JPS6182646A - 電界局在化手段を有する電子増倍装置 - Google Patents
電界局在化手段を有する電子増倍装置Info
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- JPS6182646A JPS6182646A JP60098868A JP9886885A JPS6182646A JP S6182646 A JPS6182646 A JP S6182646A JP 60098868 A JP60098868 A JP 60098868A JP 9886885 A JP9886885 A JP 9886885A JP S6182646 A JPS6182646 A JP S6182646A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/06—Electrode arrangements
- H01J43/18—Electrode arrangements using essentially more than one dynode
- H01J43/22—Dynodes consisting of electron-permeable material, e.g. foil, grid, tube, venetian blind
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Common Detailed Techniques For Electron Tubes Or Discharge Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電子増倍装置、特に光電子増倍管に関するも
のである。
のである。
フランス特許第2,445,018号明細書(または、
米国特許第4,339,684号)には、「局在化」可
能な電子増倍管について述入でいる。
米国特許第4,339,684号)には、「局在化」可
能な電子増倍管について述入でいる。
このような電子増倍管内では、出力陽極上での二次電子
の分布センタは、増倍管の導入窓上で増幅されるべき放
射線の衝撃点位置に、成る程度相当する6 ″放射線″
なる語は、ここでは広い意味で用いるもので、その理由
は、二次電子の発生をひき起こし得る光子、電子、その
他の荷電粒子を指して言うからである。
の分布センタは、増倍管の導入窓上で増幅されるべき放
射線の衝撃点位置に、成る程度相当する6 ″放射線″
なる語は、ここでは広い意味で用いるもので、その理由
は、二次電子の発生をひき起こし得る光子、電子、その
他の荷電粒子を指して言うからである。
上述の電子増倍管は、完全に満足できるもので。
特に空間分解能に関して満足すべきものであるが、しか
し、これを達成するには、電子増倍装置が。
し、これを達成するには、電子増倍装置が。
いかなる場合にも備えなければならない電子加速電界に
磁界が重ねられることである。
磁界が重ねられることである。
磁界を供給するに必要な手段の傾向として、電子増倍装
置の措造が複雑化し易く、また経費増大になりがちなこ
とである。これら磁気手段は、場所を占めるので、電子
増倍のための空間が低減される傾向があり、その結果、
電子増倍管の導入窓の寸法を減する傾向がある。
置の措造が複雑化し易く、また経費増大になりがちなこ
とである。これら磁気手段は、場所を占めるので、電子
増倍のための空間が低減される傾向があり、その結果、
電子増倍管の導入窓の寸法を減する傾向がある。
かくして、以下に説明するが、本発明の目的は、局在化
可能であるが、磁界を重ね合すこと無しに動作し、しか
も、電界と磁界とを組合せた従来の手段によって得られ
るものに匹敵し得る、または少なくともほぼ匹敵し得る
局在化特性を備えた電子増倍管を提供するための課題を
解決することである。
可能であるが、磁界を重ね合すこと無しに動作し、しか
も、電界と磁界とを組合せた従来の手段によって得られ
るものに匹敵し得る、または少なくともほぼ匹敵し得る
局在化特性を備えた電子増倍管を提供するための課題を
解決することである。
本発明は、真空管内において、導入窓と出力陽極との間
に配置されて、二次電子放出の可能である複数個のダイ
ノード段を限定する連続する平面平行電極群と、および
上記側々の電極に接続されて、これ等電極間に電子加速
電界を、該電界の−膜方向が前記電極群に垂直であるよ
うに形成するための手段とを具備する電子増倍装置を提
供することにある。
に配置されて、二次電子放出の可能である複数個のダイ
ノード段を限定する連続する平面平行電極群と、および
上記側々の電極に接続されて、これ等電極間に電子加速
電界を、該電界の−膜方向が前記電極群に垂直であるよ
うに形成するための手段とを具備する電子増倍装置を提
供することにある。
この提案された電子増倍装置は、磁界を利用した従来の
ものと比較して、構造的に、数点について同じである。
ものと比較して、構造的に、数点について同じである。
即ち、いずれの場合も、各ダイノード段が連続する2平
面によって限定され、各平面は、平行ラミネーション群
に互いに連結されることによって構成されている。
面によって限定され、各平面は、平行ラミネーション群
に互いに連結されることによって構成されている。
これらラミネーションは、互いに関して対として、次の
ように、即ち、1対のラミネーションが共に、これらに
垂直な電子軌道に対するバッフル、その他の妨害手段を
構成するように、互いに埋合せした配置に置かれている
。
ように、即ち、1対のラミネーションが共に、これらに
垂直な電子軌道に対するバッフル、その他の妨害手段を
構成するように、互いに埋合せした配置に置かれている
。
この4W造的類似性にもかかわらず、一方の、即ち、電
界と磁界の両方で得られる電子軌道と、他方の、即ち、
電界のみを用いて得られる軌道とは全く違っていること
に原因して、面電子増倍装置の動作が全く相違すると言
う点に重要性がある。
界と磁界の両方で得られる電子軌道と、他方の、即ち、
電界のみを用いて得られる軌道とは全く違っていること
に原因して、面電子増倍装置の動作が全く相違すると言
う点に重要性がある。
電界のみを利用する場合には1局在化が、二次電子の、
初期速度の構成分によってひき起される側方経路によっ
て、必然的に限定される。
初期速度の構成分によってひき起される側方経路によっ
て、必然的に限定される。
本発明は、利得と分解能の間の相関−これは、側方経路
の変動値(要因)に対し、逆の制約を課するもの−を達
成すへく、問題を解決するために、好適な幾何学的形状
を有する構造体を用いるものである。かくして、これは
、本発明の第1の特徴をなすものである。
の変動値(要因)に対し、逆の制約を課するもの−を達
成すへく、問題を解決するために、好適な幾何学的形状
を有する構造体を用いるものである。かくして、これは
、本発明の第1の特徴をなすものである。
本発明は、さらに、各ダイノード段が、次のように、即
ち、各々の第1平面のラミネーションから効果的に発生
する二次電子の大部分が、各々の第2平面のラミネーシ
ョンに打ち当らないように配置され、並びに、連続する
2つのダイノード段の間の距離が、単一段の2平面間の
距離に比して大きく、かつ上記電界の関数として1次の
ように。
ち、各々の第1平面のラミネーションから効果的に発生
する二次電子の大部分が、各々の第2平面のラミネーシ
ョンに打ち当らないように配置され、並びに、連続する
2つのダイノード段の間の距離が、単一段の2平面間の
距離に比して大きく、かつ上記電界の関数として1次の
ように。
即ち、上流段からの二次電子群が、下流段における制約
された数のラミネーション群を濃縮された分布状態で打
ち当るように選ばれることを特徴としている。
された数のラミネーション群を濃縮された分布状態で打
ち当るように選ばれることを特徴としている。
各ダイノード段の与えられた平面のラミネーションから
″効果的に”発生すると言う表現は、ここでは、二次電
子が、その起源であるラミネーションによっても、同一
平面内の他のラミネーションによっても再び捕えられる
かも知れないことを考慮して用いられている。
″効果的に”発生すると言う表現は、ここでは、二次電
子が、その起源であるラミネーションによっても、同一
平面内の他のラミネーションによっても再び捕えられる
かも知れないことを考慮して用いられている。
本発明は他に、次の特徴、即ち、個々のラミネーション
が、プリズム状または円筒形で、その横断面が導入窓へ
向かって突出し、該突出の片側で、二次電子放出可能な
2側面を有するものであること、並びにダイノード段と
ダイノード段の間の距離が、次のように、即ち、上流の
ダイノード段からの二次電子が、下流のダイノード段の
ラミネーションそれぞれの各側面にほぼ釣合った状態で
打ち当たり、上記各側面が対称的な傾斜を有し、これに
よって、局在化において、いかなる系統的偏りもないよ
うに構成された特徴を有する。
が、プリズム状または円筒形で、その横断面が導入窓へ
向かって突出し、該突出の片側で、二次電子放出可能な
2側面を有するものであること、並びにダイノード段と
ダイノード段の間の距離が、次のように、即ち、上流の
ダイノード段からの二次電子が、下流のダイノード段の
ラミネーションそれぞれの各側面にほぼ釣合った状態で
打ち当たり、上記各側面が対称的な傾斜を有し、これに
よって、局在化において、いかなる系統的偏りもないよ
うに構成された特徴を有する。
本発明の選定実施例として、各ラミネーションの横断面
が、約40°〜70′範囲の互いに等しい2つの頂角を
有するほぼ二等辺三角形である。
が、約40°〜70′範囲の互いに等しい2つの頂角を
有するほぼ二等辺三角形である。
この三角形は、当然、曲線三角形、即ちその各辺が、成
るサイズの複数個のラミネーションからなる装置の製造
に適用される加工許容差内で、成る程度変形可能である
として良い。
るサイズの複数個のラミネーションからなる装置の製造
に適用される加工許容差内で、成る程度変形可能である
として良い。
本発明は、さらに他の特徴、即ち、上流のダイノード段
におけるラミネーションの与えら九だ側面から発生する
二次電子の大部分が5次の下流ダイノード段の第1平面
においては、2つの隣り合うラミネーションに、および
第2平面においては、1ラミネーシヨンのみに打ち当る
。と言う特徴を有する。
におけるラミネーションの与えら九だ側面から発生する
二次電子の大部分が5次の下流ダイノード段の第1平面
においては、2つの隣り合うラミネーションに、および
第2平面においては、1ラミネーシヨンのみに打ち当る
。と言う特徴を有する。
本発明はまた、連続するダイノード段間の距離を、上流
側ダイノード段から発生する二次電子の下流側ダイノー
ド段に対する衝撃が、僅かに不均衡な対称形になるよう
に選ばれる。と言う利点を有する。
側ダイノード段から発生する二次電子の下流側ダイノー
ド段に対する衝撃が、僅かに不均衡な対称形になるよう
に選ばれる。と言う利点を有する。
上述の変動値は、個々の実施例によって異なるが、現在
のところ、次のように見なされている。
のところ、次のように見なされている。
連続するダイノード段間の距離は、ラミネーションの見
かけの幅の約8〜10倍とすべきである。
かけの幅の約8〜10倍とすべきである。
単一ダイノード段の2平面間の距離は、連続する2ダイ
ノ一ド段階間の距離の約1/4とすべきである。
ノ一ド段階間の距離の約1/4とすべきである。
ラミネーションの見かけの幅(ほぼ全幅に相当する)は
、約0.5mm以下とすべきである。
、約0.5mm以下とすべきである。
電子増倍管内の平均電界は、約500V/ an以上と
すべきである。並びに 効果的に放出される二次電子の初期エネルギーは、約5
EV以上とすることが好ましく、数十EVであっても良
い。
すべきである。並びに 効果的に放出される二次電子の初期エネルギーは、約5
EV以上とすることが好ましく、数十EVであっても良
い。
電子増倍管内のすべてのラミネーションは、平行配置さ
れて良いが、曲性化特性は1個々のラミネーションを、
各ダイノード段階について異なる方向に規則正しく配向
することによって改善され得る。最も簡単には、成るダ
イノード段階のラミネーション(複数)が、直前のダイ
ノード段のラミネーション(複数)に垂直としたもので
ある。
れて良いが、曲性化特性は1個々のラミネーションを、
各ダイノード段階について異なる方向に規則正しく配向
することによって改善され得る。最も簡単には、成るダ
イノード段階のラミネーション(複数)が、直前のダイ
ノード段のラミネーション(複数)に垂直としたもので
ある。
本発明は、さらにまた、単離された光電子(または、単
離状態で入射された荷電粒子)の検出を向上するもので
ある。この目的のため、単一ダイノード段の2平面間の
電圧が、少なくとも第1ダイノード段においては、約5
0V程度にまでして良し1a 本発明は、さらにまた、電子増倍装置の空間分解能を最
適にするため、各電極へ印加される電圧を調節するため
の手段を備える、と言う特徴を有する。
離状態で入射された荷電粒子)の検出を向上するもので
ある。この目的のため、単一ダイノード段の2平面間の
電圧が、少なくとも第1ダイノード段においては、約5
0V程度にまでして良し1a 本発明は、さらにまた、電子増倍装置の空間分解能を最
適にするため、各電極へ印加される電圧を調節するため
の手段を備える、と言う特徴を有する。
電子増倍装置は、用途に応じて、第1ダイノードの股付
近に、陰極または光電陰極を備えても良し)。
近に、陰極または光電陰極を備えても良し)。
電子増倍装置には、従来の電極で十分である場合もある
が、多重連結の分割陽極、電界発光表面、抵抗性陽極、
その他局注性を用い得るよう改良する等価のいかなる手
段でも備えることが、好ましい。
が、多重連結の分割陽極、電界発光表面、抵抗性陽極、
その他局注性を用い得るよう改良する等価のいかなる手
段でも備えることが、好ましい。
本発明においては、電子増倍管の構成部分についての幾
何学的形態が重要である。以下、図面を参照して、本発
明の詳細な説明する。
何学的形態が重要である。以下、図面を参照して、本発
明の詳細な説明する。
先ず、光電子増倍管について述べる。
この管内では、入射信号が光子によって伝えられ、その
結果、直接に、或いは光電陰極を経て、電子増倍管のダ
イオードを励起し得る。しかし、本発明は、光子以外の
ソース、例えば電子自体または、電子増倍管への入力信
号を限定し得る他種の荷電粒子にも適用できる。
結果、直接に、或いは光電陰極を経て、電子増倍管のダ
イオードを励起し得る。しかし、本発明は、光子以外の
ソース、例えば電子自体または、電子増倍管への入力信
号を限定し得る他種の荷電粒子にも適用できる。
第1図および第2図において、光電子増倍管は。
複数の構成部分を包囲する真空室(TPM)を備える。
第1図に示すように、この真空室は、その頂部に導入窓
(FE)を有する。この窓の真背後に、近接光電陰極(
ppc)が配置されているにの光電陰極(ppc)から
下方へζ順に510ダイノ一ド段階(D、〜D工。)が
ある。
(FE)を有する。この窓の真背後に、近接光電陰極(
ppc)が配置されているにの光電陰極(ppc)から
下方へζ順に510ダイノ一ド段階(D、〜D工。)が
ある。
さらに下方に、″モザイク状に分割された陽極がある。
この陽極は、列A、やAiのような素子の多数からなり
、各素子は、それぞれ、個々の出力電線、たとえばEA
lやEAiに接続される。陽極アセンブリはAnで符示
する。他の電線、例えばElおよびEjは、光電子増倍
管の個々の内部電極をそれ等の動作に適した電位にまで
上昇させるのに役立つ。
、各素子は、それぞれ、個々の出力電線、たとえばEA
lやEAiに接続される。陽極アセンブリはAnで符示
する。他の電線、例えばElおよびEjは、光電子増倍
管の個々の内部電極をそれ等の動作に適した電位にまで
上昇させるのに役立つ。
第2図は、全体として円形状をなし、ダイノード群を支
持する支持構造体(sp)を図示している。
持する支持構造体(sp)を図示している。
これは、絶縁支柱(複数)(CP)を備えている。
第3図は、光電子増倍管と関連する電気回路を図示した
もので、鎖線は真空室囲いを示す。同図において、各ダ
イノード段階1例えばDlには、本発明により、2つの
レベルまたは(水)平面にそれぞれ位置する電極、例え
ばD1□およびD工2が存在し、これ等は、光電子増倍
管の電界軸(F)に沿って順に背後に配置され、かつ該
電界軸に垂直に伸びている。
もので、鎖線は真空室囲いを示す。同図において、各ダ
イノード段階1例えばDlには、本発明により、2つの
レベルまたは(水)平面にそれぞれ位置する電極、例え
ばD1□およびD工2が存在し、これ等は、光電子増倍
管の電界軸(F)に沿って順に背後に配置され、かつ該
電界軸に垂直に伸びている。
近接光電陰極(PPC)は、電線E工を経て電圧−HT
に接続し、他端では、電aEよを経て接地されている。
に接続し、他端では、電aEよを経て接地されている。
複数個の抵抗からなる分圧器回路網は、給電線E2およ
びE□間に接続され、ダイノード面の各々に適当な電圧
が印加されている。この印加電圧によって、各ダイノー
ド面間の電位差、および従って電界が限定される。各抵
抗は、電界ができるだけ均一になるように選定される。
びE□間に接続され、ダイノード面の各々に適当な電圧
が印加されている。この印加電圧によって、各ダイノー
ド面間の電位差、および従って電界が限定される。各抵
抗は、電界ができるだけ均一になるように選定される。
実際上、並びに両端抵抗R8およびR3を無視し、各ダ
イノードの第1面1例えばダイノードD2の面D12ど
の間に抵抗R□が配置される。これより。
イノードの第1面1例えばダイノードD2の面D12ど
の間に抵抗R□が配置される。これより。
低い抵抗R2が各ダイノード段階の2つの平面の間、例
えばダイノードD2の両面D2□およびD2□間に配置
される。
えばダイノードD2の両面D2□およびD2□間に配置
される。
この一連の抵抗回路網に沿って、一定の各点において、
キャパシタンスを特に最終段階に加えることが必要であ
る場合がある。各陽極Anは、個々の抵抗を経て接地さ
れている。
キャパシタンスを特に最終段階に加えることが必要であ
る場合がある。各陽極Anは、個々の抵抗を経て接地さ
れている。
第4図は、2つの連続ダイノード段階を拡大図示したも
ので、これらは1例えばD工およびD2の両段階である
。
ので、これらは1例えばD工およびD2の両段階である
。
上述のように、段階D4は、ダイノード素子の2つの面
D1.およびDi2を含む。段階D2もまた、ダイノー
ド素子の両面であるD2□およびD2□を含む。
D1.およびDi2を含む。段階D2もまた、ダイノー
ド素子の両面であるD2□およびD2□を含む。
これらダイノード素子の各々は1個々に、プリズム状ま
たは円筒形のラミネーションで、これらは、付属する素
子に対し平行に伸び、かつ同一面内にある。これらラミ
ネーションは、導入窓(FE)へ向って見たそれらの面
上で、二次電子放出の行なわれる性質に有するように、
適当に処理されている。
たは円筒形のラミネーションで、これらは、付属する素
子に対し平行に伸び、かつ同一面内にある。これらラミ
ネーションは、導入窓(FE)へ向って見たそれらの面
上で、二次電子放出の行なわれる性質に有するように、
適当に処理されている。
即ち、これらラミネーションは、光子または荷電粒子、
例えば電子がP方向で到達した時、二次電子を発生する
。方向Pは、軸Fの一般方向一これに沿って、光電子増
倍管内の電界がほぼ設立されている−に平行であるか、
或いはごく僅か傾いている。
例えば電子がP方向で到達した時、二次電子を発生する
。方向Pは、軸Fの一般方向一これに沿って、光電子増
倍管内の電界がほぼ設立されている−に平行であるか、
或いはごく僅か傾いている。
現今では、ダイノード素子の形状として、二等辺三角形
の横断面を有する棒状体が最良であると考えられている
。2等辺三角形の互いに等しい角で挾まれた底辺Bは、
−膜方向Fに垂直で、下流に向いている。また、二等辺
三角形の互いに等しい両辺りおよびRは、二次電子放出
が可能であるように作られており、図から分かるように
、一般入射方向Pに関して対称に配置されている。また
、図示したように、各ラミネーションは、直角二等辺三
角形の横断面を有している。
の横断面を有する棒状体が最良であると考えられている
。2等辺三角形の互いに等しい角で挾まれた底辺Bは、
−膜方向Fに垂直で、下流に向いている。また、二等辺
三角形の互いに等しい両辺りおよびRは、二次電子放出
が可能であるように作られており、図から分かるように
、一般入射方向Pに関して対称に配置されている。また
、図示したように、各ラミネーションは、直角二等辺三
角形の横断面を有している。
ラミネーションの見かけの幅″は、方向Fに対し垂直に
ある全体幅であるとして定義されて良い。この場合、パ
見かけの幅″は、直角三角形の底辺Bの長さに等しく、
0.5mである。また、同一ダイノード面内にある2つ
のラミネーションの隣り合う頂点間の距離も同じ< 0
.5nnである。
ある全体幅であるとして定義されて良い。この場合、パ
見かけの幅″は、直角三角形の底辺Bの長さに等しく、
0.5mである。また、同一ダイノード面内にある2つ
のラミネーションの隣り合う頂点間の距離も同じ< 0
.5nnである。
さらに、ダイノード段の二次面の、例えば段階D4の面
D1□における各ラミネーションは、前段の面、即ち、
面D□1のラミネーションとラミネーションとの間に配
置されている。かくして、ダイノード単段の2つの面に
おけるダイノードエレメント群からなるアセンブリは、
見かけ上、方向Fに平行な電子経路に対する妨害物、即
ちパンフルとしで働く。
D1□における各ラミネーションは、前段の面、即ち、
面D□1のラミネーションとラミネーションとの間に配
置されている。かくして、ダイノード単段の2つの面に
おけるダイノードエレメント群からなるアセンブリは、
見かけ上、方向Fに平行な電子経路に対する妨害物、即
ちパンフルとしで働く。
次に、単段階における両ダイノードD工□およびD1□
の両面間の、方向Fに沿って測定した距踵をZoとして
表わす。2工は、2つの連続するダイノード段階の間1
例示した図では、第1段階D1の第1面D1□と、第2
段階D2の第1面D工2との間で、同様に測定された距
離を指す。なおZ□は、Zoの約4倍であることが好ま
しい。
の両面間の、方向Fに沿って測定した距踵をZoとして
表わす。2工は、2つの連続するダイノード段階の間1
例示した図では、第1段階D1の第1面D1□と、第2
段階D2の第1面D工2との間で、同様に測定された距
離を指す。なおZ□は、Zoの約4倍であることが好ま
しい。
特別な実施例においては、Z、=1mm、Z工=4mで
あるが、この場合、2つのダイノード段階間の距離は、
個々のダイノード素子を構成するラミネーションの見か
けの幅の約8〜10倍になる。
あるが、この場合、2つのダイノード段階間の距離は、
個々のダイノード素子を構成するラミネーションの見か
けの幅の約8〜10倍になる。
さて、ラミネーションD工、。の右何面を発する二次電
子の軌道について、第4図を参照して考えることとする
。Nは、上記電子の出発点におけるこの直線側面に対し
、法線方向を指示している。
子の軌道について、第4図を参照して考えることとする
。Nは、上記電子の出発点におけるこの直線側面に対し
、法線方向を指示している。
二次電子放出の明期エネルギーの低限界および法線方向
Nから、三角法方向に取った電子放出角度の低限界とを
限定することが便利である。この電子放出角度は、もち
ろん、有効二次′な子、即ち。
Nから、三角法方向に取った電子放出角度の低限界とを
限定することが便利である。この電子放出角度は、もち
ろん、有効二次′な子、即ち。
ラミネーションの同一面によって再び捕えられない電子
に制限される。
に制限される。
ここに、 F77I(IIエネルギーが約5電子ボルト
より大きくなければならないこと、並びに初期電子放出
角度が45°以下でなければならない。即ち、有効二次
電子が、法線に対し、45°の開き度を有することが認
められた。
より大きくなければならないこと、並びに初期電子放出
角度が45°以下でなければならない。即ち、有効二次
電子が、法線に対し、45°の開き度を有することが認
められた。
また、その場合、ラミネーションが、 500V/mの
電界に対し、0.5nwn以下でなければならないこと
も認められた。この電界値は、Zo=1nynとして、
ダイノード段工の2面D1□および012間の電圧50
ボルトに相当する。
電界に対し、0.5nwn以下でなければならないこと
も認められた。この電界値は、Zo=1nynとして、
ダイノード段工の2面D1□および012間の電圧50
ボルトに相当する。
この限界より大きい場合は、ラミネーションによって放
出される二次電子の主要部分が、元の電子放出面によっ
て、その高電界のために、再び捕えられることになる。
出される二次電子の主要部分が、元の電子放出面によっ
て、その高電界のために、再び捕えられることになる。
このような考えは、法線Nに関する二次電子の放出角度
θを支配するコサイン法則を考慮した結果である。
θを支配するコサイン法則を考慮した結果である。
なお、これら電子は、隣りのラミネーションD工□、の
存在のために濾過されるエネルギーである。ラミネーシ
ョンD工□。を効果的に発する二次電子のエネルギーは
、数十倍の電子ボルトで形成されるが、特別な例では、
約15電子ボルトでも可能であることが認められた。
存在のために濾過されるエネルギーである。ラミネーシ
ョンD工□。を効果的に発する二次電子のエネルギーは
、数十倍の電子ボルトで形成されるが、特別な例では、
約15電子ボルトでも可能であることが認められた。
かくして、電子放出角度を、例えばθ=O°とした場合
、最低エネルギー軌道Till1inと最高エネルギー
軌道Timaxがあり、それぞれ5EVおよび151E
Vに相当する。
、最低エネルギー軌道Till1inと最高エネルギー
軌道Timaxがあり、それぞれ5EVおよび151E
Vに相当する。
実際、これらの軌道は、次のダイノード段階D2の第1
而D21の一部をなす両ラミネーションD211および
D2□2のみに打ち当る。また、これら極端な値に近い
エネルギーを持つ軌道は、上記の極端なラミネーション
に打ち当る。
而D21の一部をなす両ラミネーションD211および
D2□2のみに打ち当る。また、これら極端な値に近い
エネルギーを持つ軌道は、上記の極端なラミネーション
に打ち当る。
しかしながら、中間エネルギーを有する軌道の一部は、
D21□とD2.2との間を通過し、ダイノード段階D
2の第2而D2□の中間にあるラミネーションD22□
の2つの側面に打ち当る。Tmedで符示された中間軌
道は、約10EVに相当する。
D21□とD2.2との間を通過し、ダイノード段階D
2の第2而D2□の中間にあるラミネーションD22□
の2つの側面に打ち当る。Tmedで符示された中間軌
道は、約10EVに相当する。
注意深いIHIQによって、両ラミネーションD2□2
とD2□2の間を通過する軌道Texの存在するのが見
られる。しかし、このような軌道は、放出される二次電
子の極めて僅かの部分(確率的意味において)しか構成
しない。このような軌道に沿って伝搬していく二次電子
は、いかなる場合にも。
とD2□2の間を通過する軌道Texの存在するのが見
られる。しかし、このような軌道は、放出される二次電
子の極めて僅かの部分(確率的意味において)しか構成
しない。このような軌道に沿って伝搬していく二次電子
は、いかなる場合にも。
次のダイノード段階によって捕えられることになる。
さらに1両うミネーションD2□2およびD2□2の鋭
い頂角のために、電界内では当然のエツジ効果が、この
ような逃飛電子を、大抵は、捕えるのに役立つ。
い頂角のために、電界内では当然のエツジ効果が、この
ような逃飛電子を、大抵は、捕えるのに役立つ。
どちらの場合にも、このような逃飛軌道に沿って飛行す
る電子は、ほぼすべて、ダイノード段階D2で二次電子
を発生するが、これは、3つのラミネーションD2□0
,0.1□およびD2□2に打ち当るような軌道で飛行
する電子と全く同様である。
る電子は、ほぼすべて、ダイノード段階D2で二次電子
を発生するが、これは、3つのラミネーションD2□0
,0.1□およびD2□2に打ち当るような軌道で飛行
する電子と全く同様である。
以上、第1ダイノード段階の第1面から放出される二次
電子について説明したが、二次面でも、同様な局限化の
可能性(第4図参照)を与えることが認められている。
電子について説明したが、二次面でも、同様な局限化の
可能性(第4図参照)を与えることが認められている。
上述の動作条件では、電子軌道のX−2面への投影のみ
についてのものであるが、しかし、適正な局限化は、X
方向においてのみならず、Y方向においても得られるこ
とが認められている。
についてのものであるが、しかし、適正な局限化は、X
方向においてのみならず、Y方向においても得られるこ
とが認められている。
上述したことは、次のように纒められる。
連続した2つのダイノード段階間の距9a Z工は。
単段の2つの面の間の距離z0に比して大きいが、この
2工は、電界の関数として、次のように、即ち、上流の
ダイノード段D□からの二次電子が。
2工は、電界の関数として、次のように、即ち、上流の
ダイノード段D□からの二次電子が。
濃縮された分布状態で、下流段D2における少数のラミ
ネーションに打ち当るように、調節されても良い。
ネーションに打ち当るように、調節されても良い。
さらに、用いられるラミネーションが、(この場合も同
じであるが)軸Fに関して対称である時、距離Z4は、
「上流のダイノード段の第1面からの二次電子が、やは
り対称的に傾斜してほぼ釣合のよれるようになっている
下流ダイノード段での側面に打ち当るように」選ばれる
とよいことが認められている。
じであるが)軸Fに関して対称である時、距離Z4は、
「上流のダイノード段の第1面からの二次電子が、やは
り対称的に傾斜してほぼ釣合のよれるようになっている
下流ダイノード段での側面に打ち当るように」選ばれる
とよいことが認められている。
同様のことは、2次面または上流段階からくる二次電子
に適用される。
に適用される。
さらに、ラミネーションの長寸法に平行なY方向におけ
る分布が、上流段階の各々において二次電子の両側経路
のm純な回旋によって説明のつくことが認められている
。第5図を参照のこと。
る分布が、上流段階の各々において二次電子の両側経路
のm純な回旋によって説明のつくことが認められている
。第5図を参照のこと。
第5図は、p=q(ここにpおよびqは、それぞれ次の
ダイノード段における各ラミネーションの右側面および
左側面に打ち当る確率である)を特徴とする2項確率分
布を示す。
ダイノード段における各ラミネーションの右側面および
左側面に打ち当る確率である)を特徴とする2項確率分
布を示す。
丸の中の数字は、二次電子が、第1ダイノード段(n=
1)での単一電子から出発して、続く諸般階、即ち、陽
極に対し垂直な軸を下方へ順に番号の増大するダイノー
ド段において、そこに形成される確率に比例する。また
、水平軸は、ダイノード段間における二次電子の平均側
方経路を単位で表わした距離に相当する。これらの距離
は、X(ρ)で指示されている。
1)での単一電子から出発して、続く諸般階、即ち、陽
極に対し垂直な軸を下方へ順に番号の増大するダイノー
ド段において、そこに形成される確率に比例する。また
、水平軸は、ダイノード段間における二次電子の平均側
方経路を単位で表わした距離に相当する。これらの距離
は、X(ρ)で指示されている。
以上から、X方向においては、二次電子の高度に濃縮さ
れた分布の得られること、並びに、この分布が初期軸F
、にほぼ集中されているように見える。この軸からのず
れは、主として、第に二次電子を生じるラミネーション
の側面の傾斜に原因する。
れた分布の得られること、並びに、この分布が初期軸F
、にほぼ集中されているように見える。この軸からのず
れは、主として、第に二次電子を生じるラミネーション
の側面の傾斜に原因する。
しかしながら、Fo軸に関する二次電子束における系統
的偏流−これは、各ダイノード段を順次(p=qと仮定
して)経るに従って増幅される−の無いことが確認され
た。結果として、左側の円内番号(126)が第5図の
軸F。上にあるので、側方オフセットは僅かであるが、
他方の円内番号(126)は、前のものの右側にあり、
かくして、分布の全体的ずれに相当する。このずれは、
pおよびqの値を約10%変更することによって補正さ
れて良いことが認められている。
的偏流−これは、各ダイノード段を順次(p=qと仮定
して)経るに従って増幅される−の無いことが確認され
た。結果として、左側の円内番号(126)が第5図の
軸F。上にあるので、側方オフセットは僅かであるが、
他方の円内番号(126)は、前のものの右側にあり、
かくして、分布の全体的ずれに相当する。このずれは、
pおよびqの値を約10%変更することによって補正さ
れて良いことが認められている。
これは、当業者に理解されるように、距fiZ□に作用
することによって得られるかもしれない。
することによって得られるかもしれない。
しかし、この作用は、最初の二次電子を形成するラミネ
ーションの面、即ち側面の傾斜とは関係なく、同様に行
われる。
ーションの面、即ち側面の傾斜とは関係なく、同様に行
われる。
二次電子の平均側方経路ρ(E、Z)は、この電子増倍
装置において決定的な役割を果すが、ダイノードの幾何
形状が、この変動値に基づいて限定され得ることが分か
った。例えば、ラミネーションQの幅は、ρCE、7.
= Q /2)がQ10より大きく(高利得の場合)、
シかし、ρ(E、 Z=Z□)ができるだけ小さい(好
適な限局な場合)ように選ばれる。
装置において決定的な役割を果すが、ダイノードの幾何
形状が、この変動値に基づいて限定され得ることが分か
った。例えば、ラミネーションQの幅は、ρCE、7.
= Q /2)がQ10より大きく(高利得の場合)、
シかし、ρ(E、 Z=Z□)ができるだけ小さい(好
適な限局な場合)ように選ばれる。
距雛Z工は、同様に、分解能、ρ(E、 Z=Z1)と
。
。
ρに比例もする電子分布の幅との間の相関として選ばれ
、かつまた、系統的Xの偏流を避けるために、Qに比し
て十分に大きくなければならない。
、かつまた、系統的Xの偏流を避けるために、Qに比し
て十分に大きくなければならない。
上述したような構成を有する光電子増倍装置は、次・の
ように構成された管内に収納されると良い。
ように構成された管内に収納されると良い。
即ち。
高さ:約65m、外径=134m、導入窓の直径:10
0mm(この窓は、近接光電陰極を備えており)。
0mm(この窓は、近接光電陰極を備えており)。
単一ダイノード段における2つの面間の電位差が約50
Vで、かつ2つのダイノード段間の電位差が約200v
である上述した通りのダイノード諸般。
Vで、かつ2つのダイノード段間の電位差が約200v
である上述した通りのダイノード諸般。
約0.5nmの隙間でそれぞれ分離された約7×7II
WII2の素子164個からなる陽極、並びに。
WII2の素子164個からなる陽極、並びに。
10ダイノード段で、得られた利得が10°〜107で
ある。
ある。
結果した分解能は、ラミネーションの長手方向を横切る
X方向において約+2nwnであり、ラミネーションの
長手方向に平行であるY方向において約10mmである
。ほぼ同じresolutionは、ラミネーションの
面の構造が全く等方性を有しないとしても、X方向でも
Y方向においても得られることが分かった。
X方向において約+2nwnであり、ラミネーションの
長手方向に平行であるY方向において約10mmである
。ほぼ同じresolutionは、ラミネーションの
面の構造が全く等方性を有しないとしても、X方向でも
Y方向においても得られることが分かった。
XおよびY両分解能を、さらに等しくするためには、連
続ダイノード段におけるラミネーションの長手方向を横
切るのが可能である。また、最適な空間分解能は、′に
界全体に作用する高張力を調節することにより容易に得
られるか、或いは連続段の間の電界、および与えられた
ダイノード段の面間の電界に対するより微細な作用によ
っても、容易に得られる。
続ダイノード段におけるラミネーションの長手方向を横
切るのが可能である。また、最適な空間分解能は、′に
界全体に作用する高張力を調節することにより容易に得
られるか、或いは連続段の間の電界、および与えられた
ダイノード段の面間の電界に対するより微細な作用によ
っても、容易に得られる。
このようにして得られた光電子増倍管は、非常に大きな
活性表面積を有し、並びにその感度は、従来の光電子増
倍管のそれに匹敵し得る。
活性表面積を有し、並びにその感度は、従来の光電子増
倍管のそれに匹敵し得る。
空間の分解能は、ダイノード・ラミネーションのサイズ
Qを減することによって、かつまた、それに対応して、
増倍管装置の電界および垂直寸法(或いは長さ;1法)
を減することによって、一層改良し?i)る。
Qを減することによって、かつまた、それに対応して、
増倍管装置の電界および垂直寸法(或いは長さ;1法)
を減することによって、一層改良し?i)る。
このような分解能の特性によって、多くの用途に十分役
立つが、特に、X線やγ線による結像に関する用途に適
している。
立つが、特に、X線やγ線による結像に関する用途に適
している。
例えば、アンガー型のカメラ(これは10mm厚さの沃
化ナトリウムの結晶と、この結晶と直接結合する検出器
としての2インチ光電子増倍管の回路網とからなってい
る)を用いて、γ線の結像実施時に1重心(baryc
enter)の計算後に得られる空間分解能は、最良で
約4mである。
化ナトリウムの結晶と、この結晶と直接結合する検出器
としての2インチ光電子増倍管の回路網とからなってい
る)を用いて、γ線の結像実施時に1重心(baryc
enter)の計算後に得られる空間分解能は、最良で
約4mである。
このような条件下では、約50mmであり、かつほぼ結
晶の厚さ、例えば20mn+であるシンチレーション・
ビームのスポット・サイズに比して余りにも小、 さ過
ぎる検出器の分解能によって、空間分解能が支配される
のが観察される。
晶の厚さ、例えば20mn+であるシンチレーション・
ビームのスポット・サイズに比して余りにも小、 さ過
ぎる検出器の分解能によって、空間分解能が支配される
のが観察される。
このような場合、制限された検出器分解能によっても、
最終分解能は、重要な因子により改善されよう。例えば
、10mmの光電子検出器を用いて、1.6mの最終分
解能が得られよう。
最終分解能は、重要な因子により改善されよう。例えば
、10mmの光電子検出器を用いて、1.6mの最終分
解能が得られよう。
これは、上に詳述した光電子増倍管を用いて容易に達成
し得る。
し得る。
以上から1本発明による電子増倍管を用いることによっ
て、応答時間および利得の直線性に関してだけでなく、
空間分解能についての優れた特性のもたらされることが
認められよう。
て、応答時間および利得の直線性に関してだけでなく、
空間分解能についての優れた特性のもたらされることが
認められよう。
第1図は、本発明による光電子増倍管の垂直断面図、
第2図は、面光′に子増倍管の横断面図。
第3図は、与えられた光電子増倍管中の電気接続を示す
電気回路図、 第4図は、第1図および第2図に示した光電子増倍管の
連続する2つのダイノード段階の一部を図解したもの、
および 第5図は、ラミネーション群の長手方向に垂直なX方向
における空間分解能の図解である。 D、〜D1oダイノード段 SP支持構造体PPC
近接光電陰極、 El、F、、電線An陰FAR
t 、R2抵抗 D1□。l DLLL ラミネーション Z。HZ
1距離ρ 平均側方経路 特許出願人 代理人 弁理士 竹 沢 荘 二;。 図面の浄書(内容に変更なし) FI G、 I FIG、 2 tn:l 161.1 ヒILt、 b 手粘2判行正書(方式) 「召和60年g月ノ乙日 持1γ1゛庁長官 宇 賀 道 部 殿2、発明の名称 電界n在化手段を有する電子増倍装置 7、補正の内容 (1)(2))別紙の通り(3)明
)II+ 6のaト書(内容に変更なし)(4)[4面
の浄J1(内容に変更’:!L、’b、60・曵・ 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 1、事件の表示 昭和60年特 許 願第98868号 2、発明の名称 電界局在化手段を有する電子増倍装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名 称 アジャンス ナショナル ドウヴエロリザシ
オン ドウ ラ ルシェルシ多4、代理人 (補正の内容) 明細書第16頁第18行の 「・・・対称に配置されている。」の後に「2つの等し
い角αは、40’乃至70’の範囲であれば好都合であ
る。」と加入する。 (以 上)
電気回路図、 第4図は、第1図および第2図に示した光電子増倍管の
連続する2つのダイノード段階の一部を図解したもの、
および 第5図は、ラミネーション群の長手方向に垂直なX方向
における空間分解能の図解である。 D、〜D1oダイノード段 SP支持構造体PPC
近接光電陰極、 El、F、、電線An陰FAR
t 、R2抵抗 D1□。l DLLL ラミネーション Z。HZ
1距離ρ 平均側方経路 特許出願人 代理人 弁理士 竹 沢 荘 二;。 図面の浄書(内容に変更なし) FI G、 I FIG、 2 tn:l 161.1 ヒILt、 b 手粘2判行正書(方式) 「召和60年g月ノ乙日 持1γ1゛庁長官 宇 賀 道 部 殿2、発明の名称 電界n在化手段を有する電子増倍装置 7、補正の内容 (1)(2))別紙の通り(3)明
)II+ 6のaト書(内容に変更なし)(4)[4面
の浄J1(内容に変更’:!L、’b、60・曵・ 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 1、事件の表示 昭和60年特 許 願第98868号 2、発明の名称 電界局在化手段を有する電子増倍装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名 称 アジャンス ナショナル ドウヴエロリザシ
オン ドウ ラ ルシェルシ多4、代理人 (補正の内容) 明細書第16頁第18行の 「・・・対称に配置されている。」の後に「2つの等し
い角αは、40’乃至70’の範囲であれば好都合であ
る。」と加入する。 (以 上)
Claims (13)
- (1)真空管内において、導入窓と出力陽極との間に配
置されて、二次電子放出の可能である複数個のダイノー
ド段を限定する連続する平面平行電極群と、上記個々の
電極に接続されて、これ等電極間に電子加速電界を、該
電界の一般方向が前記電極群に垂直であるように形成す
るための手段とを具備する電子増倍装置において、上記
ダイノード段の各々が、連続する2平面で限定され、該
各平面が、相互連結された平行ラミネーションによって
構成され、単一ダイノード段の2つの平面内におけるラ
ミネーションが、次のように、即ち、上記積層された2
平面が共に、これらラミネーションに垂直な電子軌道に
対する妨害物、またはバッフルを構成するように、互い
に埋め合せした配置に置かれ、各ダイノード段が、次の
ように、即ち、各々の第1平面のラミネーションから効
果的に発生する二次電子の大部分が、各々の第2平面の
ラミネーションに打ち当たらないように配置され、並び
に、連続する2つのダイノード段間の距離Z_1が、単
一段階の2平面間の距離Z_0に比して大きく、かつ上
記電界の関数として、次のように、即ち、上流段からの
二次電子群が、下流段における減数されたラミネーショ
ン群を濃縮された分布状態で打ち当るように選ばれるこ
とを特徴とする電子増倍装置。 - (2)個々のラミネーションが、プリズム状または円筒
形で、その横断面が導入窓へ向って突出し、二次電子放
出が可能で、電界の一般方向に関してほぼ対称に配置さ
れた2側面を有するものであること、並びにダイノード
段とダイノード段間の距離Z_1が、次のように、即ち
上流のダイノード段からの二次電子が、下流のダイノー
ド段のラミネーションそれぞれの対称に傾斜した各側面
に、ほぼ釣合った状態で打ち当るように、構成したこと
からなる特許請求の範囲第(1)項に記載の電子増倍装
置。 - (3)各ラミネーションの横断面が、40°〜70°範
囲の互いに等しい2つの頂角を有するほぼ二等辺三角形
である特許請求の範囲第(2)項に記載の電子増倍装置
。 - (4)連続するダイノード段間の距離Z_1を、上流側
ダイノード段からくる二次電子の下流側ダイノード段に
対する衝撃が、僅かに不均衡な対称形になるように選び
、これにより、各側面の傾斜に基づく空間的な位置のず
れを避けるようにした特許請求の範囲第(2)項または
第(3)項に記載の電子増倍装置。 - (5)各ラミネーションの見かけの幅が、 約0.5mm以下である特許請求の範囲第(5)項に記
載の電子増倍装置。 - (6)平均電界が、約500V/cm以上である特許請
求の範囲第(1)項に記載の電子増倍装置。 - (7)効果的に放出される二次電子の初期エネルギーが
、約5EV以上である特許請求の範囲第1項に記載の電
子増倍装置。 - (8)効果的に放出される二次電子の初期エネルギーを
、数十EV以下に制限したことを特徴とする特許請求の
範囲第(7)項に記載の電子増倍装置。 - (9)少なくとも2つの連続ダイノード段が、異なる方
向、好ましくは垂直方向に配向された特許請求の範囲第
(1)項に記載の電子増倍装置。 - (10)単一ダイノード段の二平面間の電圧が、少なく
とも初期において、50V以下とし、これにより、単独
に離された光電子の良好な検出を可能にした特許請求の
範囲第(1)項に記載の電子増倍装置。 - (11)分解能を最適にするように、各電極への印加電
圧を調節するための手段を備えることを特徴とする特許
請求の範囲第(1)項に記載の電子増倍装置。 - (12)第1ダイノードの付近に、陰極または光電陰極
を備えることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項に
記載の電子増倍装置。 - (13)多重に連結された分割陽極、電界発光表面、ま
たは抵抗性陽極を電極として用いる特許請求の範囲第(
1)項に記載の電子増倍装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8407142 | 1984-05-09 | ||
| FR8407142A FR2566175B1 (fr) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | Dispositif multiplicateur d'electrons, a localisation par le champ electrique |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6182646A true JPS6182646A (ja) | 1986-04-26 |
| JPH0421303B2 JPH0421303B2 (ja) | 1992-04-09 |
Family
ID=9303797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60098868A Granted JPS6182646A (ja) | 1984-05-09 | 1985-05-09 | 電界局在化手段を有する電子増倍装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4914351A (ja) |
| EP (1) | EP0165119B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6182646A (ja) |
| AT (1) | ATE48338T1 (ja) |
| DE (1) | DE3574522D1 (ja) |
| FR (1) | FR2566175B1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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