JPS6168375A - セラミツクスの接合方法 - Google Patents
セラミツクスの接合方法Info
- Publication number
- JPS6168375A JPS6168375A JP19012884A JP19012884A JPS6168375A JP S6168375 A JPS6168375 A JP S6168375A JP 19012884 A JP19012884 A JP 19012884A JP 19012884 A JP19012884 A JP 19012884A JP S6168375 A JPS6168375 A JP S6168375A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramics
- sialon
- bonding
- al2o3
- diffusion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(句技術分野
本発明はM 513N4系セラミツクスとAQ 203
系セラミツクスを高い接合強度で同相接合する方法に関
する。
系セラミツクスを高い接合強度で同相接合する方法に関
する。
(0)従来技術の問題点
従来513N4を主成分とするセラミックスとAl1h
O3を主成分とするセラミックスを接合する際には、被
接合物の界面を接触させた後、非酸化性の雰囲気中、加
圧下で1700°C前後の温度に保持して、固相拡散接
合する方法がとられてきた。しかしながら、+SOO°
C付近ではAl2O3がSi3N4系セラミックスに固
溶するため、813N4系セラミツクスとA4203系
セラミツクスを゛直接接触させて固相接合すると、Al
2O3系セラミックスから513N4系セラミツクス中
へAQとOの一方的な拡散が起こった。このためAl2
203系セラミックス内部の接合界面近傍に、このカー
ケンドール効果によって粗大な空孔が生じ、接合体の強
度が減少した。
O3を主成分とするセラミックスを接合する際には、被
接合物の界面を接触させた後、非酸化性の雰囲気中、加
圧下で1700°C前後の温度に保持して、固相拡散接
合する方法がとられてきた。しかしながら、+SOO°
C付近ではAl2O3がSi3N4系セラミックスに固
溶するため、813N4系セラミツクスとA4203系
セラミツクスを゛直接接触させて固相接合すると、Al
2O3系セラミックスから513N4系セラミツクス中
へAQとOの一方的な拡散が起こった。このためAl2
203系セラミックス内部の接合界面近傍に、このカー
ケンドール効果によって粗大な空孔が生じ、接合体の強
度が減少した。
丁1図に上記の従来の接合方法によって作製した5L3
N4系セラミツクスとAQ 203系セラミツクスの接
合体のA9203セラミックス内部の接合界面近傍の組
織写真を示す。写真からも明らかなように、Al2O3
セラミックス内部の接合界面付近にin大な空孔が発生
している。この空孔は固相拡散接合時にAQと0がS+
3N4系セラミツクス中に一方拡散して固溶し、このカ
ーケンドール効果によって生したものである。この時S
+3N4系セラミツクスの側からAQ 203系セラミ
ツクスへはほとんど拡散は起こらない。
N4系セラミツクスとAQ 203系セラミツクスの接
合体のA9203セラミックス内部の接合界面近傍の組
織写真を示す。写真からも明らかなように、Al2O3
セラミックス内部の接合界面付近にin大な空孔が発生
している。この空孔は固相拡散接合時にAQと0がS+
3N4系セラミツクス中に一方拡散して固溶し、このカ
ーケンドール効果によって生したものである。この時S
+3N4系セラミツクスの側からAQ 203系セラミ
ツクスへはほとんど拡散は起こらない。
以上述べたように、5iaN4系セラミツクスとAQ
203系セラミツクスを接合する際に、従来の5t3N
4系セラミツクスとAQ 203系セラミ・ンクスを直
接接触させて固相拡散接合する方法では、カーケンドー
ル効果によってAQ 203系セラミツクス中に粗大な
空孔が発生するという問題があり、接合強度の高いS
13N4− Al2O3接合体を得ることは不可能であ
った。本発明者らは、この点に鑑み、カーケンドール効
果を抑えて空孔の発生を抑止し、接合強度の高いS+3
N4− /’1203接合体を得ることを目的として、
現象の追求、接合方法の改良に努力した結果、本発明に
到ったものである。
203系セラミツクスを接合する際に、従来の5t3N
4系セラミツクスとAQ 203系セラミ・ンクスを直
接接触させて固相拡散接合する方法では、カーケンドー
ル効果によってAQ 203系セラミツクス中に粗大な
空孔が発生するという問題があり、接合強度の高いS
13N4− Al2O3接合体を得ることは不可能であ
った。本発明者らは、この点に鑑み、カーケンドール効
果を抑えて空孔の発生を抑止し、接合強度の高いS+3
N4− /’1203接合体を得ることを目的として、
現象の追求、接合方法の改良に努力した結果、本発明に
到ったものである。
(ハ)発明の開示
本発明で言うSi3N4系セラミックスとは、焼結体中
に50重量%以上のSI3N4を含み、残部がAl2O
3及び/又はMgO及び/又は希土類酸化物など焼結の
際に助剤として添加した酸化物のガラス相及び結晶相を
含むセラミックス、並びにサイアロンを指す。また、本
発明のAl2O3系セラミックス七は焼結体中に50重
量%以上のAl2O3を含み、残部が5102及び/又
はZrO2などの酸化物より成るセラミックスを指す。
に50重量%以上のSI3N4を含み、残部がAl2O
3及び/又はMgO及び/又は希土類酸化物など焼結の
際に助剤として添加した酸化物のガラス相及び結晶相を
含むセラミックス、並びにサイアロンを指す。また、本
発明のAl2O3系セラミックス七は焼結体中に50重
量%以上のAl2O3を含み、残部が5102及び/又
はZrO2などの酸化物より成るセラミックスを指す。
上記の513N4系セラミツクスとAQ 203系セラ
ミツクスを直接接触させて固相拡散接合すると、AQ
203系セラミツクスからS+3N4系セラミツクス中
へAQと0の一方拡散が起こり、 Al2O3系セラミ
ックス内部の接合界面近傍に粗大な空孔が生じることは
、従来技術の問題点の項で述べた通りである。本発明者
らはこの現象をEPMA(EI2 ec t ronP
robe Micro Analysis)やX線回折
などの分析手法を用いてさらに詳細に解析した結果、S
i3N4系セラミックス内部の接合界面と隣接した部分
にサイアロン層が生成していることが判明した。このサ
イアロンは、Al2O3系セラミックスよりSi3N4
系セラミックス中に拡散してきたAffi及びOと5L
3N4が反応して生成したものと考えられる。
ミツクスを直接接触させて固相拡散接合すると、AQ
203系セラミツクスからS+3N4系セラミツクス中
へAQと0の一方拡散が起こり、 Al2O3系セラミ
ックス内部の接合界面近傍に粗大な空孔が生じることは
、従来技術の問題点の項で述べた通りである。本発明者
らはこの現象をEPMA(EI2 ec t ronP
robe Micro Analysis)やX線回折
などの分析手法を用いてさらに詳細に解析した結果、S
i3N4系セラミックス内部の接合界面と隣接した部分
にサイアロン層が生成していることが判明した。このサ
イアロンは、Al2O3系セラミックスよりSi3N4
系セラミックス中に拡散してきたAffi及びOと5L
3N4が反応して生成したものと考えられる。
この結果をもとにして、513N4系セラミツクスとA
l2O3系セラミックスの間にサイアロン焼結体を介在
させて、非酸化性雰囲気中、加圧下で1600°Cに保
持して固相拡散接合を行ったところ、Al2O3系セラ
ミックスの内部に粗大な空孔を生じることなく、良好な
5i3N4− Al2O3接合体が得られた。このこと
からS+3N4系セラミツクスとAQ 203系セラミ
ツクスの間にサイアロン焼結体を挟むことにより、A+
2203系セラミックスからS+3I’L+系セラミツ
クスへのAQと0の一方拡散を抑え得ることが分かった
。この理由について現在詳細に検討中であるが、AQと
0の拡散速度が、サイアロン焼結体中ではSi3N4系
セラミ、ラス中に比べて小さいことによる可能性が大き
いと考えられる。
l2O3系セラミックスの間にサイアロン焼結体を介在
させて、非酸化性雰囲気中、加圧下で1600°Cに保
持して固相拡散接合を行ったところ、Al2O3系セラ
ミックスの内部に粗大な空孔を生じることなく、良好な
5i3N4− Al2O3接合体が得られた。このこと
からS+3N4系セラミツクスとAQ 203系セラミ
ツクスの間にサイアロン焼結体を挟むことにより、A+
2203系セラミックスからS+3I’L+系セラミツ
クスへのAQと0の一方拡散を抑え得ることが分かった
。この理由について現在詳細に検討中であるが、AQと
0の拡散速度が、サイアロン焼結体中ではSi3N4系
セラミ、ラス中に比べて小さいことによる可能性が大き
いと考えられる。
本発明で言うサイアロンは、SI3N4構造のSi位置
にAQ、N位置にOが置換型固溶したものであり、被接
合材であるSi3N4系セラミックスと類似の結晶構造
を持っているのにあわせて、Al2Oa系セラミックス
ともAQとOの拡散を生ずるため、513N4系セラミ
ツクスとAQ 203系セラミツクスを接合する際の介
在層に適している。上述のようにS+3N+構造のS+
位置にAQ、N位置に0が置換型固溶したものを総称し
てサイアロンと呼んでいるが、サイアロンにも数種類あ
り、それぞれ組成、構造が異なっている。特に本発明の
介在層として好ましいのは、β−サイア゛ロンと呼ばれ
ている種類のサイアロンである。β−サイアロンは一般
式%式%) れ、置換するAQ、 Oが同数であり、SI+Al21
0十Nが常に374のモル比になっている。Si3N4
系セラミンクスの焼結体中に含まれるSi3N4粒子は
、一般にβ型の結晶構造を持っており、結晶構造の類似
性の面から考えると介在層としてはβ−サイアロンが最
も適している。β−サイアロン中のOの拡散係数が小さ
いことは一般に知られており、本発明においてサイアロ
ア・を被接合物間(こ介在させることによって、 Al
2O3系セラミノクスカ)らのAQとOの一方拡散を抑
えることができたこととよい一致を示している。
にAQ、N位置にOが置換型固溶したものであり、被接
合材であるSi3N4系セラミックスと類似の結晶構造
を持っているのにあわせて、Al2Oa系セラミックス
ともAQとOの拡散を生ずるため、513N4系セラミ
ツクスとAQ 203系セラミツクスを接合する際の介
在層に適している。上述のようにS+3N+構造のS+
位置にAQ、N位置に0が置換型固溶したものを総称し
てサイアロンと呼んでいるが、サイアロンにも数種類あ
り、それぞれ組成、構造が異なっている。特に本発明の
介在層として好ましいのは、β−サイア゛ロンと呼ばれ
ている種類のサイアロンである。β−サイアロンは一般
式%式%) れ、置換するAQ、 Oが同数であり、SI+Al21
0十Nが常に374のモル比になっている。Si3N4
系セラミンクスの焼結体中に含まれるSi3N4粒子は
、一般にβ型の結晶構造を持っており、結晶構造の類似
性の面から考えると介在層としてはβ−サイアロンが最
も適している。β−サイアロン中のOの拡散係数が小さ
いことは一般に知られており、本発明においてサイアロ
ア・を被接合物間(こ介在させることによって、 Al
2O3系セラミノクスカ)らのAQとOの一方拡散を抑
えることができたこととよい一致を示している。
しかしながら、介在層はβ−サイアロン番こ限られるも
のではなく、Mx(St、Al2)+2(0,Nl+6
(M iま金属でL I、Mg+ Ca、Yなど×≦2
)の組成をもつα−サイアロンを用いても、Al2O3
系セラミックスカ1らSi3N4系セラミックスへAf
lと0が一方拡散するのを抑え、空孔を生しない良好な
接合体を得ることができる。
のではなく、Mx(St、Al2)+2(0,Nl+6
(M iま金属でL I、Mg+ Ca、Yなど×≦2
)の組成をもつα−サイアロンを用いても、Al2O3
系セラミックスカ1らSi3N4系セラミックスへAf
lと0が一方拡散するのを抑え、空孔を生しない良好な
接合体を得ることができる。
以下、実施例によって本発明を説明する。
実施例1
焼結助剤として5重ffi%のMgOを添加して焼阜吉
L f: W4 度99.2% (f) S+3N4
mL”i体ト純度9!1.5% (’) a−Al2O
3を焼結した密度99.7%のAQ2Ch焼結体をそれ
ぞれ直径51111q高さ3 msの円柱状器こ加工し
、この間に組成S +5AQ ON? 、密度98.9
%のβ−サイアロン焼結体を直径5m雪、厚さ1艶電(
こ加工しtこ円板を挟んで、30000kg / s♂
の加圧下、!800’c+こ30分間(’j: tM
L−N固相拡散接合した。
L f: W4 度99.2% (f) S+3N4
mL”i体ト純度9!1.5% (’) a−Al2O
3を焼結した密度99.7%のAQ2Ch焼結体をそれ
ぞれ直径51111q高さ3 msの円柱状器こ加工し
、この間に組成S +5AQ ON? 、密度98.9
%のβ−サイアロン焼結体を直径5m雪、厚さ1艶電(
こ加工しtこ円板を挟んで、30000kg / s♂
の加圧下、!800’c+こ30分間(’j: tM
L−N固相拡散接合した。
この接合体のA、Q20:+相の接合界面近傍の組織を
第2図に示す。
第2図に示す。
第1図はサイアロ/を介在層として用いず、S+3N4
焼結体とAQ 203焼結体を1α接接合した時のAQ
203相の接合界面近傍の組織である。
焼結体とAQ 203焼結体を1α接接合した時のAQ
203相の接合界面近傍の組織である。
第1図と第2図を比較すると、サイアロ/を介在層に用
いることにより、接合時にAQzO3jl結体中に打l
大体中孔が発生するのを抑え得ることが良く分かる。こ
の接合体の接合強度は引張強度は16kg / w♂で
あった。
いることにより、接合時にAQzO3jl結体中に打l
大体中孔が発生するのを抑え得ることが良く分かる。こ
の接合体の接合強度は引張強度は16kg / w♂で
あった。
実施例2
焼結助剤として10重量%のA+2203を添加して焼
結シタ畜1g38.7%〕SisN4mu体ト、SiO
2を8重量′A添加して焼結した密度99.3%のAQ
203焼結体をそれぞれ直径IOmn、高さIQ■璽
の円柱状に加工し、この間に組成Yo、a(S =3A
Q 2.7)(00,9N+5.1)、密度98.7%
のα−サイアロ/焼結体を直径101、厚さ1、 ff
111に加工した円板を挟んで、200 kg / c
++”の加圧下、1700°Cに30分間保持し、固相
拡散接合した。
結シタ畜1g38.7%〕SisN4mu体ト、SiO
2を8重量′A添加して焼結した密度99.3%のAQ
203焼結体をそれぞれ直径IOmn、高さIQ■璽
の円柱状に加工し、この間に組成Yo、a(S =3A
Q 2.7)(00,9N+5.1)、密度98.7%
のα−サイアロ/焼結体を直径101、厚さ1、 ff
111に加工した円板を挟んで、200 kg / c
++”の加圧下、1700°Cに30分間保持し、固相
拡散接合した。
この時AQ 203焼結体中には粗大な空孔は発生せす
、良好な接合体が得られた。この接合体の接合強度は引
張強度で14kg/−であった。
、良好な接合体が得られた。この接合体の接合強度は引
張強度で14kg/−であった。
Claims (3)
- (1)Si_3N_4を主成分とするセラミックスとA
l_2O_3を主成分とするセラミックスを接合する際
に、両者間にサイアロンを介在させて接合することを特
徴とするセラミックスの接合方法。 - (2)介在させるサイアロンがSi_6_zAlzOz
N_8_z(z=0.1〜4.2)の組成をもつβ−サ
イアロンであることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載のセラミックスの接合方法。 - (3)介在させるサイアロンがMx(Si、Al)_1
_2(O、N)_1_6(Mは金属でLi、Mg、Ca
、Yなどでx≦2)の組成をもつα−サイアロンである
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のセラミッ
クスの接合方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19012884A JPS6168375A (ja) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | セラミツクスの接合方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19012884A JPS6168375A (ja) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | セラミツクスの接合方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6168375A true JPS6168375A (ja) | 1986-04-08 |
| JPH0127023B2 JPH0127023B2 (ja) | 1989-05-26 |
Family
ID=16252857
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19012884A Granted JPS6168375A (ja) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | セラミツクスの接合方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6168375A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5096863A (en) * | 1988-11-04 | 1992-03-17 | 501 Hitachi Metals, Ltd. | Diffusion-bonded assembly of AlN ceramic bodies and heat dissipation member constituted thereby |
| WO2009010427A1 (de) * | 2007-07-13 | 2009-01-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Diffusionsgefügtes keramisches bauteil und verfahren zu seiner herstellung |
-
1984
- 1984-09-10 JP JP19012884A patent/JPS6168375A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5096863A (en) * | 1988-11-04 | 1992-03-17 | 501 Hitachi Metals, Ltd. | Diffusion-bonded assembly of AlN ceramic bodies and heat dissipation member constituted thereby |
| WO2009010427A1 (de) * | 2007-07-13 | 2009-01-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Diffusionsgefügtes keramisches bauteil und verfahren zu seiner herstellung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0127023B2 (ja) | 1989-05-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR880000654B1 (ko) | 금속-세라믹접합체 | |
| EP0097944B1 (en) | Method for directly bonding ceramic and metal members and laminated body of the same | |
| US4101707A (en) | Homogeneous multilayer dielectric mirror and method of making same | |
| US8490260B1 (en) | Method of manufacturing SAW device substrates | |
| JPS6168375A (ja) | セラミツクスの接合方法 | |
| US5096863A (en) | Diffusion-bonded assembly of AlN ceramic bodies and heat dissipation member constituted thereby | |
| EP0639165B1 (en) | A CERAMIC COMPOSITE, PARTICULARLY FOR USE AT TEMPERATURES ABOVE 1400 oC | |
| JP2003245792A (ja) | 接続構造 | |
| JPS59232692A (ja) | セラミツクと金属等との接合用ろう材及びこれを用いたセラミツクと金属等の複合体 | |
| JPS63164228A (ja) | セラミツク製ワイヤボンデイング用キヤピラリ− | |
| JPS6177681A (ja) | 窒化物セラミツクスの接合方法 | |
| JPH0472793B2 (ja) | ||
| JPH0460946B2 (ja) | ||
| JPS62216983A (ja) | 金属化層を有する窒化アルミニウム焼結体並びにその製造方法 | |
| JPH0959074A (ja) | セラミックス部材とアルミニウム部材との接合体の製造方法 | |
| JP3004374B2 (ja) | 窒化ケイ素接合体 | |
| JPH02170799A (ja) | 超音波素子およびその製造方法 | |
| JPS61132570A (ja) | セラミツク部材の接合方法 | |
| JPS6226184B2 (ja) | ||
| JPH0469035B2 (ja) | ||
| JPH08217559A (ja) | セラミックス部材とアルミニウム部材との接合体の製造方法 | |
| JPS59203779A (ja) | 熱膨張係数の異なるセラミックス焼結体どうしあるいはセラミックス焼結体と金属部材との接合方法、およびセラミックス接合体 | |
| JPS59164676A (ja) | セラミツクスと金属の接合体及びその製造方法 | |
| JPS61168577A (ja) | セラミツクス複合部材 | |
| JP3523665B2 (ja) | セラミックス表面への金属層の形成方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |