JPS6162181A - 印鑑比較装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は、被照合印影パターンと登録印影パターンと
を比較照合し一致、不一致を判定する印鑑比較装置に関
する。

（従来の技術） 従来の印鑑比較装置は、あらかじめ登録されている登録
印影・ぐターンと被照合印影・ぐターンとｔ比較照合す
る場合、それぞれのノやターン平面上の対応する各要素
点の一致、不一致の状態を全・ぐターン面上について調
べ、その総−数点数と一致比較した点の総数との比によ
り比較し、両印影・母ターンが一致しているか否かを判
定するように構成されていた。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、このような従来の印鑑比較装置にあって
は、マツチングに使用する印影ノセターンが２値化・ぐ
ターンである場合、ノぐターンを２値ｆヒする際、印影
と背景との境界部に１〜２メツシ一程度の増減即ちいわ
ゆる正規化ノイズが生ずるのが一般であるため、両印影
ノ４ターンが同一印鑑７５１ら得られたものであるにも
拘らず一致率が低下して偽判定をなす場合があるという
欠点があった。

従って、この発明の目的は、上記従来技術の欠点を解消
し、真偽判定精度の向上した印鑑比較装置を提供するこ
とにある。

（問題点を解決するための手段） この発明は、被照合印影を読取る読取部と、該読取部に
より読取られた被照合印影パターンの位置を登録印影・
母ターンに位置整合する位置整合部と、両印影ノソター
ンを照合比較し照合判定を行なう一致判定部とを有する
印鑑比較装置において、前記一致判定部は、比較を行な
った両印影パターンの一致点近傍の不一致点全一致点と
みなして照合判定を行なうようにしたものである。

（作用） この発明によれば、以上のように印鑑比較装置ｆ：構成
したので、一致判定部は被照合印影・ぐターンと登録印
影パターンの両印影パターンの一致点近傍の不一致点を
一致点扱いとして一致度を求めるように働き、真偽判定
精度を向上させる。従って前記従来技術の問題点を除去
することができる。

（実施例） 以下この発明の実施例を図面を参照して説明する。

第１図はこの発明の実施例であって、被検印影を読取部
１にて読取った被照合印影パターン２とあらかじめ登録
されている登録印影パターン３とが互いに重なり合うよ
うに被照合印影・ぐターン２を位置整合部４にて回転及
び平行移動させ、単純−成度判定部５において比較両印
影パターンの単純−成度を求め、必要に応じて結果を位
置整合部４にフィードバックして単純−成度が向上する
方向に回転及び平行移動を施した後、再び単純−成度判
定部５にて単純−成度を調べるという工程をくシ返して
、単純−成度の最大値を得、太め一成度判定部６におい
て単純−成度１．の最大値が得られた回転角度、移動位
置に位置整合した後の被照合印影パターンと登録印影パ
ターンとの入め一致度を求め被検印影の真偽を判定する
装置である。

単純−成度αは比較印影・ぐターンの一致部分のみに注
目したときの一致度であり、下式で得られる。

又太め一成度βは、比較両印影・ぐターンの一致点近傍
の不一致点を一致点扱いとして一致度を求めるものであ
シ、下式で得られる。

ＣＰ　Ｘ　２　＋　ＦＯＰ β＝ＴＰ＋ＳＰ×１００Ｃｑ６〕（２）ここでＴＰは登
録印影／−１’タ一ン素点数、ｓｐは位置整合後の被照
合印影パターンの素点数、ＣＰは比較両印影・母ターン
の一致点数、ＦＰは一致点扱いされた不一致点の数であ
る。

第２図（Ａ）及び（Ｂ）は同一印鑑を別の機会に捺印し
て得られたときの印影・母ターンの例であシ、第２図（
Ｃ）は第２図（４）との）を重ね合せたパターンであり
、斜線部が不一致部分である。又、第３図（４）及び（
Ｂ）は異なる印鑑を捺印して得られたときの印影パター
ンの例であシ、第３図（Ｃ）は第３図（Ａ）と（Ｂ）　
’に重ね合せたパターンであシ、斜線部が不一致部分で
ある。第２図（Ｃ）のように印影と背景との境界部に生
ずる１〜２メッシ二程度の増減によって生ずる不一致点
は印鑑の違いによるものではないから不一致点とみなし
たくない。又はんのわずかの相違であっても第３図（Ｃ
）の場合の不一致点は不一致とみなしたい。

そこで本実施例の如く一致点近傍の１〜２メソシ二の不
一致点を一致点扱いとする方法をとると、第２図（Ｃ）
の不一致点はほぼ全て一致点扱いとすることができ、ま
た第３図（Ｃ）の不一致点は不一致点のまま残すことが
でき、比較両印影・ぐターンの不一致点が、正規化ノイ
ズによるものであるのか、印鑑の違いによるものである
のか、容易に判断することができる。

第４図はこの発明の原理をわかシやすく説明するための
概略的な図でちる。なお、実際には本図の如く印影文字
線巾や枠中が１メツシユとなるような読み取シ分解能で
印影を読み取ることはない。

第４図（４）は登録印影パターンの例でちり、第４図（
Ｂ）は同じ印鑑を用いて捺印された印影を読み取った被
照合印影パターンの例である。第４図（Ｃ）は第４図（
イ）と第４図０３）の両印影パターンと重ね合せ蛇とき
の一致具合を示すもので、斜線部が一致部分である。第
４図の）は第４図囚のとは異なる印鑑の印影を読み取っ
た被照合印影・ぐターンの例であυ、第４図＠）は第４
図（４）と第４図の）の印影・母ターンを重ね合せたと
きの一致具合を示したもので、斜線部が一致部分である
。

従来の方法で単純−成度２求めると、第４図（Ｃ）での
単純−成度α。は（１）式よフ １７×２ “・＝□７＋５□Ｘ１００＝４５・９（チ）又、第４図
■）での単純−成度α６は（１）式より７×２ α、　＝　−Ｘ　１００　＝　５８．３　Ｃ％）１７＋
７ となる。

α。とα。の差はわずかであり、又どちらの一致度も低
い。この−成度の低い原因が印影が異なるためであるの
か、正規比ノイズによるためであるのか、一致部分のみ
に注目して一致度を求める従来の方法では不明である。

従って第４図（Ｂ）及び（Ｄ）の両印影とも、第４図囚
の印影とは異なるものと判定せざる全得ない。

ところが本実施例Ｑ如く第４図（Ｃ）及び（６）の例で
一致点近傍１メツシュの不一致点を一致点扱いとした場
合（図中のＯ印）には、第４図Ｃ）での太め一成度β。

は（２）式よシ １７Ｘ２＋４０ β。：　　　　　　　　　ｘｚｏｏ＝ｚｏｏ（チ）１７
＋５７ 又、第４図（６）での太め一致度β８は（２）式より７
Ｘ２＋４ βつ＝　−Ｘ　１００　＝　７５　（％）１７＋７ となる。

従って太め一致度が１００チであるとき、比較両印影が
同一であると判定することにすると、第４図（５）の印
影と第４図の）の印影は同一、又第４図（Ａ）の印影と
第４図０））の印影は異なると判定することができ、真
偽判定精度が向上したことになる。

ところで−散点近傍の不一致点を一致点扱いする範囲（
以下太め範囲とする）は読取部の読み取シ分解能により
定められ、８メツシュ／ｍの読み取シ分解能での太め範
囲は２メツシユとすれば良いことが実験的に確かめられ
ている。

上記実施例では単純−成度の最大値が得られた　　、ｊ
整合位置で比較両印影／４’ターンの太め一成度金求め
真偽判定する印鑑比較装置について説明してきたが、太
め一致度を求めつつ位置整合して、太め一致度の最大値
′ｆ：得、この太め一致度の最大値から真偽判定をする
構成でも同じ効果が得られる。

しかし、この場合には、上記実施例に比べて太め一致度
を求める回数が多いため処理時間が長くなる。

（発明の効果） この発明は、以上説明したように、被照合印影ツクター
ンと登録印影・４ターンの一致点近傍の不一致点を一致
点扱いにして一致度を求めるようにしたので、正規化ノ
イズによる偽判定をなくすことができ、−数列定精度が
向上するという利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例のブロック図、第２図及び第
３図はこの発明を説明するための印影パターンの例を示
す図、第４図はこの発明の詳細な説明するためのモデル
図である。 １・・・読取部、２・・・被照合印影ノ４ターン、３・
・・登録印影・ぐターン、４・・・位置整合部、５川単
純一致゛度判定部、６・・・太め一致度判定部。 ＃２図 （Ａン　　　　　　　　　　　　　　　（８２本３　図 ＣＡ）　　　　　　　　　　　　　　（８）（Ｃ） （Ｃ） 乳４図 （Ｑノ ロゴエ工「口

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被照合印影を読取る読取部と、該読取部により読取られ
   た被照合印影パターンの位置を登録印影パターンに位置
   整合する位置整合部と、両印影パターンを照合比較し照
   合判定を行なう一致判定部とを有する印鑑比較装置にお
   いて、前記一致判定部は、両印影パターンの一致点近傍
   の不一致点を一致点とみなして照合判定を行なうことを
   特徴とする印鑑比較装置。