JPS6186665A - Ｉｃハンドラ - Google Patents
ＩｃハンドラInfo
- Publication number
- JPS6186665A JPS6186665A JP59208320A JP20832084A JPS6186665A JP S6186665 A JPS6186665 A JP S6186665A JP 59208320 A JP59208320 A JP 59208320A JP 20832084 A JP20832084 A JP 20832084A JP S6186665 A JPS6186665 A JP S6186665A
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- JP
- Japan
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- rail
- hand
- supply
- socket
- sorting
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- Pending
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 13
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 2
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［技術分野１
本発明は、ＩＣハンドラに関する。
［背■技術］
ＩＣ（集積回路）ハンドラとしては、従来、特開昭５８
−９６２５８号に示されているものがある。この装置は
、ＩＣを検査するデスク部分と、そのＩＣを案内するレ
ールとが対向しているものである。すなわち、ＩＣがレ
ールに乗った状態で、そのＩＣを検査するようになって
いる。したがって、テスタ部分に設けられたコンタクト
が必要以上に長くなり、このために、ＩＣの測定精度が
低下するという問題がある。
−９６２５８号に示されているものがある。この装置は
、ＩＣを検査するデスク部分と、そのＩＣを案内するレ
ールとが対向しているものである。すなわち、ＩＣがレ
ールに乗った状態で、そのＩＣを検査するようになって
いる。したがって、テスタ部分に設けられたコンタクト
が必要以上に長くなり、このために、ＩＣの測定精度が
低下するという問題がある。
別のＩＣハンドラとしては、特開昭５８−７７６７３号
に示されているものがある。この装置は、同じようなＩ
Ｃソケットを二段に重ね、これらテスタ部分に接続する
ようにしたものである。ところが、この装置は、ＩＣソ
ケットのピンとして、通常の２倍の長さを必要としてい
るために、上記従来例と同様な不都合が生じる。
に示されているものがある。この装置は、同じようなＩ
Ｃソケットを二段に重ね、これらテスタ部分に接続する
ようにしたものである。ところが、この装置は、ＩＣソ
ケットのピンとして、通常の２倍の長さを必要としてい
るために、上記従来例と同様な不都合が生じる。
〔発明の目的］
本発明は、上記従来の問題点に着目してなされたもので
、特性検査を正確に行なうことができるＩＣハンドラを
提供することを目的とするものである。
、特性検査を正確に行なうことができるＩＣハンドラを
提供することを目的とするものである。
［発明の概要］
本発明は、ＤＩＰ型のＩＣを供給する供給レ−ルと選別
レールとの間にＩＣソケットを設【プ、その供給レール
からＩＣソケットに向かって供給ハンドでＩＣを運び、
ＩＣソケットから選別レールに向かって取出ハンドでＩ
Ｃ，を運ぶようにしたものである。
レールとの間にＩＣソケットを設【プ、その供給レール
からＩＣソケットに向かって供給ハンドでＩＣを運び、
ＩＣソケットから選別レールに向かって取出ハンドでＩ
Ｃ，を運ぶようにしたものである。
［発明の実施例１
第１図は、本発明の一実施例を示す正面図であり、第２
図は、その平面図である。
図は、その平面図である。
供給レール２０は、ＤＩＰ型のＩＣ１２，１３を供給す
るレールであり、所定角度傾斜しており、ＩＣ１２，１
３はストッパ２１によって停止している。ｒｃｌｉも上
記ＩＣ１２，１３と同じものであるが、後述するＩＣソ
ケット４１に挿入されている。
るレールであり、所定角度傾斜しており、ＩＣ１２，１
３はストッパ２１によって停止している。ｒｃｌｉも上
記ＩＣ１２，１３と同じものであるが、後述するＩＣソ
ケット４１に挿入されている。
選別レール３１．３２は、それぞれ供給レール２０と分
離され、ＩＣ１１〜１３を収納マガジン３０に送るもの
である。選別レール３１は、良品ＬＣを送るレールであ
り、選別レール３２は、不良品ＩＣを送るレールである
。
離され、ＩＣ１１〜１３を収納マガジン３０に送るもの
である。選別レール３１は、良品ＬＣを送るレールであ
り、選別レール３２は、不良品ＩＣを送るレールである
。
ＩＣソケット４１は、供給レール２０と選別レール３１
．３２との間に設けられ、テスタ４０に接続されている
。テスタ４０は、ＩＣの特性を測定するものであり、そ
の測定結果に応じて製品の良否を判別するものである。
．３２との間に設けられ、テスタ４０に接続されている
。テスタ４０は、ＩＣの特性を測定するものであり、そ
の測定結果に応じて製品の良否を判別するものである。
また、必要に応じて、ＩＣ１１に所定情報を書き込むこ
とができる。
とができる。
ＩＣソケット４１の両端には回動ピン４２，４３が設け
られている。この回動ピン４２．４３は、１Ｃ１１がＩ
Ｃソケット４１に挿入されている場合には、第１図に示
すようになっているが、回動ピン４２．４３の外側端部
を押すと、その他端が上昇して、ＩＣ１１を図中、上方
に押し出すものである。
られている。この回動ピン４２．４３は、１Ｃ１１がＩ
Ｃソケット４１に挿入されている場合には、第１図に示
すようになっているが、回動ピン４２．４３の外側端部
を押すと、その他端が上昇して、ＩＣ１１を図中、上方
に押し出すものである。
供給ハンド５０は、供給レール２０からＩＣソケット４
１に向かって、ＩＣ１２，１３を挟みながら運ぶもので
あり、シリンダ６１およびピストン６２によって上下動
する。シリンダ６１は、腕６０に設けられ、この腕６０
は、ロッドＲによって移動され、この移動のときに偏心
軸６０ａを中心に回動する。
１に向かって、ＩＣ１２，１３を挟みながら運ぶもので
あり、シリンダ６１およびピストン６２によって上下動
する。シリンダ６１は、腕６０に設けられ、この腕６０
は、ロッドＲによって移動され、この移動のときに偏心
軸６０ａを中心に回動する。
また、供給ハンド５０がＩｃＩ ２を挟持している状態
の縦断面を第８図に示しである。第８図に示づ−ように
、供給ハンド５０は、可撓性のコ字状把持部５１と、こ
のコ字状把持部５１の開口部５１ａを縮める扱ばね５２
と、コ字状把持部５１からＩＣ１１を押出づ押出しピン
５３とを有する。
の縦断面を第８図に示しである。第８図に示づ−ように
、供給ハンド５０は、可撓性のコ字状把持部５１と、こ
のコ字状把持部５１の開口部５１ａを縮める扱ばね５２
と、コ字状把持部５１からＩＣ１１を押出づ押出しピン
５３とを有する。
板ばね５２の代りにコイルばねを使用してもよい。
また、第８図においては、供給レール２ｏがらＩＣを取
出す状態を実線で示し、ＩＣソケット１１にＩＣが入る
状態を二点鎖線で示しである。なお、図中、符号１２ａ
はＩＣピン、符号５４はばねである。
出す状態を実線で示し、ＩＣソケット１１にＩＣが入る
状態を二点鎖線で示しである。なお、図中、符号１２ａ
はＩＣピン、符号５４はばねである。
第１図に戻って、取出ハンド７０は、ＩＣソケッｔ〜４
１から選別レール３１または３２に向かって、ＩＣ１１
〜１３を挟みながら運ぶものであり、口字状ばね７１と
板ばね７２と押出しピン７３とばね７４とを有する点は
、供給ハンド５０の場合と同様である。
１から選別レール３１または３２に向かって、ＩＣ１１
〜１３を挟みながら運ぶものであり、口字状ばね７１と
板ばね７２と押出しピン７３とばね７４とを有する点は
、供給ハンド５０の場合と同様である。
また、取出ハンド７０は、突起７５．７６を有する。こ
の突起７５．７６は、取出ハンド７０がＩＣソケット４
１に接近したときに、回動ピン４２．４３を回動させ、
１０１１をＩＣソケット４１から離脱させるものである
。
の突起７５．７６は、取出ハンド７０がＩＣソケット４
１に接近したときに、回動ピン４２．４３を回動させ、
１０１１をＩＣソケット４１から離脱させるものである
。
さらに、取出ハンド７０は、シリンダ８１とビス］−ン
８２とによって上下動し、シリンダ８１は、固定板８０
に固定されている。この固定板８０は、図示しないスラ
イド手段によって、図中左右に移動する。固定板８０の
左右移動にともなって、ロッドＲを介して、腕６０が回
動する。
８２とによって上下動し、シリンダ８１は、固定板８０
に固定されている。この固定板８０は、図示しないスラ
イド手段によって、図中左右に移動する。固定板８０の
左右移動にともなって、ロッドＲを介して、腕６０が回
動する。
また、部材３３．３４は、選別レール３１．３２上を水
平に移動する選別レール上のＩＯ２勅手段の一部である
。テスタ４０で１０１１の特性を測定し、それが不良品
である場合には、部材３５が良品用選別レール３１を引
込め、１ｃ１１が良品である場合には、良品用選別レー
ル３１を作動位置に移動させる（既に作動位置にある場
合には、そのままにする）。
平に移動する選別レール上のＩＯ２勅手段の一部である
。テスタ４０で１０１１の特性を測定し、それが不良品
である場合には、部材３５が良品用選別レール３１を引
込め、１ｃ１１が良品である場合には、良品用選別レー
ル３１を作動位置に移動させる（既に作動位置にある場
合には、そのままにする）。
次に、上記実施例の動作について説明する。
第１図は、供給ハンド５０および取出ハンド７０が何も
挟持しておらず、ＩＣソケット４１にＩＣ１１が挿入さ
れ、供給レール２０にＩＣ１２゜１３が載置されている
状態を示しである。
挟持しておらず、ＩＣソケット４１にＩＣ１１が挿入さ
れ、供給レール２０にＩＣ１２゜１３が載置されている
状態を示しである。
第１図の状態から、図示しないスライド手段によって、
取出ハンド７０を右にスライドさせる。
取出ハンド７０を右にスライドさせる。
このスライドと連動して、腕６０が偏心軸６０ａを中心
にして回動する。これによって、取出ハンド７０がＩＣ
ＩＩの真上に位置し、供給ハンド５０が１０１２と対向
する（第３図に示しである）。
にして回動する。これによって、取出ハンド７０がＩＣ
ＩＩの真上に位置し、供給ハンド５０が１０１２と対向
する（第３図に示しである）。
この場合の取出ハンド７０の右移動量および腕６０の回
動角は、予め設定されているが、１コツトＲのような連
動手段を使用するので、その位置決めが確実になる。な
お、第３図において、ロッドＲが右上がりになっている
が、腕６０をもっと長くすれば、ロッドＲが水平に近く
なる。
動角は、予め設定されているが、１コツトＲのような連
動手段を使用するので、その位置決めが確実になる。な
お、第３図において、ロッドＲが右上がりになっている
が、腕６０をもっと長くすれば、ロッドＲが水平に近く
なる。
この場合、ＩＣの供給位置を＾く設定でき、装置全体の
右上の空間を有効に利用できる。
右上の空間を有効に利用できる。
次に、テスタ４０からテストエンド信号が発生したとき
に、ピストン６２によって供給ハンド５０を下げると、
ばね５２の挟持力によってＩＣ１２は供給ハンド５０に
挟持され、ピストン８２によって取出ハンド７０を下げ
ると、ばね７２の挟持力によってＩＣ１１は取出ハンド
７０に挟持される（第４図に示す）。
に、ピストン６２によって供給ハンド５０を下げると、
ばね５２の挟持力によってＩＣ１２は供給ハンド５０に
挟持され、ピストン８２によって取出ハンド７０を下げ
ると、ばね７２の挟持力によってＩＣ１１は取出ハンド
７０に挟持される（第４図に示す）。
この場合、取出ハンド７０がＩＣソケット４１に接近す
ると、その突起７５．７６が回動ピン４２．４３を回動
するので、ＩＣ１１がＩＣソケッ１−４１から離脱して
取出ハンド７０に挟持される。
ると、その突起７５．７６が回動ピン４２．４３を回動
するので、ＩＣ１１がＩＣソケッ１−４１から離脱して
取出ハンド７０に挟持される。
この場合、押出しピン７３は、ばね７４によって取出ハ
ンド７０を押付けているので取出ハンド内に出て来ない
。回動ピン４２．４３による押し上げ力で、ＩＣ１１が
取出ハンド７０に挿入される。
ンド７０を押付けているので取出ハンド内に出て来ない
。回動ピン４２．４３による押し上げ力で、ＩＣ１１が
取出ハンド７０に挿入される。
このように、回動ピン４２．４３によって、ＩＣがＩＣ
ソケット４１から離脱し、無理な力が加わらないので、
ＩＣに変形または故障が生じることはない。取出ハンド
５１、供給ハンド７１の一方または両者を多分割にした
り、ゴム吸着バットを併用すれば、挟持を確実にできる
。
ソケット４１から離脱し、無理な力が加わらないので、
ＩＣに変形または故障が生じることはない。取出ハンド
５１、供給ハンド７１の一方または両者を多分割にした
り、ゴム吸着バットを併用すれば、挟持を確実にできる
。
また、供給ハンド５０または取出ハンド７０を下降する
だけでＩＣを挟持できるので、操作が迅速であり、可撓
性部材５０で挟持するので、空圧等による爪の挟み動作
を必要とせず、移動過程にａ３けるＩＣパッケージの損
傷がない。
だけでＩＣを挟持できるので、操作が迅速であり、可撓
性部材５０で挟持するので、空圧等による爪の挟み動作
を必要とせず、移動過程にａ３けるＩＣパッケージの損
傷がない。
次に、取出ハンド７０および供給ハンド５０を上昇させ
（第５図に示しである）、取出ハンド７０を左に移動さ
せ、これに伴って、供給ハンド５０が時計方向に回動し
く第６図に示しである）、第１図と同様の位置に戻る。
（第５図に示しである）、取出ハンド７０を左に移動さ
せ、これに伴って、供給ハンド５０が時計方向に回動し
く第６図に示しである）、第１図と同様の位置に戻る。
この状態から、取出ハンド７０および供給ハンド５０を
下降させると、取出ハンドの把持部７１が選別レール３
１の端に乗っているので押出しピン７３によって１Ｃ１
１が押出され、このＩＣ１１が選別レール３１に載置さ
れる。供給ハンド７０の把持部７１は、ソケットの端に
乗っているので押出しピン５３によってｌ０１２が押出
され、このＩＣ１２がＩＣソケッ１へ４１に挿入される
（第７図に示しである）。
下降させると、取出ハンドの把持部７１が選別レール３
１の端に乗っているので押出しピン７３によって１Ｃ１
１が押出され、このＩＣ１１が選別レール３１に載置さ
れる。供給ハンド７０の把持部７１は、ソケットの端に
乗っているので押出しピン５３によってｌ０１２が押出
され、このＩＣ１２がＩＣソケッ１へ４１に挿入される
（第７図に示しである）。
この場合、選別レール３１を水平方向に移動させて、Ｉ
Ｃの良否、不良品の選別を行なっているので、ＩＣの動
きがシンプルになるという利点を有づる。
Ｃの良否、不良品の選別を行なっているので、ＩＣの動
きがシンプルになるという利点を有づる。
イして、取出ハンド７０および供給ハンド５０を［胃さ
せると、第１図の初期状態に戻る。
せると、第１図の初期状態に戻る。
上記操作を繰り返すことによって、Ｉｃの特性測定を連
続的に実行することができる。
続的に実行することができる。
上記のように、供給レール２０と選別レール３１．３２
とが分離され、テスタ４０が独立しているので、テスタ
４０のコンタクト部分が必要以上に長くならないために
、ＩＣの特性検査が正確になる。第１図において、供給
レール２０が傾斜しているが、その傾斜を無くしてもよ
い。
とが分離され、テスタ４０が独立しているので、テスタ
４０のコンタクト部分が必要以上に長くならないために
、ＩＣの特性検査が正確になる。第１図において、供給
レール２０が傾斜しているが、その傾斜を無くしてもよ
い。
［発明の効果］
本発明は、ＩＣの特性検査を正確に行なうことができる
という効果を有する。
という効果を有する。
第１図は本発明の一実施例を示す正面図、第２図は第１
図の平面図、第３図は第１図の状態から供給ハンドを回
動した状態を示す正面図、第４図は第３図の状態から供
給ハンドおよび取出ハンドを下降させた場合を示す正面
図、第５図は第４図の状態から両ハンドを上昇さけた場
合を示す正面図、第６図は第５図の状態から供給ハンド
を反対方向に回動させた場合を示す正面図、第７図は第
６図の状態から両ハンドを下降させた状態を示す正面図
、第８図はハンドがＩＣを挟持した状態を示す縦断面図
である。 １１．１２．１３・・・ＩＣ，２０・・・供給レール、
３１．３２・・・選別レール、４０・・・テスタ、４１
・・・Ｉｃソケッ１〜．４２．４３・・・回動ピン、５
０・・・供給ハンド、５１．７１・・・］字状部、５２
．７２・・・板ばね、６０・・・腕、６１．８１・・・
シリンダ、６２゜８２・・・ピストン、７０・・・取出
ハンド。 特許出願人 ミナトエレクトロニクス株式会社鶴２図
図の平面図、第３図は第１図の状態から供給ハンドを回
動した状態を示す正面図、第４図は第３図の状態から供
給ハンドおよび取出ハンドを下降させた場合を示す正面
図、第５図は第４図の状態から両ハンドを上昇さけた場
合を示す正面図、第６図は第５図の状態から供給ハンド
を反対方向に回動させた場合を示す正面図、第７図は第
６図の状態から両ハンドを下降させた状態を示す正面図
、第８図はハンドがＩＣを挟持した状態を示す縦断面図
である。 １１．１２．１３・・・ＩＣ，２０・・・供給レール、
３１．３２・・・選別レール、４０・・・テスタ、４１
・・・Ｉｃソケッ１〜．４２．４３・・・回動ピン、５
０・・・供給ハンド、５１．７１・・・］字状部、５２
．７２・・・板ばね、６０・・・腕、６１．８１・・・
シリンダ、６２゜８２・・・ピストン、７０・・・取出
ハンド。 特許出願人 ミナトエレクトロニクス株式会社鶴２図
Claims (9)
- （１）ＤＩＰ型のＩＣを供給する供給レールと；この供
給レールと分離され、しかも前記ＩＣを収納マガジンに
送る選別レールと； 前記供給レールと前記選別レールとの間に設けられ、テ
スタに接続されたＩＣソケットと；前記供給レールから
前記ＩＣソケットに向かって前記ＩＣを挟んで運ぶ供給
ハンドと； 前記ＩＣソケットから前記選別レールに向かって前記Ｉ
Ｃを挟んで運ぶ取出ハンドと； を有することを特徴とするＩＣハンドラ。 - （２）特許請求の範囲第１項において、 前記供給ハンドまたは前記取出ハンドは、可撓性のコ字
状把持部と、このコ字状把持部の開口部を縮めるばねと
、前記コ字状把持部から前記ＩＣを押出す押出しピンと
で構成されていることを特徴とするＩＣハンドラ。 - （３）特許請求の範囲第２項において、 前記バネは、板バネまたはコイルバネであることを特徴
とするＩＣハンドラ。 - （４）特許請求の範囲第１項において、 前記供給レールは、所定の傾斜を有するものであること
を特徴とするＩＣハンドラ。 - （５）ＤＩＰ型のＩＣを供給ししかも所定の傾斜を有す
る供給レールと； この供給レールと分離され、しかも前記ＩＣを収納マガ
ジンに送る選別レールと； 前記供給レールと前記選別レールとの間に設けられ、テ
スタに接続されたＩＣソケットと；前記供給レールから
前記ＩＣソケットに向かって前記ＩＣを挟んで運ぶ供給
ハンドと； 前記ＩＣソケットから前記選別レールに向かって前記Ｉ
Ｃを挟んで運ぶ取出ハンドと； 前記供給ハンドを偏心して回動する偏心回動手段と； を有することを特徴とするＩＣハンドラ。 - （６）ＤＩＰ型のＩＣを供給ししかも所定の傾斜を有す
る供給レールと； この供給レールと分離され、しかも前記ＩＣを収納マガ
ジンに送る選別レールと； 前記供給レールと前記選別レールとの間に設けられ、テ
スタに接続されたＩＣソケットと；前記供給レールから
前記ＩＣソケットに向かって前記ＩＣを挟んで運ぶ供給
ハンドと； 前記ＩＣソケットから前記選別レールに向かって前記Ｉ
Ｃを挟んで運ぶ取出ハンドと； 前記供給ハンドを回動する回動手段と； 前記取出ハンドを水平方向にスライドするスライド手段
と； このスライド手段と前記回動手段とを連動させる連動手
段と； を有することを特徴とするＩＣハンドラ。 - （７）ＤＩＰ型のＩＣを供給する供給レールと；この供
給レールと分離され、しかも前記ＩＣを収納マガジンに
送る選別レールと； 前記供給レールと前記選別レールとの間に設けられ、テ
スタに接続されたＩＣソケットと；前記供給レールから
前記ＩＣソケットに向かって前記ＩＣを挟んで運ぶ供給
ハンドと； 前記ＩＣソケットから前記選別レールに向かって前記Ｉ
Ｃを挟んで運ぶ取出ハンドと； 前記ＩＣソケットの端部に設けられた回動ピンと； 前記取出ハンドに設けられた突起と； を有し、 前記取出ハンドが前記ＩＣソケットに接近したときに、
前記突起が前記回動ピンを回動させることによって、前
記ＩＣソケットから前記ＩＣを離脱させることを特徴と
するＩＣハンドラ。 - （８）特許請求の範囲第７項において、 前記突起は、前記取出ハンドの両端にそれぞれ１つずつ
設けられ、前記回動ピンは、前記ＩＣハンドの両端にそ
れぞれ１つずつ設けられていることを特徴とするＩＣハ
ンドラ。 - （９）ＤＩＰ型のＩＣを供給する供給レールと；この供
給レールと分離され、しかも前記ＩＣを収納マガジンに
送る選別レールと； 前記供給レールと前記選別レールとの間に設けられ、テ
スタに接続されたＩＣソケットと；前記供給レールから
前記ＩＣソケットに向かって前記ＩＣを挟んで運ぶ供給
ハンドと； 前記ＩＣソケットから前記選別レールに向かって前記Ｉ
Ｃを挟んで運ぶ取出ハンドと； 前記選別レールのうち、所定のレールを水平に移動する
選別レール移動手段と； 前記取出ハンドを上下動させる取出ハンド上下動手段と
； を有することを特徴とするＩＣハンドラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59208320A JPS6186665A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Ｉｃハンドラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59208320A JPS6186665A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Ｉｃハンドラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6186665A true JPS6186665A (ja) | 1986-05-02 |
Family
ID=16554306
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59208320A Pending JPS6186665A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Ｉｃハンドラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6186665A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6466576A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-13 | Okaya Electric Industry Co | Loader/unloader apparatus |
| US4908126A (en) * | 1986-11-11 | 1990-03-13 | Multitest, Elektronische Systeme Gmbh | Apparatus for testing and sorting electronic components, in particular IC's |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51110976A (ja) * | 1975-03-26 | 1976-09-30 | Kokusai Electric Co Ltd | |
| JPS5796795A (en) * | 1980-12-08 | 1982-06-16 | Nitto Seiko Kk | Industrial robot device |
-
1984
- 1984-10-05 JP JP59208320A patent/JPS6186665A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| JPS51110976A (ja) * | 1975-03-26 | 1976-09-30 | Kokusai Electric Co Ltd | |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4908126A (en) * | 1986-11-11 | 1990-03-13 | Multitest, Elektronische Systeme Gmbh | Apparatus for testing and sorting electronic components, in particular IC's |
| JPS6466576A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-13 | Okaya Electric Industry Co | Loader/unloader apparatus |
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