ）に供給されて測定される。
さらに、前記攪拌器１８を洗浄する場合は、第２ポンプ
１７を作動させると、純水液槽１５内の純水液が攪拌槽
１８内に送られ、攪拌槽１８内が−５＝ 洗浄されるものである。
１７を作動させると、純水液槽１５内の純水液が攪拌槽
１８内に送られ、攪拌槽１８内が−５＝ 洗浄されるものである。
本発明によるメッキ液分析装置は、以上のような構成と
作用とを備えているため、メッキ液試料が自動的に希釈
され、常に安定した濃度試料が分析部に供給されて安定
した感度で測定を行なうことが出来る。
作用とを備えているため、メッキ液試料が自動的に希釈
され、常に安定した濃度試料が分析部に供給されて安定
した感度で測定を行なうことが出来る。
図面は本発明によるメッキ液分析装置を示す全体構成図
である。 １０はメッキ浴、 １０ａは容器、１０ｂはメッキ
液、 １１、１２．１３は第１．第２．第３流路切換器、１４
は定量分取装置、１５は純水槽、 １５ａは第１ポンプ（定圧器を構成する）、１６は第４
流路切換器、１８は攪拌槽。 以 上
である。 １０はメッキ浴、 １０ａは容器、１０ｂはメッキ
液、 １１、１２．１３は第１．第２．第３流路切換器、１４
は定量分取装置、１５は純水槽、 １５ａは第１ポンプ（定圧器を構成する）、１６は第４
流路切換器、１８は攪拌槽。 以 上
Claims (1)
- メッキ浴からのメッキ液を定量取り上げるための定量分
取装置と、この定量分取装置で分取された定量のメッキ
液を一定量の純水で押出して攪拌槽に送り込むためのポ
ンプからなる定注器と、この攪拌槽からの希釈メッキ液
を分析するための誘導結合高周波プラズマ発光分光分析
部とを備え、前記定注器によりメッキ液に純水を供給し
てメッキ液を希釈するように構成したメッキ液分析装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18389084A JPS6161043A (ja) | 1984-09-03 | 1984-09-03 | メツキ液分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18389084A JPS6161043A (ja) | 1984-09-03 | 1984-09-03 | メツキ液分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6161043A true JPS6161043A (ja) | 1986-03-28 |
Family
ID=16143600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18389084A Pending JPS6161043A (ja) | 1984-09-03 | 1984-09-03 | メツキ液分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6161043A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01165416U (ja) * | 1988-05-12 | 1989-11-20 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5647326U (ja) * | 1979-09-19 | 1981-04-27 | ||
| JPS5837547A (ja) * | 1981-08-31 | 1983-03-04 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 酸化亜鉛を主成分とする試料中のコバルトの分析方法 |
| JPS5837548A (ja) * | 1981-08-31 | 1983-03-04 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | Ｇｅ−Ｇａ合金中のＧａの分析方法 |
-
1984
- 1984-09-03 JP JP18389084A patent/JPS6161043A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5647326U (ja) * | 1979-09-19 | 1981-04-27 | ||
| JPS5837547A (ja) * | 1981-08-31 | 1983-03-04 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 酸化亜鉛を主成分とする試料中のコバルトの分析方法 |
| JPS5837548A (ja) * | 1981-08-31 | 1983-03-04 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | Ｇｅ−Ｇａ合金中のＧａの分析方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01165416U (ja) * | 1988-05-12 | 1989-11-20 |
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