JPS6163923A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPS6163923A JPS6163923A JP18543784A JP18543784A JPS6163923A JP S6163923 A JPS6163923 A JP S6163923A JP 18543784 A JP18543784 A JP 18543784A JP 18543784 A JP18543784 A JP 18543784A JP S6163923 A JPS6163923 A JP S6163923A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- protective layer
- recording medium
- magnetic recording
- film
- silicone resin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 claims abstract description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 21
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 abstract description 3
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 abstract description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 abstract description 2
- 125000005375 organosiloxane group Chemical group 0.000 abstract description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 abstract description 2
- 238000006748 scratching Methods 0.000 abstract 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 abstract 1
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 6
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 5
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 5
- 235000019441 ethanol Nutrition 0.000 description 4
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N silicic acid Chemical compound O[Si](O)(O)O RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 1
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001004 magnetic alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000012643 polycondensation polymerization Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 125000005372 silanol group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Paints Or Removers (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、磁気記録媒体に係り、より詳細には、磁気デ
ィスク装置、磁気ドラム装置等の磁気記憶装置に用いら
れるもので1表面に保護層を備えた磁気記録媒体に関す
る。
ィスク装置、磁気ドラム装置等の磁気記憶装置に用いら
れるもので1表面に保護層を備えた磁気記録媒体に関す
る。
(従来技術)
一般にこの種の磁気記憶装置では、記録再生用磁気ヘッ
トと磁気記録媒体とを利用して種々の方式の下で記録再
生が行われている。いずれの方式によっても、記録再生
用磁気ヘッドと磁気記録媒体は互に静的或いは動的接触
乃至抑圧下で利用されるため、接触摩擦状態が現出する
ので、磁気記録媒体の金kJt基盤上に形成されている
磁性薄膜を保護するべく1表面に保δ皮膜を被覆して保
護層を形成する必要がある。
トと磁気記録媒体とを利用して種々の方式の下で記録再
生が行われている。いずれの方式によっても、記録再生
用磁気ヘッドと磁気記録媒体は互に静的或いは動的接触
乃至抑圧下で利用されるため、接触摩擦状態が現出する
ので、磁気記録媒体の金kJt基盤上に形成されている
磁性薄膜を保護するべく1表面に保δ皮膜を被覆して保
護層を形成する必要がある。
この保護層は、その目的とするところから、いわゆる耐
ヘッドクラツシユ性、耐摩耗性、潤滑性、耐高温高湿性
、対磁気特性非影響性等々の特性を具備していなければ
ならないものである。
ヘッドクラツシユ性、耐摩耗性、潤滑性、耐高温高湿性
、対磁気特性非影響性等々の特性を具備していなければ
ならないものである。
従来、このような保護皮膜としては、5iO23スパツ
タ法により磁気記録媒体の表面に形成するスパッタ膜が
用いられていた。しかし、このスパッタ法では対ヘツド
クラッシュ性等に欠ける皮膜しか得られず、技術的にも
問題があった。この点、最近に至って、テトラヒドロキ
シシラン溶液を塗布・焼成してポリ珪酸皮膜を形成する
技術が開発され、一応の成果をあげている(特開昭52
−20804)。
タ法により磁気記録媒体の表面に形成するスパッタ膜が
用いられていた。しかし、このスパッタ法では対ヘツド
クラッシュ性等に欠ける皮膜しか得られず、技術的にも
問題があった。この点、最近に至って、テトラヒドロキ
シシラン溶液を塗布・焼成してポリ珪酸皮膜を形成する
技術が開発され、一応の成果をあげている(特開昭52
−20804)。
しかし、このポリ珪酸皮膜形成法は、形成されたポリ珪
酸皮膜自体では前述の諸特性の酊で効果をあげてはいる
ものの、皮膜形成工程の曲で問題があり、取扱いにくい
欠点がある。すなわち、ポリ珪酸はテトラヒドロキシシ
ランの脱水縮合重合により製造されるが、テトラヒドロ
キシシランは非常に活性であり、エチルアルコール及び
ブチルアルコールの溶媒を用いたアルコール溶液として
おかなければならず、保存期間が約3ケ月位で短かく、
反応が起こり変質し易い。また、ポリ珪酸中に残存する
未反応シラノール基を減少させるへく焼成温度を高くし
ないと性能が発揮し難く、逆に高温化により磁性皮膜に
磁気変態をもたらす危険性がある。更には、塗布に際し
ては、アルコール溶媒の蒸発に伴いポリ珪酸が形成され
ていくので、粘性1表面張力、薄膜厚化等々の制御が難
がしい。
酸皮膜自体では前述の諸特性の酊で効果をあげてはいる
ものの、皮膜形成工程の曲で問題があり、取扱いにくい
欠点がある。すなわち、ポリ珪酸はテトラヒドロキシシ
ランの脱水縮合重合により製造されるが、テトラヒドロ
キシシランは非常に活性であり、エチルアルコール及び
ブチルアルコールの溶媒を用いたアルコール溶液として
おかなければならず、保存期間が約3ケ月位で短かく、
反応が起こり変質し易い。また、ポリ珪酸中に残存する
未反応シラノール基を減少させるへく焼成温度を高くし
ないと性能が発揮し難く、逆に高温化により磁性皮膜に
磁気変態をもたらす危険性がある。更には、塗布に際し
ては、アルコール溶媒の蒸発に伴いポリ珪酸が形成され
ていくので、粘性1表面張力、薄膜厚化等々の制御が難
がしい。
(発明の目的)
本発明は、このような従来の保護皮膜形成に伴う欠点を
解消し、保護層として良好な諸特性を作業性(使い易さ
)よく具備でき、特に工業的生産性の優れた磁気記録媒
体を提供することを目的とするものである。
解消し、保護層として良好な諸特性を作業性(使い易さ
)よく具備でき、特に工業的生産性の優れた磁気記録媒
体を提供することを目的とするものである。
(発明の構成)
か\る目的達成のため、各種コーテイング材及びその使
い易さについて実験研究を重ねた結果、シリコーン樹脂
の適用可能性に着目し、中でもラダー(梯子)型シリコ
ーン樹脂の皮膜の利用が実用上可能であることを見い出
した。
い易さについて実験研究を重ねた結果、シリコーン樹脂
の適用可能性に着目し、中でもラダー(梯子)型シリコ
ーン樹脂の皮膜の利用が実用上可能であることを見い出
した。
ラダー型シリコーン樹脂は、次の構造を有する分子量5
o○〜5000のオルガノシロキサンオリゴマーのフレ
ーク状物質を加熱又は酸性触媒存在下で加熱することに
よって得られるラダー状構造をもつ不溶、不融のポリマ
ーである。
o○〜5000のオルガノシロキサンオリゴマーのフレ
ーク状物質を加熱又は酸性触媒存在下で加熱することに
よって得られるラダー状構造をもつ不溶、不融のポリマ
ーである。
(但し、Rはアルキル基又はフェニル基で、n=2〜2
0) そして、Rの態様によって、RがCH,基である場合、
各種比率でのCH,基及びCGH9基である場合、C,
H,基である場合等々の種類があり、特長としては、■
フレーク状で、アルコール、芳香族炭化水素、エステル
系等多くの溶媒に可溶であり、■低粘度であって、スプ
レーコーティング等々の各種操作を容易に行うことがで
き、■2゜O′C以下のように低温、短時間での加熱(
焼成)によって硬化する熱硬化性樹脂であり、■保存は
単に冷暗所(5°C)におくだけで、変質しない、1の
硬化コーティング膜厚は硬化条件により任意に決められ
る、■硬化物は耐熱性が著しく優れており。
0) そして、Rの態様によって、RがCH,基である場合、
各種比率でのCH,基及びCGH9基である場合、C,
H,基である場合等々の種類があり、特長としては、■
フレーク状で、アルコール、芳香族炭化水素、エステル
系等多くの溶媒に可溶であり、■低粘度であって、スプ
レーコーティング等々の各種操作を容易に行うことがで
き、■2゜O′C以下のように低温、短時間での加熱(
焼成)によって硬化する熱硬化性樹脂であり、■保存は
単に冷暗所(5°C)におくだけで、変質しない、1の
硬化コーティング膜厚は硬化条件により任意に決められ
る、■硬化物は耐熱性が著しく優れており。
RとしてC,H,基が多い程耐熱性が高くなり、CN3
基が多い程硬度が高くなり、■鉄、アルミニューム等々
の金属との接着性に優れ、■硬化物は電気絶縁性、耐候
性、耐食性などに優れ、(Φ硬化コーティング面はガラ
スライクで、硬度、耐擦傷性等に優れている。
基が多い程硬度が高くなり、■鉄、アルミニューム等々
の金属との接着性に優れ、■硬化物は電気絶縁性、耐候
性、耐食性などに優れ、(Φ硬化コーティング面はガラ
スライクで、硬度、耐擦傷性等に優れている。
本発明者らは、この樹脂を磁気記録媒体にコーティング
(スピンコーティング)する際の1渚条件について実験
し、最適条件を調らへた。まず、溶媒は、基盤上に吐出
された溶液が蒸発する駁を最少に抑えて均一に薄膜をコ
ーティングするために、n−ブタノール(沸点118°
C)のみとした。また、溶液濃度は、第1表に示すよう
に、低濃度の方が硬度があり、薄くコーティングでき、
0.5 w t%が好ましい。
(スピンコーティング)する際の1渚条件について実験
し、最適条件を調らへた。まず、溶媒は、基盤上に吐出
された溶液が蒸発する駁を最少に抑えて均一に薄膜をコ
ーティングするために、n−ブタノール(沸点118°
C)のみとした。また、溶液濃度は、第1表に示すよう
に、低濃度の方が硬度があり、薄くコーティングでき、
0.5 w t%が好ましい。
焼成は、第2表に示す実験結果より、高温で長い時間処
理する程有利であるが、磁性薄膜上に非磁性材(Ni〜
P層)を被覆する場合があるときの強磁性化を考慮して
、200″C,lhrが好ましい。なお、この焼成条件
の下では、磁性変態が生じないことを確認した。
理する程有利であるが、磁性薄膜上に非磁性材(Ni〜
P層)を被覆する場合があるときの強磁性化を考慮して
、200″C,lhrが好ましい。なお、この焼成条件
の下では、磁性変態が生じないことを確認した。
(以下余白)
滴下量 約0.5 mQ
焼成(200℃X 1hr)
引掻試験: JISK6718による(サファイヤ針使
用)判定方法:0 傷なし Δ 浅く傷つく × 深く傷つく 第1表の(注)参照。
用)判定方法:0 傷なし Δ 浅く傷つく × 深く傷つく 第1表の(注)参照。
但し、溶液濃度は0゜5νt%
また、滴下方法は、200〜3000rpmの基盤回転
数で行うのが望ましい。20 OrPm未ii+liで
滴下すると遠心力が不足して溶液が外側へよく広がらず
、高速回転後にムラ、放射状の縞模様が生じ易い。
数で行うのが望ましい。20 OrPm未ii+liで
滴下すると遠心力が不足して溶液が外側へよく広がらず
、高速回転後にムラ、放射状の縞模様が生じ易い。
以上の実験結果より、n−ブタノールを溶媒として濃度
0 、5 wt%の溶液を基盤回転数300゜rpn+
の下に冴下し、200℃X1hrの焼成を行うのが好ま
しい。これにより耐引掻試験荷重60g相当でも傷がつ
かない0.08μm以下の膜厚が可能となる。
0 、5 wt%の溶液を基盤回転数300゜rpn+
の下に冴下し、200℃X1hrの焼成を行うのが好ま
しい。これにより耐引掻試験荷重60g相当でも傷がつ
かない0.08μm以下の膜厚が可能となる。
(実施例)
ディスク状アルミニウム合金円盤(外径130mm、内
径40mm)上にN1−P非磁性合金を約50μmの厚
さにメッキし、このN1−Pメッキ膜を機械的研磨によ
り鏡面仕上げした後、その上にCo−N1−Pの磁性合
金を約0.05〜0.08 μmの厚さにメッキした。
径40mm)上にN1−P非磁性合金を約50μmの厚
さにメッキし、このN1−Pメッキ膜を機械的研磨によ
り鏡面仕上げした後、その上にCo−N1−Pの磁性合
金を約0.05〜0.08 μmの厚さにメッキした。
更にその上に以下に示す各種の保護膜形成材を回転塗布
法によりコーティングした。
法によりコーティングした。
叉11引Y
前記ディスク状円盤を20Orpmで回転させながら、
ラダー型シリコーンオリゴマー溶液(Owens−fQ
ffinois社グラスレジンGR650のn−ブタノ
ール中、0.5wt%溶液)0.4mQを内径周囲部に
滴下させ、溶液か遠心力によりディスク状円盤の外側へ
十分法がった後、高速回転させ、約0.08μmの膜厚
の皮1膜が形成された。これを室温(25℃)でしばら
(放置した後、200°C,lhr焼成し、シリコン糸
探51!股をディスク状円盤上に形成した。
ラダー型シリコーンオリゴマー溶液(Owens−fQ
ffinois社グラスレジンGR650のn−ブタノ
ール中、0.5wt%溶液)0.4mQを内径周囲部に
滴下させ、溶液か遠心力によりディスク状円盤の外側へ
十分法がった後、高速回転させ、約0.08μmの膜厚
の皮1膜が形成された。これを室温(25℃)でしばら
(放置した後、200°C,lhr焼成し、シリコン糸
探51!股をディスク状円盤上に形成した。
実施例2
同様にディスク状円盤を20Orpmで回転させながら
、ラダー型シリコーンオリゴマー溶液(○wens−I
QQinois社クラスレジンGR650のn−ブタノ
ール中、0.5wt%ン容液)0.2mQを内径周囲部
から外径へ半径方向に移動させながら滴下させ、ディス
ク状円盤上に溶液が十分法がった後、実施例1と同様に
して、高速回転、焼成、保護膜形成を行った。
、ラダー型シリコーンオリゴマー溶液(○wens−I
QQinois社クラスレジンGR650のn−ブタノ
ール中、0.5wt%ン容液)0.2mQを内径周囲部
から外径へ半径方向に移動させながら滴下させ、ディス
ク状円盤上に溶液が十分法がった後、実施例1と同様に
して、高速回転、焼成、保護膜形成を行った。
ル虜UしL
実施例1と同様の方法により、ポリ珪酸Si(○H)4
(東京応化10 C、Dのn−ブタノ7−ル中。
(東京応化10 C、Dのn−ブタノ7−ル中。
0.5wt%溶液)0.4mQを塗布し、ディスク状円
盤上に保護膜を形成した。
盤上に保護膜を形成した。
比較例2
実施例1と同様の方法により、ハードコーティング用シ
リコーンワニス(東芝シリコーン製トスガード510の
n−ブタノール中、0 、5 wt%溶液)0.4mQ
を塗布し、ディスク状円盤」二に保31F、iを形成し
た。
リコーンワニス(東芝シリコーン製トスガード510の
n−ブタノール中、0 、5 wt%溶液)0.4mQ
を塗布し、ディスク状円盤」二に保31F、iを形成し
た。
坊較例3
実施例1と同様の方法により、比較例2で用いたものよ
りもより低温で硬化するシリコーンワニス(東芝シリコ
ーン製トスガード520のn−フタノール中、0.5w
t%溶液)0.4m立を塗布し、ディスク状円盤上に保
5膜を形成した。
りもより低温で硬化するシリコーンワニス(東芝シリコ
ーン製トスガード520のn−フタノール中、0.5w
t%溶液)0.4m立を塗布し、ディスク状円盤上に保
5膜を形成した。
以上の各実験例により保護1漠を形成した各ディスク状
円盤について、JISK6718に基づき(0,05R
のサファイヤ針使用)引掻試験を行った。その結果を第
3表に示す。
円盤について、JISK6718に基づき(0,05R
のサファイヤ針使用)引掻試験を行った。その結果を第
3表に示す。
同表に示す試験結果よりわかるように、本発明のいずれ
の実施例の39合にも、耐引掻試験荷重が60gまでは
表面に全く儂が発生しておらず、ラダー型シリコーン樹
脂は、既述の特長と相俟って、優れた特性を示し、使い
易さも優れている。なお、実施例2は実施例1に比らべ
て塗布量が異なるが、滴下法も変えたため、同等の結果
を示している。
の実施例の39合にも、耐引掻試験荷重が60gまでは
表面に全く儂が発生しておらず、ラダー型シリコーン樹
脂は、既述の特長と相俟って、優れた特性を示し、使い
易さも優れている。なお、実施例2は実施例1に比らべ
て塗布量が異なるが、滴下法も変えたため、同等の結果
を示している。
これに対し、ポリ珪酸皮膜を形成した比較例1の場合は
、耐引掻試験で本発明の各実施例と同等の結果を示して
はいるものの、取扱いにくいという欠点がある。また、
比較例2及び3は僅かの荷重で引掻傷が発生してしまう
ことを示している。
、耐引掻試験で本発明の各実施例と同等の結果を示して
はいるものの、取扱いにくいという欠点がある。また、
比較例2及び3は僅かの荷重で引掻傷が発生してしまう
ことを示している。
(以下余白)
(注)判定方法:第1表の(注)に同じ(発明の効果)
以−ヒ詳述したことから明らかなように、本発明によれ
ば、磁気記録媒体の保3層としてラダー型シリコーン樹
脂皮膜を用いるので、優れた諸特性の保護層を可能にし
、しかもその形成技術面での使い易さく作業性)も優れ
ているので、実用的効果は大きい。
ば、磁気記録媒体の保3層としてラダー型シリコーン樹
脂皮膜を用いるので、優れた諸特性の保護層を可能にし
、しかもその形成技術面での使い易さく作業性)も優れ
ているので、実用的効果は大きい。
Claims (1)
- 基盤上に直接若しくは間接的に磁性薄膜を被覆し、該磁
性薄膜上に保護層を有する磁気記録媒体において、前記
保護層としてラダー型シリコーン樹脂皮膜を用いてなる
ことを特徴とする磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18543784A JPS6163923A (ja) | 1984-09-06 | 1984-09-06 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18543784A JPS6163923A (ja) | 1984-09-06 | 1984-09-06 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6163923A true JPS6163923A (ja) | 1986-04-02 |
Family
ID=16170773
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18543784A Pending JPS6163923A (ja) | 1984-09-06 | 1984-09-06 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6163923A (ja) |
-
1984
- 1984-09-06 JP JP18543784A patent/JPS6163923A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4326229A (en) | Magnetic record member and process for manufacturing the same | |
| JPH0358320A (ja) | 磁気記録媒体に対する保護層 | |
| US4162350A (en) | Magnetic record member | |
| JPS6163923A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| US4154875A (en) | Process for manufacturing a magnetic record member | |
| JPS5938649B2 (ja) | 磁気記憶体およびその製造方法 | |
| JPS61253624A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造方法 | |
| JPS6028053B2 (ja) | 磁気記憶体 | |
| JPS5939808B2 (ja) | 磁気記憶体およびその製造方法 | |
| JPS5939809B2 (ja) | 磁気記憶体 | |
| JPH0258685B2 (ja) | ||
| JPS61196423A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造方法 | |
| JPS5888828A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造方法 | |
| JPS60121526A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPS6245611B2 (ja) | ||
| JPWO2024202050A5 (ja) | 情報記録媒体用ディスク、及びディスク中間体 | |
| JPS6061919A (ja) | 磁気記憶体 | |
| JPH03137821A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH02149923A (ja) | 薄膜磁気記録媒体の製造方法 | |
| JP2780270B2 (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPS63144413A (ja) | 垂直磁気記録媒体 | |
| JPH027226A (ja) | 磁気ディスク基板の製造方法 | |
| JPS5939807B2 (ja) | 磁気記憶体 | |
| JPS6376112A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH01122028A (ja) | 磁気デイスクの製造方法 |