JPS618182A - Inspection device for card-shaped body to be inspected - Google Patents

Inspection device for card-shaped body to be inspected

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JPS618182A
JPS618182A JP12956584A JP12956584A JPS618182A JP S618182 A JPS618182 A JP S618182A JP 12956584 A JP12956584 A JP 12956584A JP 12956584 A JP12956584 A JP 12956584A JP S618182 A JPS618182 A JP S618182A
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JP
Japan
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card
inspection
test object
test
inspected
Prior art date
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JP12956584A
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Japanese (ja)
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道明 小林
賢 佐々木
柴崎 真
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、プラスチック、紙、金属、木等の素材又はそ
の複合物よりなるカード状の被検査体を外観検査する場
合のカード状検査体の搬送装置に関する。
Detailed Description of the Invention [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a method for visually inspecting a card-shaped inspection object made of materials such as plastic, paper, metal, wood, or a composite thereof. Regarding a conveyance device.

〔従来技術と問題点〕[Conventional technology and problems]

従来、銀行、鉄道あるいは種々の分野においてカードが
使用されているが、これらカードの外観検査は人手作業
として目視により行なわれており、カードを検査者が手
で1枚1枚めくって検査するようにしている。このよう
に、検査者がカードを1枚1枚手でめくってカードの全
面を露出する作業は手間がかかり大量枚数を扱うには熟
練を要するばかりでなく、処理速度を上げることが難し
い。
Conventionally, cards have been used in banks, railways, and various other fields, but the visual inspection of these cards has been done manually by the naked eye. I have to. As described above, it is time-consuming for the inspector to manually turn over each card one by one to expose the entire surface of the card, and handling a large number of cards not only requires skill, but also makes it difficult to increase the processing speed.

また、無理に処理速度を上げようとすると、カードの全
面を目視することが不可能になり、部分的にしか目視で
きなくなってしまう。更に、検査が長時間に及ぶ場合は
、作業者の疲労からくる検査速度の低下や誤判定が避け
られず、2種、3種のチェックが行なわれることも多か
った。
Furthermore, if an attempt is made to increase the processing speed by force, it becomes impossible to visually see the entire surface of the card, and only a portion thereof becomes visible. Furthermore, when an inspection lasts a long time, a decrease in inspection speed and erroneous judgments due to operator fatigue are unavoidable, and two or three types of checks are often performed.

また、カードの製造工程中においては種々の検査装置が
種々提案されているが、これらは画像の位置ズレに↓る
誤判定が起き易いばかりでなく処理速度が遅く、しかも
被検査体の搬送までも考慮した実用的な検査装置が存在
しなかった。
In addition, various inspection devices have been proposed during the card manufacturing process, but these not only tend to cause misjudgments due to image misalignment, but also have slow processing speeds, and are slow in transporting objects to be inspected. There was no practical inspection device that took this into consideration.

(発明の目的) 本発明は、かかる点に鑑み、カード状被検査体の検査面
を目視または検査装置により検査できる状態で搬送する
とともに、検査結果に応じて良好なカードと不良なカー
ドを自動的に区分けできるようなカード状被検査体の搬
送装置に関する。
(Purpose of the Invention) In view of the above, the present invention transports a card-shaped object to be inspected in a state where the inspection surface can be inspected visually or by an inspection device, and automatically distinguishes good cards and bad cards according to the inspection results. The present invention relates to a transport device for card-shaped test objects that can be divided into sections.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

この目的は、検査しようとする被検査体を立てた状態で
整列載置するための被検査体供給部と、この被検査体供
給部に対して並列に設けられ不良被検査体を整列排出す
るための不良被検査体搬出部と、前記被検査体供給部と
並列に設けられ、良好な被検査体を整列搬出するための
良好被検査体搬出部とからなるテーブルと、このテーブ
ルの端縁に沿って設けられ、テーブルの幅方向に被検査
体を立てた状態のま)被検査体を被検査供給部から不良
被検査体搬出部又は良好被検査体搬出部に間欠的に搬送
するための被検査体搬送装置と、前記被検査体搬送装置
の前記被検査体供給部の前端に位置する第1位置に対向
して設けられ、前記第1位置に保持されたカードの表面
を検査するためのカメラと1.予め取り込んでおいた基
準画像と検査画像とを比較し良否判定を行′なうための
画像処理装置と、搬送装置のタイミングに合わせて、画
像処理装置を制御し、さらに画像処理装置からの検査結
果により被検査体押し出し機構を動作させる信号処理装
置とからなり、前記被検査体搬送装置は、前記テーブル
の端縁に沿って配設され被検査体を立てた状態でガイド
するガイド部材、と、こ2のガイド部材に沿って往復動
し、被検査体を送り爪により保持してそれをガイド部材
に沿って前記被検査体供給部の前端の第1位置から、前
記被検査体供給部に隣接する搬出部の前端の第2位置へ
送り、同時にこの第2位置から更に隣りの搬出部の第3
位置へ間欠的に送るための被検査体送り機構と、前記第
1位置において被検査体を検査のための所定位置に位置
決めするための被検査体位置決め機構と、前記第2位置
および第3位置に送られた被検査体を検査結果に応じて
それぞれの搬出部に押出すための被検査体押出し機構と
、前記被検査体送り機構の往復動と前記被検査体押出し
機構の動きとを同調させるための同調機構とで構成され
ることによって達成される。
The purpose of this is to have an inspection object supply section for aligning and placing the inspection objects to be inspected in an upright state, and a test object supply section that is installed in parallel to this inspection object supply section to align and discharge defective inspection objects. a table consisting of a defective inspection object carrying-out section for carrying out the inspection, and a good inspection object carrying-out section that is provided in parallel with the inspection object supplying section and for aligning and carrying out the good inspection objects, and an edge of this table; is installed along the width of the table to intermittently transport the test objects (with the test objects standing upright in the width direction of the table) from the test object supply section to the defective test object transport section or the good test object transport section. and a first position located at the front end of the test object supply section of the test object transport device, and are provided opposite to a first position located at the front end of the test object supplying section of the test object transport device, and inspect the surface of the card held at the first position. Camera and 1. The image processing device is used to compare the reference image captured in advance and the inspection image to determine pass/fail, and the image processing device is controlled in accordance with the timing of the transport device, and the inspection image from the image processing device is and a signal processing device that operates a test object pushing mechanism according to the result, and the test object transporting device includes a guide member disposed along the edge of the table and guiding the test object in an upright state. , reciprocates along these two guide members, holds the object to be inspected by a feed claw, and transports it along the guide member from a first position at the front end of the object to be inspected supply section to the object to be inspected supply section. to a second position at the front end of the unloading section adjacent to the
an inspection object transport mechanism for intermittently transporting the inspection object to the first position; an inspection object positioning mechanism for positioning the inspection object at a predetermined position for inspection at the first position; and the second position and the third position. A test object pushing mechanism for pushing out the test objects sent to the test object to the respective delivery sections according to the test results, and synchronizing the reciprocating movement of the test object sending mechanism and the movement of the test object pushing mechanism. This is achieved by comprising a tuning mechanism for

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第1図において、本発明の検査装置1Mは、所定角度で
前方に傾斜しカードCを縦に整列状態で載置しておくた
めのテーブル1と、このテーブル1の前端縁に沿って設
けられ、カードCを1枚ずつテーブル1の1幅方向に送
るためのカード搬送部2とからなる搬送装@王を有して
いる。
In FIG. 1, the inspection device 1M of the present invention includes a table 1 that is tilted forward at a predetermined angle and on which cards C are placed in a vertically aligned state, and a table 1 that is provided along the front edge of this table 1. , and a card conveying section 2 for conveying cards C one by one in one width direction of the table 1.

前記テーブル1は検査前のカードを1列に送り込むため
のカード供給部1aと、このカード供給部1aに隣接し
不良カードを搬出する不良カード搬出部1bと、この不
良カード搬出部1bに隣接し良好なカードを搬出する良
好カード搬出部1Cと、テーブル1の上端部近傍に儲け
られ検査すべきカードを一旦載置するためのカード一時
載置部1dと、前記良好カード搬出部1cの上端部に形
成され良好カードを収納箱に移し換えるカード収納部1
eとからなる。
The table 1 includes a card supply section 1a for feeding cards to be inspected into one row, a defective card discharging section 1b adjacent to the card supply section 1a for discharging defective cards, and a defective card discharging section 1b adjacent to the defective card discharging section 1b. A good card carry-out section 1C for carrying out good cards; a card temporary placement section 1d for temporarily placing cards to be inspected near the upper end of the table 1; and an upper end of the good card carry-out section 1c. A card storage section 1 formed in
Consists of e.

前′記テーブル1のカード供給部1aの前縁に対向して
カードCの検査面を光学的に検知するためのカメラ3が
設けられ、このカメラ3はカード検査装置Mの本体ケー
シング4に収納された画像処理装置5に電気的に接続さ
れ、本体ケーシング4内には画像処理装置5と搬送部N
Tを結θ付け、搬送装置Tの搬送部2を電気的に制御す
る信号処理装置6が収納されている。
A camera 3 for optically detecting the inspection surface of the card C is provided opposite to the front edge of the card supply section 1a of the table 1, and this camera 3 is housed in the main body casing 4 of the card inspection device M. The main casing 4 includes the image processing device 5 and the conveying section N.
A signal processing device 6 for electrically controlling the transport section 2 of the transport device T is housed.

前記テーブル1のカード供給部1a、不良カード搬出部
1bおよび良好カード搬出部1cには、第2図に示す如
くその長手方向に案内レール7゜7が設けられ、この案
内レール7の一部がテーブル板8から突出し、その突出
部分にカードCが載置°されてスライドされる。そして
、各カード列Cの後端は第3図に示すように押動部材9
.9.9によって押えられ、これら押動部材は各カード
列を下方に向って付勢している。
As shown in FIG. 2, guide rails 7.7 are provided in the card supply section 1a, defective card discharging section 1b, and good card discharging section 1c of the table 1 in the longitudinal direction. It protrudes from the table board 8, and the card C is placed on the protruding portion and slid. The rear end of each card row C is connected to a pushing member 9 as shown in FIG.
.. 9.9, and these pushing members urge each card row downward.

前記カービ一時載置部1dはカード供給部1aに隣接し
、この載置部1dには、第4図に示すように箱10に入
ったカードCが箱10を逆さにすることにより一旦載置
され、ここに載置された一群のカードCはカード供給部
1a上に横方向にスライドさせて押込まれる。前記カー
ド供給部1aはその両サイドがガイド板11.12によ
って規制されるとともに、カード一時載置部1dと不良
カード載置部1bの上端部は幅方向に伸びるガイド板1
3によって仕切られている。
The card temporary placement section 1d is adjacent to the card supply section 1a, and as shown in FIG. The group of cards C placed here are laterally slid and pushed onto the card supply section 1a. Both sides of the card supply section 1a are regulated by guide plates 11 and 12, and the upper ends of the temporary card placement section 1d and the defective card placement section 1b are provided with guide plates 1 extending in the width direction.
It is separated by 3.

前記良好カード搬出部1dの両サイドは第1図および第
5a図に示すように、ガイド板14゜15によって規制
され、これら両ガイド板14゜15間は、カードCの幅
よりも若干広くなっている。これは、第6図に示すよう
に、良好カードを一定数群に仕切るために一枚のカード
C6を他のカードよりずらしてテーブル上に載置するた
めである。
As shown in FIGS. 1 and 5a, both sides of the good card carrying out section 1d are regulated by guide plates 14.degree. 15, and the distance between these two guide plates 14.degree. ing. This is because, as shown in FIG. 6, one card C6 is placed on the table offset from the other cards in order to divide the good cards into a certain number of groups.

良好カード搬出部1cの上端部は第5a図に示すように
跳ね上げ可能なカード収納部1eとなっており、そのた
めの跳ね上げベッド16がヒンジ17によってテーブル
板8の上端に接続され、このヒンジ17は接続板18上
に設けられている。
As shown in FIG. 5a, the upper end of the good card carrying out section 1c is a flip-up card storage section 1e, and a flip-up bed 16 for this purpose is connected to the upper end of the table board 8 by a hinge 17. 17 is provided on the connection plate 18.

跳ね上げベッド16のヒンジ17近傍には窓16bが設
けられ、この窓16bがら止めバネ19が突出しており
、跳ね上げベッド16の先端には手を引掛けるための摘
み部16aが形成されている。
A window 16b is provided near the hinge 17 of the flip-up bed 16, a retaining spring 19 protrudes from the window 16b, and a knob 16a for hooking a hand is formed at the tip of the flip-up bed 16. .

一定数の良好カードCをカード収納用の箱2゜に戻す場
合には、第5c図乃至第5f図に示すように、仕切カー
ドC6にょって一定枚数に仕切られた一群のカードを図
上右方向へずらして他のカードから離し、前記止めバネ
19を押し下げつつそれを乗り越えて一群のカードCを
跳ね上げヘッド16上に導びく。一群のカードCが止め
バネ19を過ぎると止めバネ19が再び突出して一群の
カードCの下降を止める。その後、箱2oを被せ摘み部
16aを持って跳ね上げベッド16を跳ね上げ、箱20
を跳ね上げベッド16から取り外す。このようすれば、
楽に一群のカードCを箱20に納め、るこ゛とができる
When returning a certain number of good cards C to the card storage box 2°, as shown in FIGS. Shift the cards to the right to separate them from the other cards, push down the stop spring 19 and climb over it to flip up the group of cards C and guide them onto the head 16. When the group of cards C passes the stop spring 19, the stop spring 19 projects again to stop the group of cards C from descending. After that, cover the box 2o, hold the knob 16a and flip up the flip-up bed 16, and
lift it up and remove it from the bed 16. If you do this,
You can easily put a group of cards C into the box 20 and make a copy.

なお、跳ね上げベッドは、第7図に示すように横方向に
跳ね上げるようにしてもよい。すなわち、跳ね上げベッ
ド21の側部にヒンジ22を設け、このヒンジ2“2を
中心にそれを跳ね上げるようにしてもよい。
Note that the flip-up bed may be flipped up laterally as shown in FIG. That is, a hinge 22 may be provided on the side of the flip-up bed 21, and the flip-up bed 21 may be flipped up around the hinge 2"2.

また、第8図に示すように、テーブル1のカードCが摺
動する部分にガイド板の代りにガイドレール7と(i5
1様のサイドレールアa、7aを設けるようにすること
もできる。
In addition, as shown in FIG. 8, a guide rail 7 (i5
It is also possible to provide side rails a and 7a of the same type.

次に、カード搬送部2の構成について述べる。Next, the configuration of the card transport section 2 will be described.

第9図において、カード搬送部2はテーブル1の幅方向
に伸びる矩形の主フレーム3oを有し、この主フレーム
30は横フレーム31.31と縦フレーム32.32と
からムリ、横フレーム31の前面にはカードCの上下端
を係止するカード受板33.34が設けられ、これらフ
レーム31、受板33.34がカードを案内するガイド
部材をなしている。前記主フレーム30の前面にはその
長手方向に沿って往復動するカード送り機構35が設け
られ、前記主フレーム30のカード供給部1aに対応す
る位置(図上主フレーム30の左端近傍)には、供給さ
れたカードをカメラ3の前方正規位置に位置決めするた
めのカード位置決め作動片36が設けられ、この作動片
36はそれを上下に移動するだめのカード位置決め機構
37の一部をなしている。
In FIG. 9, the card transport section 2 has a rectangular main frame 3o extending in the width direction of the table 1. Card receiving plates 33, 34 for locking the upper and lower ends of the card C are provided on the front surface, and these frame 31 and receiving plates 33, 34 constitute a guide member for guiding the card. A card feeding mechanism 35 that reciprocates along the longitudinal direction is provided on the front surface of the main frame 30, and a card feeding mechanism 35 is provided at a position corresponding to the card feeding section 1a of the main frame 30 (near the left end of the main frame 30 in the figure). A card positioning actuating piece 36 is provided for positioning the supplied card at a normal position in front of the camera 3, and this actuating piece 36 forms part of a card positioning mechanism 37 for moving the card up and down. .

前記主フレーム30の図上右側には、不良カード押出し
機構38と良好カード押出し機構39が一体に設けられ
ている。
A defective card pushing mechanism 38 and a good card pushing mechanism 39 are integrally provided on the right side of the main frame 30 in the drawing.

上記各機構はタイミングベルト40によって回転される
メインシャフト41上のクランクシャフト42および第
1、第2および第3カム43゜44.45によって駆動
され、これら部材は前記各機構の動きを相互に同調させ
るための同調機構を形成している。
Each of the above-mentioned mechanisms is driven by a crankshaft 42 on a main shaft 41 rotated by a timing belt 40 and first, second and third cams 43°44.45, and these members synchronize the movements of each of the above-mentioned mechanisms with each other. It forms a tuning mechanism for

前記カード送り機構35は往復動フレーム46と、この
フレーム46を保持する保持フレーム47と、この保持
フレーム47の下端部が自動調心ころがり軸受48を介
して連結されるリンク49とを有している。前記保持フ
レーム47はO−ラ50.50.・・・50を介して前
記フレーム30の下方に伸びるスライドレール51に沿
って往復動可能となっている。前記スライドレール51
はその左右はしが軸受52,52を介して前記本体ケー
シング4の腕4a、4aに保持され、このスライドレー
ル51の図上右端部からはリンク152が伸びこの、リ
ンク152の下端には第1カムフオロワー53が取付番
」られ、この第1カムフオロワー53が第1カム43に
接触することによりスライドレール51がその長手方向
軸を中心にして揺動するようになっている。
The card feeding mechanism 35 includes a reciprocating frame 46, a holding frame 47 that holds the frame 46, and a link 49 to which the lower end of the holding frame 47 is connected via a self-aligning rolling bearing 48. There is. The holding frame 47 has an O-ra 50.50. ... 50, and is capable of reciprocating along a slide rail 51 extending below the frame 30. The slide rail 51
The left and right edges of the slide rail 51 are held by the arms 4a, 4a of the main body casing 4 via bearings 52, 52, and a link 152 extends from the right end of the slide rail 51 in the drawing. A first cam follower 53 is attached, and when the first cam follower 53 contacts the first cam 43, the slide rail 51 swings about its longitudinal axis.

前記カード送り機v435の往復動フレーム46のフレ
ーム30側には、第1および第2送り爪体153.15
4が設けられ、この送り爪体153゜154はその根部
が軸155.156にそれぞれ枢着され、根部の反対側
端には送り爪55.56が設けられ、左側の第1送り爪
体153は第1ンレノイド57に連結され、右側の第2
送り爪154は第2ソレノイド58に連結されている。
On the frame 30 side of the reciprocating frame 46 of the card feeder v435, there are first and second feed claw bodies 153.15.
The roots of the feed claw bodies 153 and 154 are pivotally connected to shafts 155 and 156, respectively, and feed claws 55 and 56 are provided at the opposite end of the roots, and the first feed claw body 153 on the left is connected to the first renoid 57, and the second on the right
The feed pawl 154 is connected to the second solenoid 58.

前記カード位置決め機構37は作業片36を供給される
カードの送りと同期して上下動させるものであり、前記
カード位置決め機構37は作動片36を支持する支持体
59と、この支持体59を上下動させる縦リンク60と
、この縦リンク60に一端が枢動連結された折曲リンク
61と、この折曲リンク61の他端に取付けられた第2
カムフオロワー62とからなり、このカムフォロワー6
2は第2カム44の周面に接し、前記折曲リンク61は
その折曲部において軸63により回動自在に支持されて
いる。このカード位置決め機構37は、第10図に示す
ように、検査前のカードCが定位置に置かれるように、
カードCの隅部を押してフレーム30の左側の縦フレー
ム32に対してカードCの左はしを作動片36の傾斜面
36aで押圧するものである。これによって、カメラ3
の前方正規の位置にカードCが位置決めされる。
The card positioning mechanism 37 moves the work piece 36 up and down in synchronization with the feeding of the supplied card. A vertical link 60 to be moved, a bending link 61 having one end pivotally connected to the vertical link 60, and a second bending link 61 attached to the other end of the bending link 61.
This cam follower 6 consists of a cam follower 62.
2 is in contact with the circumferential surface of the second cam 44, and the bent link 61 is rotatably supported by a shaft 63 at its bent portion. This card positioning mechanism 37, as shown in FIG.
The corner of the card C is pressed and the left edge of the card C is pressed against the vertical frame 32 on the left side of the frame 30 with the inclined surface 36a of the actuating piece 36. With this, camera 3
Card C is positioned at a normal position in front of.

前記良好カード押出し機構39は本体ケーシング4に揺
動軸64aを介して枢着された押出しフレーム64q、
このフレーム64の上端に取付けられた良品カード押出
し片65.65と、前記押出しフレーム64の下端から
下方に伸びるリンク66と、このリンク66に取付けら
れた第3カムフオロワー67とを有し、この第3カムフ
オロワー67は第3カム45のカム面上を転動し前記押
出しフレーム64を揺動せしめる。前記良品カード押出
し片65.65m1には不良カード押出し枠166の根
部166aが支持され、この根部166aは枢軸166
bによって上下の押出し片65間に保持されている。前
記押出しフレーム64には第3ソレノイド68が取付け
られ、この第3ソレノイド68は第16図に示すように
作動棒69を有し、この作動棒69の先端は、常時は前
記不良カード押出し枠166の根部166aの窓166
b内に挿入されており、不良カードを排出するときには
、ソレノイド68を励磁して作動棒69を上昇させて前
記押出しフレーム64と不良カード押出し枠166間に
挿入せしめ、これによって前記押出し枠166を主フレ
ーム30側へ押出すようにする。
The good card extrusion mechanism 39 includes an extrusion frame 64q pivotally connected to the main body casing 4 via a swing shaft 64a;
It has a good card push-out piece 65.65 attached to the upper end of this frame 64, a link 66 extending downward from the lower end of the push-out frame 64, and a third cam follower 67 attached to this link 66. The three-cam follower 67 rolls on the cam surface of the third cam 45 and causes the extrusion frame 64 to swing. A root portion 166a of the defective card extrusion frame 166 is supported by the good card extrusion piece 65.65m1, and this root portion 166a is connected to the pivot 166.
b is held between the upper and lower extruded pieces 65. A third solenoid 68 is attached to the extrusion frame 64, and the third solenoid 68 has an operating rod 69 as shown in FIG. Window 166 at the root 166a of
When a defective card is to be ejected, the solenoid 68 is energized to raise the operating rod 69 and inserted between the extrusion frame 64 and the defective card extrusion frame 166, thereby pushing the extrusion frame 166 out. It is pushed out toward the main frame 30 side.

前記主フレーム30の上方の横フレーム31の不良カー
ド搬出部1bに対応する位置および良好カード搬出部1
Cに対応する位置には、それぞれ、前記押出し枠66お
よび押出し片65と協働してそれぞれの位置に押出され
たカードの上辺を支えるためのバネ板70.71が取付
けられている。
A position of the horizontal frame 31 above the main frame 30 corresponding to the defective card ejection portion 1b and the good card ejection portion 1
Spring plates 70 and 71 are attached to the positions corresponding to C, respectively, to cooperate with the extrusion frame 66 and the extrusion piece 65 to support the upper sides of the cards extruded to the respective positions.

前記メインシャフト41には、前記の各カム以外に2枚
の円板74.75が取付けられ、これら円板に対応して
光電スイッチ76.77が設けられ、光電スイッチ76
は後述するように、良好カードをある枚数毎に仕切るた
めに仕切りカードの位置をずらすように第2送り爪56
を解放するタイミングをとるためのものであり、光電ス
イッチ77は、不良カードを搬出するために第3ソレノ
イド68を励磁するタイミングをとるためのものである
゛。更にメインシャフト41には各種操作のタイミング
をとるためのエンコーダ78が接続されている。
In addition to the above-mentioned cams, two discs 74 and 75 are attached to the main shaft 41, and photoelectric switches 76 and 77 are provided corresponding to these discs.
As will be described later, the second feed claw 56 is moved so as to shift the position of the partition cards in order to partition the good cards into a certain number of cards.
The photoelectric switch 77 is used to determine the timing for energizing the third solenoid 68 in order to remove the defective card. Furthermore, an encoder 78 is connected to the main shaft 41 for timing various operations.

前記本体ケーシング4内の信号処理装置5は、第11図
に示すように、CPLI80を有し、このcpusoに
はBUS81を介してRAM82およびROM83が接
続されるとともに、インターフェース84を介して前記
画像処理装置5が接続され、照明85.85によって照
射されたカードC表面がカメラ3によって検査される。
The signal processing device 5 inside the main body casing 4 has a CPLI 80, as shown in FIG. The device 5 is connected and the surface of the card C illuminated by the illumination 85.85 is inspected by the camera 3.

なお、BLIS81には前記エンコーダ78からのパル
スがカウンター86を介して接続されるとともに入力ポ
ート87および出力ボート88が接続されている。前記
入力ポート87には、エンコーダ78のカウント値を設
定し、エンコーダ78のパルスのカウント値に応じて前
記ソレノイド57の励磁タイミングおよび検査すべきカ
ードの前から前記カード送り機構35が逃げたときに画
像処理を開始するタイミングを設定するためのカウント
値設定回路89が接続されるとともに操作パネル90が
接続されている。この操作パネル90には基準データを
画像処理装置5に設定させるための設定スイッチ91、
カードCを検査するときの検査スイッチ92およびカー
ド検査の停止をするための停止スイッチ93が設けられ
ている。更に、入力ポート87には前記検知装置172
.73が接続され、これら検知装置72.73は、カー
ドCの通過を検知することにより、不良、良好カードの
枚数がカウントされるようになっている 前記出力ボート88には第1ソレノイド57が駆動回路
94を介して接続されるとともに、アンド回路95およ
び駆動回路96を介して第2ソレノイド58が接続され
、更にアン゛ド回路97および駆動回路98を介して第
3ソレノイド68が接続されている。前記アンド回路9
5.97には、それぞれ光電スイッチ76.77からの
信号が入力され、第2、第3ソレノイド58.68の励
磁タイミングが調整される。また、出力ボート88には
カードCの処理枚数等が表示される表示パネル99とモ
ーター駆動回路100を介してメインシャフト41を回
転させるためのモータ101が接続されている。
The BLIS 81 is connected to pulses from the encoder 78 via a counter 86, as well as an input port 87 and an output port 88. The count value of the encoder 78 is set in the input port 87, and the excitation timing of the solenoid 57 and the timing when the card feeding mechanism 35 escapes from in front of the card to be inspected are determined according to the count value of the pulses of the encoder 78. A count value setting circuit 89 for setting the timing to start image processing is connected, as well as an operation panel 90. This operation panel 90 includes a setting switch 91 for setting reference data in the image processing device 5;
An inspection switch 92 for inspecting the card C and a stop switch 93 for stopping the card inspection are provided. Furthermore, the input port 87 is connected to the detection device 172.
.. A first solenoid 57 is connected to the output boat 88, and these detection devices 72 and 73 count the number of bad and good cards by detecting the passage of the card C. The second solenoid 58 is connected via an AND circuit 95 and a drive circuit 96, and the third solenoid 68 is connected via an AND circuit 97 and a drive circuit 98. . The AND circuit 9
5.97, signals from photoelectric switches 76.77 are input, respectively, and the excitation timings of the second and third solenoids 58.68 are adjusted. Further, a motor 101 for rotating the main shaft 41 is connected to the output boat 88 via a display panel 99 that displays the number of cards C processed, etc., and a motor drive circuit 100.

次に本装置の作用について説明する。Next, the operation of this device will be explained.

第12図および第13図において、カード供給部1a上
の縄前端の第1位置におけるカードCは、第1、第2送
り爪55.56によってその両サイドを保持されており
、その爪の先端55a。
In FIGS. 12 and 13, the card C at the first position of the front end of the rope on the card supply unit 1a is held on both sides by the first and second feed claws 55, 56, and the tip of the claw 55a.

56aの突出長はカード1枚の厚さよりも短い。The protrusion length of 56a is shorter than the thickness of one card.

前記縦フレーム32の前面は第1送り爪55が往復動す
るとき に逃げ空間32aを作るために一部切欠かれている。ま
た、前記第1位置と不良カード搬出部1bの最前端の第
2位置間には仕切栓110が設けられ、この仕切栓11
0の前端はカード受板33゜34に近接してそれら間に
一枚のカードのみの通過を許すようになっている。第1
位置のカードCが良好カードであれば第2位置を経て良
好カード搬出部の最前端の第3位置へ送られるが、この
状態を第14図を参照して説明する。
A portion of the front surface of the vertical frame 32 is cut out to create an escape space 32a when the first feed pawl 55 reciprocates. Further, a partition plug 110 is provided between the first position and a second position at the front end of the defective card carrying out section 1b, and this partition plug 11
The front end of the 0 is close to the card receiving plates 33 and 34 to allow passage of only one card between them. 1st
If the card C in the position is a good card, it is sent to the third position at the frontmost end of the good card discharge section via the second position. This state will be explained with reference to FIG. 14.

すなわち、第1、第2送り爪55.56が第1位置の両
側に位置するときには両爪間に検査を終了したカードC
1を第1位置で保持するとともに、第2位置にあるカー
ドC2の一端を第2送り爪56により引掛ける。メイン
シャフト41の回転とともにカード送り機構35の往復
動フレーム46がスライドレール51に沿ってカードC
1゜C2を保持したまま第2位置へ移動する(A−C行
程)。このとき、第2送り爪56によって保持されたカ
ードC2は第3位置に搬送される。この状態から往復動
フレーム46は元の位置に戻る動作に入るが、このとき
、スライドレール51は第1カム43と第1カムフオロ
ワー53との係合により往復動フレーム46を主フレー
ム30から離す方向に傾動し、したがって、第1、第2
送り爪55.56がカードC1,C2から離れる(D行
程)。この状態で往復動フレーム46は両送り爪55.
56を支持しつつ元の位置に戻り(E−F行程)、へ行
程が開始される。
That is, when the first and second feed claws 55 and 56 are located on both sides of the first position, the card C that has been inspected is placed between the two claws.
1 is held at the first position, and one end of the card C2 at the second position is hooked by the second feeding claw 56. As the main shaft 41 rotates, the reciprocating frame 46 of the card feeding mechanism 35 moves the card C along the slide rail 51.
Move to the second position while holding 1°C2 (A-C process). At this time, the card C2 held by the second feed claw 56 is transported to the third position. From this state, the reciprocating frame 46 returns to its original position, but at this time, the slide rail 51 moves in a direction that moves the reciprocating frame 46 away from the main frame 30 due to the engagement between the first cam 43 and the first cam follower 53. Therefore, the first and second
The feed claws 55 and 56 are separated from the cards C1 and C2 (D process). In this state, the reciprocating frame 46 has both feed claws 55.
While supporting 56, the robot returns to the original position (E-F process), and the forward process starts.

前°配カード送り機構35と同期して前記不良および良
好カード押出し機構38.39が作動し、検査したカー
ドCが良好の場合には、第15図に示すように押出しフ
レーム64が第3カム45と第3カムフオロワー67と
の係合により図上時計方向に揺動して良好カードCを良
好カード搬出部1C内に押ル込む。このとき、第2位置
にあるカードが不良カードの場合にはカメラ3を介して
検出した不良信号がCPU80から出力ボート88を介
してアンド回路97に伝達されるとともに光電スイッチ
77からの信号がアンド回路97に入力され第3ソレノ
イド68が励磁される。これによって第16図に示すよ
うに不良カード押出し枠166をカードC側に押出すの
で良好カードと同時に不良カードを不良カード搬出部1
b内に押込む。良好カードおよび不良カードがそれぞれ
の搬出部1b、lcに押込まれるときには、カードの上
端は前記板バネ70.71の下端部を押上げて板バネ7
0.71の下端にそれらが戻らないように係止される。
The defective and good card ejecting mechanisms 38 and 39 operate in synchronization with the predistribution card feeding mechanism 35, and if the inspected card C is good, the ejecting frame 64 moves to the third cam as shown in FIG. 45 and the third cam follower 67, the card swings clockwise in the drawing to push the good card C into the good card delivery section 1C. At this time, if the card in the second position is a defective card, the defect signal detected via the camera 3 is transmitted from the CPU 80 to the AND circuit 97 via the output port 88, and the signal from the photoelectric switch 77 is transmitted to the AND circuit 97. The signal is input to the circuit 97 and the third solenoid 68 is energized. As a result, the defective card push-out frame 166 is pushed out toward the card C side as shown in FIG.
Push it into b. When a good card and a bad card are pushed into the respective ejection sections 1b and lc, the upper end of the card pushes up the lower end of the leaf spring 70, 71 and the leaf spring 7
They are locked at the lower end of 0.71 to prevent them from returning.

なお、前記フレーム30の下方横フレーム31には溝3
1aが設けられ、押出しフレーム64および不良カード
押出し枠166によって押込まれたカードの下端は前記
満31a内に挿入される。
Note that a groove 3 is provided in the lower horizontal frame 31 of the frame 30.
1a is provided, and the lower end of the card pushed by the push-out frame 64 and the defective card push-out frame 166 is inserted into the hole 31a.

なお、第6図および17図に示1ように良好カードを所
定枚数毎に仕切りたいとぎには、RAM82にcpua
oによってその枚数を設定しておき(第11図)、所定
枚数が前記検知装置72゜73によって検出されたとぎ
にその信号が出力ボート88を介してアンド回路95に
与えられ、このアンド回路95に光電スイッチ76から
の信号が与えられたときにソレノイド58を励磁して仕
切りカードcoが完全に第3位置に到達しない前に第2
送り爪56を仕切りカードC8から解放するようにする
。この状態のまま仕切りカードC6は良好カード搬出部
1C内に押し込まれ第17図のような状態となる。
In addition, if you want to divide the good cards into a predetermined number of cards as shown in FIGS. 6 and 17, the CPU
o (FIG. 11), and when the predetermined number of sheets is detected by the detection device 72, 73, the signal is given to the AND circuit 95 via the output port 88. When a signal from the photoelectric switch 76 is given to
The feed claw 56 is released from the partition card C8. In this state, the partition card C6 is pushed into the good card ejecting section 1C, resulting in a state as shown in FIG. 17.

停止動作の際、第11図において、エンコーダ78から
のパルス信号はCPU80を介して駆動、回路94に与
えられ、第14図において往復動フレーム46が第2位
置へ来たときに(D行程)、第1送り爪55をフレーム
46側に引き付けてフレーム46が元の位置に戻る際新
たなカードが送られないように第1ソレノイド57を励
磁させる。
During the stop operation, in FIG. 11, the pulse signal from the encoder 78 is applied to the drive circuit 94 via the CPU 80, and when the reciprocating frame 46 reaches the second position in FIG. 14 (stroke D). When the first feeding claw 55 is attracted to the frame 46 side and the frame 46 returns to its original position, the first solenoid 57 is energized so that no new card is fed.

なお、前記不良カード搬出部1bと良好カード搬出部1
Cの位置は入れ替ってもよい。
In addition, the defective card carrying out section 1b and the good card carrying out section 1
The position of C may be swapped.

次に、本発明の制御ブ0グラムについて説明する。Next, the control program of the present invention will be explained.

第18図において、先ず、I10ボート88゜89(第
11図においては分離しであるが一体である−)を入力
ボートとして使用するのか出力ボートとして使用するの
かを定めるとともにカウンター86の動作形態を設定し
くステップ100)、装置を初期化しくステップ101
)、前記ソレノイド57等の励磁タイミングのためのエ
ンコーダ78のカウント値はいくつになっているか等の
外部設定値を読取る(ステップ102)。
In FIG. 18, first, it is determined whether the I10 boat 88°89 (separated in FIG. 11, but integrated) is to be used as an input boat or an output boat, and the operating form of the counter 86 is determined. Setup Step 100), Initialize the device Step 101
), external set values such as the count value of the encoder 78 for the excitation timing of the solenoid 57 etc. are read (step 102).

次に、設定スイッチ91をONL、、それがONされれ
ば処理した良品枚数および仕切り枚数を引数するカウン
ターをRAM上に設定しくステップ104)、良好カー
ドをカメラで読取り基準デ−タを画像処理装置5に記憶
させる(ステップ105)。ここで、再度設定スイッチ
91をONすれば新たなカウンター設定、基準データの
作成が可能となり、再度設定スイッチをONしなければ
(ステップ106)検査スイッチ92をONさせてカー
ドの検査が開始される。
Next, turn the setting switch 91 ON, and if it is turned on, set a counter on the RAM that takes the number of non-defective sheets processed and the number of divided sheets as arguments (step 104), read the good card with the camera, and process the reference data as an image. The information is stored in the device 5 (step 105). At this point, if the setting switch 91 is turned on again, new counter settings and reference data can be created, and if the setting switch is not turned on again (step 106), the inspection switch 92 is turned on to start card inspection. .

すると、モーター101が駆動しくステップ108)、
検査処理が開始され(ステップ109)、良好なカード
と判定した場合にはOKクランプ点灯しくステップ11
1)、検査が続行していくにつれてOKカード積算およ
び仕切りカウンター加算が行なわれ(ステップ112)
、仕切りカウンターが例えば設定値である250枚に達
すれば、第2送り爪56を作動させてカードを解放する
Then, the motor 101 starts to drive (step 108),
Inspection processing is started (step 109), and if the card is determined to be good, the OK clamp is turned on.Step 11
1) As the inspection continues, OK card integration and partition counter addition are performed (step 112).
When the partition counter reaches a set value of 250 cards, for example, the second feed claw 56 is activated to release the cards.

(ステップ113.1144)。(Steps 113.1144).

その後仕切りカウンターが初期化しくステップ115)
、停止スイッチ93をONすればモーター101が停止
する(ステップ119)。また、ステップ110で不良
カードと判定すればNGクランプ点灯しくステップ11
6)、第3ソレノイド68を励磁し、不良カードを不良
カード搬出部1bi排出する。ステップ118において
、停止スイッチ93が押されなければ、そのままカード
の検査が続行する。
After that, the partition counter is initialized (Step 115)
When the stop switch 93 is turned on, the motor 101 is stopped (step 119). Also, if it is determined in step 110 that the card is defective, the NG clamp will light up and step 11
6) The third solenoid 68 is energized and the defective card is ejected from the defective card ejecting section 1bi. In step 118, if the stop switch 93 is not pressed, the card inspection continues.

次に、ステップ105の基準データ設定処理は、第20
図に、示す如く行われる。すなわち、設定処理を表示す
るランプを点灯し、設定完了ランプを消灯しくステップ
120)、モーター101を定速モードとしくステップ
121)、第1送り爪55をカードから解放しくステッ
プ122) 、モーター101のブレーキを解除しくス
テップ123) 、ロータリーエンコーダ78の零点信
号を監視する(ステップ124,125)。次いで、ロ
ータリーエンコーダ78のカウンター86のカウント値
を読取り、前記カウント設定回路89での設定値(いつ
カメラ3が画像を読取るかの設定)とロータリーエンコ
ーダ78のカウンター86のカウント値を比較してそれ
らが一致していればカメラ3で良好カードを読取って基
準データを画像処理装置に覚えこませる(ステップ12
7)。
Next, the reference data setting process in step 105 is performed in the 20th
This is done as shown in the figure. That is, the lamp indicating the setting process is turned on and the setting completion lamp is turned off (Step 120), the motor 101 is placed in constant speed mode (Step 121), the first feed claw 55 is released from the card (Step 122), the motor 101 The brake is released (step 123), and the zero point signal of the rotary encoder 78 is monitored (steps 124, 125). Next, the count value of the counter 86 of the rotary encoder 78 is read, and the set value of the count setting circuit 89 (setting of when the camera 3 reads the image) is compared with the count value of the counter 86 of the rotary encoder 78, and these values are calculated. If they match, the camera 3 reads the good card and stores the reference data in the image processing device (step 12).
7).

画像処理装置が基準データを覚え込めば、基準データ設
定完了ランプが点灯しくステップ129)、エンコーダ
78のカウント値を読取って各送り爪が停止すべき位置
に倒れればモーター101を停止させ(ステップ130
〜132)、更にモーター101にブレーキをかけ、設
定処理中ランプを消灯(ステップ133.134)L、
ステップ106に戻る。
When the image processing device memorizes the reference data, the reference data setting completion lamp lights up (step 129), and when the count value of the encoder 78 is read and each feed pawl falls to the position where it should stop, the motor 101 is stopped (step 129). 130
~132), further applies the brake to the motor 101 and turns off the lamp during the setting process (steps 133 and 134).
Return to step 106.

第19図のステップ108のモーター起動処理は第21
図に示すように、検査処理中を示すランプを点灯しくス
テップ140)、第1送り爪55を解放し、第2送り爪
56をカードを保持する状態としくステップ141.1
42)、第3ソレノイド68を非励磁とし、更にモータ
ー101を可変速モードとする(ステップ143,14
4)。
The motor starting process in step 108 in FIG.
As shown in the figure, the lamp indicating that the inspection process is in progress is turned on (step 140), the first feed claw 55 is released, and the second feed claw 56 is set to hold the card (step 141.1).
42), the third solenoid 68 is de-energized and the motor 101 is set to variable speed mode (steps 143 and 14).
4).

次いで、モーター101のブレーキを解き、ロタリーエ
ンコーダ78の零点信号を監視し、零点信号が出ていれ
ば検査処理(ステップ1o9)に戻る。
Next, the brake of the motor 101 is released, the zero point signal of the rotary encoder 78 is monitored, and if the zero point signal is output, the process returns to the inspection process (step 1o9).

更に、第19図のステップ109の検査処理は、第22
図に示すように、エンコーダのカウンター86のカウン
ト値を読取り(ステップ15o)、画像読取り点(カー
ド送り機構35がカメラの前から外れたとき)になれば
第1送り爪55をONしてカード送り機構35を元の位
置に戻す準備をする(ステップ152)。引続いて検査
処理を実行する(ステップ153)。次いでカードの良
否を判定するステップに戻る(ステップ11o)。
Furthermore, the inspection process of step 109 in FIG.
As shown in the figure, the count value of the encoder counter 86 is read (step 15o), and when the image reading point (when the card feeding mechanism 35 comes off from the front of the camera) is reached, the first feeding claw 55 is turned on and the card is read. Preparations are made to return the feeding mechanism 35 to its original position (step 152). Subsequently, an inspection process is executed (step 153). Next, the process returns to the step of determining whether the card is good or bad (step 11o).

第23図は、第19図の停止処理ステップ119の詳細
であり、エンコーダのカウンタ値を読取りながら(ステ
ップ160) 、カードが前記第2位置に送られたが否
かを検知装置72で検出し、送られていれば第1送り爪
55を解放させる(ステップ161)。次に、第2位置
に送られたカードを第3位置にタイミングをとって送り
込み、更に、タイミングを合せてカード送り機構35を
所定の停止位置で停止せしめるため、モーター101を
ストップさせ、やや遅延させてブレーキをかけ、検査中
のテンプを消灯する(ステップ163〜170)。
FIG. 23 shows the details of the stop processing step 119 in FIG. 19. While reading the encoder counter value (step 160), the detection device 72 detects whether or not the card has been sent to the second position. , if it has been fed, the first feeding claw 55 is released (step 161). Next, the card sent to the second position is sent to the third position at the right timing, and in order to stop the card feeding mechanism 35 at a predetermined stop position at the same time, the motor 101 is stopped and there is a slight delay. Then, the brake is applied and the balance wheel under inspection is turned off (steps 163 to 170).

次に、画像処理装置5の画像検査方法について説明する
。第24図においてカメラ3は画像データを取込みA/
D変換器200を介してディジタル変換し、切換回路S
W1を介してメモリM1またはM2に与える。メモリM
1は良品画像データもしくは基準画像データを記憶する
ためのもの、M2は検査画像データを記憶するだめのも
のであり、メモリM1に入力された良品画像データがエ
ツジマスキング処理回路203を介してエツジマスキン
グ処理されメモリM2に入力される。また両メモリM1
.M2の記憶データは各画素濃度値比較回路4により比
較されて値の大きなものがメモリM1に記憶され、さら
に各画素濃度値演算回路205により差分が検出されて
メモリM2に記憶される。
Next, an image inspection method of the image processing device 5 will be explained. In FIG. 24, camera 3 captures image data and
Digital conversion is performed via the D converter 200, and the switching circuit S
It is applied to memory M1 or M2 via W1. Memory M
1 is for storing non-defective image data or reference image data, M2 is for storing inspection image data, and the non-defective image data input to the memory M1 is subjected to edge masking via the edge masking processing circuit 203. It is processed and input into memory M2. Also, both memories M1
.. The data stored in M2 are compared by each pixel density value comparison circuit 4, and the one having a larger value is stored in the memory M1, and the difference is detected by each pixel density value calculation circuit 205 and stored in the memory M2.

メモリM2の出力はまた画素数検出回路206に与えら
れ、判定レベル設定回路207からの判定レベル信号に
応じて画素数が検出され、この検出結果が切換回路SW
2を介して基準データ記憶回路208または検査データ
記憶回路209に記憶され、両記憶回路208,209
の記憶内容が判定回路210に与えられて良否判定され
る。
The output of the memory M2 is also given to the pixel number detection circuit 206, where the number of pixels is detected according to the judgment level signal from the judgment level setting circuit 207, and this detection result is sent to the switching circuit SW.
2 in the reference data storage circuit 208 or the test data storage circuit 209, and both storage circuits 208, 209
The stored contents are given to the determination circuit 210 to determine whether it is good or bad.

第25図および第26図は第24図の実施例の動作を説
明するためのフローチャー1・および各部データを示す
波形図であり、これら両図に基き本発明によるnf!!
A処理を説明する。
FIGS. 25 and 26 are waveform diagrams showing a flowchart 1 and data of each part for explaining the operation of the embodiment shown in FIG. 24, and based on these figures, nf! according to the present invention! !
Process A will be explained.

まず切換回路SW1.SW2を設定側とし良品画像デー
タを第1画像メモリM1に入力する(S11)。このと
ぎの画像は第26図(a)に示すようなものとする。こ
のメモリM1に記憶された良品画像データ〜を用いてエ
ツジマスキング処理回路によりエツジ画像データを作成
する。
First, switching circuit SW1. With SW2 on the setting side, the non-defective image data is input into the first image memory M1 (S11). The resulting image is as shown in FIG. 26(a). Edge image data is created by an edge masking processing circuit using the non-defective image data stored in the memory M1.

これは次のように行なう。良品画像データをX軸方向、
Y軸方向、X軸に対し+456方向および一45°方向
の4方向につき任意に設定した画素数分だけシフトさせ
、画像の濃度変化が予め設定したレベル以上になったら
エツジと判断する。
This is done as follows. Good product image data in the X-axis direction,
It is shifted by an arbitrarily set number of pixels in four directions: the Y-axis direction, the +456 direction and the 145° direction with respect to the X-axis, and when the change in density of the image exceeds a preset level, it is determined to be an edge.

そして別の予め設定した画素数分だけエツジ付近の許容
値を、良品画像データの最大レベルに検査判定のための
許容値を加えたレベル以上のレベル(以下マスキングレ
ベルと呼ぶ)まで吊上げてエツジ部分のマスキングを行
い他の部分は零にする。
Then, the tolerance value near the edge is raised by another preset number of pixels to a level (hereinafter referred to as masking level) that is equal to or higher than the maximum level of non-defective image data plus the tolerance value for inspection judgment. , and other parts are set to zero.

この画像をエツジ画像と呼び第2画像メモリM2に格納
する。この格納データは第26図(b)に示すようなも
のである。
This image is called an edge image and is stored in the second image memory M2. This stored data is as shown in FIG. 26(b).

このメモリM2に格納されたエツジ画像データを用い画
素数検出回路206がエツジマスキング領域の画素数A
を求める(813)。つまりエツジ画像内での零でない
部分の画素数を求め、これをM準データ記憶回路208
に配憶し、後に検査画像データから検出した画素数との
比較に用いる。
Using the edge image data stored in the memory M2, the pixel number detection circuit 206 detects the number of pixels A in the edge masking area.
(813). In other words, the number of pixels in the non-zero portion in the edge image is calculated, and this is stored in the M semi-data storage circuit 208.
and later used for comparison with the number of pixels detected from the inspection image data.

このとき画素数検出回路206に対し判定レベル設定回
路207からは基準データ用の判定レベルが与えられる
At this time, a determination level for reference data is given to the pixel number detection circuit 206 from the determination level setting circuit 207.

次に各画素濃度比較回路204がメモリM1に格納され
ている良品画像データ(第26図(a)図示)とメモリ
M2に格納されているエツジ画像データ(第26図(b
)図示)とを画素毎に濃度比較し、大ぎい値の方をとっ
てメモリM1に格納する。つまりメモリM1のデータ値
が小さいときにはメモリM2のデータ値に変更する。こ
れにより作成されたものが基準画像データであり、第2
6図(C)に示すようなものである。
Next, each pixel density comparison circuit 204 compares the non-defective image data stored in the memory M1 (shown in FIG. 26(a)) and the edge image data stored in the memory M2 (shown in FIG. 26(b)).
) shown in the figure) for each pixel, and the larger value is taken and stored in the memory M1. That is, when the data value in memory M1 is small, it is changed to the data value in memory M2. What is created in this way is the reference image data, and the second
It is as shown in Figure 6 (C).

この基準画像データは、良品画像のエツジ部分がマスキ
ングレベルまで吊り上げられるのに対し他の部分は良品
画像のままにしてあり、位置ずれによるエツジ部分での
誤判定を防止するマスクを含んだ形である。マスキング
レベルを上記のように、良品画像データの最大レベルに
検査判定用許容値を加えたレベル以上に設定したことに
より、基準画像データと良品画像データとの差の絶対値
をとったとき検査判定許容値以上のレベルを持つ画素数
がエツジマスキング領域の画素数と等しくなる。したが
って後述するように、基準画像データと検査画像データ
との差をとったとぎ、検査画像データの位置ずれがエツ
ジマスクの幅内におさまる程度であれば、検査画像に不
良がないときの検査判定許容値以上のレベルを持つ画素
数はエツジマスキング領域の画素数と等しくなる。また
検査画像に不良があるとその不良部分の画素数だけ検査
判定許容値以上の画素数が増える。
This reference image data has the edge portion of the non-defective image raised to the masking level, while the other portions remain as the non-defective image, and includes a mask to prevent misjudgment at the edge portion due to positional deviation. be. As described above, by setting the masking level to a level equal to or higher than the maximum level of the non-defective image data plus the tolerance for inspection judgment, the inspection judgment is made when the absolute value of the difference between the reference image data and the non-defective image data is taken. The number of pixels having a level equal to or higher than the tolerance value becomes equal to the number of pixels in the edge masking area. Therefore, as described later, if the difference between the reference image data and the inspection image data is calculated, and the positional deviation of the inspection image data is within the width of the edge mask, the inspection judgment is acceptable when there is no defect in the inspection image. The number of pixels having a level equal to or higher than the value is equal to the number of pixels in the edge masking area. Furthermore, if there is a defect in the inspection image, the number of pixels exceeding the inspection determination tolerance increases by the number of pixels in the defective portion.

基準画像データをメモリM1に格納したら、次に切換回
路SW1.8W2を検査側にして検査ずべき画像データ
を前記エツジマスクデータに代えてメモリM2に格納す
る(815)。この検査画像データは第26図(d>に
示すように不良部分を含むものとする。
After the reference image data is stored in the memory M1, the switching circuit SW1.8W2 is then set to the inspection side and the image data to be inspected is stored in the memory M2 instead of the edge mask data (815). It is assumed that this inspection image data includes a defective portion as shown in FIG. 26 (d>).

そして画素数濃度値演算回路205によりメモリM2の
検査画像データとメモリM10基準画像゛   データ
との差の絶対値をとり、その結果をメモリM2に入力す
る(816)。この差の絶対値は第26図(e)に示す
通りである。
Then, the pixel number density value calculation circuit 205 calculates the absolute value of the difference between the inspection image data in the memory M2 and the reference image data in the memory M10, and inputs the result to the memory M2 (816). The absolute value of this difference is as shown in FIG. 26(e).

このメモリM2の格納データを画素数検出回路206が
判定レベル設定回路207からの検査データ用レベルに
よって判定して、検査判定許容値以上の画素数Bを検出
する(817)。この検出値は切換回路SW2を介して
検査データ記憶回路209に記憶される。
The pixel number detection circuit 206 judges the data stored in the memory M2 based on the inspection data level from the judgment level setting circuit 207, and detects the number of pixels B that is equal to or larger than the inspection judgment tolerance value (817). This detected value is stored in the test data storage circuit 209 via the switching circuit SW2.

この記憶により判定回路210には、基準データ記憶回
路208からエツジマスキング領域画素数Aが、また検
査データ記憶回路209から検査判定i古漬以上の画素
数Bが与えられ、画素数比較を行なう。そして、 B−A歳Cのとき  良 B−A>Cのとき  不良 ただし、Cは不良画素数許容値。
With this storage, the determination circuit 210 is given the edge masking area pixel number A from the reference data storage circuit 208 and the pixel number B that is equal to or higher than the inspection determination i Furuzuke from the inspection data storage circuit 209, and performs a pixel number comparison. Then, when B-A is C, it is good. When B-A>C, it is bad. However, C is the allowable number of defective pixels.

と判定する。これにより画像検査が終了する訳であり、
以後同様に他の画像についても検査する。
It is determined that This concludes the image test,
Thereafter, other images will be inspected in the same manner.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明は以上のように構成したので、被検査体を正規の
位置でカメラで検査でき誤判定がなくなるとともに、迅
速に被検査体を良品、不良品に仕分けることができると
いう効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, the object to be inspected can be inspected with a camera at a regular position, eliminating false judgments, and the objects to be inspected can be quickly sorted into non-defective items and defective items.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図tま本発明の搬送位置をカード検査装置に応用し
た場合の斜視図、第2図はテーブルの一部横断面図、第
3図はテーブルにカードを載置した状態を示す側面図、
第4a図〜第4C図はカード供給部にカードを載置する
ときの動作説明図、第5a図はカード収納部の平面図、
第5b図は第5a図のA−A断面図、第5C図〜第5f
図はカード収納部の作用説明図、第6図はカードを所定
数毎に仕切りカードによって仕切った状態図、第7図は
カード収納部の他の実施例説明図、第8図はカードを載
置するテーブルの他の実施例説明図、第9図は、カード
搬送部の斜視図、第10a図ζ第10b図はカード位置
決め機構の作用説明図、第11図は本搬送装置の電気系
統のブロックダイアグラム、第12図は送り爪の作用説
明図、第13図は第12図のB−8断面図、第14図は
送り爪の作用説明図、第15a図、第15b図は良好カ
ード押出し機構の作用説明図、第16a図、第16b図
は不良カード押出し機構の作用説明図、第17図は良好
カードを一定数毎に仕切るときの第2送り爪の作用説明
図、第18図は本装置メイン10グラムのフローチャー
ト図、第19図は第18図の続きを示すフローチャート
図、第20図は第18図の基準データ処理ステップの詳
細フローチャート図、第21図は、第19図のモーター
駆動処理ステップの詳細フローチャート図、第22図は
、検査処理ステップの詳細フローチャート図、第23図
は第19図の停止処理ステップの詳細フローチャート図
で、第24図は画像処理装置の制御ブロックダイヤグラ
ム、第25図は画像処理装置の画像検査方法のフローチ
ャート図、第26図(a)〜(e)は第25図のステッ
プで扱うデータを波形によって示した説明図である。 1・・・テーブル、2・・・カード搬送部、3・・・カ
メラ、5・・・画像処理装置、16・・・誂ね上げベッ
ド、30・・・主フレーム、35・・・カード送り機構
、37・・・カード位置決め機構、38・・・不良カー
ド押出し機構、39・・・良好カード押出し機構。 出願人代理人  猪  股    清 第2図 第4図 第5図 /nl 第14図 −室 つぃ珂・        が炭ろ状第16図 (a )               (b )第1
7図 第20図 第21図 第23図 良そ信号 第25図 特。 J定の づ1値 手続補正書く鹿〉 昭和59年10月17日 在庁長官 志 賀  学 殿 事件の表示              撞昭和59年
 特許願 第129565号発明の名称・ カード状被検査体の検査装防 補正をする者 事件との関係  特許出願人 (289>大日本印刷株式会社
Fig. 1 is a perspective view when the transport position of the present invention is applied to a card inspection device, Fig. 2 is a partial cross-sectional view of the table, and Fig. 3 is a side view showing the state in which cards are placed on the table. ,
Figures 4a to 4C are explanatory diagrams of the operation when placing a card on the card supply unit, Figure 5a is a plan view of the card storage unit,
Figure 5b is a sectional view taken along the line A-A in Figure 5a, and Figures 5C to 5f.
The figure is an explanatory diagram of the operation of the card storage section, FIG. 6 is a diagram showing a state in which cards are partitioned into predetermined numbers of cards, FIG. 7 is an explanatory diagram of another embodiment of the card storage section, and FIG. FIG. 9 is a perspective view of the card transport unit, FIG. Block diagram, Fig. 12 is an explanatory diagram of the action of the feed claw, Fig. 13 is a sectional view taken along B-8 in Fig. 12, Fig. 14 is an explanatory diagram of the action of the feed claw, and Figs. 15a and 15b are good card extrusion. Fig. 16a and 16b are explanatory diagrams of the operation of the mechanism, Fig. 16a and 16b are explanatory diagrams of the operation of the defective card pushing mechanism, Fig. 17 is an explanatory diagram of the operation of the second feeding claw when dividing good cards into a fixed number, and Fig. 18 is an explanatory diagram of the operation of the second feed claw when dividing good cards into a certain number. 19 is a flowchart showing a continuation of FIG. 18, FIG. 20 is a detailed flowchart of the reference data processing step in FIG. 18, and FIG. 21 is a motor flowchart in FIG. 19. 22 is a detailed flowchart of the inspection processing step; FIG. 23 is a detailed flowchart of the stop processing step of FIG. 19; FIG. 24 is a control block diagram of the image processing device; FIG. 25 is a flowchart of the image inspection method of the image processing apparatus, and FIGS. 26(a) to 26(e) are explanatory diagrams showing data handled in the steps of FIG. 25 using waveforms. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Table, 2...Card conveyance part, 3...Camera, 5...Image processing device, 16...Elevated bed, 30...Main frame, 35...Card feeding mechanism, 37... card positioning mechanism, 38... bad card pushing mechanism, 39... good card pushing mechanism. Applicant's representative Kiyoshi Inomata Figure 2 Figure 4 Figure 5/nl Figure 14 - Muro Tsuikaga Charcoal Figure 16 (a) (b) Figure 1
Figure 7 Figure 20 Figure 21 Figure 23 Good signal Figure 25 Special. Indication of the case of Mr. Manabu Shiga, Director-General of the Agency, dated October 17, 1980, Patent Application No. 129565, Title of the invention, Inspection equipment for card-shaped objects to be inspected. Relationship with the case of the person making the amendment Patent applicant (289> Dai Nippon Printing Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 検査しようとする被検査体を立てた状態で整列載置する
ための被検査体供給部と、この被検査体供給部に対して
並列に設けられ不良被検査体を整列排出するための不良
被検査体搬出部と、前記被検査体供給部と並列に設けら
れ、良好な被検査体を整列搬出するための良好被検査体
搬出部とからなるテーブルと、このテーブルの端縁に沿
って設けられ、テーブルの幅方向に被検査体を立てた状
態のまゝ被検査体を被検査供給部から不良被検査体搬出
部又は良好被検査体搬出部に間欠的に搬送するための被
検査体搬送装置と、前記被検査体搬送装置の前記被検査
体供給部の前端に位置する第1位置に対向して設けられ
、前記第1位置に保持されたカードの表面を検査するた
めのカメラと、予め取り込んでおいた基準画像と検査画
像とを比較し良否判定を行なうための画像処理装置と、
搬送装置のタイミングに合わせて、画像処理装置を制御
し、さらに画像処理装置からの検査結果により被検査体
押し出し機構を動作させる信号処理装置とからなり、前
記被検査体搬送装置は、前記テーブルの端縁に沿って配
設され被検査体を立てた状態でガイドするガイド部材と
、このガイド部材に沿って往復動し、被検査体を送り爪
により保持してそれをガイド部材に沿って前記被検査体
供給部の前端の第1位置から、前記被検査体供給部に隣
接する搬出部の前端の第2位置へ送り、同時にこの第2
位置から更に隣りの搬出部の第3位置へ間欠的に送るた
めの被検査体送り機構と、前記第1位置において被検査
体を検査のための所定位置に位置決めするための被検査
体位置決め機構と、前記第2位置および第3位置に送ら
れた被検査体を検査結果に応じてそれぞれの搬出部に押
出すための被検査体押出し機構と、前記被検査体送り機
構の往復動と前記被検査体押出し機構の動きとを同調さ
せるための同調機構とを有することを特徴とするカード
状被検査体の検査装置。
A test object supply section for aligning and placing the test objects to be inspected in an upright state, and a defective test object supply section provided in parallel with the test object supply section for aligning and discharging defective test objects. a table consisting of an inspection object carrying-out section and a good inspection object carrying-out section that is provided in parallel with the inspection object supply section and for aligning and carrying out good inspection objects; and a table that is provided along the edge of this table. A test object for intermittently transporting the test object from the test object supply section to the defective test object carry-out section or the good test object carry-out section with the test object standing upright in the width direction of the table. a transport device; a camera provided opposite to a first position located at a front end of the test object supply section of the test object transport device for inspecting the surface of the card held at the first position; , an image processing device for comparing a reference image captured in advance and a test image to determine quality;
It is comprised of a signal processing device that controls an image processing device in accordance with the timing of the transport device and further operates a test object pushing mechanism based on the inspection results from the image processing device, and the test object transport device A guide member is disposed along the edge and guides the object to be inspected in an upright state; from a first position at the front end of the test object supply section to a second position at the front end of the carry-out section adjacent to the test object supply section;
an inspected object transport mechanism for intermittently transporting the inspected object from the position to a third position of an adjacent carry-out section; and an inspected object positioning mechanism for positioning the inspected object at a predetermined position for inspection at the first position. , a test object pushing mechanism for pushing out the test objects sent to the second position and the third position to the respective delivery sections according to the test results; a reciprocating movement of the test object feeding mechanism; 1. An inspection device for a card-shaped object to be inspected, comprising a synchronizing mechanism for synchronizing the movement of an object-to-be-inspected pushing mechanism.
JP12956584A 1984-06-14 1984-06-23 Inspection device for card-shaped body to be inspected Granted JPS618182A (en)

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