JPS6190074A - レ−ザ測距装置 - Google Patents
レ−ザ測距装置Info
- Publication number
- JPS6190074A JPS6190074A JP59212992A JP21299284A JPS6190074A JP S6190074 A JPS6190074 A JP S6190074A JP 59212992 A JP59212992 A JP 59212992A JP 21299284 A JP21299284 A JP 21299284A JP S6190074 A JPS6190074 A JP S6190074A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- signal
- microwave
- component
- optical modulator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 23
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 206010004542 Bezoar Diseases 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/32—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、レーザ光によるＩｊＩＩＩ距装置・＼に関す
る。
る。
従来のこの棟のレーザ測距装置の概略を第１図によって
説明する。第１図は、従来方式による測距装置コ（の構
成を示すブロック図である。レーザ装置１より出力さ江
る直線１ｈｌｉ光されたビームを１反射ミラー２を用い
てウォラストンプリズム３に適切な角度で入射させる。
説明する。第１図は、従来方式による測距装置コ（の構
成を示すブロック図である。レーザ装置１より出力さ江
る直線１ｈｌｉ光されたビームを１反射ミラー２を用い
てウォラストンプリズム３に適切な角度で入射させる。
光変調器５は、内部に複屈折性結晶が人っており、マイ
クロ波回路４と１を号処理制御器１０の制御で、ある基
準の一イクロ波周波数ω０で屯界がかけられている。ウ
ォラストンプリズム３より出射したビームは、この光変
調器５を通ることにより複屈折性結晶のファースト（ｆ
ａｓｔ）成分とスｏ −（ｓｌｏｗ）成分とに分離され
、垂直と水平成分の位相差ｒ （ｒ＝π・−Ｖ、、−、
Ｖπ；Ｖπ 結晶の半波長電圧、Ｖｍ；マイクロ波の毛玉）が生じて
それぞれ周波数（υ０で変調される。この変調さね、た
ビームは、光学系６を通って、測距ｌ−たい目標点に置
かれた反射光学系７で折返され、再び光学系６を通って
光変調器５′に、入射し、再び変調され、ウォラストン
プリズム３に入射される。そして、今度は、変調された
成分だけを測定する為、送光時の偏光とは直交した成分
を反射ミラー２を用いて光検出型８に導き、光重変換す
る。ここに入射される信号ビーム強度■は、Ｉ＝Ｉ
Ｊｏ（２Ｆ。。ｓ 引”＝ ”” （１＋ ｃ。Ｓ ９
） ） ｆ−ｐゎ＠ｎ；ｂｏＣ１”Ｃψけ、光変調器５
を出たビームが反射光学系７で折返され、再び光変調器
５に戻ってくるまでの間に生ずる位相差で距離情報を持
っている。
クロ波回路４と１を号処理制御器１０の制御で、ある基
準の一イクロ波周波数ω０で屯界がかけられている。ウ
ォラストンプリズム３より出射したビームは、この光変
調器５を通ることにより複屈折性結晶のファースト（ｆ
ａｓｔ）成分とスｏ −（ｓｌｏｗ）成分とに分離され
、垂直と水平成分の位相差ｒ （ｒ＝π・−Ｖ、、−、
Ｖπ；Ｖπ 結晶の半波長電圧、Ｖｍ；マイクロ波の毛玉）が生じて
それぞれ周波数（υ０で変調される。この変調さね、た
ビームは、光学系６を通って、測距ｌ−たい目標点に置
かれた反射光学系７で折返され、再び光学系６を通って
光変調器５′に、入射し、再び変調され、ウォラストン
プリズム３に入射される。そして、今度は、変調された
成分だけを測定する為、送光時の偏光とは直交した成分
を反射ミラー２を用いて光検出型８に導き、光重変換す
る。ここに入射される信号ビーム強度■は、Ｉ＝Ｉ
Ｊｏ（２Ｆ。。ｓ 引”＝ ”” （１＋ ｃ。Ｓ ９
） ） ｆ−ｐゎ＠ｎ；ｂｏＣ１”Ｃψけ、光変調器５
を出たビームが反射光学系７で折返され、再び光変調器
５に戻ってくるまでの間に生ずる位相差で距離情報を持
っている。
光電変Ｊ臭さルた電流は、１亘流増幅器９で増幅され、
信号処理制御器ｌＯに人力され処理される。
信号処理制御器ｌＯに人力され処理される。
次に信号処理制御器１０は、マイクロ波回路４０マイク
ロ波周波数及び光変調器５の共振周波数を制御し、変化
させ５周波数ω１．ω２．・・・ωｎをパラメータとし
てそれぞれ測定し、周波数と信号強度の関係より距離を
算出する。
ロ波周波数及び光変調器５の共振周波数を制御し、変化
させ５周波数ω１．ω２．・・・ωｎをパラメータとし
てそれぞれ測定し、周波数と信号強度の関係より距離を
算出する。
ｊ−かし、この方式は光検出器に人力される信号が直流
成分である為、信号でない光、例えば光度ｉＪＭ ｉｌ
！葺へ結晶組込時に加わるストレスによるバイアス成分
、光学系や結晶面で反射さｆｌた信号と同一（ｉｎ＋光
ｌｊＸ分、或いは背＋は光等も光電変換され増幅。
成分である為、信号でない光、例えば光度ｉＪＭ ｉｌ
！葺へ結晶組込時に加わるストレスによるバイアス成分
、光学系や結晶面で反射さｆｌた信号と同一（ｉｎ＋光
ｌｊＸ分、或いは背＋は光等も光電変換され増幅。
処理される馬、信号と（−では十分なＳＮ比（Ｓ／Ｎ）
が得ｌ−）、ｆ′Ｌなかった。又、信号が零となる点も
推定！ し漫く、周波数のサンプル点数も多かった
。この様子を第３図（ａ）に示す。
が得ｌ−）、ｆ′Ｌなかった。又、信号が零となる点も
推定！ し漫く、周波数のサンプル点数も多かった
。この様子を第３図（ａ）に示す。
本発明の目的は、上記欠点を解決し、信号成分のみケ屯
気的に取出ＬＳ／Ｎの向上およびマイクロ波周波数のサ
ンプル点数の減少を可能と１−たレーザ測距装置を提供
することにある。
気的に取出ＬＳ／Ｎの向上およびマイクロ波周波数のサ
ンプル点数の減少を可能と１−たレーザ測距装置を提供
することにある。
本発明は、光変調器テ印加するマイクロ波に低周波ＡＭ
変調をかけ、信号光となる直流成分を変調させて光検出
し、光電変換された電気信号よりＡＭ周波数成分のみを
取り出し、増幅し信号処理するようにしたものである。
変調をかけ、信号光となる直流成分を変調させて光検出
し、光電変換された電気信号よりＡＭ周波数成分のみを
取り出し、増幅し信号処理するようにしたものである。
次に、本発明を第２１金参照しながら実施例について説
明する。
明する。
符号１〜７で示す構成は従来装置と同じであるが、マイ
クロ波回路４は、周波数シンセサイザ１１により低周波
のＡＭ変調がかけられる。第２図における光検出器８も
従来装置と同じ光検出器である。光電変換された電流は
、交流増幅器１２で信号でない直流成分がカットされ、
ＡＭ周波数成分のみが増幅される。これによって光変調
器内へ結晶組込時のストレスに基づくレーザ光変調成分
や。
クロ波回路４は、周波数シンセサイザ１１により低周波
のＡＭ変調がかけられる。第２図における光検出器８も
従来装置と同じ光検出器である。光電変換された電流は
、交流増幅器１２で信号でない直流成分がカットされ、
ＡＭ周波数成分のみが増幅される。これによって光変調
器内へ結晶組込時のストレスに基づくレーザ光変調成分
や。
他の信号以外の成分が除去され、増幅されることになる
ので、Ｓ／Ｎが向上する。その（＆、Ｒへ１８メータ１
３により実効値に変換し、従来装置と同様の信号処理制
御器１０に人力し、従来通りの信号処理を行う。マイク
ロ波周波数をパラメータとして測距する時、信号が零と
なる所がはっきりと分かる為、パラメータの数も少くで
き、精度良く測定することができる。この様子を第３図
（ｂ）に示す。
ので、Ｓ／Ｎが向上する。その（＆、Ｒへ１８メータ１
３により実効値に変換し、従来装置と同様の信号処理制
御器１０に人力し、従来通りの信号処理を行う。マイク
ロ波周波数をパラメータとして測距する時、信号が零と
なる所がはっきりと分かる為、パラメータの数も少くで
き、精度良く測定することができる。この様子を第３図
（ｂ）に示す。
以上説明したように本発明は、光変調器に印加するマイ
クロ波て低周波のＡＭ変調をかけ、信号光となる直流成
分を変調させ、光検出後の電気信号よりＡＭ周波数成分
のみを取り出し、増幅し、信号処理する為、信号以外の
成分が除去できＳ／Ｎが向上１−、マイクロ波周波数を
パラメータと１〜た測定では零点がはっきりと分かり、
パラメータの数を少く出来る効果を有する。
クロ波て低周波のＡＭ変調をかけ、信号光となる直流成
分を変調させ、光検出後の電気信号よりＡＭ周波数成分
のみを取り出し、増幅し、信号処理する為、信号以外の
成分が除去できＳ／Ｎが向上１−、マイクロ波周波数を
パラメータと１〜た測定では零点がはっきりと分かり、
パラメータの数を少く出来る効果を有する。
第１図は従来のレーザ測距装置の構成を示すブロック図
、用２図は本発明の実施例を示すブロック図、第３図（
ａ） 、 （ｂ）は、レーザ測距装置で光変調器に印加
するマイクロ波周波数をパラメータと］−で測定した信
号波形を示す図で、同図（ａ）は従来装置の場合の信号
波形図、同図（ｂ）は本発明装置ｆイの場倉信号波形図
である。 １・・・レーザ％ ｉｆｆ、、 ２・・・反射
ミラー、３・・・ウォラストンプリズム。 ４・・・マイクロ波回路、 ５・・・光変調器、６
・・・光学系、 ７・・・反射光学系、８
・・・光検出器、 ９・・・直流増幅器、１
０・・・イ言号処理η１り御器、 １１・・・周波数シンセサイザ、 １２・・・交流ｉ着甲ＩＡ器、 １３・・・ＩζＭ
Ｓメータ。
、用２図は本発明の実施例を示すブロック図、第３図（
ａ） 、 （ｂ）は、レーザ測距装置で光変調器に印加
するマイクロ波周波数をパラメータと］−で測定した信
号波形を示す図で、同図（ａ）は従来装置の場合の信号
波形図、同図（ｂ）は本発明装置ｆイの場倉信号波形図
である。 １・・・レーザ％ ｉｆｆ、、 ２・・・反射
ミラー、３・・・ウォラストンプリズム。 ４・・・マイクロ波回路、 ５・・・光変調器、６
・・・光学系、 ７・・・反射光学系、８
・・・光検出器、 ９・・・直流増幅器、１
０・・・イ言号処理η１り御器、 １１・・・周波数シンセサイザ、 １２・・・交流ｉ着甲ＩＡ器、 １３・・・ＩζＭ
Ｓメータ。
Claims (1)
- 光変調器でマイクロ波周波数に変調したレーザ光を送光
し、測距目標点から反射して戻って来た光を再び送光時
と同じ光変調器を通し、送光レーザ偏光と直交した成分
の強度をマイクロ波周波数をパラメータとして測定し測
距するレーザ測距装置において、前記光変調器に印加す
るマイクロ波に低周波のＡＭ変調をかけ、受光成分より
ＡＭ変調周波数の信号成分のみを電気信号として取出す
手段を具備することを特徴とするレーザ測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59212992A JPS6190074A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | レ−ザ測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59212992A JPS6190074A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | レ−ザ測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6190074A true JPS6190074A (ja) | 1986-05-08 |
Family
ID=16631670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59212992A Pending JPS6190074A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | レ−ザ測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6190074A (ja) |
-
1984
- 1984-10-11 JP JP59212992A patent/JPS6190074A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS63218830A (ja) | ヘテロダインレーザの即時周波数測定システム及びその測定方法 | |
| JPH01141388A (ja) | 光電距離測定方法 | |
| US5298970A (en) | Sample evaluating method by using thermal expansion displacement | |
| US6285182B1 (en) | Electro-optic voltage sensor | |
| JP4853474B2 (ja) | 光センサおよび光電流・電圧センサ | |
| JPH05264609A (ja) | 高周波電気信号のエレクトロオプティカル効果による測定方法およびシステム | |
| JPH08146066A (ja) | 電気信号測定方法および装置 | |
| JPH06186337A (ja) | レーザ測距装置 | |
| JP3236941B2 (ja) | 光波距離計における測距方法 | |
| CN212301699U (zh) | 一种里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定控制装置 | |
| JP2920502B2 (ja) | 偏光回転を用いた光検出方法 | |
| JPH0451772B2 (ja) | ||
| JP3057280B2 (ja) | 光サンプリング装置 | |
| JPS6275363A (ja) | レ−ザ−測距装置 | |
| JPS6371675A (ja) | レ−ザ−測距装置 | |
| JPH07181211A (ja) | 表面電位計測装置 | |
| JP2002031658A (ja) | 高周波電磁波検出システム及び高周波電磁波検出方法 | |
| SU1018072A2 (ru) | Магнитооптический гистериограф | |
| JPS5853731B2 (ja) | 反射率透過率測定装置 | |
| JPH07128408A (ja) | Ｅｏプローブ | |
| SU1453180A1 (ru) | Устройство дл измерени динамических характеристик электрического разр да | |
| SU883822A1 (ru) | Магнитооптический гистериограф | |
| JPH07324909A (ja) | 光ヘテロダイン干渉計の検知システム | |
| JPS63158485A (ja) | 位相検出装置 | |
| JPH0623678B2 (ja) | コヒ−レントｏｔｄｒ装置 |