JPS62109541A - 自動眼屈折力測定装置 - Google Patents
自動眼屈折力測定装置Info
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- JPS62109541A JPS62109541A JP60249680A JP24968085A JPS62109541A JP S62109541 A JPS62109541 A JP S62109541A JP 60249680 A JP60249680 A JP 60249680A JP 24968085 A JP24968085 A JP 24968085A JP S62109541 A JPS62109541 A JP S62109541A
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Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、横形法による自動眼屈折力測定装置に関し、
特に測定中に被検眼がまばたきした場合にも測定誤りを
生ずることがなく、しかも特別なまばたき検出用素子等
が不要となり安価に提供できるとともに信頼性が高く、
さらに正確に測定で鎗ることを特徴とするものである。
特に測定中に被検眼がまばたきした場合にも測定誤りを
生ずることがなく、しかも特別なまばたき検出用素子等
が不要となり安価に提供できるとともに信頼性が高く、
さらに正確に測定で鎗ることを特徴とするものである。
従来から、横形法による自動眼屈折力測定装置とし【、
スリット状の照明光束にて被検眼を走査し、該被検眼の
反射光束を二対以上の光電変換素子にて受光し、各々の
対を構成する光電変換素子間の出力信号の位相差に基づ
いて演算することにより上記被検眼の屈折力を測定する
装置が種々提供されている。
スリット状の照明光束にて被検眼を走査し、該被検眼の
反射光束を二対以上の光電変換素子にて受光し、各々の
対を構成する光電変換素子間の出力信号の位相差に基づ
いて演算することにより上記被検眼の屈折力を測定する
装置が種々提供されている。
すなわち、例えば、特開昭55−160538号公報又
は特開昭57−165735号公報に示される自動眼屈
折力測定装置環が提供された。
は特開昭57−165735号公報に示される自動眼屈
折力測定装置環が提供された。
これらの測定原理を明らかにするため、−例として、上
記特開昭57−165735号公報に示される自動眼屈
折力測定装置について以下に説明する。
記特開昭57−165735号公報に示される自動眼屈
折力測定装置について以下に説明する。
該自動眼屈折力測定装置は、走査方向に対し全て同一傾
斜角度をなすスリット状の照明光束にて被検眼を周期的
に二つの既知の方向に択一的に走査し、その反射光を二
対の光電変換素子にて受光し、各々の対を構成する光電
変換素子間の出力信号の位相差を演算することkよって
被検眼の屈折力を測定するものであった。
斜角度をなすスリット状の照明光束にて被検眼を周期的
に二つの既知の方向に択一的に走査し、その反射光を二
対の光電変換素子にて受光し、各々の対を構成する光電
変換素子間の出力信号の位相差を演算することkよって
被検眼の屈折力を測定するものであった。
そして、上記スリット状の照明光束を二つの既知の方向
に択一的に走査させる投影装置として、択一的に点灯す
る光源、プリズム、回転方向XK対して全て同一傾斜角
度に@成したスリット開口134を備えた回転チョッパ
ー133等を使用するものであった。なお、矛11図に
該回転チョッパー133の展開図を示す。
に択一的に走査させる投影装置として、択一的に点灯す
る光源、プリズム、回転方向XK対して全て同一傾斜角
度に@成したスリット開口134を備えた回転チョッパ
ー133等を使用するものであった。なお、矛11図に
該回転チョッパー133の展開図を示す。
今、被検眼に乱視がないと仮定すれば、上記スリット状
の照明光束を被検眼を一方方向に走査させた場合には牙
12図(α)の如(、該スリット状の照明光束を他方方
向に走査させた場合には矛12図(Alの如く、該スリ
ット状の照明光束による被検眼からの反射光が光電変換
器137受光面上の二対の光電変換素子150 、15
2及び151 、153上を矢印V又は矢印W方向にそ
れぞれ走ることとなるものであった。
の照明光束を被検眼を一方方向に走査させた場合には牙
12図(α)の如(、該スリット状の照明光束を他方方
向に走査させた場合には矛12図(Alの如く、該スリ
ット状の照明光束による被検眼からの反射光が光電変換
器137受光面上の二対の光電変換素子150 、15
2及び151 、153上を矢印V又は矢印W方向にそ
れぞれ走ることとなるものであった。
そして、被検眼に乱視があるとすれば、上記反射光はj
p12図(α)及び矛12図(h)図示に比べ乱視主経
線の方向に対応した角度(以下、円柱軸角度という)θ
だけねじれるものである。
p12図(α)及び矛12図(h)図示に比べ乱視主経
線の方向に対応した角度(以下、円柱軸角度という)θ
だけねじれるものである。
したがって、Sを球面屈折力、Cを円柱屈折力とすれば
、才12図(α)に対応する方向に上記スリット状の照
明光束を走査した場合において、その走査速度が一定で
あると仮定したときには、光電変換素子150 、15
2の出力信号の位相差から得られた値DIは。
、才12図(α)に対応する方向に上記スリット状の照
明光束を走査した場合において、その走査速度が一定で
あると仮定したときには、光電変換素子150 、15
2の出力信号の位相差から得られた値DIは。
D/ w−S + Ccos’θ −−−一一一一
−−−−■であり、光電変換素子151 、153の出
力信号の位相差から得られた値D2は である。
−−−−■であり、光電変換素子151 、153の出
力信号の位相差から得られた値D2は である。
また、才12図(Alに対応する方向に上記スリット状
の照明光束を走査した場合において、その走査速度が一
定であると仮定したときには、光電変換素子150 、
152の出力信号の位相差から得られた値り、は、 であり、光電変換素子151 、153の出力信号の位
相差から得られた値珈は、 D@ a=s S + Cs1n’θ −−一一一
一一−−−−■である。
の照明光束を走査した場合において、その走査速度が一
定であると仮定したときには、光電変換素子150 、
152の出力信号の位相差から得られた値り、は、 であり、光電変換素子151 、153の出力信号の位
相差から得られた値珈は、 D@ a=s S + Cs1n’θ −−一一一
一一−−−−■である。
したがって、以上0〜0式から、球面屈折力S、円柱屈
折力C及び円柱軸角度θ、すなわち屈折力が演算によっ
て求めることかで羨たものである。
折力C及び円柱軸角度θ、すなわち屈折力が演算によっ
て求めることかで羨たものである。
なお、図中、154は四分割光電変換素子で、被検眼の
角膜からの反射光を7ライメントのために受光するもの
である。すなわち、被検眼と測定装置との7ライメント
が完了しているときには、四分割光電変換素子154の
各素子には反射像が均等に入射するため各素子の出力は
等しくなるが、アライメントが不十分なときには各素子
の出力が等しくならず、その大小によりずれの方向を知
ることがで羨るものであった。
角膜からの反射光を7ライメントのために受光するもの
である。すなわち、被検眼と測定装置との7ライメント
が完了しているときには、四分割光電変換素子154の
各素子には反射像が均等に入射するため各素子の出力は
等しくなるが、アライメントが不十分なときには各素子
の出力が等しくならず、その大小によりずれの方向を知
ることがで羨るものであった。
以上の如き原理に基づいているため、測定中に被検眼が
まばたきをすると、正しい屈折力の測定を行うことがで
きないものである。したがって、被検眼のまばたき中は
測定を中断せしめる必要があった。
まばたきをすると、正しい屈折力の測定を行うことがで
きないものである。したがって、被検眼のまばたき中は
測定を中断せしめる必要があった。
そごで、従来の上記種々の自動眼屈折力測定装置では、
上記アライメント用の四分割光電変換素子154の出力
信号の乱れを検出し、絞出力信号が乱れたとぎには、そ
の測定を自動中断せしめるように構成されていた。これ
は、被検眼がまばたきしていないときには、四分割光電
変換素子154に被検眼の角膜で反射された光源像が結
像するが、被検眼がまばたきをすると、角膜の光源像は
結像しなくなり、四分割光電変換素子154への光量が
著しく変化することに基づくものであった。
上記アライメント用の四分割光電変換素子154の出力
信号の乱れを検出し、絞出力信号が乱れたとぎには、そ
の測定を自動中断せしめるように構成されていた。これ
は、被検眼がまばたきしていないときには、四分割光電
変換素子154に被検眼の角膜で反射された光源像が結
像するが、被検眼がまばたきをすると、角膜の光源像は
結像しなくなり、四分割光電変換素子154への光量が
著しく変化することに基づくものであった。
しかしながら、上記四分割光電変換素子154への光量
は、光電変換素子150.151 、152.153へ
の光量に比べて桁はずれに多いものであるため、四分割
光電変換素子154の出力信号が光電変換素子150.
151 、152.153の出力信号にノイズ等を与え
、いわゆるクロストークが生じ、光電変換素子150弓
51,152,153間の位相差を正確に検出すること
ができず、ひいては正確な屈接力の測定ができない欠点
があった。
は、光電変換素子150.151 、152.153へ
の光量に比べて桁はずれに多いものであるため、四分割
光電変換素子154の出力信号が光電変換素子150.
151 、152.153の出力信号にノイズ等を与え
、いわゆるクロストークが生じ、光電変換素子150弓
51,152,153間の位相差を正確に検出すること
ができず、ひいては正確な屈接力の測定ができない欠点
があった。
一方、近年CRT上に被検眼が映し出され、測定装置の
7ライメントはCRTを見ながら行われるようになって
きており、上記四分割光電変換素子154はアライメン
ト用としては不要となってきた。しかしながら、上述の
如くまばたきを検出するために使用されていたため、依
然として四分割光電変換素子154は必要であり、また
これに伴って、該四分割光電変換素子154の出力信号
を処理する処理回路も不可欠であり、装置の構成を簡略
化できない欠点があった。
7ライメントはCRTを見ながら行われるようになって
きており、上記四分割光電変換素子154はアライメン
ト用としては不要となってきた。しかしながら、上述の
如くまばたきを検出するために使用されていたため、依
然として四分割光電変換素子154は必要であり、また
これに伴って、該四分割光電変換素子154の出力信号
を処理する処理回路も不可欠であり、装置の構成を簡略
化できない欠点があった。
本発明は上記従来技術の欠点を除去するもので、測定中
に被検眼がまばたきした場合にも測定誤りを生ずること
がなく、しかも従来の四分割光電変換素子の如き特別な
まばたき検出用素子等が不要で安価で信頼性が高く、さ
らに正確に測定できる自動眼屈折力測定装置を提供しよ
うとするものである。
に被検眼がまばたきした場合にも測定誤りを生ずること
がなく、しかも従来の四分割光電変換素子の如き特別な
まばたき検出用素子等が不要で安価で信頼性が高く、さ
らに正確に測定できる自動眼屈折力測定装置を提供しよ
うとするものである。
上記問題点を解決するために、本発明は、スリット状の
照明光束にて被検眼を走査し、該被検眼の反射光束を二
対以上の光電変換素子にて受光し、各々の対を構成する
光電変換素子間の出力信号の位相差に基づいて演算する
ことにより上記被検眼の屈折力を測定する装置において
、上記光電変換素子のうち少なくとも1以上の光電変換
素子の出力信号の乱れを検出する乱れ検出手段と、該乱
れ検出手段の出力信号を受けて上記測定を中断せしめる
とともに、所定時間経過後に上記測定を最初から開始せ
しめる制御手段とを設けた構成としたものである。
照明光束にて被検眼を走査し、該被検眼の反射光束を二
対以上の光電変換素子にて受光し、各々の対を構成する
光電変換素子間の出力信号の位相差に基づいて演算する
ことにより上記被検眼の屈折力を測定する装置において
、上記光電変換素子のうち少なくとも1以上の光電変換
素子の出力信号の乱れを検出する乱れ検出手段と、該乱
れ検出手段の出力信号を受けて上記測定を中断せしめる
とともに、所定時間経過後に上記測定を最初から開始せ
しめる制御手段とを設けた構成としたものである。
被検眼がまばたきをしていないときは、各々の対を構成
する光電変換素子の出力信号はいずれも規則的に生ずる
が、被検眼がまばたきすると、上記出力信号はいずれも
不規則に発生して乱れるものである。
する光電変換素子の出力信号はいずれも規則的に生ずる
が、被検眼がまばたきすると、上記出力信号はいずれも
不規則に発生して乱れるものである。
したがって、本発明によれば、上記光電変換素子の出力
信号の乱れが乱れ検出手段によって検出され、該乱れ検
出手段の出力信号を受けて制御手段が測定を中断させ、
所定時間経過後に測定を最初から開始せしめるため、被
検眼のまばたき中の測定は中断され、常に被検眼がまば
たきをしていない時にのみ測定されることとなる。この
ため、測定中に被検眼がまばたきをした場合にも、測定
誤りを生ずることがなくなるものである。
信号の乱れが乱れ検出手段によって検出され、該乱れ検
出手段の出力信号を受けて制御手段が測定を中断させ、
所定時間経過後に測定を最初から開始せしめるため、被
検眼のまばたき中の測定は中断され、常に被検眼がまば
たきをしていない時にのみ測定されることとなる。この
ため、測定中に被検眼がまばたきをした場合にも、測定
誤りを生ずることがなくなるものである。
また、本発明では、屈折力の測定に直接使用される光電
変換素子の出力信号の乱れを乱れ検出手段で検出するも
のであるから、従来の四分割光電変換素子の如き特別な
まばたき検出用素子が不要となり、さらにそのまばたき
検出用素子の出力信号を処理する回路も不要となるため
、安価となるとともに信頼性も向上し、同時に従来の如
六クロストークが生ずるおそれもなくなり正確な測定が
可能となる。
変換素子の出力信号の乱れを乱れ検出手段で検出するも
のであるから、従来の四分割光電変換素子の如き特別な
まばたき検出用素子が不要となり、さらにそのまばたき
検出用素子の出力信号を処理する回路も不要となるため
、安価となるとともに信頼性も向上し、同時に従来の如
六クロストークが生ずるおそれもなくなり正確な測定が
可能となる。
才1図は本発明の基本構成図である。1はスリット状の
照明光束にて被検眼2を走査させる照明光束走査手段で
、光学系で構成される。また、3は被検眼2の反射光束
を受光する二対以上の光電変換素子、4は該光電変換素
子3の各対の出力信号の位相差を検出する位相差検出手
段である。さらに、5は該位相差検出手段4の出力信号
に基づき所定の演算を行い屈折力を得る演算手段、6は
該演算手段5の演算結果すなわち屈折力を表示する表示
装置である。さらにまた、7は上紀光宛、変換素子3の
うち少なくとも1以上の光電変換素子の出力信号の乱れ
を検出する乱れ検出手段であり、8は該乱れ横手出段7
の出力信号を受けて測定を中断させるとともに、所定時
間経過後に測定を最初から開始せしめる制御手段である
。
照明光束にて被検眼2を走査させる照明光束走査手段で
、光学系で構成される。また、3は被検眼2の反射光束
を受光する二対以上の光電変換素子、4は該光電変換素
子3の各対の出力信号の位相差を検出する位相差検出手
段である。さらに、5は該位相差検出手段4の出力信号
に基づき所定の演算を行い屈折力を得る演算手段、6は
該演算手段5の演算結果すなわち屈折力を表示する表示
装置である。さらにまた、7は上紀光宛、変換素子3の
うち少なくとも1以上の光電変換素子の出力信号の乱れ
を検出する乱れ検出手段であり、8は該乱れ横手出段7
の出力信号を受けて測定を中断させるとともに、所定時
間経過後に測定を最初から開始せしめる制御手段である
。
以下、本発明の一実施例について詳細に説明する。
矛2図はこの実施例の光学系の構成図である。
光源11は固視標12を照明し、固視標12からの光束
は反射fi13により反射され、コリメータレンズ14
によりほぼ平行光束となる。
は反射fi13により反射され、コリメータレンズ14
によりほぼ平行光束となる。
この光束は才1光路分割器15で反射された後、矛2光
路分割器16及び矛3光路分割器100を透過して被検
眼2に達し、被検眼2は固視標12を固視する。ここで
、固視標12は駆動装置18によって光軸方向に移動可
能である。後述の如く駆動装置14は被検眼2が無調節
の状態で固視できる位置に固視標12を移動しうる如(
マイクロコンピュータ19(具体的には、そのインター
フェイス22)の出力により制御され、いわゆる自動雲
霧装置を構成している。
路分割器16及び矛3光路分割器100を透過して被検
眼2に達し、被検眼2は固視標12を固視する。ここで
、固視標12は駆動装置18によって光軸方向に移動可
能である。後述の如く駆動装置14は被検眼2が無調節
の状態で固視できる位置に固視標12を移動しうる如(
マイクロコンピュータ19(具体的には、そのインター
フェイス22)の出力により制御され、いわゆる自動雲
霧装置を構成している。
以上、光源11、固視標12、反射鏡13、コリメータ
レンズ14、矛1光路分割器15によって固視標光学系
23を形成する。該固視標光学系23は測定中に被検眼
2に固視標12を固視させ、また測定中に生ずる被検眼
2の器械近視を減少せしめるためのものである。
レンズ14、矛1光路分割器15によって固視標光学系
23を形成する。該固視標光学系23は測定中に被検眼
2に固視標12を固視させ、また測定中に生ずる被検眼
2の器械近視を減少せしめるためのものである。
また、31は光源で、例えば赤外線LEDが使用される
。32は光源31を被検眼2の角膜に結像させる集光レ
ンズ、33は後に詳述するスリット状開口部34α、3
4hを備えた回転チョッパー、36は該回転チョッパー
33を一方向に回転させるモータである。
。32は光源31を被検眼2の角膜に結像させる集光レ
ンズ、33は後に詳述するスリット状開口部34α、3
4hを備えた回転チョッパー、36は該回転チョッパー
33を一方向に回転させるモータである。
したがって、光源31を発した光束が集光しンズ32を
透過後、回転チョッパー33によってスリット状の照明
光束にチョッピングされ、さらに矛2光路分割器16で
反射され、矛3光路分割器100を透過して被検眼2の
角膜に集光され、被検眼2の眼底に投影される。すなわ
ち、スリット状の照明光束が被検眼2を一方向に走査す
ることとなる。
透過後、回転チョッパー33によってスリット状の照明
光束にチョッピングされ、さらに矛2光路分割器16で
反射され、矛3光路分割器100を透過して被検眼2の
角膜に集光され、被検眼2の眼底に投影される。すなわ
ち、スリット状の照明光束が被検眼2を一方向に走査す
ることとなる。
さらに、37は光電変換器、38は該光電変換器37と
被検眼2の角膜とを共役にするレンズ、39は光軸を中
心とした円形の開口を有する絞り(光軸方向から見た形
状を牙3図に示す)である。
被検眼2の角膜とを共役にするレンズ、39は光軸を中
心とした円形の開口を有する絞り(光軸方向から見た形
状を牙3図に示す)である。
したがって、上記被検眼2の眼底に投影されたスリット
状の照明光束は、その眼底で反射され、牙3光路分割器
100.矛2光路分割器16及び牙1光路分割器15を
透過し、レンズ38により集光され絞り39を通過し、
光電変換器37の受光面を照射することとなる。
状の照明光束は、その眼底で反射され、牙3光路分割器
100.矛2光路分割器16及び牙1光路分割器15を
透過し、レンズ38により集光され絞り39を通過し、
光電変換器37の受光面を照射することとなる。
さらにまた、101はCRT、102ハ撮像管、103
は被検眼20角膜と撮像管102とを共役にするレンズ
であり、これらが牙3光路分割器100、とともに被検
眼2を画像に映し出して観察できる観察光学系104を
構成している。なお、該観察光学系104は装置の7ラ
イメントのためにも使用されるものである。すなわち、
検者はCRT 101上に映し出された被検眼2を見な
がら装置の位置合せを行うことができるものである。
は被検眼20角膜と撮像管102とを共役にするレンズ
であり、これらが牙3光路分割器100、とともに被検
眼2を画像に映し出して観察できる観察光学系104を
構成している。なお、該観察光学系104は装置の7ラ
イメントのためにも使用されるものである。すなわち、
検者はCRT 101上に映し出された被検眼2を見な
がら装置の位置合せを行うことができるものである。
そして、図面実施例の場合、被検眼2の走査方向に対す
る上記スリット状の照明光束の#i糾角度が二つ以上の
異なる既知の角度にされている。すなわち、回転チョッ
パー33の展開図を示す矛6図示の如く、回転チョッパ
ー33の回転方向Xに対する矛1スリット状開口部34
αの傾斜角度が+45°、第2スリ噸ツ・ト状開ロ部3
4hの傾斜角度が−45とされて、被検眼2の走査方向
に対する上記スリット状の照明光束の傾斜角度が二つ以
上の異なる既知の角度にされているものである。もつと
も、他の角度にしてもよく、三つ以上の異なる既知の角
度にしてもよいものである。なお、スリット状開口の形
状は、実際には一定の傾き角をもっている方が望ましい
。
る上記スリット状の照明光束の#i糾角度が二つ以上の
異なる既知の角度にされている。すなわち、回転チョッ
パー33の展開図を示す矛6図示の如く、回転チョッパ
ー33の回転方向Xに対する矛1スリット状開口部34
αの傾斜角度が+45°、第2スリ噸ツ・ト状開ロ部3
4hの傾斜角度が−45とされて、被検眼2の走査方向
に対する上記スリット状の照明光束の傾斜角度が二つ以
上の異なる既知の角度にされているものである。もつと
も、他の角度にしてもよく、三つ以上の異なる既知の角
度にしてもよいものである。なお、スリット状開口の形
状は、実際には一定の傾き角をもっている方が望ましい
。
さらK、図面実施例の場合、いかなる傾斜角度のスリッ
ト状の照明光束にて被検眼2を走査しているかの判別信
号C以下、単に判別信号という)を出力する出力装置4
0が設けられており、判別信号がマイクロコンピュータ
19のインターフェイス22に入力されている。該出力
装置40は、例えばスリット状開口部34α。
ト状の照明光束にて被検眼2を走査しているかの判別信
号C以下、単に判別信号という)を出力する出力装置4
0が設けられており、判別信号がマイクロコンピュータ
19のインターフェイス22に入力されている。該出力
装置40は、例えばスリット状開口部34α。
34hの位置に対応した回転チョッパー33の回転角を
検出するセンサー等が使用される。
検出するセンサー等が使用される。
なお、光電変換器37の受光面には、すでに公知(前記
特開昭57−165735号公報参照)の矛4図の如ぎ
光軸外の四つの光電変換素子50,51.52及び53
(これらが矛1図における光電変換素子3に相当する)
が設けられている。
特開昭57−165735号公報参照)の矛4図の如ぎ
光軸外の四つの光電変換素子50,51.52及び53
(これらが矛1図における光電変換素子3に相当する)
が設けられている。
一対の光電変換素子50.52は、一つの測定経線の方
向、すなわち、牙2図紙面内で光軸に直交する線に対し
+45をなす線上でかつ光軸に対称に配置され、他の一
対の光電変換素子51.53は、上記測定経線の方向に
直交する測定経線の方向、すなわち、才2図紙面内で光
軸に直交する線に対し−45をなす線上でかつ光軸と対
称に配置されている。もつとも、光電変換素子の6対の
方向は既知であれば任意でよく、また、三対以上設けて
もよいものである。
向、すなわち、牙2図紙面内で光軸に直交する線に対し
+45をなす線上でかつ光軸に対称に配置され、他の一
対の光電変換素子51.53は、上記測定経線の方向に
直交する測定経線の方向、すなわち、才2図紙面内で光
軸に直交する線に対し−45をなす線上でかつ光軸と対
称に配置されている。もつとも、光電変換素子の6対の
方向は既知であれば任意でよく、また、三対以上設けて
もよいものである。
そして、矛5図示の如く、光電変換素子50゜51.5
2及び53は各々波形整形回路55゜56.57及び5
8に接続されている。一対の光電変換素子50.52の
出力信号を波形整形する一対の波形整形回路55.57
は各々牙1位相差測定回路59に接続され、一対の光電
変換素子51.53の出力信号を波形整形する一対の波
形整形回路56.58は各々12位相差測定回路60に
接続されている。牙1位相差測定回路59及び12位相
差測定回路60はマイクロコンピュータ19のインター
フェイス22に接続されている。なお、上記波形整形回
路55.56,57.58及び位相差測定回路59.6
0が、矛1図における位相差検出手段4に相当する。
2及び53は各々波形整形回路55゜56.57及び5
8に接続されている。一対の光電変換素子50.52の
出力信号を波形整形する一対の波形整形回路55.57
は各々牙1位相差測定回路59に接続され、一対の光電
変換素子51.53の出力信号を波形整形する一対の波
形整形回路56.58は各々12位相差測定回路60に
接続されている。牙1位相差測定回路59及び12位相
差測定回路60はマイクロコンピュータ19のインター
フェイス22に接続されている。なお、上記波形整形回
路55.56,57.58及び位相差測定回路59.6
0が、矛1図における位相差検出手段4に相当する。
また、マイクロコンピュータ19はさらに固視標12の
光軸上での位置を検出する位置検出装置62の出力を入
力し、後述の如く演算した球面屈折力Sと、円柱面屈折
力Cとが減少する方向へ固視標12を順次一定のステッ
プにて移動せしめる如く固視標12の駆動装置18へ信
号を送る。すなわち、固視標12、位置検出装置62、
マイクロコンピュータ19、駆動装置18によって米国
特許矛4190332号に開示ある如き自動雲霧装置を
構成している。
光軸上での位置を検出する位置検出装置62の出力を入
力し、後述の如く演算した球面屈折力Sと、円柱面屈折
力Cとが減少する方向へ固視標12を順次一定のステッ
プにて移動せしめる如く固視標12の駆動装置18へ信
号を送る。すなわち、固視標12、位置検出装置62、
マイクロコンピュータ19、駆動装置18によって米国
特許矛4190332号に開示ある如き自動雲霧装置を
構成している。
さらにまた、図面実施例の場合、ス1jット状の照明光
束の走査速度を検出する走査速度検出手段41が設けら
れている。該走査速度検出手段41は例えば回転チョッ
パー33が所定の回転角を回転したときに要した時間に
対応した信号を出力するように構成され、その出力信号
はマイクロコンピュータ19のインターフェイス22に
人力されている。
束の走査速度を検出する走査速度検出手段41が設けら
れている。該走査速度検出手段41は例えば回転チョッ
パー33が所定の回転角を回転したときに要した時間に
対応した信号を出力するように構成され、その出力信号
はマイクロコンピュータ19のインターフェイス22に
人力されている。
そして、マイクロコンピュータ19は上記走査速度検出
手段41の出力信号に基づき光電変換素子間の出力信号
の位相差を補正するものである。すなわち、光電変換素
子間の出力信号の位相差がスリット状の照明光束の走査
速度に反比例することに着目し、実際の走査速度におけ
る位相差を同一条件下の所定の一定走査速度における位
相差に換算するものであり、その後にその補正された位
相差によって後述の如き演算を行うものである。したが
って、スリット状の照明光束の走査速度、具体的にはモ
ータ36の回転速度が変動する場合においても、モータ
36の回転速度を厳密に一定に保った場合と同様に高精
度な測定が可能となる、 もつとも、モータ36の回転速度を厳密に一定に保てば
、上記走査速度検出手段41及び上記マイクロコンピュ
ータ190位相差補正手段としての機能は不要である。
手段41の出力信号に基づき光電変換素子間の出力信号
の位相差を補正するものである。すなわち、光電変換素
子間の出力信号の位相差がスリット状の照明光束の走査
速度に反比例することに着目し、実際の走査速度におけ
る位相差を同一条件下の所定の一定走査速度における位
相差に換算するものであり、その後にその補正された位
相差によって後述の如き演算を行うものである。したが
って、スリット状の照明光束の走査速度、具体的にはモ
ータ36の回転速度が変動する場合においても、モータ
36の回転速度を厳密に一定に保った場合と同様に高精
度な測定が可能となる、 もつとも、モータ36の回転速度を厳密に一定に保てば
、上記走査速度検出手段41及び上記マイクロコンピュ
ータ190位相差補正手段としての機能は不要である。
そして、本発明では、光電変換素子50,5152.5
3のうち少なくとも1以上の光電変換素子の出力信号の
乱れを検出する乱れ検出手段7が設けられる。図面実施
例の場合、光電変換素子53の出力信号の乱れを検出す
るように構成されており、上記波形整形回路58を共用
し、さらに該波形回路58の出力信号の波形巾を検出す
る波形巾検出回路70が設けられ、さらにまた該波形巾
検出回路70の出力信号をマイクロコンピュータ19の
インターフェイス22に接続して構成されている。なお
、マイクロコンピュータ19も乱れ検出手段7の一部と
して機能し、具体的には上記波形巾が予め設定した範凹
円に入っているか否か判定する。すなわち、光電変換素
子53の出力信号が乱れると、波形整形回路58の出力
信号波形中が通常の場合と大きく異なることに着目して
、光電変換素子53の出力信号の乱れを検出するもので
ある。
3のうち少なくとも1以上の光電変換素子の出力信号の
乱れを検出する乱れ検出手段7が設けられる。図面実施
例の場合、光電変換素子53の出力信号の乱れを検出す
るように構成されており、上記波形整形回路58を共用
し、さらに該波形回路58の出力信号の波形巾を検出す
る波形巾検出回路70が設けられ、さらにまた該波形巾
検出回路70の出力信号をマイクロコンピュータ19の
インターフェイス22に接続して構成されている。なお
、マイクロコンピュータ19も乱れ検出手段7の一部と
して機能し、具体的には上記波形巾が予め設定した範凹
円に入っているか否か判定する。すなわち、光電変換素
子53の出力信号が乱れると、波形整形回路58の出力
信号波形中が通常の場合と大きく異なることに着目して
、光電変換素子53の出力信号の乱れを検出するもので
ある。
つまり、被検眼2がまばたきしていないときには、光電
変換素子51の出力波形は矛8図(α)、光電変換素子
53の出力波形は牙8図<h>、波形整形回路56の出
力波形は牙8図(C1、波形整形回路58の出力波形は
矛8図Cd)に示す如くなる。
変換素子51の出力波形は矛8図(α)、光電変換素子
53の出力波形は牙8図<h>、波形整形回路56の出
力波形は牙8図(C1、波形整形回路58の出力波形は
矛8図Cd)に示す如くなる。
なお、図中ΔDが屈折力に対応する。一方、被検眼2が
まばたきしているときKは、光電変換素子51の出力波
形は牙9図(α)、光電変換素子53の出力波形は矛9
図(A)、波形整形回路56の出力波形は牙9図(C)
、波形整形回路58の出力波形は矛9図(勾に示す如く
なる。なお、光電変換素子50.52及び波形整形回路
55.57の出力波形についても同様である。なお、図
面実施例の場合、波形整形回路56.58VCは基準電
圧なVcとするコンパレータが使用されている。したが
って、牙8図及び牙9図から明らかなように、波形整形
回路58の出力信号の波形中を調べれば、光電変換素子
53の出力信号の乱れ、ひいてはまばたきを検出できる
ものである。
まばたきしているときKは、光電変換素子51の出力波
形は牙9図(α)、光電変換素子53の出力波形は矛9
図(A)、波形整形回路56の出力波形は牙9図(C)
、波形整形回路58の出力波形は矛9図(勾に示す如く
なる。なお、光電変換素子50.52及び波形整形回路
55.57の出力波形についても同様である。なお、図
面実施例の場合、波形整形回路56.58VCは基準電
圧なVcとするコンパレータが使用されている。したが
って、牙8図及び牙9図から明らかなように、波形整形
回路58の出力信号の波形中を調べれば、光電変換素子
53の出力信号の乱れ、ひいてはまばたきを検出できる
ものである。
なお、上記乱れ検出手段7は光電変換素子50.51,
52.53のうち少なくとも1以上の光電変換素子の出
力信号の乱れを検出で鎗ればよいものであるから、例え
ばスリット状の照明光束の走査タイミングに応じて、通
常光電変換素子の出力信号が発生すべき時瘤において発
生しなかったことを検出するような構成とするなど、他
の構成でもよいことは勿論である。
52.53のうち少なくとも1以上の光電変換素子の出
力信号の乱れを検出で鎗ればよいものであるから、例え
ばスリット状の照明光束の走査タイミングに応じて、通
常光電変換素子の出力信号が発生すべき時瘤において発
生しなかったことを検出するような構成とするなど、他
の構成でもよいことは勿論である。
また、マイクロコンピュータ19は主にマイクロプロセ
ッサ(中央演算装置)20と、メモリ(記憶装置)21
と、インターフェイス(入出力信号処理回路)22とか
ら構成され、図面実施例の場合、矛1図における制御手
段8及び演算手段5に相当し、また上述の如く乱れ検出
手段7の一部に相当する。もつとも、マイクロコンピュ
ータ19は他の機能、例えば上述の自動雲霧装置用及び
位相差補正手段用又は表示指令用等の機能も併せて担う
ものであるが、本発明の主要部ではないので詳細な説明
は省略する。
ッサ(中央演算装置)20と、メモリ(記憶装置)21
と、インターフェイス(入出力信号処理回路)22とか
ら構成され、図面実施例の場合、矛1図における制御手
段8及び演算手段5に相当し、また上述の如く乱れ検出
手段7の一部に相当する。もつとも、マイクロコンピュ
ータ19は他の機能、例えば上述の自動雲霧装置用及び
位相差補正手段用又は表示指令用等の機能も併せて担う
ものであるが、本発明の主要部ではないので詳細な説明
は省略する。
ここで、演算により屈折力を求めることができる理由に
ついて述べる。
ついて述べる。
被検眼2に乱視がないとすれば、オニスリブト状開口部
34αに基づくスリット状の照明光束が被検眼2を走査
しているときには、その反射光は牙7図(α)の如く矢
印X方向に光電変換器37の受光面を走り、牙2スリッ
トブト口部34hに基づくスリット状照明光束が被検眼
2を走査しているときには、その反射光はオフ図(hl
の如く矢印X方向に走ることとなる。そして、オフ図(
cL)の状況は従来技術の項で説明した牙12図(α)
の状況と実質的に同一であり、オフ図<h>の状況は従
来技術の項で説明した牙12図(Alの状況と実質的に
同一である。
34αに基づくスリット状の照明光束が被検眼2を走査
しているときには、その反射光は牙7図(α)の如く矢
印X方向に光電変換器37の受光面を走り、牙2スリッ
トブト口部34hに基づくスリット状照明光束が被検眼
2を走査しているときには、その反射光はオフ図(hl
の如く矢印X方向に走ることとなる。そして、オフ図(
cL)の状況は従来技術の項で説明した牙12図(α)
の状況と実質的に同一であり、オフ図<h>の状況は従
来技術の項で説明した牙12図(Alの状況と実質的に
同一である。
したがって、牙1スリットブト口部34αに基づくスリ
ット状の照明光束が被検眼2を走査した場合において、
その走査速度が一定であると仮定した場合に、光電変換
素子50.52の出力信号の位相差から得られた値をD
IO1光電変換素子51.53の出力信号の位相差から
得られた値をDJOとし1.t−2スリットブト口部3
46に基づくスリット状の照明光束が被検眼2゛を走査
した場合において、その走査速度が一定であると仮定し
た場合に、光電変換素子50 、52の出力信号の位相
差から得られた値をDJO1光電変換素子51.53の
出力信号の位相差から得られた値を’fJt、toとす
れば、Dlo m S + Ccosθ −−一−
−−−−−−■Dxo −−sin 2θ −
一一一一−−−−−■DJO= −−sin2θ
−一−−−−−−−−■Duo −8+ Cs1n
(1−−−−−−−−−一■となるものである。
ット状の照明光束が被検眼2を走査した場合において、
その走査速度が一定であると仮定した場合に、光電変換
素子50.52の出力信号の位相差から得られた値をD
IO1光電変換素子51.53の出力信号の位相差から
得られた値をDJOとし1.t−2スリットブト口部3
46に基づくスリット状の照明光束が被検眼2゛を走査
した場合において、その走査速度が一定であると仮定し
た場合に、光電変換素子50 、52の出力信号の位相
差から得られた値をDJO1光電変換素子51.53の
出力信号の位相差から得られた値を’fJt、toとす
れば、Dlo m S + Ccosθ −−一−
−−−−−−■Dxo −−sin 2θ −
一一一一−−−−−■DJO= −−sin2θ
−一−−−−−−−−■Duo −8+ Cs1n
(1−−−−−−−−−一■となるものである。
したがって、未知数がC,S、θであり、測定データが
Dio、Dコ0(薯−DJO)、Dioと三つあ。
Dio、Dコ0(薯−DJO)、Dioと三つあ。
るため、上記15程式■■(又は■)■からマイクロコ
ンピユータ19で演算することにより、円柱軸角度θ、
球面屈折力S、円柱面屈折力Cを求めることができるわ
けである。
ンピユータ19で演算することにより、円柱軸角度θ、
球面屈折力S、円柱面屈折力Cを求めることができるわ
けである。
矢に、乱れ検出手段7の一部及び制御手段8としてのマ
イクロコンピュータ19の概略のフローチャートな矛1
0図に示す。なお、図中■〜■はフローチャートの各ス
テップを示す。
イクロコンピュータ19の概略のフローチャートな矛1
0図に示す。なお、図中■〜■はフローチャートの各ス
テップを示す。
まず、■で開始するが、例えば図示なき測定スイッチを
ONすると開始する。なお、この時点では装置の7ライ
メントが完了し、スリット状の照明光束が被検眼2を走
査している。
ONすると開始する。なお、この時点では装置の7ライ
メントが完了し、スリット状の照明光束が被検眼2を走
査している。
矢に[相]で、光電変換素子(図面実施例の場合、光電
変換素子53)の出力信号に乱れがあるか否か判定する
。図面実施例の場合、具体的には波形巾検出回路70の
出力値が所定の範囲内に入っているか否か判定する。そ
して、光電■では位相差データが読み込まれる。つまり
、牙1及び12位相差検出回路59.60の出力信号が
それぞれメモリ21の所定番地に記憶されるものである
。なお、出力装置40の判別信号に基づいてメモリ21
の異なる番地に記憶され、また位相差データは後述の如
く所定数読み込まれるが、その読み込み回数にも応じて
異なるメモリ21の番地に記憶されるものである。なお
、牙10図に示していないが、各位相差データに対応し
た走査速度データも走査速度検出手段41からメモリ2
1の所定番地に記憶される。
変換素子53)の出力信号に乱れがあるか否か判定する
。図面実施例の場合、具体的には波形巾検出回路70の
出力値が所定の範囲内に入っているか否か判定する。そ
して、光電■では位相差データが読み込まれる。つまり
、牙1及び12位相差検出回路59.60の出力信号が
それぞれメモリ21の所定番地に記憶されるものである
。なお、出力装置40の判別信号に基づいてメモリ21
の異なる番地に記憶され、また位相差データは後述の如
く所定数読み込まれるが、その読み込み回数にも応じて
異なるメモリ21の番地に記憶されるものである。なお
、牙10図に示していないが、各位相差データに対応し
た走査速度データも走査速度検出手段41からメモリ2
1の所定番地に記憶される。
そして、■が終了すると、[相]に移行する。
■では、所定数の位相差データを読み込んだか否か判定
する。読み込んでいなければ、[相]に戻り、[株]■
■が繰り返される。一方、所定数の位相差データの読み
込みが終了していれば[相]に移行し、乱れ検出手段7
の一部及び制御手段8としてのマイクロコンピュータ1
90機能は終了する。
する。読み込んでいなければ、[相]に戻り、[株]■
■が繰り返される。一方、所定数の位相差データの読み
込みが終了していれば[相]に移行し、乱れ検出手段7
の一部及び制御手段8としてのマイクロコンピュータ1
90機能は終了する。
また、上述の如く[相]で光電変換素子の出力信号に乱
れがあったと判定した場合には[相]に移行する。した
がって、[相]から■に移行せず、位相差データの読み
込みが中断される。
れがあったと判定した場合には[相]に移行する。した
がって、[相]から■に移行せず、位相差データの読み
込みが中断される。
そして、[相]では、所定時間経過したか否か判定する
。所定時間経過していなければ[相]の判定が繰り返さ
れ、所定時間経過するまで待つ。
。所定時間経過していなければ[相]の判定が繰り返さ
れ、所定時間経過するまで待つ。
所定時間経過すると、[相]に戻る。なお、[相]を経
て■に移行したときには、それ以前に[相]で読み込ま
れた位相差データは消去あるいは無視される。
て■に移行したときには、それ以前に[相]で読み込ま
れた位相差データは消去あるいは無視される。
以下、上記構成の本発明の詳細な説明する。
検者はC倉T101上に映し出された被検眼2を見なが
ら被検眼2と測定装置とのアライメントを行なう。アラ
イメントが完了した後、図示なき測定スイッチをONと
すると測定か開始する。
ら被検眼2と測定装置とのアライメントを行なう。アラ
イメントが完了した後、図示なき測定スイッチをONと
すると測定か開始する。
仄に、上述の牙10図示のフローチャートの如く、マイ
クロコンピュータ19のメモリ21に位相差データ等が
読み込まれる。
クロコンピュータ19のメモリ21に位相差データ等が
読み込まれる。
したがって、位相差データの読み込み中に光電変換素子
53の出力信号に乱れがあると、つまり被検眼2がまば
たきすると、位相差データの読み込みが中断され、所定
時間経過後洗、新たに位相差データの読み込みが行なわ
れ、最終的には常に被検眼2がまげだ肇をしていない状
態で位相差データが読み込まれろこととなる。
53の出力信号に乱れがあると、つまり被検眼2がまば
たきすると、位相差データの読み込みが中断され、所定
時間経過後洗、新たに位相差データの読み込みが行なわ
れ、最終的には常に被検眼2がまげだ肇をしていない状
態で位相差データが読み込まれろこととなる。
次に、マイクロコンピュータ19で、上記位相差データ
及びそのときの走査速度データCメモリ21の記憶値で
ある)とから、キの位相差データが同一条件下でスリッ
ト状の照明光束の走査速度が所定の一定速度である場合
における位相差に補正され、その後その補正された位相
差データに基づき、式■〜■によって演算され、被検眼
2の屈折力すなわち円柱軸角度θ、球面屈折力及び円柱
屈折力Cが求められる。
及びそのときの走査速度データCメモリ21の記憶値で
ある)とから、キの位相差データが同一条件下でスリッ
ト状の照明光束の走査速度が所定の一定速度である場合
における位相差に補正され、その後その補正された位相
差データに基づき、式■〜■によって演算され、被検眼
2の屈折力すなわち円柱軸角度θ、球面屈折力及び円柱
屈折力Cが求められる。
ただし、式■〜■に基づく演算を行うと、演算に時間が
かかるとか、光学系の配置により定数が変化したりする
。そのため、実際の装置では装置を作った後、あらかじ
め屈折力のわかっている模擬眼を用いて測定を行ない、
その時のDzo、 D、2o 、 Dzo 、 Drt
oの値を上述の既知の屈折力と対応せしめてメモリ21
に記憶せしめてお(ように成すことにより、上述の不都
合を解消しうる。未知数はC,S、θの3つで測定デー
タは3つ(実際は4つであるがそのうちの2つは軸が互
いに直交するという条件から符号が、異なるだけである
から実質3つ)であるから屈折力(c、S、θにて定ま
る)は一義的に定まる。
かかるとか、光学系の配置により定数が変化したりする
。そのため、実際の装置では装置を作った後、あらかじ
め屈折力のわかっている模擬眼を用いて測定を行ない、
その時のDzo、 D、2o 、 Dzo 、 Drt
oの値を上述の既知の屈折力と対応せしめてメモリ21
に記憶せしめてお(ように成すことにより、上述の不都
合を解消しうる。未知数はC,S、θの3つで測定デー
タは3つ(実際は4つであるがそのうちの2つは軸が互
いに直交するという条件から符号が、異なるだけである
から実質3つ)であるから屈折力(c、S、θにて定ま
る)は一義的に定まる。
このようにDlo 、 Dao 、 DJII) 、
Daoの値と屈折力とを対応ずける如く成すことによれ
ば、伺ら複雑な手間を付加することなく光学系の配置を
比較酌自由にできる。
Daoの値と屈折力とを対応ずける如く成すことによれ
ば、伺ら複雑な手間を付加することなく光学系の配置を
比較酌自由にできる。
したがって、例えば絞り39は測定光軸上を任意の位置
に移動し得るものである。
に移動し得るものである。
さらに、マイクロコンピュータ19は、上記屈折力に基
づき固視杼12を被検眼2の弛緩する方向へ移動せI−
める如く固視標12の駆動装五J8へ信号を入力する。
づき固視杼12を被検眼2の弛緩する方向へ移動せI−
める如く固視標12の駆動装五J8へ信号を入力する。
すなわち、屈折力に基づいて自動雲霧装置が作動する。
そして、各ステップ毎に上述の動作を繰り返し、マイク
ロコンピュータ19は固視#12をそね以上変化させて
も球面屈折力Sが変化しなくなったときの屈折力を表示
装置6に表示せしめる。
ロコンピュータ19は固視#12をそね以上変化させて
も球面屈折力Sが変化しなくなったときの屈折力を表示
装置6に表示せしめる。
以上の如く、本発明によれば、測定中に被検眼がまばた
きをした場合にも測定誤りを生ずることがなくなるもの
である。また、屈折力の測定に直接使用される光電変換
素子の出力信号の乱れを乱れ検出手段で検出するもので
あるから、従来の四分割光電変換素子の如き特別なまば
たき検出用素子が不要となり、さらにそのまばたき検出
用素子の出力信号を処理する回路も不要となるため、安
価となるとともに信頼性も向上し、同時に従来の如きク
ロストークが生ずるおそれもなくなり正確な測定が可能
となる。
きをした場合にも測定誤りを生ずることがなくなるもの
である。また、屈折力の測定に直接使用される光電変換
素子の出力信号の乱れを乱れ検出手段で検出するもので
あるから、従来の四分割光電変換素子の如き特別なまば
たき検出用素子が不要となり、さらにそのまばたき検出
用素子の出力信号を処理する回路も不要となるため、安
価となるとともに信頼性も向上し、同時に従来の如きク
ロストークが生ずるおそれもなくなり正確な測定が可能
となる。
なお、上記実施例では、スリット状の照明光束の傾斜角
度が二つ以上の既知の角度にされ、さらに出力装置40
が設けられているため、従来の技術の項で説明した特開
昭57−165735号公報に示される自動眼屈折力測
定装置において必要であったプリズムが不要になるとと
もに光源も一つでよく、しかも像回転プリズムも使用す
る必要がなくなっており、製造が容易で測定時間も短く
、さらに高精度な測定が可能になっている。もつとも、
本発明では、乱れ検出手段7及び制御手段8を設ければ
よいものであるから、例えば、特開昭55−16053
8号公報又は特開昭57−1657−3.5号公報に示
される自動眼屈折力測定装置においてこれらを設ければ
よいものである。
度が二つ以上の既知の角度にされ、さらに出力装置40
が設けられているため、従来の技術の項で説明した特開
昭57−165735号公報に示される自動眼屈折力測
定装置において必要であったプリズムが不要になるとと
もに光源も一つでよく、しかも像回転プリズムも使用す
る必要がなくなっており、製造が容易で測定時間も短く
、さらに高精度な測定が可能になっている。もつとも、
本発明では、乱れ検出手段7及び制御手段8を設ければ
よいものであるから、例えば、特開昭55−16053
8号公報又は特開昭57−1657−3.5号公報に示
される自動眼屈折力測定装置においてこれらを設ければ
よいものである。
〔発明グ〕効果〕
本発明によれば、測定中に被検眼かまばた六した場合に
も測定誤りを生ずることがなく、しかも特別なまばた詫
検出用素子が不要となり、安価となるとともに信頼性も
向上し、さらに従来の如きクロストークが生ずるおそれ
がなくなり正確に測定を行うことができる効果が得られ
るものである。
も測定誤りを生ずることがなく、しかも特別なまばた詫
検出用素子が不要となり、安価となるとともに信頼性も
向上し、さらに従来の如きクロストークが生ずるおそれ
がなくなり正確に測定を行うことができる効果が得られ
るものである。
図面は本発明の一実施例を示すもので、矛1図は本発明
の基本構成図、牙2図は光学系の構成図、λ・3図は矛
2図におけろ絞りの平面図、牙4図は矛2図におけるA
−A矢視図、牙5図は上記実施例のおける回路図、矛6
図は牙2図における回転チョッパーの展開図、牙7図(
α)及び(h)はスリット状の照明光束の反射光の走査
を示す説明図、牙8図(α)(A+ (C1(d)は被
検眼がまばたきしていないときの回路各部の波形図1.
t−9図((ZI CA)(C1(d)は被検眼がまば
たきしているときの回路各部の波形図、2io図は概略
フローチャート、矛11図は従来例を示すもので牙6図
に対応する図、牙12図(α)及び(h)は従来例を示
すもので牙7図(α)及び(Alに対応する図である。 1・・・照明光束走査手段、2・・・被検眼、3・・・
光電変換素子、4・・・位相差検出手段、5・・・演算
手段、6・・・表示装置、7・・・乱れ検出手段、8・
・・制御手段。
の基本構成図、牙2図は光学系の構成図、λ・3図は矛
2図におけろ絞りの平面図、牙4図は矛2図におけるA
−A矢視図、牙5図は上記実施例のおける回路図、矛6
図は牙2図における回転チョッパーの展開図、牙7図(
α)及び(h)はスリット状の照明光束の反射光の走査
を示す説明図、牙8図(α)(A+ (C1(d)は被
検眼がまばたきしていないときの回路各部の波形図1.
t−9図((ZI CA)(C1(d)は被検眼がまば
たきしているときの回路各部の波形図、2io図は概略
フローチャート、矛11図は従来例を示すもので牙6図
に対応する図、牙12図(α)及び(h)は従来例を示
すもので牙7図(α)及び(Alに対応する図である。 1・・・照明光束走査手段、2・・・被検眼、3・・・
光電変換素子、4・・・位相差検出手段、5・・・演算
手段、6・・・表示装置、7・・・乱れ検出手段、8・
・・制御手段。
Claims (1)
- スリット状の照明光束にて被検眼を走査し、該被検眼の
反射光束を二対以上の光電変換素子にて受光し、各々の
対を構成する光電変換素子間の出力信号の位相差に基づ
いて演算することにより上記被検眼の屈折力を測定する
装置において、上記光電変換素子のうち少なくとも1以
上の光電変換素子の出力信号の乱れを検出する乱れ検出
手段と、該乱れ検出手段の出力信号を受けて上記測定を
中断させるとともに、所定時間経過後に上記測定を最初
から開始せしめる制御手段とを設けたことを特徴とする
自動眼屈折力測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60249680A JPS62109541A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 自動眼屈折力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60249680A JPS62109541A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 自動眼屈折力測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62109541A true JPS62109541A (ja) | 1987-05-20 |
Family
ID=17196605
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60249680A Pending JPS62109541A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 自動眼屈折力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62109541A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS542519A (en) * | 1977-06-08 | 1979-01-10 | Hitachi Ltd | Vaporizing combustion device |
| JPS55160538A (en) * | 1979-06-02 | 1980-12-13 | Nippon Chemical Ind | Objective eye refraction device |
| JPS61263437A (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-21 | 株式会社トプコン | 眼屈折力測定装置 |
-
1985
- 1985-11-07 JP JP60249680A patent/JPS62109541A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS542519A (en) * | 1977-06-08 | 1979-01-10 | Hitachi Ltd | Vaporizing combustion device |
| JPS55160538A (en) * | 1979-06-02 | 1980-12-13 | Nippon Chemical Ind | Objective eye refraction device |
| JPS61263437A (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-21 | 株式会社トプコン | 眼屈折力測定装置 |
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