JPS619765A - Picture image processor - Google Patents
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- JPS619765A JPS619765A JP59130275A JP13027584A JPS619765A JP S619765 A JPS619765 A JP S619765A JP 59130275 A JP59130275 A JP 59130275A JP 13027584 A JP13027584 A JP 13027584A JP S619765 A JPS619765 A JP S619765A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、被検出物体の表面に発生する凹凸、異物混入
、傷などの欠陥を検出するために被検出物体を撮像して
、その画像データを処理する画像処理装置に関する。Detailed Description of the Invention Technical Field The present invention relates to an image processing system that captures an image of a detected object and processes the image data in order to detect defects such as irregularities, foreign matter contamination, and scratches occurring on the surface of the detected object. It relates to a processing device.
背景技術
被検出物体の表面における傷などの形状欠陥を画像処理
によって検出する方法がある。従来技術の画像処理装置
では被検出物体をテレビカメラで撮像し、テレビカメラ
からの画像信号を2値化処理する。そして2値化された
画像データを画像メモリにストアし、その画像データを
演算処理して被検出物体の欠陥を検出している。BACKGROUND ART There is a method of detecting shape defects such as scratches on the surface of an object to be detected by image processing. In the conventional image processing apparatus, an object to be detected is imaged by a television camera, and the image signal from the television camera is binarized. Then, the binarized image data is stored in an image memory, and the image data is subjected to arithmetic processing to detect defects in the object to be detected.
上述のような2値化処理では、画像データのデータ量が
少ないため、処理過程において混入した電気的ノイズの
影響を受けたり、テレビカメラが受光する光量の変動に
よって、正確なデータを得ることができない問題があっ
た。In the binarization process described above, since the amount of image data is small, it may be affected by electrical noise mixed in during the processing process or may not be able to obtain accurate data due to fluctuations in the amount of light received by the television camera. There was a problem that I couldn't do it.
目 的
本発明の目的は、このような従来の技術的問題を解決し
、画像ノイズや受光する光量の変化などの影響を受けず
、正確な画像データを得ることが”でき、被検出物体の
欠陥を検出することができる画像処理装置を提供するこ
とである。Purpose The purpose of the present invention is to solve such conventional technical problems, to be able to obtain accurate image data without being affected by image noise or changes in the amount of received light, and to obtain accurate image data of the detected object. An object of the present invention is to provide an image processing device capable of detecting defects.
実施例
第1図は、本発明の一実施例の画像処理装置1のブロッ
ク図である。画像処理装置1は、光源2から被検出物体
3の表面に正反射しない角度で光を照射し、被検出物体
3を撮像手段であるテレビカメラ4で撮像して画像とし
て取り込む。テレビカメラ4からのアナログ信号出力は
アナログ/デジタル変換器5でデジタル信号に変換され
る。デジタル変換された画像データは、2値化処理ゲー
ト回路6で被検出物体3の画像のみ取り出される。Embodiment FIG. 1 is a block diagram of an image processing apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. The image processing device 1 irradiates light from a light source 2 onto the surface of an object to be detected 3 at an angle that does not cause regular reflection, and images the object to be detected 3 with a television camera 4 serving as an imaging means to capture the image as an image. An analog signal output from the television camera 4 is converted into a digital signal by an analog/digital converter 5. From the digitally converted image data, only the image of the detected object 3 is extracted by the binarization processing gate circuit 6.
第2図には2値化された撮像画面Pか示されている。被
検出物体3の画像X部分を論理値「1」とし、その他の
画像部分を論理値rOJとして、撮像画面Pが2値化さ
れる。2値化によって識別され°る被検出物体3の画像
X部分の画像データのみ取り出されるように2値化処理
回路6が働き、第1フレームメモリ7と微分回路8に被
検出物体3の画像データが出力される。第1フレームメ
モリ7には、第3図示のように被検出物体3の画像がま
たとえば256階調の濃淡画像として格納される。FIG. 2 shows a binarized image capture screen P. The captured screen P is binarized by setting the image X portion of the detected object 3 to a logical value “1” and the other image portions to a logical value rOJ. The binarization processing circuit 6 operates so that only the image data of the image X part of the detected object 3 that is identified by the binarization is extracted, and the image data of the detected object 3 is stored in the first frame memory 7 and the differentiation circuit 8. is output. The image of the object to be detected 3 is stored in the first frame memory 7 as a grayscale image of, for example, 256 gradations, as shown in the third diagram.
′参照符にで示されている部分は被検出物体3の欠陥部
分である。The part indicated by the reference numeral ' is a defective part of the object 3 to be detected.
微分回路8では入力された被検出物体3の濃淡画像の方
向微分により画像中のエツジを抽出する。The differentiation circuit 8 extracts edges in the image by directional differentiation of the input grayscale image of the object to be detected 3.
濃淡画像からエツジを抽出するには画像中の濃度の変化
を取り出せばよいので一般に微分法が用いられ、この微
分回路8によって画像のエツジの濃淡差に対応したエツ
ジ値とそのエツジの延びる方向が求められる。微分回路
8から出力されるエツジ方向を示すデータはコード化さ
れ、方向コードメモリ9に格納される。微分回路8から
出力されるエツジが連続し”だエツジ線は、幅広いため
細線化処理回路10で幅1画素の線に細められる。さら
に細線化されたエツジ線は、しきい値処理回路11でそ
のエツジ値と予め定められたしきい値と比較して、しき
い値以下のエツジ値を有する画素の消失が行なわれる。To extract edges from a grayscale image, a differential method is generally used because it is sufficient to extract changes in density in the image, and this differential circuit 8 calculates the edge value corresponding to the grayscale difference in the edge of the image and the direction in which the edge extends. Desired. Data indicating the edge direction output from the differentiating circuit 8 is encoded and stored in the direction code memory 9. The edge line with continuous edges outputted from the differentiating circuit 8 is wide, so it is thinned to a line with a width of 1 pixel by the thinning processing circuit 10. The edge value is compared with a predetermined threshold value, and pixels having edge values below the threshold value are erased.
この処理によって、画像処理過程で混入する電気的ノイ
ズによる画像データの除去が行なわれる。しきい値処理
されたエツジ線画は、2値化データとして、第4図に示
されているように第2フレームメモリ12に格納される
。Through this processing, image data due to electrical noise mixed in during the image processing process is removed. The threshold-processed edge line drawing is stored as binarized data in the second frame memory 12, as shown in FIG.
第2フレームメモリ12において、エツジフラグは論理
値「1」ならばエツジ点F1論理値「O」ならば非エツ
ジ点という1ビツトデータである。In the second frame memory 12, the edge flag is 1-bit data indicating that if the logic value is "1", it is an edge point F1; if the logic value is "O", it is a non-edge point.
第1フレームメモリ7、第2フレームメモリ12および
方向コードメモリ9に格納されたデータをデータバス1
3を介して、処理装置14は、被検出物体3の欠陥を検
出するための処理を行なう。The data stored in the first frame memory 7, second frame memory 12 and direction code memory 9 is transferred to the data bus 1.
3, the processing device 14 performs processing for detecting defects in the detected object 3.
第5図は、被検出物体3の欠陥を検出するための処理動
作を示すフローチャートである。処理装置M14は、第
2フレームメモリ12を第4図示の矢符LSで示される
方向に順次直線走査するように左上の画素から右下の画
素までいわゆるラスタスキャンしてエツジフラグを検出
する。ステップn1では第1フレームメモリのラスタス
キャンが終了したか否かが判断される。ラスタスキャン
が終了していないとステップn2に移って第2フレーム
メモリ12のしきい値処理された画像のエツジフラグが
検出される。次にステップn3に移ってエツジフラグが
検出されたか否かが判断される。FIG. 5 is a flowchart showing processing operations for detecting defects in the object 3 to be detected. The processing device M14 performs so-called raster scanning from the upper left pixel to the lower right pixel so as to sequentially linearly scan the second frame memory 12 in the direction indicated by the arrow LS shown in the fourth diagram to detect edge flags. In step n1, it is determined whether or not the raster scan of the first frame memory has been completed. If the raster scan has not been completed, the process moves to step n2 and the edge flag of the threshold-processed image in the second frame memory 12 is detected. Next, the process moves to step n3, where it is determined whether an edge flag has been detected.
エツジフラグが検出されないとステップn1に戻る。エ
ツジフラグが検出されるとステップn4に移って方向コ
ードメモリ9より検出された画素Aのエツジフラグのエ
ツジ方向が読み出される。ステップn5では、第β図に
示されているように検出された画素Aのエツジフラグの
エツジ方向と交差する領域El、E2の濃淡差または濃
淡比が算出される。この領域El、E2の大きさは、画
素数で言えば、たとえば3画素×3画素程度の大きさの
ものである。平均濃度は領域El 、E2のアドレスに
対応する画素の濃度を第1フレームメモリ7より読み出
して算出される。そして領域El。If no edge flag is detected, the process returns to step n1. When the edge flag is detected, the process moves to step n4, and the edge direction of the detected edge flag of pixel A is read out from the direction code memory 9. In step n5, the shading difference or shading ratio of the regions El and E2 intersecting the edge direction of the edge flag of the detected pixel A as shown in FIG. β is calculated. In terms of the number of pixels, the sizes of the regions El and E2 are, for example, about 3 pixels×3 pixels. The average density is calculated by reading out from the first frame memory 7 the density of the pixels corresponding to the addresses of the areas El and E2. and area El.
E2の平均濃度の差または比が求められる。ステップn
6に移ってその差または比が予め定められた弁別レベル
より大きいか否かが判断される。前記差または比が弁別
レベルより小さいときは、ステップn1に戻る。前記差
また比が弁別レベルよりも大きいとき、ステップn7に
移って、ソフトウェア上でバッファにフラグを立てる。The difference or ratio of the average concentrations of E2 is determined. step n
6, it is determined whether the difference or ratio is greater than a predetermined discrimination level. When the difference or ratio is smaller than the discrimination level, the process returns to step n1. When the difference or ratio is greater than the discrimination level, proceed to step n7 and flag the buffer on the software.
これで検出された画素Aの処理は終了し、第2フレーム
メモリ12上の画素Aのエツジフラグは消去される。The processing of the detected pixel A is now completed, and the edge flag of the pixel A on the second frame memory 12 is erased.
これは次にラスタスキャンしたときに1重複処理される
のを避けるためである。次にこの画素Aとつながってい
る画素を見い出し、存在すればその画素でも同様にその
エツジ方向と交差し隣接される領域の濃淡差または濃淡
比が求められ、平均濃度の差または比が弁別レベルより
も大きければ、画素Aのフラグが立てられたのと同じバ
ッファにフラグが立てられる。そしてその画素の第2メ
モリ12上のエツジフラグが消去される。このように同
様のエツジフラグ検出処理が順次繰り返され、つながる
画素が見つからなくなるか、あるいは2つの領域の平均
り段差または比が弁別レベル以下になるまで続けられる
。このような処理で立てられたバッファのフラグが予め
定められた値N個以上になれば、その被検査物体3は欠
陥を有し、不良品であると判断される。ステップn8で
はバッファのフラグがN個以上か否かが判断される。フ
ラグがN個以上あれがステップn9に移って被検査物体
3は不良品であると判断される。フラグがN個以下のと
き、ステップnloに移って検出された画素のエツジフ
ラグが消去される。ステップnilでは検出された画素
につながるエツジフラグのある画素が検索される。ステ
ップn12でエツジフラグのある画素は存在するか否か
が判断される。エツジフラグのある画素が存在するとス
テップn4に戻って、ステップn4〜n12が繰り返さ
れる。エツジフラグのある画素が存在しないときステッ
プn1に戻り、ラスタスキャンが終了するとステップn
13で被検査物体3は欠陥のない良品と判断される。This is to avoid duplicate processing the next time the raster scan is performed. Next, a pixel connected to this pixel A is found, and if it exists, the difference in density or ratio of density in the adjacent area intersecting the edge direction is similarly determined for that pixel, and the difference or ratio in average density is determined as the discrimination level. , then the same buffer where pixel A was flagged is flagged. Then, the edge flag on the second memory 12 for that pixel is erased. In this way, similar edge flag detection processing is repeated one after another until no connected pixels are found or the average step difference or ratio between the two areas falls below the discrimination level. If the number of flags in the buffer set through such processing exceeds a predetermined value N, the object to be inspected 3 is determined to have a defect and is a defective product. In step n8, it is determined whether the number of flags in the buffer is N or more. If there are N or more flags, the process moves to step n9 and the inspected object 3 is determined to be defective. When the number of flags is N or less, the process moves to step nlo and the edge flag of the detected pixel is erased. In step nil, a pixel with an edge flag connected to the detected pixel is searched. In step n12, it is determined whether there are any pixels with edge flags. If a pixel with an edge flag exists, the process returns to step n4 and steps n4 to n12 are repeated. When there is no pixel with an edge flag, the process returns to step n1, and when the raster scan is completed, step n
At step 13, the object to be inspected 3 is determined to be a good product with no defects.
このようにして、被検査物体3の欠陥が検査されるので
、孤立点や画像ノイズは欠陥部と判断されず、検出精度
が向上される。In this way, defects in the object to be inspected 3 are inspected, so that isolated points and image noise are not determined to be defective parts, and detection accuracy is improved.
上述の方向微分、細線化処理、しきい値処理のアルゴリ
ズム及び回路については、従来よりよく知られている適
宜の方式を採用すれば良いものである。As for the algorithms and circuits for the above-mentioned directional differentiation, line thinning processing, and threshold processing, it is sufficient to adopt appropriate methods that are well known in the past.
本発明の他の実施例として、エツジフラグのある画素の
エツジ方向と交差する方向に瞬接して細長く延びる2つ
のマスク領域内の濃度をレベル弁別して、被検出物体3
の欠陥を検出する場合について述べる。第7)図は被検
出物体3の濃淡画像が第1フレームメモリ7に格納され
ている状態を示し、第8図は被検出物体3のしきい値処
理された画像が第2フレームメモリ12に格納されてい
る状態を示す。参照符には被検出物体3の欠陥部分の画
像を示し、参照符FLは論理値「1」であるエツジフラ
グのある画素を示している。第2フレームメモリ12を
ラスタスキャン・してエツジフラグの有無が検出され、
エツジフラグが検出されるとその画素Aのエツジ方向が
方向コードメモリ9から読み出され、その方向に対して
交差する方向に1列の第91図示のようなマスク領域M
が設定される。このマスク領域Mは、たとえば9画素×
1画素の大きさである。そこでこのマスク領域Mのアド
レスに対応する画素の濃度を第1フレームメモリ7より
読み出し、マスク領域M内の濃度の最大値および最小値
を抽出する。第1・0図にはその処理動作を示すフロー
チャートが示されている。ステップm1〜m4は上述の
実施例のステップn1〜n4に対応して、同様の処理が
行なわれる。ステップm5では上述のようにマスク領域
M内の濃度の最大値および最小値が求められ、その最大
値と最小値の差または比が演算される。ステップm6に
移って前記差または比が予め定められた弁別レベルと比
較され、その値が小さいとステップm1に戻る。前記差
または比が弁別レベルより大きければ、ソフトウェア上
でバッファにフラグを立てる。これで検出された画素A
のエツジフラグは消去される。前記画素Aにつながって
いる画素が検出されると、同様にエツジ方向と交差する
方向に1列のマスク領域を設定し、濃度の最大値と最小
値が求められ、その最大値と最小値の差または比が演算
される。この差または比が弁別レベルよりも大きければ
、前に検出された画素Aのフラグが立てられたバッファ
にフラグが立てられるとともに、この画素のエツジフラ
グが消失される。このようにして同様の処理が繰り返さ
れ、つながる画素が見つからなくなるまたはとぎれるか
、あるいはマスク領域M内の濃度の最大値と最小値の差
または比が弁別レベル以下傾なるまで続けられる。As another embodiment of the present invention, the level of density in two mask regions that are elongated in instant contact with each other in a direction crossing the edge direction of a pixel with an edge flag is level-discriminated, and the detected object 3 is
We will discuss the case of detecting defects in . 7) shows a state in which a grayscale image of the detected object 3 is stored in the first frame memory 7, and FIG. 8 shows a state in which the threshold-processed image of the detected object 3 is stored in the second frame memory 12. Indicates the stored state. The reference numeral indicates an image of a defective portion of the object to be detected 3, and the reference numeral FL indicates a pixel with an edge flag having a logical value of "1". The presence or absence of an edge flag is detected by raster scanning the second frame memory 12,
When an edge flag is detected, the edge direction of the pixel A is read out from the direction code memory 9, and a mask area M in one column as shown in Figure 91 is read out from the direction code memory 9.
is set. This mask area M has, for example, 9 pixels×
The size is one pixel. Therefore, the density of the pixel corresponding to the address of this mask area M is read out from the first frame memory 7, and the maximum and minimum values of the density within the mask area M are extracted. A flowchart showing the processing operation is shown in FIG. 1.0. Steps m1 to m4 correspond to steps n1 to n4 of the above-described embodiment, and similar processing is performed. In step m5, the maximum and minimum values of the density within the mask area M are determined as described above, and the difference or ratio between the maximum and minimum values is calculated. The process moves to step m6, where the difference or ratio is compared with a predetermined discrimination level, and if the value is smaller, the process returns to step m1. If the difference or ratio is greater than the discrimination level, the buffer is flagged in software. Pixel A detected with this
The edge flag of is cleared. When a pixel connected to the pixel A is detected, a line of mask areas is similarly set in the direction intersecting the edge direction, the maximum and minimum values of density are determined, and the maximum and minimum values are calculated. A difference or ratio is calculated. If this difference or ratio is greater than the discrimination level, the previously detected pixel A's flagged buffer is flagged and the edge flag for this pixel is cleared. Similar processing is repeated in this manner until no connected pixels are found or the pixels are interrupted, or until the difference or ratio between the maximum and minimum density values within the mask region M falls below the discrimination level.
この処理でバッファのフラグが予め定めた値N個以上に
なれば、その被検出物体3は欠陥を有し不良であると判
断される。ステップm7ではバッファにフラグが立てら
れ、ステップm8に移ってフラグの数がN個以上か否か
が判断される。フラグの数がN個以上であればステップ
m9に移って被検出物体3は欠陥を有し、不良品と判断
基れる。If the number of flags in the buffer exceeds a predetermined value N in this process, it is determined that the detected object 3 has a defect and is defective. In step m7, a flag is set in the buffer, and the process moves to step m8, where it is determined whether the number of flags is N or more. If the number of flags is N or more, the process moves to step m9, where it is determined that the detected object 3 has a defect and is a defective product.
ステップmloでは検出された画素のフラグが消去され
、ステップm l 1ではエツジフラグのあった画素と
つながっているエツジフラグのある画素がさがされる。In step mlo, the flag of the detected pixel is erased, and in step m11, a pixel with an edge flag connected to the pixel with an edge flag is searched for.
その画素が存在すればステップm4に戻って、ステップ
m4〜m12が繰り返される。存在しないとステップm
1に戻ってラスタスキャンが終了するとステップm13
で被検出物体3が欠陥のない良品と判断される。If that pixel exists, the process returns to step m4 and steps m4 to m12 are repeated. If it does not exist, step m
Returning to step 1, when the raster scan is completed, step m13
The detected object 3 is determined to be a good product with no defects.
上述の実施例は比較的広がった領域の欠陥の検出に適し
、この他の実施例は比較的細長く延びた欠陥の検出に適
する。The embodiments described above are suitable for detecting defects in relatively large areas, and the other embodiments are suitable for detecting defects that are relatively elongated.
効果
本発明は上述のように構成したものであるから、被検出
物の欠陥を自動的に検出8識するに際し、位置決めが不
要であるため、作業性が良い効果を有する他光量変動が
あっても所定の検出精度が得られまた画像ノイズの影響
をほとんど受けない効果を有し、しかも画像データの情
報量を削減することなく処理を行なっているため、高精
度の欠陥8識動作が得られ、また1画素程度の欠陥であ
っても連続していれば検出可能である効果を有するもの
である。Effects Since the present invention is configured as described above, there is no need for positioning when automatically detecting defects in the object to be detected, which improves workability and eliminates light intensity fluctuations. The method achieves a certain level of detection accuracy and is virtually unaffected by image noise, and because processing is performed without reducing the amount of information in the image data, highly accurate defect identification can be achieved. , and has the effect that even defects of about one pixel can be detected as long as they are continuous.
第1図は本発明の一実施例の画像処理装置1のブロック
図、第2図は2値化された画像を示す図、第3図は第1
フレームメモリ7を示す図、444図は第2フレームメ
モリ12を示す図、第6.)図はエツジフラグのある画
素のエツジ方向に交差する領域を説明するための図、第
53図ば本発明に関する処理動作を説明するためのフロ
ーチャート、第7図は他の実施例の第1フレームメモリ
7を示す図、第8図は他の実施例の第2フレームメモリ
12を示す図、第9図は他の実施例のエツジフラグのあ
る画素のエツジ方向に交差するマスク領域を説明するた
めの図、第10図は他の実施例に関する処理動作を説明
するための70−チャートである。
1・・・画像処理装置、3・・・被検出物体、4・・・
テレビカメラ、5・・・アナログ/デジタル変換器、6
・・・2値化処理ゲート回路、7・・・第1フレームメ
モリ、8・・・微分回路、9・・・方向コードメモリ、
10・・・細線化処理回路、11・・・しきい値処理回
路、12・・・第2フレームメモリ、14・・・処fU
]it、E 1 、 E2・・・領域、M・・・マスク
領域
代理人 弁理士 西教圭一部
第6図
(a)
(b)
第9図1 is a block diagram of an image processing device 1 according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a binarized image, and FIG. 3 is a block diagram of an image processing device 1 according to an embodiment of the present invention.
FIG. 444 is a diagram showing the frame memory 7, and FIG. 6 is a diagram showing the second frame memory 12. ) is a diagram for explaining a region intersecting in the edge direction of a pixel with an edge flag, FIG. 53 is a flowchart for explaining the processing operation related to the present invention, and FIG. 7, FIG. 8 is a diagram showing the second frame memory 12 of another embodiment, and FIG. 9 is a diagram for explaining a mask area crossing the edge direction of a pixel with an edge flag in another embodiment. , FIG. 10 is a 70-chart for explaining the processing operation of another embodiment. 1... Image processing device, 3... Detected object, 4...
TV camera, 5...Analog/digital converter, 6
... Binarization processing gate circuit, 7... First frame memory, 8... Differentiation circuit, 9... Direction code memory,
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Thinning processing circuit, 11... Threshold processing circuit, 12... Second frame memory, 14... Processing fU
]it, E 1, E2...area, M...mask area Agent Patent Attorney Kei Nishi Department Figure 6 (a) (b) Figure 9
Claims (2)
からのアナログ信号出力をデジタル信号に変換するアナ
ログ/デジタル変換器と、アナログ/デジタル変換器か
らの画像データを2値化処理によつて撮像画面内の被検
出物体の画像のみを取り出す2値化処理ゲート回路と、
被検出物体の濃淡画像を格納する第1のフレームメモリ
と、被検出物体の画像を方向微分し、画像エッジの濃淡
差に対応したエッジ値とそのエッジの延びる方向を示す
値を求める微分回路と、微分回路によつて求められた前
記方向値をコードデータとして格納する方向コードメモ
リと、微分された画像のエッジを細くする細線化処理回
路と、細線化された画像のエッジ値を予め定められたし
きい値とレベル弁別し、しきい値以下のエッジ値を有す
る画素を消去するしきい値処理回路と、しきい値処理さ
れた画像を格納する第2のフレームメモリと、各メモリ
に格納されたデータを処理する処理装置とを含み、しき
い値処理画像のエッジを検出し、エッジが検出された複
数の画素のエッジ方向を前記方向コードメモリから取り
出し、前記複数の画素のエッジ方向と交差する方向に隣
接する2つの予め定めたまとまつた形状の領域の濃淡差
または濃淡比を予め定められた弁別レベルと比較して、
弁別レベル以上の領域の集合を予め定めた大きさと比較
することを特徴とする画像処理装置。(1) An imaging means for imaging the object to be detected, an analog/digital converter for converting an analog signal output from the imaging means into a digital signal, and a binarization process for the image data from the analog/digital converter. a binarization processing gate circuit that extracts only the image of the detected object within the imaging screen;
a first frame memory that stores a grayscale image of the detected object; and a differentiation circuit that directionally differentiates the image of the detected object and obtains an edge value corresponding to the grayscale difference of the image edge and a value indicating the direction in which the edge extends. , a direction code memory that stores the direction value obtained by the differentiation circuit as code data, a thinning processing circuit that thins the edge of the differentiated image, and a thinning processing circuit that thins the edge value of the thinned image. a threshold processing circuit that discriminates the level from the threshold value and erases pixels having edge values below the threshold; a second frame memory that stores the threshold-processed image; a processing device for processing the threshold-processed data, detecting edges of the threshold-processed image, retrieving edge directions of a plurality of pixels in which edges have been detected from the direction code memory, and detecting edge directions of the plurality of pixels in which the edges have been detected; Comparing the shading difference or shading ratio of two predetermined areas of a coherent shape adjacent in the intersecting direction with a predetermined discrimination level,
An image processing device characterized by comparing a set of regions having a discrimination level or higher with a predetermined size.
からのアナログ信号出力をデジタル信号に変換するアナ
ログ/デジタル変換器と、アナログ/デジタル変換器か
らの画像データを2値化処理によつて撮像画面内の被検
出物体の画像のみを取り出す2値化処理ゲート回路と、
被検出物体の濃淡画像を格納する第1のフレームメモリ
と、被検出物体の画像を方向微分し、画像エッジの濃淡
差に対応したエッジ値とそのエッジの延びる方向を示す
値を求める微分回路と、微分回路によつて求められた前
記方向値をコードデータとして格納する方向コードメモ
リと、微分された画像のエッジを細くする細線化処理回
路と、細線化された画像のエッジ値を予め定められたし
きい値とレベル弁別し、しきい値以下のエッジ値を有す
る画素を消去するしきい値処理回路と、しきい値処理さ
れた画像を格納する第2のフレームメモリと、各メモリ
に格納されたデータを処理する処理装置とを含み、しき
い値処理画像のエッジを検出し、エッジが検出された複
数の画素のエッジ方向を前記方向コードメモリから取り
出し、前記複数の画素のエッジ方向と交差する方向に隣
接して細長く延びるマスク領域内の濃度の最大値および
最小値を抽出し、濃度の最大値と最小値の差または比を
予め定められた弁別レベルと比較して、弁別レベル以上
の領域の集合を予め定めた大きさと比較することを特徴
とする画像処理装置。(2) An imaging means for imaging the object to be detected, an analog/digital converter for converting an analog signal output from the imaging means into a digital signal, and a binarization process for the image data from the analog/digital converter. a binarization processing gate circuit that extracts only the image of the detected object within the imaging screen;
a first frame memory that stores a grayscale image of the detected object; and a differentiation circuit that directionally differentiates the image of the detected object and obtains an edge value corresponding to the grayscale difference of the image edge and a value indicating the direction in which the edge extends. , a direction code memory that stores the direction value obtained by the differentiation circuit as code data, a thinning processing circuit that thins the edge of the differentiated image, and a thinning processing circuit that thins the edge value of the thinned image. a threshold processing circuit that discriminates the level from the threshold value and erases pixels having edge values below the threshold; a second frame memory that stores the threshold-processed image; a processing device for processing the threshold-processed data, detecting edges of the threshold-processed image, retrieving edge directions of a plurality of pixels in which edges have been detected from the direction code memory, and detecting edge directions of the plurality of pixels in which the edges have been detected; The maximum value and minimum value of the density within the mask area extending thinly and adjacently in the intersecting direction are extracted, and the difference or ratio between the maximum value and the minimum value of the density is compared with a predetermined discrimination level, and the difference or ratio of the maximum value and the minimum value of the density is compared with a predetermined discrimination level. An image processing device that compares a set of regions with a predetermined size.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59130275A JPS619765A (en) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | Picture image processor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59130275A JPS619765A (en) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | Picture image processor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS619765A true JPS619765A (en) | 1986-01-17 |
| JPH0337229B2 JPH0337229B2 (en) | 1991-06-04 |
Family
ID=15030407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59130275A Granted JPS619765A (en) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | Picture image processor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS619765A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6359109A (en) * | 1986-08-29 | 1988-03-15 | インタ−ナショナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−ション | Automatic gain controller |
| JPH01131974A (en) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | Image processing device |
-
1984
- 1984-06-25 JP JP59130275A patent/JPS619765A/en active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6359109A (en) * | 1986-08-29 | 1988-03-15 | インタ−ナショナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−ション | Automatic gain controller |
| JPH01131974A (en) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | Image processing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0337229B2 (en) | 1991-06-04 |
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