JPS619765A - 画像処理装置 - Google Patents
画像処理装置Info
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- JPS619765A JPS619765A JP59130275A JP13027584A JPS619765A JP S619765 A JPS619765 A JP S619765A JP 59130275 A JP59130275 A JP 59130275A JP 13027584 A JP13027584 A JP 13027584A JP S619765 A JPS619765 A JP S619765A
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/0006—Industrial image inspection using a design-rule based approach
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2200/00—Indexing scheme for image data processing or generation, in general
- G06T2200/28—Indexing scheme for image data processing or generation, in general involving image processing hardware
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20172—Image enhancement details
- G06T2207/20192—Edge enhancement; Edge preservation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、被検出物体の表面に発生する凹凸、異物混入
、傷などの欠陥を検出するために被検出物体を撮像して
、その画像データを処理する画像処理装置に関する。
、傷などの欠陥を検出するために被検出物体を撮像して
、その画像データを処理する画像処理装置に関する。
背景技術
被検出物体の表面における傷などの形状欠陥を画像処理
によって検出する方法がある。従来技術の画像処理装置
では被検出物体をテレビカメラで撮像し、テレビカメラ
からの画像信号を２値化処理する。そして２値化された
画像データを画像メモリにストアし、その画像データを
演算処理して被検出物体の欠陥を検出している。
によって検出する方法がある。従来技術の画像処理装置
では被検出物体をテレビカメラで撮像し、テレビカメラ
からの画像信号を２値化処理する。そして２値化された
画像データを画像メモリにストアし、その画像データを
演算処理して被検出物体の欠陥を検出している。
上述のような２値化処理では、画像データのデータ量が
少ないため、処理過程において混入した電気的ノイズの
影響を受けたり、テレビカメラが受光する光量の変動に
よって、正確なデータを得ることができない問題があっ
た。
少ないため、処理過程において混入した電気的ノイズの
影響を受けたり、テレビカメラが受光する光量の変動に
よって、正確なデータを得ることができない問題があっ
た。
目 的
本発明の目的は、このような従来の技術的問題を解決し
、画像ノイズや受光する光量の変化などの影響を受けず
、正確な画像データを得ることが”でき、被検出物体の
欠陥を検出することができる画像処理装置を提供するこ
とである。
、画像ノイズや受光する光量の変化などの影響を受けず
、正確な画像データを得ることが”でき、被検出物体の
欠陥を検出することができる画像処理装置を提供するこ
とである。
実施例
第１図は、本発明の一実施例の画像処理装置１のブロッ
ク図である。画像処理装置１は、光源２から被検出物体
３の表面に正反射しない角度で光を照射し、被検出物体
３を撮像手段であるテレビカメラ４で撮像して画像とし
て取り込む。テレビカメラ４からのアナログ信号出力は
アナログ／デジタル変換器５でデジタル信号に変換され
る。デジタル変換された画像データは、２値化処理ゲー
ト回路６で被検出物体３の画像のみ取り出される。
ク図である。画像処理装置１は、光源２から被検出物体
３の表面に正反射しない角度で光を照射し、被検出物体
３を撮像手段であるテレビカメラ４で撮像して画像とし
て取り込む。テレビカメラ４からのアナログ信号出力は
アナログ／デジタル変換器５でデジタル信号に変換され
る。デジタル変換された画像データは、２値化処理ゲー
ト回路６で被検出物体３の画像のみ取り出される。
第２図には２値化された撮像画面Ｐか示されている。被
検出物体３の画像Ｘ部分を論理値「１」とし、その他の
画像部分を論理値ｒＯＪとして、撮像画面Ｐが２値化さ
れる。２値化によって識別され°る被検出物体３の画像
Ｘ部分の画像データのみ取り出されるように２値化処理
回路６が働き、第１フレームメモリ７と微分回路８に被
検出物体３の画像データが出力される。第１フレームメ
モリ７には、第３図示のように被検出物体３の画像がま
たとえば２５６階調の濃淡画像として格納される。
検出物体３の画像Ｘ部分を論理値「１」とし、その他の
画像部分を論理値ｒＯＪとして、撮像画面Ｐが２値化さ
れる。２値化によって識別され°る被検出物体３の画像
Ｘ部分の画像データのみ取り出されるように２値化処理
回路６が働き、第１フレームメモリ７と微分回路８に被
検出物体３の画像データが出力される。第１フレームメ
モリ７には、第３図示のように被検出物体３の画像がま
たとえば２５６階調の濃淡画像として格納される。
′参照符にで示されている部分は被検出物体３の欠陥部
分である。
分である。
微分回路８では入力された被検出物体３の濃淡画像の方
向微分により画像中のエツジを抽出する。
向微分により画像中のエツジを抽出する。
濃淡画像からエツジを抽出するには画像中の濃度の変化
を取り出せばよいので一般に微分法が用いられ、この微
分回路８によって画像のエツジの濃淡差に対応したエツ
ジ値とそのエツジの延びる方向が求められる。微分回路
８から出力されるエツジ方向を示すデータはコード化さ
れ、方向コードメモリ９に格納される。微分回路８から
出力されるエツジが連続し”だエツジ線は、幅広いため
細線化処理回路１０で幅１画素の線に細められる。さら
に細線化されたエツジ線は、しきい値処理回路１１でそ
のエツジ値と予め定められたしきい値と比較して、しき
い値以下のエツジ値を有する画素の消失が行なわれる。
を取り出せばよいので一般に微分法が用いられ、この微
分回路８によって画像のエツジの濃淡差に対応したエツ
ジ値とそのエツジの延びる方向が求められる。微分回路
８から出力されるエツジ方向を示すデータはコード化さ
れ、方向コードメモリ９に格納される。微分回路８から
出力されるエツジが連続し”だエツジ線は、幅広いため
細線化処理回路１０で幅１画素の線に細められる。さら
に細線化されたエツジ線は、しきい値処理回路１１でそ
のエツジ値と予め定められたしきい値と比較して、しき
い値以下のエツジ値を有する画素の消失が行なわれる。
この処理によって、画像処理過程で混入する電気的ノイ
ズによる画像データの除去が行なわれる。しきい値処理
されたエツジ線画は、２値化データとして、第４図に示
されているように第２フレームメモリ１２に格納される
。
ズによる画像データの除去が行なわれる。しきい値処理
されたエツジ線画は、２値化データとして、第４図に示
されているように第２フレームメモリ１２に格納される
。
第２フレームメモリ１２において、エツジフラグは論理
値「１」ならばエツジ点Ｆ１論理値「Ｏ」ならば非エツ
ジ点という１ビツトデータである。
値「１」ならばエツジ点Ｆ１論理値「Ｏ」ならば非エツ
ジ点という１ビツトデータである。
第１フレームメモリ７、第２フレームメモリ１２および
方向コードメモリ９に格納されたデータをデータバス１
３を介して、処理装置１４は、被検出物体３の欠陥を検
出するための処理を行なう。
方向コードメモリ９に格納されたデータをデータバス１
３を介して、処理装置１４は、被検出物体３の欠陥を検
出するための処理を行なう。
第５図は、被検出物体３の欠陥を検出するための処理動
作を示すフローチャートである。処理装置Ｍ１４は、第
２フレームメモリ１２を第４図示の矢符ＬＳで示される
方向に順次直線走査するように左上の画素から右下の画
素までいわゆるラスタスキャンしてエツジフラグを検出
する。ステップｎ１では第１フレームメモリのラスタス
キャンが終了したか否かが判断される。ラスタスキャン
が終了していないとステップｎ２に移って第２フレーム
メモリ１２のしきい値処理された画像のエツジフラグが
検出される。次にステップｎ３に移ってエツジフラグが
検出されたか否かが判断される。
作を示すフローチャートである。処理装置Ｍ１４は、第
２フレームメモリ１２を第４図示の矢符ＬＳで示される
方向に順次直線走査するように左上の画素から右下の画
素までいわゆるラスタスキャンしてエツジフラグを検出
する。ステップｎ１では第１フレームメモリのラスタス
キャンが終了したか否かが判断される。ラスタスキャン
が終了していないとステップｎ２に移って第２フレーム
メモリ１２のしきい値処理された画像のエツジフラグが
検出される。次にステップｎ３に移ってエツジフラグが
検出されたか否かが判断される。
エツジフラグが検出されないとステップｎ１に戻る。エ
ツジフラグが検出されるとステップｎ４に移って方向コ
ードメモリ９より検出された画素Ａのエツジフラグのエ
ツジ方向が読み出される。ステップｎ５では、第β図に
示されているように検出された画素Ａのエツジフラグの
エツジ方向と交差する領域Ｅｌ、Ｅ２の濃淡差または濃
淡比が算出される。この領域Ｅｌ、Ｅ２の大きさは、画
素数で言えば、たとえば３画素×３画素程度の大きさの
ものである。平均濃度は領域Ｅｌ 、Ｅ２のアドレスに
対応する画素の濃度を第１フレームメモリ７より読み出
して算出される。そして領域Ｅｌ。
ツジフラグが検出されるとステップｎ４に移って方向コ
ードメモリ９より検出された画素Ａのエツジフラグのエ
ツジ方向が読み出される。ステップｎ５では、第β図に
示されているように検出された画素Ａのエツジフラグの
エツジ方向と交差する領域Ｅｌ、Ｅ２の濃淡差または濃
淡比が算出される。この領域Ｅｌ、Ｅ２の大きさは、画
素数で言えば、たとえば３画素×３画素程度の大きさの
ものである。平均濃度は領域Ｅｌ 、Ｅ２のアドレスに
対応する画素の濃度を第１フレームメモリ７より読み出
して算出される。そして領域Ｅｌ。
Ｅ２の平均濃度の差または比が求められる。ステップｎ
６に移ってその差または比が予め定められた弁別レベル
より大きいか否かが判断される。前記差または比が弁別
レベルより小さいときは、ステップｎ１に戻る。前記差
また比が弁別レベルよりも大きいとき、ステップｎ７に
移って、ソフトウェア上でバッファにフラグを立てる。
６に移ってその差または比が予め定められた弁別レベル
より大きいか否かが判断される。前記差または比が弁別
レベルより小さいときは、ステップｎ１に戻る。前記差
また比が弁別レベルよりも大きいとき、ステップｎ７に
移って、ソフトウェア上でバッファにフラグを立てる。
これで検出された画素Ａの処理は終了し、第２フレーム
メモリ１２上の画素Ａのエツジフラグは消去される。
メモリ１２上の画素Ａのエツジフラグは消去される。
これは次にラスタスキャンしたときに１重複処理される
のを避けるためである。次にこの画素Ａとつながってい
る画素を見い出し、存在すればその画素でも同様にその
エツジ方向と交差し隣接される領域の濃淡差または濃淡
比が求められ、平均濃度の差または比が弁別レベルより
も大きければ、画素Ａのフラグが立てられたのと同じバ
ッファにフラグが立てられる。そしてその画素の第２メ
モリ１２上のエツジフラグが消去される。このように同
様のエツジフラグ検出処理が順次繰り返され、つながる
画素が見つからなくなるか、あるいは２つの領域の平均
り段差または比が弁別レベル以下になるまで続けられる
。このような処理で立てられたバッファのフラグが予め
定められた値Ｎ個以上になれば、その被検査物体３は欠
陥を有し、不良品であると判断される。ステップｎ８で
はバッファのフラグがＮ個以上か否かが判断される。フ
ラグがＮ個以上あれがステップｎ９に移って被検査物体
３は不良品であると判断される。フラグがＮ個以下のと
き、ステップｎｌｏに移って検出された画素のエツジフ
ラグが消去される。ステップｎｉｌでは検出された画素
につながるエツジフラグのある画素が検索される。ステ
ップｎ１２でエツジフラグのある画素は存在するか否か
が判断される。エツジフラグのある画素が存在するとス
テップｎ４に戻って、ステップｎ４〜ｎ１２が繰り返さ
れる。エツジフラグのある画素が存在しないときステッ
プｎ１に戻り、ラスタスキャンが終了するとステップｎ
１３で被検査物体３は欠陥のない良品と判断される。
のを避けるためである。次にこの画素Ａとつながってい
る画素を見い出し、存在すればその画素でも同様にその
エツジ方向と交差し隣接される領域の濃淡差または濃淡
比が求められ、平均濃度の差または比が弁別レベルより
も大きければ、画素Ａのフラグが立てられたのと同じバ
ッファにフラグが立てられる。そしてその画素の第２メ
モリ１２上のエツジフラグが消去される。このように同
様のエツジフラグ検出処理が順次繰り返され、つながる
画素が見つからなくなるか、あるいは２つの領域の平均
り段差または比が弁別レベル以下になるまで続けられる
。このような処理で立てられたバッファのフラグが予め
定められた値Ｎ個以上になれば、その被検査物体３は欠
陥を有し、不良品であると判断される。ステップｎ８で
はバッファのフラグがＮ個以上か否かが判断される。フ
ラグがＮ個以上あれがステップｎ９に移って被検査物体
３は不良品であると判断される。フラグがＮ個以下のと
き、ステップｎｌｏに移って検出された画素のエツジフ
ラグが消去される。ステップｎｉｌでは検出された画素
につながるエツジフラグのある画素が検索される。ステ
ップｎ１２でエツジフラグのある画素は存在するか否か
が判断される。エツジフラグのある画素が存在するとス
テップｎ４に戻って、ステップｎ４〜ｎ１２が繰り返さ
れる。エツジフラグのある画素が存在しないときステッ
プｎ１に戻り、ラスタスキャンが終了するとステップｎ
１３で被検査物体３は欠陥のない良品と判断される。
このようにして、被検査物体３の欠陥が検査されるので
、孤立点や画像ノイズは欠陥部と判断されず、検出精度
が向上される。
、孤立点や画像ノイズは欠陥部と判断されず、検出精度
が向上される。
上述の方向微分、細線化処理、しきい値処理のアルゴリ
ズム及び回路については、従来よりよく知られている適
宜の方式を採用すれば良いものである。
ズム及び回路については、従来よりよく知られている適
宜の方式を採用すれば良いものである。
本発明の他の実施例として、エツジフラグのある画素の
エツジ方向と交差する方向に瞬接して細長く延びる２つ
のマスク領域内の濃度をレベル弁別して、被検出物体３
の欠陥を検出する場合について述べる。第７）図は被検
出物体３の濃淡画像が第１フレームメモリ７に格納され
ている状態を示し、第８図は被検出物体３のしきい値処
理された画像が第２フレームメモリ１２に格納されてい
る状態を示す。参照符には被検出物体３の欠陥部分の画
像を示し、参照符ＦＬは論理値「１」であるエツジフラ
グのある画素を示している。第２フレームメモリ１２を
ラスタスキャン・してエツジフラグの有無が検出され、
エツジフラグが検出されるとその画素Ａのエツジ方向が
方向コードメモリ９から読み出され、その方向に対して
交差する方向に１列の第９１図示のようなマスク領域Ｍ
が設定される。このマスク領域Ｍは、たとえば９画素×
１画素の大きさである。そこでこのマスク領域Ｍのアド
レスに対応する画素の濃度を第１フレームメモリ７より
読み出し、マスク領域Ｍ内の濃度の最大値および最小値
を抽出する。第１・０図にはその処理動作を示すフロー
チャートが示されている。ステップｍ１〜ｍ４は上述の
実施例のステップｎ１〜ｎ４に対応して、同様の処理が
行なわれる。ステップｍ５では上述のようにマスク領域
Ｍ内の濃度の最大値および最小値が求められ、その最大
値と最小値の差または比が演算される。ステップｍ６に
移って前記差または比が予め定められた弁別レベルと比
較され、その値が小さいとステップｍ１に戻る。前記差
または比が弁別レベルより大きければ、ソフトウェア上
でバッファにフラグを立てる。これで検出された画素Ａ
のエツジフラグは消去される。前記画素Ａにつながって
いる画素が検出されると、同様にエツジ方向と交差する
方向に１列のマスク領域を設定し、濃度の最大値と最小
値が求められ、その最大値と最小値の差または比が演算
される。この差または比が弁別レベルよりも大きければ
、前に検出された画素Ａのフラグが立てられたバッファ
にフラグが立てられるとともに、この画素のエツジフラ
グが消失される。このようにして同様の処理が繰り返さ
れ、つながる画素が見つからなくなるまたはとぎれるか
、あるいはマスク領域Ｍ内の濃度の最大値と最小値の差
または比が弁別レベル以下傾なるまで続けられる。
エツジ方向と交差する方向に瞬接して細長く延びる２つ
のマスク領域内の濃度をレベル弁別して、被検出物体３
の欠陥を検出する場合について述べる。第７）図は被検
出物体３の濃淡画像が第１フレームメモリ７に格納され
ている状態を示し、第８図は被検出物体３のしきい値処
理された画像が第２フレームメモリ１２に格納されてい
る状態を示す。参照符には被検出物体３の欠陥部分の画
像を示し、参照符ＦＬは論理値「１」であるエツジフラ
グのある画素を示している。第２フレームメモリ１２を
ラスタスキャン・してエツジフラグの有無が検出され、
エツジフラグが検出されるとその画素Ａのエツジ方向が
方向コードメモリ９から読み出され、その方向に対して
交差する方向に１列の第９１図示のようなマスク領域Ｍ
が設定される。このマスク領域Ｍは、たとえば９画素×
１画素の大きさである。そこでこのマスク領域Ｍのアド
レスに対応する画素の濃度を第１フレームメモリ７より
読み出し、マスク領域Ｍ内の濃度の最大値および最小値
を抽出する。第１・０図にはその処理動作を示すフロー
チャートが示されている。ステップｍ１〜ｍ４は上述の
実施例のステップｎ１〜ｎ４に対応して、同様の処理が
行なわれる。ステップｍ５では上述のようにマスク領域
Ｍ内の濃度の最大値および最小値が求められ、その最大
値と最小値の差または比が演算される。ステップｍ６に
移って前記差または比が予め定められた弁別レベルと比
較され、その値が小さいとステップｍ１に戻る。前記差
または比が弁別レベルより大きければ、ソフトウェア上
でバッファにフラグを立てる。これで検出された画素Ａ
のエツジフラグは消去される。前記画素Ａにつながって
いる画素が検出されると、同様にエツジ方向と交差する
方向に１列のマスク領域を設定し、濃度の最大値と最小
値が求められ、その最大値と最小値の差または比が演算
される。この差または比が弁別レベルよりも大きければ
、前に検出された画素Ａのフラグが立てられたバッファ
にフラグが立てられるとともに、この画素のエツジフラ
グが消失される。このようにして同様の処理が繰り返さ
れ、つながる画素が見つからなくなるまたはとぎれるか
、あるいはマスク領域Ｍ内の濃度の最大値と最小値の差
または比が弁別レベル以下傾なるまで続けられる。
この処理でバッファのフラグが予め定めた値Ｎ個以上に
なれば、その被検出物体３は欠陥を有し不良であると判
断される。ステップｍ７ではバッファにフラグが立てら
れ、ステップｍ８に移ってフラグの数がＮ個以上か否か
が判断される。フラグの数がＮ個以上であればステップ
ｍ９に移って被検出物体３は欠陥を有し、不良品と判断
基れる。
なれば、その被検出物体３は欠陥を有し不良であると判
断される。ステップｍ７ではバッファにフラグが立てら
れ、ステップｍ８に移ってフラグの数がＮ個以上か否か
が判断される。フラグの数がＮ個以上であればステップ
ｍ９に移って被検出物体３は欠陥を有し、不良品と判断
基れる。
ステップｍｌｏでは検出された画素のフラグが消去され
、ステップｍ ｌ １ではエツジフラグのあった画素と
つながっているエツジフラグのある画素がさがされる。
、ステップｍ ｌ １ではエツジフラグのあった画素と
つながっているエツジフラグのある画素がさがされる。
その画素が存在すればステップｍ４に戻って、ステップ
ｍ４〜ｍ１２が繰り返される。存在しないとステップｍ
１に戻ってラスタスキャンが終了するとステップｍ１３
で被検出物体３が欠陥のない良品と判断される。
ｍ４〜ｍ１２が繰り返される。存在しないとステップｍ
１に戻ってラスタスキャンが終了するとステップｍ１３
で被検出物体３が欠陥のない良品と判断される。
上述の実施例は比較的広がった領域の欠陥の検出に適し
、この他の実施例は比較的細長く延びた欠陥の検出に適
する。
、この他の実施例は比較的細長く延びた欠陥の検出に適
する。
効果
本発明は上述のように構成したものであるから、被検出
物の欠陥を自動的に検出８識するに際し、位置決めが不
要であるため、作業性が良い効果を有する他光量変動が
あっても所定の検出精度が得られまた画像ノイズの影響
をほとんど受けない効果を有し、しかも画像データの情
報量を削減することなく処理を行なっているため、高精
度の欠陥８識動作が得られ、また１画素程度の欠陥であ
っても連続していれば検出可能である効果を有するもの
である。
物の欠陥を自動的に検出８識するに際し、位置決めが不
要であるため、作業性が良い効果を有する他光量変動が
あっても所定の検出精度が得られまた画像ノイズの影響
をほとんど受けない効果を有し、しかも画像データの情
報量を削減することなく処理を行なっているため、高精
度の欠陥８識動作が得られ、また１画素程度の欠陥であ
っても連続していれば検出可能である効果を有するもの
である。
第１図は本発明の一実施例の画像処理装置１のブロック
図、第２図は２値化された画像を示す図、第３図は第１
フレームメモリ７を示す図、４４４図は第２フレームメ
モリ１２を示す図、第６．）図はエツジフラグのある画
素のエツジ方向に交差する領域を説明するための図、第
５３図ば本発明に関する処理動作を説明するためのフロ
ーチャート、第７図は他の実施例の第１フレームメモリ
７を示す図、第８図は他の実施例の第２フレームメモリ
１２を示す図、第９図は他の実施例のエツジフラグのあ
る画素のエツジ方向に交差するマスク領域を説明するた
めの図、第１０図は他の実施例に関する処理動作を説明
するための７０−チャートである。 １・・・画像処理装置、３・・・被検出物体、４・・・
テレビカメラ、５・・・アナログ／デジタル変換器、６
・・・２値化処理ゲート回路、７・・・第１フレームメ
モリ、８・・・微分回路、９・・・方向コードメモリ、
１０・・・細線化処理回路、１１・・・しきい値処理回
路、１２・・・第２フレームメモリ、１４・・・処ｆＵ
］ｉｔ、Ｅ １ 、 Ｅ２・・・領域、Ｍ・・・マスク
領域 代理人 弁理士 西教圭一部 第６図 （ａ） （ｂ） 第９図
図、第２図は２値化された画像を示す図、第３図は第１
フレームメモリ７を示す図、４４４図は第２フレームメ
モリ１２を示す図、第６．）図はエツジフラグのある画
素のエツジ方向に交差する領域を説明するための図、第
５３図ば本発明に関する処理動作を説明するためのフロ
ーチャート、第７図は他の実施例の第１フレームメモリ
７を示す図、第８図は他の実施例の第２フレームメモリ
１２を示す図、第９図は他の実施例のエツジフラグのあ
る画素のエツジ方向に交差するマスク領域を説明するた
めの図、第１０図は他の実施例に関する処理動作を説明
するための７０−チャートである。 １・・・画像処理装置、３・・・被検出物体、４・・・
テレビカメラ、５・・・アナログ／デジタル変換器、６
・・・２値化処理ゲート回路、７・・・第１フレームメ
モリ、８・・・微分回路、９・・・方向コードメモリ、
１０・・・細線化処理回路、１１・・・しきい値処理回
路、１２・・・第２フレームメモリ、１４・・・処ｆＵ
］ｉｔ、Ｅ １ 、 Ｅ２・・・領域、Ｍ・・・マスク
領域 代理人 弁理士 西教圭一部 第６図 （ａ） （ｂ） 第９図
Claims (2)
- （１）被検出物体を撮像する撮像手段と、前記撮像手段
からのアナログ信号出力をデジタル信号に変換するアナ
ログ／デジタル変換器と、アナログ／デジタル変換器か
らの画像データを２値化処理によつて撮像画面内の被検
出物体の画像のみを取り出す２値化処理ゲート回路と、
被検出物体の濃淡画像を格納する第１のフレームメモリ
と、被検出物体の画像を方向微分し、画像エッジの濃淡
差に対応したエッジ値とそのエッジの延びる方向を示す
値を求める微分回路と、微分回路によつて求められた前
記方向値をコードデータとして格納する方向コードメモ
リと、微分された画像のエッジを細くする細線化処理回
路と、細線化された画像のエッジ値を予め定められたし
きい値とレベル弁別し、しきい値以下のエッジ値を有す
る画素を消去するしきい値処理回路と、しきい値処理さ
れた画像を格納する第２のフレームメモリと、各メモリ
に格納されたデータを処理する処理装置とを含み、しき
い値処理画像のエッジを検出し、エッジが検出された複
数の画素のエッジ方向を前記方向コードメモリから取り
出し、前記複数の画素のエッジ方向と交差する方向に隣
接する２つの予め定めたまとまつた形状の領域の濃淡差
または濃淡比を予め定められた弁別レベルと比較して、
弁別レベル以上の領域の集合を予め定めた大きさと比較
することを特徴とする画像処理装置。 - （２）被検出物体を撮像する撮像手段と、前記撮像手段
からのアナログ信号出力をデジタル信号に変換するアナ
ログ／デジタル変換器と、アナログ／デジタル変換器か
らの画像データを２値化処理によつて撮像画面内の被検
出物体の画像のみを取り出す２値化処理ゲート回路と、
被検出物体の濃淡画像を格納する第１のフレームメモリ
と、被検出物体の画像を方向微分し、画像エッジの濃淡
差に対応したエッジ値とそのエッジの延びる方向を示す
値を求める微分回路と、微分回路によつて求められた前
記方向値をコードデータとして格納する方向コードメモ
リと、微分された画像のエッジを細くする細線化処理回
路と、細線化された画像のエッジ値を予め定められたし
きい値とレベル弁別し、しきい値以下のエッジ値を有す
る画素を消去するしきい値処理回路と、しきい値処理さ
れた画像を格納する第２のフレームメモリと、各メモリ
に格納されたデータを処理する処理装置とを含み、しき
い値処理画像のエッジを検出し、エッジが検出された複
数の画素のエッジ方向を前記方向コードメモリから取り
出し、前記複数の画素のエッジ方向と交差する方向に隣
接して細長く延びるマスク領域内の濃度の最大値および
最小値を抽出し、濃度の最大値と最小値の差または比を
予め定められた弁別レベルと比較して、弁別レベル以上
の領域の集合を予め定めた大きさと比較することを特徴
とする画像処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59130275A JPS619765A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59130275A JPS619765A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 画像処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS619765A true JPS619765A (ja) | 1986-01-17 |
| JPH0337229B2 JPH0337229B2 (ja) | 1991-06-04 |
Family
ID=15030407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59130275A Granted JPS619765A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 画像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS619765A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6359109A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-15 | インタ−ナショナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−ション | 自動利得制御方法 |
| JPH01131974A (ja) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 画像処理装置 |
-
1984
- 1984-06-25 JP JP59130275A patent/JPS619765A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6359109A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-15 | インタ−ナショナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−ション | 自動利得制御方法 |
| JPH01131974A (ja) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 画像処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0337229B2 (ja) | 1991-06-04 |
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