JPS6185919A - 眼検査装置 - Google Patents
眼検査装置Info
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- JPS6185919A JPS6185919A JP59206774A JP20677484A JPS6185919A JP S6185919 A JPS6185919 A JP S6185919A JP 59206774 A JP59206774 A JP 59206774A JP 20677484 A JP20677484 A JP 20677484A JP S6185919 A JPS6185919 A JP S6185919A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eye
- transfer function
- fundus
- optical
- image
- Prior art date
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- Granted
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/12—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for looking at the eye fundus, e.g. ophthalmoscopes
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- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔Ｍ楽土の利用分野〕
本発明は、己侠査装置に関し、さらに詳しくは、被検眼
光学系の光伝達関数を測定するための眼検査装置に関す
る。
光学系の光伝達関数を測定するための眼検査装置に関す
る。
従来、眼検査装置として、被検眼の屈折度を測定するた
めの屈折度測定系全利用して、この眼底反射光１（ｉ−
検出することにより、被検眼の水晶体や硝子体の混濁等
によって生ずる被検眼光学系の異常を検出する）４常検
出装置が知らルていも。
めの屈折度測定系全利用して、この眼底反射光１（ｉ−
検出することにより、被検眼の水晶体や硝子体の混濁等
によって生ずる被検眼光学系の異常を検出する）４常検
出装置が知らルていも。
また、眼光学系の異常の検査方法として、被検眼の各径
椋方回の屈折度をｌ１ｌｌｌ定し、これらの測定値のば
らつきから被検眼光学系の異常を推定する方法が従来提
案さｎている。
椋方回の屈折度をｌ１ｌｌｌ定し、これらの測定値のば
らつきから被検眼光学系の異常を推定する方法が従来提
案さｎている。
上記従来の眼険査装置においては、１浪１にへの入射光
束と眼底からの反射光束とが共通して通過する領域に混
濁が序在すると、この混濁により反射された光束が反射
光束中に混入するため、１Ｉ１４底反射光量の低下によ
り透光体のｆＡ濁を判断している異常・検出糸にｉｌＫ
濁が異常として検出されない場合もあった。
束と眼底からの反射光束とが共通して通過する領域に混
濁が序在すると、この混濁により反射された光束が反射
光束中に混入するため、１Ｉ１４底反射光量の低下によ
り透光体のｆＡ濁を判断している異常・検出糸にｉｌＫ
濁が異常として検出されない場合もあった。
また、上記眼光学系の異常の検査方Ｌ ｆＣ５いては、
混層が被検眼の眼底付近に生じた場合、この混濁は関連
する径線方向の屈折度に影Δを及ぼすが、混濁が瞳付近
に生じた場合にはすべての径線方向の測定光束が混濁を
通過することになり、各径線の測定値ンζばらつきが現
われず、従って混濁が検出されないという問題があった
。
混層が被検眼の眼底付近に生じた場合、この混濁は関連
する径線方向の屈折度に影Δを及ぼすが、混濁が瞳付近
に生じた場合にはすべての径線方向の測定光束が混濁を
通過することになり、各径線の測定値ンζばらつきが現
われず、従って混濁が検出されないという問題があった
。
本発明はこれら従来の技術の問題ＫＷみなされたもので
あって、被検眼の光伝達関数を測定することにより、被
検眼のいずｎの位置にある眼光学系の異常も正確に検出
することができる脹検査装置を提供することを目的とす
る。本発明は、さらに被検眼屈折度も容易に測定するこ
とができる眼検査装ｅｔ提供することを目的とするａＣ
Ｉｚｊ誼点を解決するための手段〕 本発明は上記問題点を解決するため以下の構成上の９ケ
ｇを有する。すなわち、本発明は、被検眼眼底へ測定タ
ーゲット像を投影するためのターｒノド投影糸と、眼底
上の測定ターゲット像の合焦状！Ｉを検出して測定ター
ゲット像を限定上に合焦するための合焦手段と、眼底上
に前記合焦手段により合焦された測定ターゲット像のコ
ントラストを検出して被検眼の光伝達関数を測定するた
めの光伝達関数測定糸とを有することによって構成され
る。
あって、被検眼の光伝達関数を測定することにより、被
検眼のいずｎの位置にある眼光学系の異常も正確に検出
することができる脹検査装置を提供することを目的とす
る。本発明は、さらに被検眼屈折度も容易に測定するこ
とができる眼検査装ｅｔ提供することを目的とするａＣ
Ｉｚｊ誼点を解決するための手段〕 本発明は上記問題点を解決するため以下の構成上の９ケ
ｇを有する。すなわち、本発明は、被検眼眼底へ測定タ
ーゲット像を投影するためのターｒノド投影糸と、眼底
上の測定ターゲット像の合焦状！Ｉを検出して測定ター
ゲット像を限定上に合焦するための合焦手段と、眼底上
に前記合焦手段により合焦された測定ターゲット像のコ
ントラストを検出して被検眼の光伝達関数を測定するた
めの光伝達関数測定糸とを有することによって構成され
る。
また、本発明の実施態様の−っは、前記ターゲット投影
系が、測定ターゲット像を光軸を中心に回転させるだめ
の手段を包含して構成される。
系が、測定ターゲット像を光軸を中心に回転させるだめ
の手段を包含して構成される。
本発明の池の実施態様は、前記光伝達関数と正常眼の光
伝達関数とを比較するだめの比較手段を包含して構成さ
れる。
伝達関数とを比較するだめの比較手段を包含して構成さ
れる。
以下に本発明の実施例である眼検査装置を図に基いて説
明する。第１実施例の眼検査装置は、第１図のブロック
図に示すように、光伝達関数測定用の標板を被検眼Ｅの
眼底ＥＲに投影する投影光学系、及び眼底ＥＲにおける
標板像の結像状態を検出する測定光学系を包含する光学
装置２を包含し、該測定光学系によって検出された標板
像の結像状態は撮像管により映像信号に変えられて出力
される。
明する。第１実施例の眼検査装置は、第１図のブロック
図に示すように、光伝達関数測定用の標板を被検眼Ｅの
眼底ＥＲに投影する投影光学系、及び眼底ＥＲにおける
標板像の結像状態を検出する測定光学系を包含する光学
装置２を包含し、該測定光学系によって検出された標板
像の結像状態は撮像管により映像信号に変えられて出力
される。
光学装置２はモニタＴＶ４に接続されてこれに映像信号
を出力し、モニタＴＶ４は眼底ＥＲにおける傾板像及び
後述の測定結果を表示する。
を出力し、モニタＴＶ４は眼底ＥＲにおける傾板像及び
後述の測定結果を表示する。
光学装置２の出力が人力される電気系は、光学装置２か
らの映像信号により光伝達関数を計算して被検眼光学系
の異常・正常を判定しかつ屈折度等を算出する演算回路
８と、演算回路８に接続され、映像信号を一時的に記憶
する第１１モリ−１０と、同じく演算回路に接続され、
正常眼の光伝達関数測定糸する第２メモリー１２と、光
学装置２．第１メモリー１０及び演算回路８に接続され
、映像信号を一時的に記憶する第１メモリー１０と、光
学装置２．第１メモリー１０及び演算回路８に接続され
た第１インタ７エイス１４と、光学装置ｊｔ２及び演算
回路８に！！された第２イ／り７エイス１６と、演算回
路８Ｋｆｌ’蔵されて演算回路８の出力をプリント信号
に変換する第３インタフエイス１８とを有する。
らの映像信号により光伝達関数を計算して被検眼光学系
の異常・正常を判定しかつ屈折度等を算出する演算回路
８と、演算回路８に接続され、映像信号を一時的に記憶
する第１１モリ−１０と、同じく演算回路に接続され、
正常眼の光伝達関数測定糸する第２メモリー１２と、光
学装置２．第１メモリー１０及び演算回路８に接続され
、映像信号を一時的に記憶する第１メモリー１０と、光
学装置２．第１メモリー１０及び演算回路８に接続され
た第１インタ７エイス１４と、光学装置ｊｔ２及び演算
回路８に！！された第２イ／り７エイス１６と、演算回
路８Ｋｆｌ’蔵されて演算回路８の出力をプリント信号
に変換する第３インタフエイス１８とを有する。
測定結果をプリント出力するプリンタ２０は第３インク
７エイスに接続される。
７エイスに接続される。
上記構成に５いて、投影光学系によって眼底ＥＲに形成
された傾板像は、測定光学系によって撮像管上に投影さ
れて映像信号に変換される。映像信号はモニタＴＶ４に
人力され、モニタＴＶ４が被検眼眼底の傾板像を表示す
る。一方、映像信号は、第１イ／タフエイス１４を介し
て第１メモリー１０に人力されて記憶され、これが演算
回路８に入力される。ｌ＋！算回路８は映鯨信号がら光
伝達関数を演算するとともに、算出した被検眼の光伝達
関数と第２メモリー１２に記憶されている正常眼の光伝
達関数を比較して被検眼の眼光学系の異常・正常を判別
し、これらの結果全モニタＴＶ４に表示しまたプリンタ
２０によりプリント出力する。
された傾板像は、測定光学系によって撮像管上に投影さ
れて映像信号に変換される。映像信号はモニタＴＶ４に
人力され、モニタＴＶ４が被検眼眼底の傾板像を表示す
る。一方、映像信号は、第１イ／タフエイス１４を介し
て第１メモリー１０に人力されて記憶され、これが演算
回路８に入力される。ｌ＋！算回路８は映鯨信号がら光
伝達関数を演算するとともに、算出した被検眼の光伝達
関数と第２メモリー１２に記憶されている正常眼の光伝
達関数を比較して被検眼の眼光学系の異常・正常を判別
し、これらの結果全モニタＴＶ４に表示しまたプリンタ
２０によりプリント出力する。
また、演算回路８には眼屈折度の１１７報が第２イ／り
７エイス１６を介して人力され、被検眼の球面度数、乱
視咄、乱視度敗を演算し、同様に七二タＴＶ４に表示し
またグリンタ２０によりグリ／ト出力する。
７エイス１６を介して人力され、被検眼の球面度数、乱
視咄、乱視度敗を演算し、同様に七二タＴＶ４に表示し
またグリンタ２０によりグリ／ト出力する。
光学読［２は、第２図の光学図に示すように、投影光学
系３０と、１ｉｌｌＩｓ光学系３２と、注視光学系３４
を包含する。投影光学系３０は、光源４０ト、コンデン
サーレンズ４２．！：、コン７′＃／サーレ／ズ４２の
前方（被検眼Ｅの（ｉｌｌ）に斜設されて注視光学系３
４の光源光束となる可視光束を取出す赤外透過ミラー４
８と、標板５０と、投影レンズ５２と、投影光学系３０
の光軸５３を直角に屈折させるインタグリズム５４と、
光軸５３から離れた位置に矩形開口５６を有する絞り板
５８とを包含する。絞り板５８は投影レンズ５２に関し
て光源４０と共役となるように配置される。
系３０と、１ｉｌｌＩｓ光学系３２と、注視光学系３４
を包含する。投影光学系３０は、光源４０ト、コンデン
サーレンズ４２．！：、コン７′＃／サーレ／ズ４２の
前方（被検眼Ｅの（ｉｌｌ）に斜設されて注視光学系３
４の光源光束となる可視光束を取出す赤外透過ミラー４
８と、標板５０と、投影レンズ５２と、投影光学系３０
の光軸５３を直角に屈折させるインタグリズム５４と、
光軸５３から離れた位置に矩形開口５６を有する絞り板
５８とを包含する。絞り板５８は投影レンズ５２に関し
て光源４０と共役となるように配置される。
投影光学系３０は、さらに測定光学系３２の光軸６０上
に配置され、光軸６０に一致した軸線を有する貫通口６
２を設けた直角プリズム６４と、イメーゾローテータ６
６と、対物レンズ６８とを包含し、絞り板５８は対物レ
ンズ６８に関し被検眼瞳と共役な位置に配置される。さ
らに、標板５０は投影し／ズ５２及び対物レンズ６８に
関し被検眼眼底ＥＲと共役な位置に位置決めされる。
に配置され、光軸６０に一致した軸線を有する貫通口６
２を設けた直角プリズム６４と、イメーゾローテータ６
６と、対物レンズ６８とを包含し、絞り板５８は対物レ
ンズ６８に関し被検眼瞳と共役な位置に配置される。さ
らに、標板５０は投影し／ズ５２及び対物レンズ６８に
関し被検眼眼底ＥＲと共役な位置に位置決めされる。
標板５０は、第３図に示すように、スリ７Ｆ板７０と、
この被検眼Ｅｌｌｌに配置されたプリズム板７２とを隣
接させて構成される。スリット板７０は、放射方向の屈
折度測定用スリット７４と、これと直交する方向の乱視
軸測定用スリット７６と、放射方向の境界線７７により
赤外光透過部と非透過部に分割した光伝達ｌ！１敗測定
用ツタ−／７８とからなる。プリｒム板７２は、赤外線
透過性の板部材８１上に屈折度１１４Ｉ定用スリツト７
４及び乱視軸測定用スリット７６を透過した光束の一部
を第３図における水平方向に屈折させる≠個のノーＪ
ｆ五８３を取付けて構成される。
この被検眼Ｅｌｌｌに配置されたプリズム板７２とを隣
接させて構成される。スリット板７０は、放射方向の屈
折度測定用スリット７４と、これと直交する方向の乱視
軸測定用スリット７６と、放射方向の境界線７７により
赤外光透過部と非透過部に分割した光伝達ｌ！１敗測定
用ツタ−／７８とからなる。プリｒム板７２は、赤外線
透過性の板部材８１上に屈折度１１４Ｉ定用スリツト７
４及び乱視軸測定用スリット７６を透過した光束の一部
を第３図における水平方向に屈折させる≠個のノーＪ
ｆ五８３を取付けて構成される。
上述の投影光学系３０において、標板投影光束は被検眼
瞳Ｅ の周辺部５６を通過して眼底ＥＲに到達し、投影
光束が乱視のない被検眼眼底ＥＲに合焦している時には
スリット板７０．！：同一のノ母ターフが結像し、合焦
していないときには全体がざケると同時に屈折ＩｆｌＩ
ｌ！ｌ定用スリット７４の像のそれぞれが２分割され、
かつ２分割された部分がスリット方向と直交する方向に
変位して結像する。
瞳Ｅ の周辺部５６を通過して眼底ＥＲに到達し、投影
光束が乱視のない被検眼眼底ＥＲに合焦している時には
スリット板７０．！：同一のノ母ターフが結像し、合焦
していないときには全体がざケると同時に屈折ＩｆｌＩ
ｌ！ｌ定用スリット７４の像のそれぞれが２分割され、
かつ２分割された部分がスリット方向と直交する方向に
変位して結像する。
一方、乱視のある被検眼であって、乱視軸測定用スリッ
ト７６の眼底ＥＲＫおけるスリット方向と乱視軸が一致
していない時には、乱視軸測定用スリット７６の像のそ
れぞれが２分割され、かつ２分割さｎた部分がスリット
方向と直交する方向に変位して結像する。また、乱視軸
測定用スリット７６の眼底ＥＲにおけるスリット方向と
乱視軸が一致している時には、眼底ＥＲＫおける乱視軸
７１１１１定用スリツト７６のスリット像は一直線とな
る０イメ一ジローチータロ６′ｔ−回転させると、眼底
ＥＲ上のスリット板７０の像が眼光軸を中心に回転し、
乱視軸測定用スリーット７６の方向及び光伝達関数測定
用パターン７８の境界＠７７の方向を乱視軸に合致させ
ることができる。
ト７６の眼底ＥＲＫおけるスリット方向と乱視軸が一致
していない時には、乱視軸測定用スリット７６の像のそ
れぞれが２分割され、かつ２分割さｎた部分がスリット
方向と直交する方向に変位して結像する。また、乱視軸
測定用スリット７６の眼底ＥＲにおけるスリット方向と
乱視軸が一致している時には、眼底ＥＲＫおける乱視軸
７１１１１定用スリツト７６のスリット像は一直線とな
る０イメ一ジローチータロ６′ｔ−回転させると、眼底
ＥＲ上のスリット板７０の像が眼光軸を中心に回転し、
乱視軸測定用スリーット７６の方向及び光伝達関数測定
用パターン７８の境界＠７７の方向を乱視軸に合致させ
ることができる。
測定光学系３２は、上述の対物レンズ６８と、イメーノ
ローテータ６６と、λつの結像レンズ配置され、眼底Ｅ
Ｒと撮菌管８４の受光面８６は対物レンズ６８と結像レ
ンズ８０．８２にｊし共役となるように配置される。
ローテータ６６と、λつの結像レンズ配置され、眼底Ｅ
Ｒと撮菌管８４の受光面８６は対物レンズ６８と結像レ
ンズ８０．８２にｊし共役となるように配置される。
上述の測定光学系３２において、眼底ＥＲにスリット板
７０の鯨を結像させて反射された測定光束は、直角プリ
ズム６４の貫通口６２を通過して受光面８６に到達する
。ここで、イメーノローテータ６６の回転により眼底Ｅ
Ｒにおけるスリット板像が回転するが、測定光束がイノ
−ノロ−チータロ６によって前方向に同じ角区だけ回転
させられるから、受光面８６上には常に一定方向金向い
たスリット板像が結像する。
７０の鯨を結像させて反射された測定光束は、直角プリ
ズム６４の貫通口６２を通過して受光面８６に到達する
。ここで、イメーノローテータ６６の回転により眼底Ｅ
Ｒにおけるスリット板像が回転するが、測定光束がイノ
−ノロ−チータロ６によって前方向に同じ角区だけ回転
させられるから、受光面８６上には常に一定方向金向い
たスリット板像が結像する。
注視光学系３４は、赤外透過ミラー４８の反射光束を反
射するミラー９０と、注視ターｒノド９２、！：、投１
ルンズ９４と、ノつのミラー９６゜９８と、イメージロ
ーチータロ６と対物レンズ６８との間に斜設された赤外
透Ｊ！！可視反射のミラー９９から（４成される。
射するミラー９０と、注視ターｒノド９２、！：、投１
ルンズ９４と、ノつのミラー９６゜９８と、イメージロ
ーチータロ６と対物レンズ６８との間に斜設された赤外
透Ｊ！！可視反射のミラー９９から（４成される。
注視ターケ゛ノド９２は、第≠図に示すように、中心点
９２′ とリング９２′だけを透過部として榊成され
、被検眼を雲霧する目的で対物レンズ６８と投影レンズ
９４に関し眼底ＥＲと共役な位置よりもグラスデイオグ
トリー側に配置される。
９２′ とリング９２′だけを透過部として榊成され
、被検眼を雲霧する目的で対物レンズ６８と投影レンズ
９４に関し眼底ＥＲと共役な位置よりもグラスデイオグ
トリー側に配置される。
次に、上述した光学装置２における測定手順について説
明する。最初に、モニタＴＶ上のスリット像を観察して
、乱視軸測定用スリット像が一直線となるまでイメーノ
ローテータ６６を回転させて眼底ＥＲ上のスリット像を
回転させる。この操作により光伝達関数測定用ノ譬ター
７７８の境界線７７の方向が一方の乱視軸に一致させら
れる。
明する。最初に、モニタＴＶ上のスリット像を観察して
、乱視軸測定用スリット像が一直線となるまでイメーノ
ローテータ６６を回転させて眼底ＥＲ上のスリット像を
回転させる。この操作により光伝達関数測定用ノ譬ター
７７８の境界線７７の方向が一方の乱視軸に一致させら
れる。
続いて、屈折度測定用スリット像が一直線となるまで投
影レンズ５２を光軸５３に沿って移動させる。この操作
によりスリット板７０の像が眼底ＥＲ上に合焦して結像
させられる。
影レンズ５２を光軸５３に沿って移動させる。この操作
によりスリット板７０の像が眼底ＥＲ上に合焦して結像
させられる。
次に、イメージローチータロ６を回転させて眼底ＥＲ上
のスリット板７０の像をりＯ０回転させ、さらに屈折度
測定用スリット像が一直線となるまで投影し／ズ５２を
光軸５３に沿って移動させる。
のスリット板７０の像をりＯ０回転させ、さらに屈折度
測定用スリット像が一直線となるまで投影し／ズ５２を
光軸５３に沿って移動させる。
この操作により光伝達関数測定用パターン７８の境界線
７７の方向がもう一方の乱視軸の方向に一致させられ、
かつスリット板７０の像が眼底ＥＲ上に合焦させられる
。これまでの操作による投影レンズ５２の位置及びイメ
ージローチータロ６の回転角度を電気的に検出し、この
検出信号に基づき球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を
算出することができることは当業者の知るところである
から、その説明を省略する。
７７の方向がもう一方の乱視軸の方向に一致させられ、
かつスリット板７０の像が眼底ＥＲ上に合焦させられる
。これまでの操作による投影レンズ５２の位置及びイメ
ージローチータロ６の回転角度を電気的に検出し、この
検出信号に基づき球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を
算出することができることは当業者の知るところである
から、その説明を省略する。
続いて、前記した光伝達関数測定用パターン７８の境界
線７７の方向が一方の乱視軸に一致し、かつスリット板
７０の像が眼底ＥＲＪ：に合焦させられた状態を保持し
た状態で、光伝達関′ｔ＆ｍｌ定用ノ９ター／７８の眼
底像の映像信号から以下に示す方法により被検眼光学系
の異常を検出する。
線７７の方向が一方の乱視軸に一致し、かつスリット板
７０の像が眼底ＥＲＪ：に合焦させられた状態を保持し
た状態で、光伝達関′ｔ＆ｍｌ定用ノ９ター／７８の眼
底像の映像信号から以下に示す方法により被検眼光学系
の異常を検出する。
スリット板７０は第ｊ図Ａに示すように下部に光伝達関
数測定用・譬ター７７８を有し、この境界！７７のエツ
ジ関数（７（ｘ）は第ｊ図ＢＫ示すように、光伝達関数
測定用・母ターン７８の透過部及び不透過部を表わす階
段関数であって、である。
数測定用・譬ター７７８を有し、この境界！７７のエツ
ジ関数（７（ｘ）は第ｊ図ＢＫ示すように、光伝達関数
測定用・母ターン７８の透過部及び不透過部を表わす階
段関数であって、である。
一方、被検眼光学系を通過した光伝達関数測定用・ゼタ
ー７７８の眼底ＥＲ上の結像は、第ｊ図Ｃに示すように
境界線７７が不鮮明になり、第５図りに示すようなエツ
ジ関数ｅ（ｘ） となる。エツジ関数ｅ（ｘ）は撮像
管８４からの複数の走査線での映像信号を平均化するこ
とによって求めることができる。被検眼光学系の線像強
度分布関数ｈ（ｘ）は、第ｊ図Ｅ及びＦに示すように、
エッソ関１１ ｅ （ｘ ）よりこれを微分することに
より求めらｘ と表わされ、また ｅ（ｘ）＝ ０（ｘ）七ｈ（ｘ） の関係がある。ここで、＊はコンゴリューシコンである
。このようにして求めた線像強度分布関数ｈ（ｘ）は、
第ｊ図Ｇ及びＦに示すように、フーリエ変換されさらに
その平方をとることによって、被検眼光学系の空間周波
数Ｕにおけるス４クトル強度Ｈ（ｕ）ｆｔ示す光伝達関
数１−１（ｕ）（ｆ−求めることができる。なお、被検
眼以外の光学系及び処理系による影響は小さいから省略
できる。
ー７７８の眼底ＥＲ上の結像は、第ｊ図Ｃに示すように
境界線７７が不鮮明になり、第５図りに示すようなエツ
ジ関数ｅ（ｘ） となる。エツジ関数ｅ（ｘ）は撮像
管８４からの複数の走査線での映像信号を平均化するこ
とによって求めることができる。被検眼光学系の線像強
度分布関数ｈ（ｘ）は、第ｊ図Ｅ及びＦに示すように、
エッソ関１１ ｅ （ｘ ）よりこれを微分することに
より求めらｘ と表わされ、また ｅ（ｘ）＝ ０（ｘ）七ｈ（ｘ） の関係がある。ここで、＊はコンゴリューシコンである
。このようにして求めた線像強度分布関数ｈ（ｘ）は、
第ｊ図Ｇ及びＦに示すように、フーリエ変換されさらに
その平方をとることによって、被検眼光学系の空間周波
数Ｕにおけるス４クトル強度Ｈ（ｕ）ｆｔ示す光伝達関
数１−１（ｕ）（ｆ−求めることができる。なお、被検
眼以外の光学系及び処理系による影響は小さいから省略
できる。
光伝達関数１−１（ｕ）は、被検眼光学系に混ｌ−等が
ある場合には、光伝達関数測定用・母ターン７８の境界
線７７が不鮮明となり、高周波領域でスにクトル強度Ｈ
（ｕ）が低下する。一方、平均的な正常眼の光伝達関数
Ｈｏ（ｕ）が第２メモ！ｊ−１２に警檀されていてＣ？
Ａｊ図１）、％定の周波数、例えばＵ＝ｆａにおける（
ＨＯ（Ｕ）−Ｈ（ｕ） ） 全計算して比較しく第５
図」）、これが一定値を超えたとき、その被検眼光学系
に異常があると判断してその結果を出力する（第ｊ図Ｈ
）。
ある場合には、光伝達関数測定用・母ターン７８の境界
線７７が不鮮明となり、高周波領域でスにクトル強度Ｈ
（ｕ）が低下する。一方、平均的な正常眼の光伝達関数
Ｈｏ（ｕ）が第２メモ！ｊ−１２に警檀されていてＣ？
Ａｊ図１）、％定の周波数、例えばＵ＝ｆａにおける（
ＨＯ（Ｕ）−Ｈ（ｕ） ） 全計算して比較しく第５
図」）、これが一定値を超えたとき、その被検眼光学系
に異常があると判断してその結果を出力する（第ｊ図Ｈ
）。
本発明の第２実施例は、被偵眼の球面度数、乱視度及び
乱視軸の測定、ならびに光伝達関数測定用・ぐターンの
境界機の方向位置の調節を自動的に行うように構成さｎ
る。すなわち、２分割されてスリットと直交する方向に
隔離したλつの分割スリット像の間隔を撮像管８４から
の映像信号に基づき検出し、この検出信号により間隔が
０になるまで測定ターｒノド全自動的に移動させ、この
移動址からこの径線方向の屈折度を求める。この屈折度
の測定を３つの径線方向に関して行い、これらの測定結
果から球ＩＩ度敗、乱視度及び乱視軸を演算する。さら
ＫこのｍＷ結果にもとづいて光伝達関数測定用・ゼター
ンの境界線を乱視軸に自動的に一致させるように構成さ
れる。
乱視軸の測定、ならびに光伝達関数測定用・ぐターンの
境界機の方向位置の調節を自動的に行うように構成さｎ
る。すなわち、２分割されてスリットと直交する方向に
隔離したλつの分割スリット像の間隔を撮像管８４から
の映像信号に基づき検出し、この検出信号により間隔が
０になるまで測定ターｒノド全自動的に移動させ、この
移動址からこの径線方向の屈折度を求める。この屈折度
の測定を３つの径線方向に関して行い、これらの測定結
果から球ＩＩ度敗、乱視度及び乱視軸を演算する。さら
ＫこのｍＷ結果にもとづいて光伝達関数測定用・ゼター
ンの境界線を乱視軸に自動的に一致させるように構成さ
れる。
本発明の第３実施例は、第１実施例における光伝達関数
測定用・母ターンを、前記境界線に一致した位置に設け
たスリットにより構成する。この実施例においては、ス
リットの光伝達関数測定用／母ターンの眼底ＥＲにおけ
る像からスリット巾を考慮して直接線像強度分布関数Ｈ
（Ｘ）を求めることができる。
測定用・母ターンを、前記境界線に一致した位置に設け
たスリットにより構成する。この実施例においては、ス
リットの光伝達関数測定用／母ターンの眼底ＥＲにおけ
る像からスリット巾を考慮して直接線像強度分布関数Ｈ
（Ｘ）を求めることができる。
本発明の第≠実施例は、唄底ＥＲ上の光伝達関数７Ｘｉ
！ｌ定用・母ターンの像？２次元アレイセ／サー。
！ｌ定用・母ターンの像？２次元アレイセ／サー。
／？Ｘ元アレアレイセンサーカニカルスキャンによるセ
ンサー等の光電変良装置上に投影してエツジ−Ａ敗ｅ（
ｘ）を求めるように構成される。
ンサー等の光電変良装置上に投影してエツジ−Ａ敗ｅ（
ｘ）を求めるように構成される。
本発明の第ｊ夷厖例は、第１実施例のように光伝達関数
測定専用の・ぞターン金膜けず、被検眼の屈折度及び乱
視軸を測定するためのターｒノド百を光伝達関数の測定
にも使用するように構成される。
測定専用の・ぞターン金膜けず、被検眼の屈折度及び乱
視軸を測定するためのターｒノド百を光伝達関数の測定
にも使用するように構成される。
本発明の第６実類例は、光伝達関数測定用のパターンと
して、第６図に示めすように、！！Ｉ続的に周波数の変
化する矩形チャートあるいは正弘波チャートで構成する
。このチャートを用いると映像信号から周波数解析の手
続をｄずに、眼球光学系の各周波での周波数伝達関数を
求めることができる。
して、第６図に示めすように、！！Ｉ続的に周波数の変
化する矩形チャートあるいは正弘波チャートで構成する
。このチャートを用いると映像信号から周波数解析の手
続をｄずに、眼球光学系の各周波での周波数伝達関数を
求めることができる。
〔発明の効果Ｊ
本発明は、測定ターデッド像の合焦手段の作用により被
検眼の屈折度を矯正しかつ／ｋｉｌｌ定ターｒノド像の
合焦をなした状態で被検眼光学系の光伝達関数を測定す
ることができ、被検眼光学系のいずれの位置における混
濁、白内障等も正確に検出することができる効果を有す
る。本発明はさらに、上記合焦手段の調整量から被検眼
の屈折度を容易に測定することができる効果を有する。
検眼の屈折度を矯正しかつ／ｋｉｌｌ定ターｒノド像の
合焦をなした状態で被検眼光学系の光伝達関数を測定す
ることができ、被検眼光学系のいずれの位置における混
濁、白内障等も正確に検出することができる効果を有す
る。本発明はさらに、上記合焦手段の調整量から被検眼
の屈折度を容易に測定することができる効果を有する。
第１図は本発明の実施側である眼検査装置のブロック図
であり、第２図は眼屈折装置の光学図であり、第３図は
傾板の分解斜視図、第を図は注視ターｒノドの斜視図、
第５図は光伝達関数の演算方法の説明図であり、第６図
は光伝達関数測定用・そターンの一実施例を示す模式図
である。 ε・・・被検眼、 ＥＲ・・・被検眼眼底、 ＥＰ ・・・被検眼瞳、 ２・・・光学装置、 ４・・・モニタＴＶ。 ８・・・演算回路、 １０・・・第７メモリー、 １２・・・第２メモリー、 ３０・・・投影光学系、 ３２・・・測定光学系、 ３４・・・注視光学系、 ５０・・・標 板、 ５８・・・絞り板、 ６６・・拳イメー）ローテータ、 ７ ０ ・ ・・ ス リ ソ ト しＺ １７
２・・・プリズム板、 ７４・・・ＩＩＴ（Ｃｉ厩１ｌＩＯｌ用スリット、７６
・・・乱読軸調述用スリット、 ７８・・・光伝達関数測定用・Ｐターン。
であり、第２図は眼屈折装置の光学図であり、第３図は
傾板の分解斜視図、第を図は注視ターｒノドの斜視図、
第５図は光伝達関数の演算方法の説明図であり、第６図
は光伝達関数測定用・そターンの一実施例を示す模式図
である。 ε・・・被検眼、 ＥＲ・・・被検眼眼底、 ＥＰ ・・・被検眼瞳、 ２・・・光学装置、 ４・・・モニタＴＶ。 ８・・・演算回路、 １０・・・第７メモリー、 １２・・・第２メモリー、 ３０・・・投影光学系、 ３２・・・測定光学系、 ３４・・・注視光学系、 ５０・・・標 板、 ５８・・・絞り板、 ６６・・拳イメー）ローテータ、 ７ ０ ・ ・・ ス リ ソ ト しＺ １７
２・・・プリズム板、 ７４・・・ＩＩＴ（Ｃｉ厩１ｌＩＯｌ用スリット、７６
・・・乱読軸調述用スリット、 ７８・・・光伝達関数測定用・Ｐターン。
Claims (3)
- （１）被検眼眼底へ測定ターゲット像を投影するための
ターゲット投影系と、眼底上の測定ターゲット像の合焦
状態を検出して測定ターゲット像を眼底上に合焦するた
めの合焦手段と、眼底上に前記合焦手段により合焦され
た測定ターゲット像のコントラストを検出して被検眼の
光伝達関数を測定するための光伝達関数測定系とを有す
ることを特徴とする眼検査装置。 - （２）前記ターゲット投影系は、測定ターゲット像を光
軸を中心に回転させるための手段を包含する特許請求の
範囲第１項に記載の眼検査装置。 - （３）前記光伝達関数測定系は、測定された光伝達関数
と正常眼の光伝達関数とを比較するための比較手段を包
含する特許請求の範囲第１項に記載の眼検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59206774A JPS6185919A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 眼検査装置 |
| EP85112367A EP0177005A3 (en) | 1984-10-02 | 1985-09-30 | Eye examining apparatus |
| US06/783,238 US4676612A (en) | 1984-10-02 | 1985-10-02 | Eye examining apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59206774A JPS6185919A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 眼検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6185919A true JPS6185919A (ja) | 1986-05-01 |
| JPH0417048B2 JPH0417048B2 (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=16528863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59206774A Granted JPS6185919A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 眼検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4676612A (ja) |
| EP (1) | EP0177005A3 (ja) |
| JP (1) | JPS6185919A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02234738A (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-17 | Agency Of Ind Science & Technol | 光学系の屈折力の測定装置 |
| JP2002209852A (ja) * | 2000-11-16 | 2002-07-30 | Topcon Corp | 眼光学特性測定装置 |
| JP2009268772A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Canon Inc | 眼底カメラ |
| JP2012135528A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Nidek Co Ltd | 眼屈折力測定装置 |
| JP2013525060A (ja) * | 2010-05-04 | 2013-06-20 | アッコレンズ インターナショナル ビー．ヴイ． | 角膜形状解析器 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3689757T2 (de) * | 1985-01-22 | 1994-11-03 | Topcon Corp | Gerät zur Messung der Brechkraft der Augen. |
| DE68921375T2 (de) * | 1988-06-27 | 1995-10-26 | Ryusyo Industrial Co., Ltd., Osaka | Messgerät für die Brechkraft des Auges. |
| US5382987A (en) * | 1992-05-22 | 1995-01-17 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Device for ERG spectral perimetry |
| JPH08299269A (ja) * | 1995-05-10 | 1996-11-19 | Nikon Corp | 検影型他覚眼屈折力測定装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4277150A (en) * | 1977-08-24 | 1981-07-07 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Eye refractmeter |
| US4162828A (en) * | 1977-09-30 | 1979-07-31 | Trachtman Joseph N | Apparatus and methods for directly measuring the refraction of the eye |
| JPS5566347A (en) * | 1978-11-13 | 1980-05-19 | Tokyo Optical | Infrared ray refractometer |
| JPS55155631A (en) * | 1979-05-21 | 1980-12-04 | Tokyo Optical | Projector for target in infrared eye refractometer |
| JPS55160538A (en) * | 1979-06-02 | 1980-12-13 | Nippon Chemical Ind | Objective eye refraction device |
| AU553164B2 (en) * | 1980-10-31 | 1986-07-03 | Allergan Humphrey | Objective refractor for the eye |
-
1984
- 1984-10-02 JP JP59206774A patent/JPS6185919A/ja active Granted
-
1985
- 1985-09-30 EP EP85112367A patent/EP0177005A3/en not_active Withdrawn
- 1985-10-02 US US06/783,238 patent/US4676612A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02234738A (ja) * | 1989-03-08 | 1990-09-17 | Agency Of Ind Science & Technol | 光学系の屈折力の測定装置 |
| JP2002209852A (ja) * | 2000-11-16 | 2002-07-30 | Topcon Corp | 眼光学特性測定装置 |
| JP2009268772A (ja) * | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Canon Inc | 眼底カメラ |
| JP2013525060A (ja) * | 2010-05-04 | 2013-06-20 | アッコレンズ インターナショナル ビー．ヴイ． | 角膜形状解析器 |
| JP2012135528A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Nidek Co Ltd | 眼屈折力測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0177005A3 (en) | 1988-02-03 |
| US4676612A (en) | 1987-06-30 |
| JPH0417048B2 (ja) | 1992-03-25 |
| EP0177005A2 (en) | 1986-04-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |