JPS61846A - メモリ内容の正常性試験方法 - Google Patents

メモリ内容の正常性試験方法

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Publication number
JPS61846A
JPS61846A JP59106674A JP10667484A JPS61846A JP S61846 A JPS61846 A JP S61846A JP 59106674 A JP59106674 A JP 59106674A JP 10667484 A JP10667484 A JP 10667484A JP S61846 A JPS61846 A JP S61846A
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JP
Japan
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program
check data
crc check
crc
stored
Prior art date
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Pending
Application number
JP59106674A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroki Masuda
増田 博樹
Yasuo Ogasawara
康夫 小笠原
Yoshimitsu Sumiyoshi
住吉 由光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP59106674A priority Critical patent/JPS61846A/ja
Publication of JPS61846A publication Critical patent/JPS61846A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、リードオンリメモリ (ROM)に記憶させ
たデータ処理システムのプログラムの正常性を簡単に試
験することができるメモリ内容の正常性試験方法に関す
るものである。
従来技術と問題点 プログラムをリードオンリメモリ (ROM)に格納し
たデータ処理システムに於いては、電源投入時等に於い
て、リードオンリメモリ内のプログラムが正常であるか
否かを試験する為に、磁気テープや磁気ドラムに格納さ
れているプログラムと照合し、照合一致の場合は正常と
して、そのり一ドオンリメモリに記憶されたプログラム
に従った処理の実行を開始するものである。
その場合、磁気テープや磁気ドラムからプログラムを読
出してランダムアクセスメモリに転送して書込み、この
書込内容に対応するリードオンリメモリの記憶内容を順
次読出して照合することになり、照合処理が複雑であっ
て、リードオンリメモリに記憶されたプログラムの正常
性をチェックする為の時間が長くなる欠点があった。
又バイト単位毎等にパリティピットを付加してプログラ
ムを記憶させることも考えられるが、その場合は、1ビ
ット誤りの検出が可能となるだけで、複数ビット誤りを
検出することができない欠点がある。従って、プログラ
ムの正常性のチェックの信頼性が低いものであった。
発明の目的 本発明は、リードオンリメモリに格納されたプログラム
の正常性を簡単且つ短時間に試験できるようにすること
を目的とするものである。
発明の構成 本発明は、プログラムに従ってデータ処理を実行するシ
ステムに於いて、前記プログラムのモジュール単位又は
一定のバイト単位にCRCチェックデータを付加してプ
ログラムを記憶させたり−ドオンリメモリを設け、該リ
ードオンリメモリに記憶されたプログラムの試験時に、
前記モジュール単位又は一定のバイト単位にCRC演算
を行うと共に、前記CRCチェックデータを読出して、
CRC演算結果と照合することにより、前記プログラム
のモジュール単位又は一定のバイト単位に正常性をチェ
ックするものであり、複数ビットエラーについても検出
することが可能であるから、リードオンリメモリ (R
OM)に記憶されたプログラムの正常性のチェックの信
頼性を向上することができる。
発明の実施例 第1図は本発明の実施例を適用するシステム構成の要部
ブロック図であり、1はプロセッサ(CPU)、2はプ
ログラムやテストプログラムTPを格納したリードオン
リメモリ (ROM) 、3はランダムアクセスメモリ
 (RAM) 、4は入出力制御装置 (I OC’)
 、5は共通バスである。
リードオンリメモリ2にはプログラムとCRCチェック
データとが記憶されているものであり、例えば、プログ
ラムのモジュール単位又は一定のバイト単位にCRCチ
ェックデータを付加して記憶させておくものであり、第
2図に示すように、プログラムのモジュール単位又は一
定バイト単位Piに対してCRCチェックデータを生成
し、このCRCチェックデータを含む付加情報Ciを記
憶しておくものである。又テストプログラムTPも記憶
しておくことができる。付加情報Ciとしては、例えば
、CRCチェックデータのみとすることも可能であるが
、付加情報Ciの右に拡大して示すように、プログラム
のバージョンa、プログラムのモジュール単位又は一定
のバイト単位についての先頭アドレスb、バイト数c、
CRCチェックデータdを記憶させることができる。
CRCチェックデータを作成する為の生成多項式として
は、例えば、X”十X”+X5+1とすることができ、
CRCチェックデータは16ビツトとなる。プログラム
のモジュール単位又は一定のバイト単位に対して前述の
ような生成多項式によりCRCチェックデータを作成し
、そのプログラムのモジュール単位又は一定のバイト単
位Piをリードオンリメモリ2に記憶させると共に、作
成されたCRCチェックデータをリードオンリメモリ2
の付加情報Ciの領域に記憶させるものである。
電源投入等によるシステム立上げ時には、プロセッサ1
は、リードオンリメモリ2のテストプログラムTPを読
出し、そのテストプログラムTPによりプログラムのモ
ジュール単位又は一定のバイト単位Piの付カロ情報C
iを読出して、先頭アドレスbにより指定されたプログ
ラムのモジュール単位又は一定のバイト単位Piの読出
しを開始し、バイト数Cで指定されたバイト数の読出し
を行い、読出したプログラムのモジュール単位又はバイ
ト単位piのCRC演算を行い、CRC演算結果と予め
格納されたCRCチェックデータdとを照合し、照合一
致の場合に正常であると判定するものである。なお付加
情報Ciのバージョンaは通常は読出す必要がないもの
であり、又付加情報Ciの先頭アドレスb、バイト数c
、CRCチェックデータdは、テストプログラムTPに
よってのみ読出され、通常のデータ処理時には、プログ
ラムのモジュール単位又はバイト単位Piのみが読出さ
れるものである。
プログラムのモジュール単位又はバイト単位に誤りビッ
トがなければ、CRC演算結果はOとなり、単一ビット
或いは複数ビット誤りがあれば、CRC演算結果は0と
ならないので、CRC演算結果が0であるか否かを識別
することより、記憶されているプログラムの正常性をチ
ェツクすることができることになる。又正常の場合は、
次のモジュール単位又は一定のバイト単位のプログラム
についてCRC演算を行うものである。そして、リード
オンリメモリ2に記憶されたプログラムについて正常性
が確認されると、このプログラムに基づいた通常のデー
タ処理が実行されることになる。
第3図は、本発明の実施例のリードオンリメモリ2への
書込データの作成フローチャートの要部を示し、リード
オンリツメモリ2 (以下ROMと略称する)内の領域
Piに格納されるプログラムデータをCRCチェックデ
ータ生成手段へ入力■し、CRCチェックデータを生成
■する。そして、全プログラム領域に対して、前記■、
■の処理を行い、プログラムの後に、付加データC4と
して、その領域Piの先頭アドレスb、バイト数C、C
RCチェックデータdを付加■して、ROMへの書込デ
ータを作成■し、このROMデータの書込み■を行う。
なお、テストプログラムTPは、ROM内の所定領域に
格納するものである。
第4図は、本発明の実施例のROMに格納されたプログ
ラムの試験方法のフローチャートの要部を示し、まず、
テストプログラムTPにより、試験対象ROMデータの
プログラム部分の先頭アドレスとバイト数とを付加デー
タC4を読出して確認[相]する。この付加データCi
の読出しは、プログラムのモジュール単位又はバイト単
位の読出しの前後何れでも良いものである。
次に読出したプログラムのモジュール単位又はバイト単
位のプログラムデータをCRCチェックデータ生成手段
に入力■し、CRC演算を行ってCRCチェックデータ
を生成@する。この生成したCRCチェックデータとR
OMの付加データのCRCチェックデータとを照合0す
る。照合結果[相]が一致していると、正常と判断[相
]し、一致しない場合は、異常と判断して障害表示[相
](ランプ点燈、プリント出力等)する。
テストプログラムTPは、予めROM +11内の章程
領域に格納した場合を示しているが、ROM (1)内
に格納せずに、例えば、磁気テープ装置や磁気ディスク
装置等からランダムアクセスメモリ (RAM)にロー
ディングし、そのテストプログラムTPに従ってROM
 121に格納されたプログラムのモジュール単位又は
バイト単位Piの正常性の試験を行うこともできる。第
4図のRAM及びROM(2)はその場合の一例を示す
ものである。
第5図は、前述のROMデータの作成を行う為の構成を
示し、10はリードオンリメモリ1′5(ROM)に格
納されるプログラムPiを示す。又11はCRCチェッ
クデータ生成手段、14はCRCチェックデータの保持
用バッファレジスタ(RB3)である。又CRCチェッ
クデータ生成手段11は、前述の多項式の演算を行う構
成を有するもので、12.13はバッファレジスタ(R
Bl+ RB2)である。
ROMに書込むプログラムPiからCRCチェックデー
タ生成手段11によりCRCチェックデータを生成し、
バッファレジスタ14を介して生成したCRCチェック
データをROM15の所定領域に、他の付加データと共
に格納する。なおテストプログラムTPも同一のROM
に格納する場合を示している。
第6図は、第4図に示す試験方法のフローに対応した構
成を示し、16はCRCチェックデータ生成手段、19
はROM15からCRCチェックデータdを読出してラ
ッチするバッファレジスタ(RB7>、20はCRCチ
ェックデータ生成手段16により演算された結果をラッ
チするバッファレジスタ(RBe) 、21はC,RC
チェックデータと照合をとる比較回路(CMP)であり
、CRCチェックデータ生成手段16は、前述の多項式
によるCRC演算を行う構成を有するもので、17.1
8はバッファレジスタ(RB4)、  (RBs)であ
る。
ROM15に格納されているプログラムPiが読出され
て、CRCチェックデータ生成手段16によりCRC演
算が行われ、生成されたCRCチェックデータはバッフ
ァレジスタ20にラッチされ、又ROM15に予め格納
されたCRCチェックデータdが読出されてバッファレ
ジスタ19にランチされ、比較回路21に於いて照合さ
れて、一致の場合は正常、不一致の場合は異常と判定さ
れることになる。
発明の詳細 な説明したように、本発明は、プログラムのモジュール
単位又は一定のバイト単位にCRCチェックデータを付
加してプログラムを記憶させたり一ドオンリメモリ2を
設け、システム電源投入時やプログラム暴走時等に於い
て、このリードオンリメモリ2に記憶されたプログラム
の正常性を試験する場合に、前記モジュール単位又は一
定のバイト単位に前記CRCチェックデータと共に読出
して、CRC演算により前記プログラムのモジュール単
位又は一定のバイト単位に正常性をチェックするもので
あり、磁気テープ等から正しいプログラムを読出して、
リードオンリメモリ2に記憶されたプログラムと照合す
る従来例に比較して、リードオンリメモリ2に記憶され
たプログラムを読出してCRC演算を行うだけであるか
ら、短時間でプログラムの正常性をヂエ・ツクすること
ができる利点がある。又CRCチェックデータを付加し
て記憶させであるので、単なる9パリテイビツトの付加
と異なり、複数ビット誤りも検出する′ことが可能とな
るので、正常性チェックの信頼性が向上することになる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のブロック図、第2図はリード
オンリメモリの記憶内容の説明図、第3図及び第4図は
本発明の実施例のROMデータの作成及びプログラム試
験時のフローチャートの要部、第5図及び第6図は本発
明の実施例のROMデータの作成及びプログラム試験を
行う為の構成を示すものである。 1はプロセッサ、2はリードオンリメモリ、3はランダ
ムアクセスメモリ、4は入出力制御装置、5は共通バス
、TPはテストプログラム、Piはプログラムのモジュ
ール単位又は一定バイト単位、C4は付加情報である。 第1図 第3図 第4図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. プログラムに従ってデータ処理を実行するシステムに於
    いて、前記プログラムのモジュール単位又は一定のバイ
    ト単位にCRCチェックデータを付加してプログラムを
    記憶させたリードオンリメモリを設け、該リードオンリ
    メモリに記憶されたプログラムの試験時に、前記モジュ
    ール単位又は一定のバイト単位にCRC演算を行うと共
    に、前記CRCチェックデータを読出して、CRC演算
    結果と照合することにより、前記プログラムのモジュー
    ル単位又は一定のバイト単位に正常性をチェックするこ
    とを特徴とするメモリ内容の正常性試験方法。
JP59106674A 1984-05-28 1984-05-28 メモリ内容の正常性試験方法 Pending JPS61846A (ja)

Priority Applications (1)

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JP59106674A JPS61846A (ja) 1984-05-28 1984-05-28 メモリ内容の正常性試験方法

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JP59106674A JPS61846A (ja) 1984-05-28 1984-05-28 メモリ内容の正常性試験方法

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JPS61846A true JPS61846A (ja) 1986-01-06

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ID=14439614

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JP59106674A Pending JPS61846A (ja) 1984-05-28 1984-05-28 メモリ内容の正常性試験方法

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002163155A (ja) * 2000-11-29 2002-06-07 Rb Controls Co ガス器具のマイコン制御装置
US7325165B2 (en) * 2003-05-30 2008-01-29 Broadcom Corporation Instruction sequence verification to protect secured data
CN103208313A (zh) * 2013-04-26 2013-07-17 杭州和利时自动化有限公司 一种检测方法及系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5378127A (en) * 1976-12-22 1978-07-11 Sharp Corp Self diagnosis system of fixed program memory unit
JPS5668843A (en) * 1979-11-08 1981-06-09 Toshiba Corp Contents diagnosis method for read-only memory

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5378127A (en) * 1976-12-22 1978-07-11 Sharp Corp Self diagnosis system of fixed program memory unit
JPS5668843A (en) * 1979-11-08 1981-06-09 Toshiba Corp Contents diagnosis method for read-only memory

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002163155A (ja) * 2000-11-29 2002-06-07 Rb Controls Co ガス器具のマイコン制御装置
US7325165B2 (en) * 2003-05-30 2008-01-29 Broadcom Corporation Instruction sequence verification to protect secured data
CN103208313A (zh) * 2013-04-26 2013-07-17 杭州和利时自动化有限公司 一种检测方法及系统

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