JPS5940326A - デイスク再生装置 - Google Patents

デイスク再生装置

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JPS5940326A
JPS5940326A JP57149311A JP14931182A JPS5940326A JP S5940326 A JPS5940326 A JP S5940326A JP 57149311 A JP57149311 A JP 57149311A JP 14931182 A JP14931182 A JP 14931182A JP S5940326 A JPS5940326 A JP S5940326A
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中垣　春重
Yoshimi Iso
佳実 磯
Shigeki Inoue
茂樹 井上
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    • G—PHYSICS
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    • G11B2220/00—Record carriers by type
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    • G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
    • G11B2220/2537—Optical discs

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  • Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
  • Transition And Organic Metals Composition Catalysts For Addition Polymerization (AREA)
  • Input Circuits Of Receivers And Coupling Of Receivers And Audio Equipment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はディジタルオーディオディスク（ＤＡＤ）ブＶ
−ヤ、ビデオディスクプレーヤに係り、特にディスクの
欠陥、傷を検出し欠陥等によるトラックジャンプを補償
するディスク再生装置に関する。
光学式ＤＡＤプレーヤのピックアップのトラッキングサ
ーボの一つに３スポット方式がある。
牙１図は３スポット方式を示した図で、１（まノオーカ
スおよびＰＣＭ信号検出用スポット。
２および３はトラッキング用のスボッ）、４．。
４２＋　　ｈはディスクのトラック上の信号ピットを示
す。
スポット２，６はそれぞれ一部がトラック上に掛かり残
りの部分は鏡面上に掛かるように配ｔされている。矛２
図はトラックのサーボループを示した図で、５および６
は光検出素子、７および８は電流−電圧変換器、９は差
動増幅器、１０は位相補償回路、１１はピックアップを
トラックに滑って動かすためのアクチュエータを示す。
光検出素子５および６はそれぞれ矛１図のスポット２お
よび６０反射光を受光し、光の強さに応じた電流を出力
する。そしてこれらの電流出力はそれぞれ電流−電圧変
換器７および８で電圧値に変換され、差動増幅器９で両
者の差が検出される。今、光スポツト１乃至３は１体で
動くように構成されているので矛１図においてこれらの
スポットがトラックーヒから右方向に動いたとすれば、
スポット２は鏡面に当たる部分が多くなり、逆にスポッ
ト３はトラック面に当る部分が多くなる。この結果、光
検出素子５の電流が増加し、光検出素子乙の電流が減少
することになり差動増幅器９の出力には正電圧が発生す
る。逆にスポット１乃至３がトラック上から左に動いた
場合には上記とは逆の動作にまり差動増幅器９の出力に
は負の電圧を発生する。
差動増幅器９の出力は位相補償回路１０を介してピック
アップのアクチュエータ１１に加えられるためスポット
１乃至３がトラック上から右、又は左方向にずれると差
動増幅器９の正、又は負の出力電圧によってアクチュエ
ータがこのずれを矯正するように、すなわちスポット２
および３の均衡がとれてトラック上を追尾し差動増幅器
９の出力が零となるようにサーボが掛っている。
ところで、上記のような光学式サーボ回路ではディスク
に欠陥があったり、ディスク表面に傷などがある場合ス
ポットからの反射光が欠落してしまう。このためトラッ
キングの誤差信号を検出できなくなりサーボ不能となっ
てトラックジャンプを起こすという問題があるため、そ
の補償が不可欠なものとなる。
本発明の目的は上述のディスクの傷などの検出及びトラ
ックジャンプを補償するディスク再生装置を提供するこ
とにある。
上記目的を作成するため本発明は、ディスクに傷などが
あった場合にＰＣＭ信号検出用スポットからの反射光が
減少してＰＣＭ信号の最大値レベルが低下することに着
目し、ＰＣＭ読み出し信号の最大値を検出する検出器と
最大値の変化を検出する検出器とを設計両者のレベルの
大小関係を比較器によって判別することにより傷を検出
することにある。
また本発明は上記の傷検出回路、トラックループ誤差電
圧を検出するサンプル・ホールド回路およびピックアッ
プアクチュエータの駆動信号を制御する切り換え装置を
設け、ディスクに傷がある場合は傷検出回路出力によっ
てサンプルホールド回路を動作させると同時に切り換え
装置を制御し、ピックアップアクチェエータをトラック
ループから切り離してサンプル・ホールド回路に接続し
アクチュエータ印加電圧を一定値にホールドすることに
ある。
以下本発明の実施例を図面を用いて説明する。
矛３図は本発明による一実施例を示す図である。同図に
おいて１２はディスク駆動用のモータ、１３は情報記録
ディスク、１４（・ま信号読み取り装置である光学式ピ
ックアップ、１５は電流−電圧変換器、１６はピックア
ップ検出信号、すなわち矛１図で示したスポット１０反
射光を電流−電圧変換したＰ（、Ｍ信号の最大値レベル
を検出する検出器、１７はＰＣＭ信号の最大値レベルの
変化を検出する検出器、１８は電圧比較器、１９は電圧
比較器１８の出力端子である。
矛４図に示した各部波形図を参照し、以下矛６図回路の
動作を説明する。
ディスク駆動モータが回転し、トラッキングサーボが掛
っている状態では、牙１図で示したスポット１０反射光
はピックアップ１４で受光さ九電流−電圧変換器１５を
介して矛４図（ａ）に示すようにｅｉなる信号として検
出され、レベル検出器１６および１７に入力される。信
号ｅｉのレベルはスポット１がディスクのトラック上に
あって信号ピットを追尾するためその振幅は傷がない場
合は領域Ａに示すよう一定なものとなる。
つまりスポットが信号ピット（（当った場合は最低レベ
ル、信号ピットを抜は出し鏡面に当った場合は最高レベ
ルの信号が出力される。
しかしディスクに傷などがあるとスポットからの反射光
が大幅に減少するため、この時には領域Ｂに示すように
信号レベルに犬ぎな窪みを発生する。
レベル検出器１６はトランジスタ２０、抵抗２２、コン
デンサ２４より成る周知のエミッタホロア検波器と、ト
ランジスタ２０のベース・エミッタ間電圧降下を補正す
るレベルシフト用トランジスタ２１で構成され、入力信
号ｅｉの最大値を検波しホールドする働きをする。つま
り抵抗２２とコンデンサ２４の放電時定数を牙４図のデ
ィスクの傷幅Ｂに和尚する時間に対して充分大きく設定
すれば、その検波出力ｅｏ１は矛４図（ｂ）に示す如く
信号ｅｉのピーク値に等しいものとなる。
又、レベル検出器１７はレベル検出器１６と同様入力信
号の最大値を検波する回路であるが、こちらは抵抗２７
とコンデンサ２９の放電時定数が牙４図（ａ）の傷によ
る信号ｅｉの窪みの変化に追随するよう小さく設定され
ているため、その出力ＣＯ２には矛４図（ｂ）のように
信号ｅｉの最大値のエンベロープが得られる。
係る構成にあって、レベル検出器１６および１７の出力
ｅｏ１とｅｏ２を電圧比較器１８でレベル比較を行なえ
ば電圧比較器出力１９にはｅｏｌ〉ｅ０２の時に矛４図
（Ｃ）に示すｅｏ３なるパルス波が得られディスクの傷
検出を行なうことができる。
ところで、矛５図の回路ではレベル検出器１７の抵抗２
７とコンデンサ２９０時定数を小さくしてエンベロープ
の検波を敏感にし過ぎた場合、或いは信号ｅｉの最大値
に揺らぎがある場合にはｅｏ２出力中のリップル電圧に
よってｅｏ１出力との大小関係が反転しディスクの傷以
外の領域で矛４図（Ｃ）の破線に示すようにパルスを発
生することがある。
ｊ、、ｓ図は上記の欠点を解消した本発明による他の実
施例を示したものである。同図において３０はダイオー
ドを示し、その他矛３図と同一符号を付した部分は同一
もしくは同等な部分を指す。
本実施例は、信号ｅｉのエンベロープ検波出力ｅｏ２を
ダイオード３０によってそのしぎい値電圧ＶＦだけレベ
ルシフトし、レベルシフトした後の出力８０２′とレベ
ル検出器１６のピーク値出力ｅｏ１とのレベルを比較器
１８で比較しようとするものであり、牙６図（ｂ）に示
すようにｅｏｌとｅｏ２’の比較レベルにばＶｙのオフ
セットがあるため８０２′中に含まれるリップル電圧に
よって不要なパルスが発生することなく正確な傷検出を
行なうことができる。
尚、牙５図の実施例ではダイオード３０の挿入によって
レベル検出器１７の出力ｅｏ２をレベルアップする場合
を示したが、これは特に限定されるものではなく、例え
ばレベル検出器１６の出力をダイオードを介したり、或
いはトランジスタ２１を取り除いてコンデンサ２４かも
直接比較器に入力するなどしてｅｏｉをレベルダウンし
ても良く、又は電圧比較器１８の正、負入力端子に直接
オフセットを持たせることによっても同様の効果を得る
ことができる。
牙７図は本発明によるさらに他のブロック図を示したも
のである。同図において１２はサンプル・糸−ルド回路
、２０はディスクの傷検出装置、２４はスイッチ２５お
よび２６より成る切り換え装置を示す。
本実施例はディスクトラック上の傷の有無を傷検出装置
２０で判別し、傷が無い場合には傷検出装置２０の制御
信号によってスイッチ２６を開放すると共にスイッチ２
５を短絡しアクチュエータ１１の駆動電圧を差動増幅器
９かう供給して通常のサーボ動作を行なわせ、傷が有る
場合には傷検出装置２０の制御４８号によりサシプル・
ホールド回路２３を動作させると同時にスイッチ２６を
短絡、２５を開放してアクチュエータ１１の駆動電圧を
サンプルｅホールド回路出方である傷に突入した時点の
トラック誤差電圧にホールドするものである。
牙８図は矛７図の具体的実施例を示したものである。同
図において、２１はインバータ、２２乃至２３は端子、
３７乃至３９は電子スイッチとしての接合型電界効果ト
ランジスタ（以下ＰＥＴと称す）、４０乃至４２はダイ
オード、４６乃至４８＆′Ｌ抵抗４９は平滑コンデンサ
、５ｏはバッファアンプヲ示しその他牙３図、牙７図と
同一符号を符した部分は同一もしくは同等な部分を指す
、 ＦＥＴ３７乃至６９はそれぞれ入力電極とゲート電極間
に負のバイアス電圧が印加されるとＯＦＦし、バイアス
電圧が零となるとＯＮするものである。すなわち傷検出
装置２ｏの制御信号が負になると、例えばＦＥＴ３７で
は入力電極から抵抗４３とダイオード４０を介してＩｏ
なる直流電流が流れ、入力電極に対してゲート電極は抵
抗４３による電圧降下分だけ負に直流バイアスされるた
め０１ｉ’　Ｆ　Ｌ、、傷検出装置２ｏの制御信号が正
になるとダイオード４ｏの整流作用によってＩｏは遮断
され入力電極とゲート電極間のバイアス電圧が零となっ
てＯＮするよう動作する。
又、抵抗４７トコンデンサ４９はローパスフィルターを
構成するものでその時定数は差動増幅器９の出力ｅＲに
追随する値に設定されている。
抵抗４６はＦＥＴ３７がＯＦ　Ｆ　ｌ、た場合のコンデ
ンサ４９の蓄積電荷を放電させるものであるがこの値は
抵抗４７に対して十分高く、すなわちコンデンサ４９の
充電時定数に対し放電時定数が犬ぎくなるように設定さ
れている。
又、傷検出装置２ｏは矛９図（ａ）Ｉｃ示す如くディス
クに傷の無いＡおよびＣの領域では正、傷の有るＢの領
域では負の制御電圧ｅｓと、インバータ２１を通すこと
によりｅｓと相補な（ｂ）に示、す６　ｓ　Ｉなる制御
電圧を出方するよう構成されている。
以上の構成にあって、ディスクトラック上に傷の無い牙
９図（ａ）のＡの領域ではＦＥＴ！＋８がＯＮし、ＦＥ
Ｔ３９がＯＦＦするためピックアップアクチュエータ１
１には差動増幅器９の出力が接続されて通常のサーボ動
作が行なわれる。
又、この時Ｆ”ＥＴ３７もＯＮ状態にあるためローパス
フィルタ出力には牙９図（Ｃ）に示す差動増幅器９の出
力ｅＲと等しいトラック誤差電圧ｅＨＩが得られる。
次いで時刻Ｔ、にて傷検出装置２ｏでディスクの傷が検
知されると制御信号ｅ３は正から負に、又ｅｓ’　ｔ’
ｚ負から正に反転する。これによりＦＥＴ３７および３
８はＯＮからＯＦＦに、ＦＥＴ５９はＯＦ　ＦからＯＮ
に反転するためローパスフィルタの出力ｅＲ′に（Ｃ）
の如くピックアップがディスクの傷に突入した瞬間Ｔ、
の値ｅＴ（にホールドされると同時にこの電圧ｅＨが（
ｄ）に示す如くバッファアンプ５０、ＦＥ’ｌ１９を介
して出力される。
すなわちアクチュエータ１１に加わる電圧ｅＡは（ｅ）
に示すようにトラックの誤差電圧ｅＨからＦＥＴ３９の
糸路を介した一定値ｅＨにホールドされる。
そして、ピックアップがディスクの傷を抜は出した時刻
Ｔ、では再び傷検出装置２００制御信号の反転によって
ＦＥＴ！１７および３８がＯＦＦからＯＮに、又ＦＥ’
１９がＯＮからＯＦＦ’状態となるたアクチュエータ１
１の駆動信号ｅＡはホールド電圧ｅＨからトラックの誤
差電圧ｅＲに切り換り通常のサーボ動作に復帰する。
以上述べたように本発明によれば、きわめて簡単な回路
構成にてディスクの傷を正確に検出する検出装置を実現
することができる。
また本発明によればディスクに傷などがあってトラッキ
ングサーボの誤差信号を検出できな（なった場合でも、
ピックアップアクチェエータの駆動信号をピックアップ
が傷に突入した瞬間のトラック誤差信号の一定値にホー
ルドするようにしたため、傷がある期間に対しても模擬
的なサーボループを構成することができ、トラックジャ
ンプの少ないサーボ回路を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
矛１図はディスクのトラックーヒの信号ピッ）と６スポ
ツトの位置関係を示す図、牙２図は従来のトラッキング
サーボ回路を示す図、牙３図は本発明の一実施例を示す
図、牙４図は牙６図の動作説明用波形図、矛５図は本発
明の他の実施例を示す図、１・６図は牙５図の動作説明
用波形図、牙７図は本発明のさらに他の実施例を示す図
、牙８図は牙７図の具体的回路図、牙９図は矛４図の動
作説明用波形図である。 １４・・・ピックアップ １７Ｓ、１７・・・レベル検出器 １８・・・電圧比較器 ２０・・・傷検出装置 ２３・・・サンプル・ホールド回路 ２４・・・切り換え装置。 、−・。 ′Ｐ′１　図 才２図 才３図 才４　図 （Ｃン。＃　　　　　　　　　ｉ：ｅ０３−才５　図 ９ 才乙閉

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、　光学式などのピックアップを用いたディスクの再
    生装置において、前記ピックアップ出力の記録情報信号
    の最大値レベルを検出する牙１のレベル検出器と、前記
    記録情報信号の最大値レベルの変化を検出する矛２のレ
    ベル検出器、および該第１と該第２のレベル検出器出力
    とを比較する比較器より成ることを特徴とするディスク
    再生装置。 ２、　前記牙１若しくは前記矛２のレベル検出器出力を
    レベルシフト回路を介した後に前記比較器で比較する特
    許請求の範囲牙１項記載のディスク再生装置。 ３、　光学式などのピックアップを用いたディスクの再
    生装置において、前記ピックアップ出力の記録情報信号
    の最大値レベルを検出する矛１のレベル検出器と、前記
    記録情報信号の最大値レベルの変化を検出する牙２のレ
    ベル検出器、および該第１と該第２のレベル検出器出力
    とを比較する比較器を含む傷検出装置と前記ピックアッ
    プにより検出したトラッキング誤差信号をサンプＭホー
    ルドするサンプルホールド回路と前記ピックアップの駆
    動装置の入力信号を切り換える切り換え装置を備え、前
    記ディスクに傷がある場合は前記傷検出回路出力により
    前記サンプルホールド回路を動作させると共に前記切り
    換え装置を制御して前記ビツクア・ツブ駆動装置の駆動
    信号を前記サンプル・ホールド回路出力に切り換えるこ
    とを特徴とするディスク再生装置。
JP57149311A 1982-08-30 1982-08-30 デイスク再生装置 Granted JPS5940326A (ja)

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