JPS6182333A - 光学式記録再生装置におけるドロツプアウトコントロ−ル装置 - Google Patents
光学式記録再生装置におけるドロツプアウトコントロ−ル装置Info
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- JPS6182333A JPS6182333A JP20386084A JP20386084A JPS6182333A JP S6182333 A JPS6182333 A JP S6182333A JP 20386084 A JP20386084 A JP 20386084A JP 20386084 A JP20386084 A JP 20386084A JP S6182333 A JPS6182333 A JP S6182333A
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0946—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for operation during external perturbations not related to the carrier or servo beam, e.g. vibration
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は光学式記録再生装置におけるドロップアウトコ
ントロール装置に係わり、特に光学式ディスク表面の汚
れやキズにより１〜ラツクジヤンプが起きないように制
御するための光学式記録再生装置におけるドロップアウ
トコントロール装置に関する。
ントロール装置に係わり、特に光学式ディスク表面の汚
れやキズにより１〜ラツクジヤンプが起きないように制
御するための光学式記録再生装置におけるドロップアウ
トコントロール装置に関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
近時、音響機器の分野では、高い忠実度の再生化を図る
ためＰＣＭ（パルスコードモジュレーション）技術を利
用したデジタル記録再生方式が採用されつつある。
ためＰＣＭ（パルスコードモジュレーション）技術を利
用したデジタル記録再生方式が採用されつつある。
このデジタル記録再生方式を用いた音響機器は、オーデ
ィオ特性が記録媒体の特性に依存することなく、従来の
アナログ記録再生方式ににるものと比較して、原理的に
格段に優れた特性を発揮することが知られている。
ィオ特性が記録媒体の特性に依存することなく、従来の
アナログ記録再生方式ににるものと比較して、原理的に
格段に優れた特性を発揮することが知られている。
このようなデジタルオーディオのうち、記録媒体として
ディスクを用いるものはＤＡＤシステムと称されており
、その記録再生方式として光学式のものが汎用されてい
る。
ディスクを用いるものはＤＡＤシステムと称されており
、その記録再生方式として光学式のものが汎用されてい
る。
光学式ディスク再生装置には、従来の再生装置に見られ
ない種々の高度のコントロール機能、や性能等を）−１
足し１９るーｂのであることが要求されている。
ない種々の高度のコントロール機能、や性能等を）−１
足し１９るーｂのであることが要求されている。
これをＣＤ（二：１ンパク１〜デイスク）６式のものを
例にとって説明づると、直径１２ ｃｍ、厚さ１゜２能
の透明樹脂円盤に、デジタルｌ〕ＣＭ化データに対応し
たピット（反射率の異なる凹凸）を形成する金属薄膜を
被着してなるディスクを、ＣＬ Ｖ（線速度一定）方式
により約５００〜２０Ｏｒ 。
例にとって説明づると、直径１２ ｃｍ、厚さ１゜２能
の透明樹脂円盤に、デジタルｌ〕ＣＭ化データに対応し
たピット（反射率の異なる凹凸）を形成する金属薄膜を
被着してなるディスクを、ＣＬ Ｖ（線速度一定）方式
により約５００〜２０Ｏｒ 。
ｐｏｍの可変回転速度で回転駆動させ、ぞれを半導体レ
ーザおよび光電変換素子を内蔵した光学式ピックアップ
で内周側から外周側に向けてリニヤトラッキング式に再
生させるものである。
ーザおよび光電変換素子を内蔵した光学式ピックアップ
で内周側から外周側に向けてリニヤトラッキング式に再
生させるものである。
このディスクは１〜ラツクピツチが１．６μｍであって
、片面でも約１時間のステレオ再生をなし得る膨大な情
報量がプログラムエリア（半径２５〜５８關）にアドレ
スデータとともにデジタル化されて収録されており、ぞ
れらの各曲番ど開始アドレスとを対応さＩて示すテーブ
ルオブコンテンツ（ＴＯＣ＞がリードインエリア（半径
２３〜２５１ｍ）にデジタル化されて収録されている。
、片面でも約１時間のステレオ再生をなし得る膨大な情
報量がプログラムエリア（半径２５〜５８關）にアドレ
スデータとともにデジタル化されて収録されており、ぞ
れらの各曲番ど開始アドレスとを対応さＩて示すテーブ
ルオブコンテンツ（ＴＯＣ＞がリードインエリア（半径
２３〜２５１ｍ）にデジタル化されて収録されている。
このような光学式ディスク再生装置においては、目的と
するトラックを迅速にとらえ、そのミクロンオーダの情
報を見失ったり、読み漏らすことなく正しく拾いあげる
ために、いくつかの極めて高度なサーボ技術が用いられ
ている。
するトラックを迅速にとらえ、そのミクロンオーダの情
報を見失ったり、読み漏らすことなく正しく拾いあげる
ために、いくつかの極めて高度なサーボ技術が用いられ
ている。
このような各種のサーボ技術のうちトラッキングサーボ
は、ピックアップのシー１アービームを正確に１−ラッ
クに照射するために採用されている。
は、ピックアップのシー１アービームを正確に１−ラッ
クに照射するために採用されている。
すなわち、ＣＤの１へラックは非常に狭い間隔で並んで
おり、その数は演奏時間１１．５間のディスクで２万本
余りにも達し、しかもディスクを微視的に見れば、多か
れ少なかれ偏心しながら回転しているのが実態である。
おり、その数は演奏時間１１．５間のディスクで２万本
余りにも達し、しかもディスクを微視的に見れば、多か
れ少なかれ偏心しながら回転しているのが実態である。
これをピックアップ側から見れば、幅０．５μｍ、ビッ
ヂ１．６μｍのトラックが蛇行しながら走っていること
になるので、その中から所定の１〜ラツクを見付は出し
、レーザービームを蛇行している目的のトラックに正確
に照射覆ることが必要となる。
ヂ１．６μｍのトラックが蛇行しながら走っていること
になるので、その中から所定の１〜ラツクを見付は出し
、レーザービームを蛇行している目的のトラックに正確
に照射覆ることが必要となる。
＝３＝
このトラッキングサーボの基本的な動作は、ピットの反
射信号（影の部分）がフォトダイオードの中心位置にあ
ることを検出してこれからずれたときに復帰させるよう
に動作する構成を採用している。
射信号（影の部分）がフォトダイオードの中心位置にあ
ることを検出してこれからずれたときに復帰させるよう
に動作する構成を採用している。
しかしながら、ディスクの表面に汚れやキズ等がある場
合、これをピットと認識して制御信号が乱され、この制
御信号の乱れによってトラックジャンプ等の異常動作が
発生することがある。
合、これをピットと認識して制御信号が乱され、この制
御信号の乱れによってトラックジャンプ等の異常動作が
発生することがある。
そこで従来から、サーボゲインを落してサーボ帯域を狭
めキズや汚れの成分の多い周波数帯域に応答しないよう
にしたサーボゲインコントロール回路が用いられている
。
めキズや汚れの成分の多い周波数帯域に応答しないよう
にしたサーボゲインコントロール回路が用いられている
。
第４図はこのような従来の光学式記録再生装置における
ドロップアウトコントロール装置の構成を示Ｊ゛回路図
である。
ドロップアウトコントロール装置の構成を示Ｊ゛回路図
である。
図において１は光学式ピックアップの４分割ディテクタ
、２はこの４分割ディテクタ１の出力を総加算した信号
（ＲＦ倍信号を増幅する増幅器、３はその出ノＪをＣ−
カットするコンデンサ、４はＣ−カットされた信号のピ
ークホールドを行なうピークホールド回路、５はピーク
ホールド回路４の出力信号と定電圧電源６とを比較して
２値の信号を出力するコンパレータ、７はこの２値の信
号とプレイ中“′Ｈ″の信号との論理積をとり、ドロッ
プアウトコントロール信号としてゲインコン１〜ローラ
８へ出力するアンド回路である。
、２はこの４分割ディテクタ１の出力を総加算した信号
（ＲＦ倍信号を増幅する増幅器、３はその出ノＪをＣ−
カットするコンデンサ、４はＣ−カットされた信号のピ
ークホールドを行なうピークホールド回路、５はピーク
ホールド回路４の出力信号と定電圧電源６とを比較して
２値の信号を出力するコンパレータ、７はこの２値の信
号とプレイ中“′Ｈ″の信号との論理積をとり、ドロッ
プアウトコントロール信号としてゲインコン１〜ローラ
８へ出力するアンド回路である。
なお、定電圧電源６の電位レベルはＲＦ倍信号全反射側
の電位レベルよりも低く、低反射側の電位レベルよりも
高く設定されている。
の電位レベルよりも低く、低反射側の電位レベルよりも
高く設定されている。
９ａ、９ｂはそれぞれ光学式ピックアップのサブビーム
ディテクタであって、これらの出力は作動増幅器１０に
入力され、この作動増幅器１０はトラッキングエラー信
号をゲインコントローラ８に供給する。ゲインコントロ
ーラ８は、このトラッキングエラー信号をドロップアラ
１〜コントロール信号によりゲインを下げて出力する。
ディテクタであって、これらの出力は作動増幅器１０に
入力され、この作動増幅器１０はトラッキングエラー信
号をゲインコントローラ８に供給する。ゲインコントロ
ーラ８は、このトラッキングエラー信号をドロップアラ
１〜コントロール信号によりゲインを下げて出力する。
このトラッキングエラー信号は位相補償回路１１、パワ
ーアンプ１２を経てトラッキングアクチュエータ１３を
駆動させる。
ーアンプ１２を経てトラッキングアクチュエータ１３を
駆動させる。
以下この装置の動作について説明する。
第５図はこの従来の光学式記録再生装置におｌ−Ｊるド
ロツプアウＩ−＝１ンＩ・［１−ル装置の各部（ａ）〜
（１）にＪ３ ｊノる信号のタイミングチーｐ−１−で
ある。
ロツプアウＩ−＝１ンＩ・［１−ル装置の各部（ａ）〜
（１）にＪ３ ｊノる信号のタイミングチーｐ−１−で
ある。
光学式ピックアップの４分割ディテクタ１から出力され
るＲＦ（、ｌｉ号は増幅器２に入力して信号（ａ ＞が
出力される。。
るＲＦ（、ｌｉ号は増幅器２に入力して信号（ａ ＞が
出力される。。
この信号において、低周波成分は光学式ディスクの偏心
によるものであり、Ｒ［信号の１−０側の全反則レベル
のエンベロープＥＨの凹みＡ１、Ａ２は光学式ディスク
面の汚れやキズにより反ｑ４光が低下した部分であり、
ＲＦ倍信号低反射側のエンベロープ「Ｌの下側の凹みＢ
は振動により光学式ピックアップのビームがピッｌ−列
から外れて全反射光量が増加した部分を示している。
によるものであり、Ｒ［信号の１−０側の全反則レベル
のエンベロープＥＨの凹みＡ１、Ａ２は光学式ディスク
面の汚れやキズにより反ｑ４光が低下した部分であり、
ＲＦ倍信号低反射側のエンベロープ「Ｌの下側の凹みＢ
は振動により光学式ピックアップのビームがピッｌ−列
から外れて全反射光量が増加した部分を示している。
ずなわら、第６図に示すように、光学式ディスク１４の
ピッ１〜列１４ａを光学式ピックアップのビームＢがト
ラッキングしている状態では全反射面とピッ１−とが交
互に）ＪＪ則正しく現れるため、ＲＦ倍信号全反則側お
よび低反射側のエンベ［１−プＥＨＳＥＬは平坦な状態
で埠れる。そして光学式ディスク１４の表面にキズ１．
ｌｌｂがあった場合には、本来全反射面となる位置の反
ｑ４光量が低下するため、Ｒ［信号のの上側のエンベロ
ープＦＨに凹みＡが生じるのである。
ピッ１〜列１４ａを光学式ピックアップのビームＢがト
ラッキングしている状態では全反射面とピッ１−とが交
互に）ＪＪ則正しく現れるため、ＲＦ倍信号全反則側お
よび低反射側のエンベ［１−プＥＨＳＥＬは平坦な状態
で埠れる。そして光学式ディスク１４の表面にキズ１．
ｌｌｂがあった場合には、本来全反射面となる位置の反
ｑ４光量が低下するため、Ｒ［信号のの上側のエンベロ
ープＦＨに凹みＡが生じるのである。
また第７図に示すように、振動にＪ、り光学式ピックア
ップのビームＢがピッｌ−列１４ａから外れた位置に移
動Ｊ−ると、光学式ビックアンプのビームＢは全反射面
を続（プて走査することになり、このためビット列１４
ａによる反則光量の低下部分がなくなり、ＲＦ倍信号低
反射レベルの下側のエンベロープＥＬに凹みＢが生ずる
のである。
ップのビームＢがピッｌ−列１４ａから外れた位置に移
動Ｊ−ると、光学式ビックアンプのビームＢは全反射面
を続（プて走査することになり、このためビット列１４
ａによる反則光量の低下部分がなくなり、ＲＦ倍信号低
反射レベルの下側のエンベロープＥＬに凹みＢが生ずる
のである。
増幅器２の出力信号（ａ ）は、次いでコンデンサ３に
よりＣ−カッ１へされて信号（ｂ）が得られ、さらにピ
ークホールド回路４によりその全反則レベル側のエンベ
ロープ信号（Ｃ）が１！１られる。
よりＣ−カッ１へされて信号（ｂ）が得られ、さらにピ
ークホールド回路４によりその全反則レベル側のエンベ
ロープ信号（Ｃ）が１！１られる。
（ｄ ）は定電圧電源６の基準電位レベルであり、従っ
て、コンパレータ５からはエンベロープ信号（Ｃ）の電
位レベルが基準電位レベル（（１）より低くなったとき
、２１１ｈの信号（ｅ）が出力される。
て、コンパレータ５からはエンベロープ信号（Ｃ）の電
位レベルが基準電位レベル（（１）より低くなったとき
、２１１ｈの信号（ｅ）が出力される。
（ｆ ）は装置のプレイ時に出力される゛Ｈ″仇月であ
り、従って、アンド回路１３からはこれらの論理積のド
「１ツプアウｉ〜コントロ一ル信号（（１）が出力され
る。このドロップアウトコントロール信号（ｇ＞にまり
差動増幅器１０からの出ツノ信月（ｈ）はそのゲインが
減衰されて制御信号（ｉ）が得られ、位相補償回路１１
、パワーアンプ１２を介してアクチュエータ１３へ供給
される。
り、従って、アンド回路１３からはこれらの論理積のド
「１ツプアウｉ〜コントロ一ル信号（（１）が出力され
る。このドロップアウトコントロール信号（ｇ＞にまり
差動増幅器１０からの出ツノ信月（ｈ）はそのゲインが
減衰されて制御信号（ｉ）が得られ、位相補償回路１１
、パワーアンプ１２を介してアクチュエータ１３へ供給
される。
第５図からも明らかなように、このような従来の光学式
記録再生装置にお（Ｊるドロップアウトコントロール装
置においては、光学式ディスク面に汚れやキズが存在し
た場合トラッキングエラー信号のゲインを減衰させてト
ラックジャンプを生じ難くするが、振、動が加えられた
ときにも同様にトラッキングザーボのゲインを下げてし
まい、その結果、振動に対してはかえってトラッキング
エラーを生じさせ易くづ−るという問題があった。
記録再生装置にお（Ｊるドロップアウトコントロール装
置においては、光学式ディスク面に汚れやキズが存在し
た場合トラッキングエラー信号のゲインを減衰させてト
ラックジャンプを生じ難くするが、振、動が加えられた
ときにも同様にトラッキングザーボのゲインを下げてし
まい、その結果、振動に対してはかえってトラッキング
エラーを生じさせ易くづ−るという問題があった。
［発明の目的］
本発明はこのような従来の難点に対処してなされたもの
で、光学式ディスクの表面に汚れやキズがあった場合に
は、ｉ〜ラツギング■ラー信号のゲインを低下させて１
〜ラツクジヤンプを生じｔａ ＜ ｔ、、かつ振動があ
ってもトラフ４：ングエラー信号のゲインを低下させず
、従って振動時に１〜ラツクジ計ンプが起き易くなるこ
とを防止した光学式記録再生装置におけるドロップアラ
１〜−１ン１へ［１−ル装閘を提供することを目的とす
る。
で、光学式ディスクの表面に汚れやキズがあった場合に
は、ｉ〜ラツギング■ラー信号のゲインを低下させて１
〜ラツクジヤンプを生じｔａ ＜ ｔ、、かつ振動があ
ってもトラフ４：ングエラー信号のゲインを低下させず
、従って振動時に１〜ラツクジ計ンプが起き易くなるこ
とを防止した光学式記録再生装置におけるドロップアラ
１〜−１ン１へ［１−ル装閘を提供することを目的とす
る。
「発明の概要］
本発明においては、光学式ディスクの記録を再生する光
学式ピックアップから入ツノされるＲＦ倍信号Ｃ−カッ
トされることなく、ピークホールド回路により全反則側
のエンベロープが検出される。
学式ピックアップから入ツノされるＲＦ倍信号Ｃ−カッ
トされることなく、ピークホールド回路により全反則側
のエンベロープが検出される。
ピークホールド回路の出力信号は、このピークボールド
回路の出力信号を入力して光学式ピックアップの全反射
面再生時の１１１力電位より低電位でキズ面再生時の出
力電位より高電位の基準電位を出力する基準電位出力回
路の基準電位ど比較され、ピークホールド回路からの入
力電位が基準電位出力回路からの入力電位より低くなっ
たときのみドロツプアウＩ−ＴＪント［］−ル信号が出
力される。
回路の出力信号を入力して光学式ピックアップの全反射
面再生時の１１１力電位より低電位でキズ面再生時の出
力電位より高電位の基準電位を出力する基準電位出力回
路の基準電位ど比較され、ピークホールド回路からの入
力電位が基準電位出力回路からの入力電位より低くなっ
たときのみドロツプアウＩ−ＴＪント［］−ル信号が出
力される。
これにＪ：っで振動によりＲＦ倍信号低反射レベル側の
−Ｌンベロープが変化してもド［］］ツブアラ１−］ン
ト１−ル信号は発生け゛ず、汚れやキズの信号によるド
１］ツプフ７つ１〜コン１へ［１−ル信月のみが出力さ
れる。１ ［発明の実施例］ 以下本発明の実施例を図面を参照して説明Ｊる。
−Ｌンベロープが変化してもド［］］ツブアラ１−］ン
ト１−ル信号は発生け゛ず、汚れやキズの信号によるド
１］ツプフ７つ１〜コン１へ［１−ル信月のみが出力さ
れる。１ ［発明の実施例］ 以下本発明の実施例を図面を参照して説明Ｊる。
第１図（ま本発明の一実施例の構成を示４回路図である
。４Ｉ：お第１図において第４図と共通りる部分には同
一７４目がｆ；１シである。
。４Ｉ：お第１図において第４図と共通りる部分には同
一７４目がｆ；１シである。
図において１は光学式ピックアップの４分λ１１ディテ
クタ、２はこの４分割ディテクタ１のＲｒ’： ｆ８月
を増幅Ｊる増幅器、４′はＲ「信号の全反口」レベル側
の［ンベ１−１−プを検出するビークホール１〜回路で
ある。なお、１５は汚れやキズにＪ：るｆ＝＋ Ｈの周
波数には応答するが、ＲＦ倍信号周波数には応答しない
時定数を持つ］ンデン１ノである。
クタ、２はこの４分割ディテクタ１のＲｒ’： ｆ８月
を増幅Ｊる増幅器、４′はＲ「信号の全反口」レベル側
の［ンベ１−１−プを検出するビークホール１〜回路で
ある。なお、１５は汚れやキズにＪ：るｆ＝＋ Ｈの周
波数には応答するが、ＲＦ倍信号周波数には応答しない
時定数を持つ］ンデン１ノである。
６′は、ピークホールド回路４′の出力信号から抵抗Ｒ
１、Ｒ２にＪ：り抵抗分圧して基準電位を作る基準電位
出力回路であり、］］ンデンリー１はＲＦ倍信号全反射
レベル側の汚れやキズによる信号の周波数には応答しな
いが、光学式ディスクの偏心成分の周波数には応答する
時定数を持つコンデンサである。
１、Ｒ２にＪ：り抵抗分圧して基準電位を作る基準電位
出力回路であり、］］ンデンリー１はＲＦ倍信号全反射
レベル側の汚れやキズによる信号の周波数には応答しな
いが、光学式ディスクの偏心成分の周波数には応答する
時定数を持つコンデンサである。
７は、基準電位出力回路６′の出力電位とピークホール
ド回路４′の全反射レベル側のエンベロープの電位レベ
ルとを比較する比較器、７は比較器５の出力とプレイ時
゛トビ′のプレイ信号との論理積をドロップアウトコン
トロール信号として出力するアンド回路である。
ド回路４′の全反射レベル側のエンベロープの電位レベ
ルとを比較する比較器、７は比較器５の出力とプレイ時
゛トビ′のプレイ信号との論理積をドロップアウトコン
トロール信号として出力するアンド回路である。
９ａ 、９ｂは、光学式ピックアップのサブビームディ
テクタであって、ぞの出力信号は差動増幅器１０に入力
されてトラッキングエラー信号を出力する。
テクタであって、ぞの出力信号は差動増幅器１０に入力
されてトラッキングエラー信号を出力する。
８はゲインコン１〜ローラであって、差動増幅器１０の
トラッキングエラー信号どアンド回路７がらのドロップ
アウトコントロール信号とを入力して１〜ラツキング工
ラー信号のゲインを減衰させる。
トラッキングエラー信号どアンド回路７がらのドロップ
アウトコントロール信号とを入力して１〜ラツキング工
ラー信号のゲインを減衰させる。
１１はゲインコントローラ８で減衰されたトラツ４−ン
グ王う−信弓を位相補償する位相補償回路、１２はパワ
ーアンプであってトラッキングアクチュエータ１３を駆
動さυる。
グ王う−信弓を位相補償する位相補償回路、１２はパワ
ーアンプであってトラッキングアクチュエータ１３を駆
動さυる。
以下、この実施例の装置の動作について説明する。
第２図は、この実施例の光学式記録再生装置におけるド
ロップアウトコンｉ〜ロール￥ｉ装置の各部（Ａ）〜（
１１）における信号のタイミングチャー１〜である。
ロップアウトコンｉ〜ロール￥ｉ装置の各部（Ａ）〜（
１１）における信号のタイミングチャー１〜である。
この実施例のド【１ツブアウトコントロール装置におい
ては、同図に示すように、増幅器２からの出力信５３（
Ａ）４．１ピ一クホールド回路４′に入力されて、その
全反射レベル側のエンベロープ信号（［３）が１１１ら
れる。
ては、同図に示すように、増幅器２からの出力信５３（
Ａ）４．１ピ一クホールド回路４′に入力されて、その
全反射レベル側のエンベロープ信号（［３）が１１１ら
れる。
ここで１騒動により生じた凹みＢは、低反射側の−１−
ンベ【１−プｌ−Ｌに属するため出力され４ｆｆｉい。
ンベ【１−プｌ−Ｌに属するため出力され４ｆｆｉい。
このエンベ［１−プ信号（Ｂ）はＷｔＭ電位出力回１’
８６ ’ からの出力信＝＜Ｃ＞どともに、比較器５に
入力され、２値の信号（１１）が出力される。
８６ ’ からの出力信＝＜Ｃ＞どともに、比較器５に
入力され、２値の信号（１１）が出力される。
ぞしにの２舶の信号（Ｄ）は、アンド回路７に入力され
、プレイ時“Ｈ′′の信号（Ｅ）が゛Ｈ″レベルのとき
、アンド回路７からドロップアウトコントロール信号（
Ｆ ）がゲインコントローラ８に出力される。差動増幅
器１０からのトラッキングエラー信号（Ｇ）はドロップ
アウトコントロール信号（Ｆ）によりゲインコントロー
ラ８でゲインを減衰されて、ゲインコントローラ８から
は減衰された制御信号（ト１）が出力される。この制御
信号（Ｈ）は位相補償回路１１、パワーアンプ１２を経
てトラッキングアクチュエータ１３に供給され、１へラ
ンキングアクヂュエータ１３を制御して所定のトラッキ
ングサーボが行なわれる。
、プレイ時“Ｈ′′の信号（Ｅ）が゛Ｈ″レベルのとき
、アンド回路７からドロップアウトコントロール信号（
Ｆ ）がゲインコントローラ８に出力される。差動増幅
器１０からのトラッキングエラー信号（Ｇ）はドロップ
アウトコントロール信号（Ｆ）によりゲインコントロー
ラ８でゲインを減衰されて、ゲインコントローラ８から
は減衰された制御信号（ト１）が出力される。この制御
信号（Ｈ）は位相補償回路１１、パワーアンプ１２を経
てトラッキングアクチュエータ１３に供給され、１へラ
ンキングアクヂュエータ１３を制御して所定のトラッキ
ングサーボが行なわれる。
なお以上の実施例では、基準電位出力回路６′として抵
抗分圧回路を用いた例について説明したが、本発明はこ
のような実施例に限定されるものではなく、例えば第３
図に示すように、ピークボールド回路４′の出力を分岐
させ、ダイオード１７を用いてその電位レベルを低下さ
せるように構成することも可能である。なお、同図にお
いて、１８はＲＦ倍信号全反射レベル側の汚れやキズに
よる信号の周波数には応答しないが、光学式ディスクの
偏心成分の周波数には応答する助定数回路である。
抗分圧回路を用いた例について説明したが、本発明はこ
のような実施例に限定されるものではなく、例えば第３
図に示すように、ピークボールド回路４′の出力を分岐
させ、ダイオード１７を用いてその電位レベルを低下さ
せるように構成することも可能である。なお、同図にお
いて、１８はＲＦ倍信号全反射レベル側の汚れやキズに
よる信号の周波数には応答しないが、光学式ディスクの
偏心成分の周波数には応答する助定数回路である。
［発明の効果１
以上説明したにうに、本発明においては、Ｒ［信号の全
反射側のエンベロープを、このエンベロープから基Ｉ￥
電位出力回路を用いて作り出した基準電位と比較して、
ドロップアウトコントロール信号を作るように構成した
から、汚れやキズがあった場合にのみトラッキングエラ
ー信号のゲインを減衰させ、振動時には１へラッキング
エラー信号のゲインを減衰されるようなことはなくなり
、良好なトラン４−ングリーボを行なうことが可能であ
る。
反射側のエンベロープを、このエンベロープから基Ｉ￥
電位出力回路を用いて作り出した基準電位と比較して、
ドロップアウトコントロール信号を作るように構成した
から、汚れやキズがあった場合にのみトラッキングエラ
ー信号のゲインを減衰させ、振動時には１へラッキング
エラー信号のゲインを減衰されるようなことはなくなり
、良好なトラン４−ングリーボを行なうことが可能であ
る。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す回路図、第２図
はその各部にお（プる信号を示すタイミングチャー１〜
、第３図は本発明に使用する基準電位出力回路の他の例
を示す回路図、第４図は従来の光学式記録再生装買にお
けるドロツプアウト二］ントロール装置の構成を示す回
路図、第５図ｉＪその各部にお＋−する信号を示すタイ
ミングヂ鵞？−１・、第６図は光学式ディスク面の汚れ
やキズによりＲＦ倍信号全反射側のエンベロープに凹み
Δが生じる状況を説明づ°るための図、第７図は光学式
ディスクの振動によりＲＦ倍信号低反射側のエンベロー
プに凹みＢが生じる状況を説明１−るための図である。 １・・・・・・・・・・・・４分割ディテクタ２・・・
・・・・・・・・・増幅器 ３．１５．１６・・・コンデンサ ４．４′・・・ピークホールド回路 ５・・・・・・・・・・・・比較器 ６・・・・・・・・・・・・定電圧回路６′・・・・・
・・・・基準電位出力回路７・・・・・・・・・・・・
アンド回路８・・・・・・・・・・・・ゲインコントロ
ーラ９ａ、９ｂ・・・サブビームディテクタ１０・・・
・・・・・・・・・差動増幅器１１・・・・・・・・・
・・・位相補償回路１２・・・・・・・・・・・・パワ
ーアンプ１３・・・・・・・・・・・・トラッキングア
クチコ１〜り１７・・・・・・・・・・・・ダイオード
１８・・・・・・・・・・・・時定数回路代理人弁理士
須 山 佐 − 第５図 第６図 第７図 −〔三３（ヨ ーζりｎ−
はその各部にお（プる信号を示すタイミングチャー１〜
、第３図は本発明に使用する基準電位出力回路の他の例
を示す回路図、第４図は従来の光学式記録再生装買にお
けるドロツプアウト二］ントロール装置の構成を示す回
路図、第５図ｉＪその各部にお＋−する信号を示すタイ
ミングヂ鵞？−１・、第６図は光学式ディスク面の汚れ
やキズによりＲＦ倍信号全反射側のエンベロープに凹み
Δが生じる状況を説明づ°るための図、第７図は光学式
ディスクの振動によりＲＦ倍信号低反射側のエンベロー
プに凹みＢが生じる状況を説明１−るための図である。 １・・・・・・・・・・・・４分割ディテクタ２・・・
・・・・・・・・・増幅器 ３．１５．１６・・・コンデンサ ４．４′・・・ピークホールド回路 ５・・・・・・・・・・・・比較器 ６・・・・・・・・・・・・定電圧回路６′・・・・・
・・・・基準電位出力回路７・・・・・・・・・・・・
アンド回路８・・・・・・・・・・・・ゲインコントロ
ーラ９ａ、９ｂ・・・サブビームディテクタ１０・・・
・・・・・・・・・差動増幅器１１・・・・・・・・・
・・・位相補償回路１２・・・・・・・・・・・・パワ
ーアンプ１３・・・・・・・・・・・・トラッキングア
クチコ１〜り１７・・・・・・・・・・・・ダイオード
１８・・・・・・・・・・・・時定数回路代理人弁理士
須 山 佐 − 第５図 第６図 第７図 −〔三３（ヨ ーζりｎ−
Claims (1)
- 光学式ディスクの記録を再生する光学式ピックアップか
ら出力されるＲＦ信号を入力して全反射側のエンベロー
プを出力するピークホールド回路と、このピークホール
ド回路の出力信号を入力して全反射面再生時の出力電位
より低電位で汚れあるいはキズ面再生時の出力電位より
高電位の基準電位を出力する基準電位出力回路と、前記
ピークホールド回路の出力信号の電位と前記基準電位と
を比較してピークホールド回路の出力信号の電位が基準
電位より低くなつたときドロップアウトコントロール信
号を出力する比較回路とを有することを特徴とする光学
式記録再生装置におけるドロップアウトコントロール装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59203860A JPH0816982B2 (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 光学式記録再生装置におけるドロツプアウトコントロ−ル装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59203860A JPH0816982B2 (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 光学式記録再生装置におけるドロツプアウトコントロ−ル装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6182333A true JPS6182333A (ja) | 1986-04-25 |
| JPH0816982B2 JPH0816982B2 (ja) | 1996-02-21 |
Family
ID=16480892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59203860A Expired - Lifetime JPH0816982B2 (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 光学式記録再生装置におけるドロツプアウトコントロ−ル装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0816982B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0723694A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-01-27 | Seikon:Kk | 動物大腸の切開装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5938933A (ja) * | 1982-08-25 | 1984-03-03 | Trio Kenwood Corp | 光学的情報読取装置におけるサ−ボ装置 |
| JPS5940326A (ja) * | 1982-08-30 | 1984-03-06 | Hitachi Ltd | デイスク再生装置 |
| JPS59142989U (ja) * | 1983-03-15 | 1984-09-25 | パイオニア株式会社 | 情報読取装置における汚れ検出表示装置 |
-
1984
- 1984-09-28 JP JP59203860A patent/JPH0816982B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5938933A (ja) * | 1982-08-25 | 1984-03-03 | Trio Kenwood Corp | 光学的情報読取装置におけるサ−ボ装置 |
| JPS5940326A (ja) * | 1982-08-30 | 1984-03-06 | Hitachi Ltd | デイスク再生装置 |
| JPS59142989U (ja) * | 1983-03-15 | 1984-09-25 | パイオニア株式会社 | 情報読取装置における汚れ検出表示装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0723694A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-01-27 | Seikon:Kk | 動物大腸の切開装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0816982B2 (ja) | 1996-02-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |