JPH0254B2

JPH0254B2 -

Info

Publication number: JPH0254B2
Application number: JP56085489A
Authority: JP
Inventors: Minoru Kamya; Masayuki Masuyama; Ikuo Kitao; Shinji Wada; Kiwamu Horiguchi
Original assignee: Tokyo Optical Co Ltd
Current assignee: Tokyo Optical Co Ltd
Priority date: 1981-06-03
Filing date: 1981-06-03
Publication date: 1990-01-05
Also published as: JPS57200128A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は眼の屈折力を他覚的かつ自動的に測定
する装置に関する。従来の他覚式自動眼屈折力測
定装置の例として、被検眼眼底に投影する測定用
ターゲツトを光軸方向に動かし、測定ターゲツト
が眼底と共役となる位置を検出し、この時の測定
ターゲツトの移動量から屈折力を求める装置が知
られています。この場合乱視度を測定するには各
径線方向でこの測定を行なわなければならない。
この装置においては、各径線方向の屈折力を測定
するためにその都度測定ターゲツトを動かす必要
があり測定に時間がかかり、測定中被検眼が動い
たり調節の状態が変つたりする。また、一定時間
眼を動かさないようにとの指示により被検者が緊
張して被検眼が通常と異なる調節状態になり、結
果的に被検者は長時間の測定により苦痛を受けし
かも測定精度の低下はまぬがれない。

また他の例としては、１対の測定ビームを被検
眼眼底へ投影し、眼底上での測定ビームの分離量
により屈折力を測定する装置が知られている。し
かしながら、この場合、被検眼の屈折度によつて
は、分離量が大きくなり測定精度が低下する欠点
がある。言いかえれば、実質上測定範囲が非常に
狭い測定装置である。

本発明は、上記従来の他覚式自動眼屈折力測定
装置の欠点を解消することを目的とするものであ
つて、その構成上の特徴とするところは、測定タ
ーゲツトからの互に角度を有する複数の光束を被
検眼眼底に投影する測定ターゲツト投影光学系
と、被検眼眼底に投影された測定ターゲツト像か
らの光を結像させるターゲツト結像光学系と、上
記ターゲツト結像光学系による複数の光束から形
成された夫々のターゲツト像位置を検出する検出
装置と、光軸上の所定位置に固定された上記ター
ゲツトによる前記検出装置の電気信号により上記
ターゲツトを被検眼眼底と略共役な位置に移動さ
せるターゲツト位置制御系と、さらに、上記移動
後のターゲツトからの光束を光軸中心に回転した
時の少なくとも３径線方向における上記検出装置
からの信号により球面度数、乱視度数、乱視軸を
演算処理する屈折力演算部とを有することであ
る。すなわち、本発明においては、特定の位置に
測定ターゲツトを固定し、該状態において一径線
方向の屈折力を測定し、この測定結果に基いて測
定ターゲツトを移動して固定する。この状態で少
なくとも３径線方向について屈折力を検出し、こ
の検出値から球面度数、乱視度数、乱視軸を算出
するものである。本発明は、このように測定時間
が速く、本測定の前にいわゆる予備測定を行うこ
とにより、被検眼の屈折力の測定範囲を広げ、か
ついずれの屈折力においても高精度な測定を可能
にしたものである。

以下本発明の実施例を図に基いて説明する。最
初に、実施例の装置における測定手順を、第１図
に基いて説明する。電源スイツチをONにし、こ
れにより測定ターゲツト、固視標ターゲツトが所
定の位置に固定され、また測定ターゲツト投影用
光学系の光源も一定の回転位置に固定される。こ
の状態で予備測定が行われ、概略的な球面度数が
測定される。次に、予備測定の測定値に基いて、
測定ターゲツトは略被検眼眼底と共役な位置に移
動されて固定され、また固視標ターゲツトは測定
ターゲツトより遠方の位置に置かれ被検眼を雲霧
させる。この状態で本測定が行われる。本測定は
測定ターゲツト投影用光学系の光源を光軸中心に
回転させ少なくとも３径線方向で測定する。次
に、この測定値から球面度数、乱視度数、乱視軸
を算出し、これを表示して測定を終了する。

次に、本発明の測定原理、詳しくは所定径線方
向における屈折力を算出する原理について説明す
る。第２図において、測定ターゲツトＴより送光
用対物レンズ１を通つて被検眼Ｅの瞳の任意径線
方向θへ分離して投射され、被検眼眼底に到達し
た２光束の偏位量δ〓は、被検眼の水晶体の屈折異
常である屈折性異常であるか、水晶体から眼底ま
での距離の異常である眼軸性異常であるかによつ
て異なるが、上記２光束によつて生じる被検眼眼
底における偏位した２点を被検眼瞳孔中心より結
ぶ線のつくる角度β〓は、屈折性異常および眼軸性
異常のいずれの場合においても、 tanβ〓＝Ｘ（D〓−D_T） ……(1) Ｘ：被検眼の瞳孔における２光束の間隔 D〓：被検眼の瞳孔における径線方向θの被検眼
屈折力 D_T：測定ターゲツト位置のデイオプター換算値である。

従つて、第３図に示す光学系において、受光用
対物レンズ２による被検眼Ｅの瞳孔Ｐと共役とな
る位置に絞りＳを配置し、リレーレンズ３の前側
焦点位置に絞りＳを配置すると、被検眼眼底上の
偏位した２点O₁，O₂からの反射光は、被検眼瞳
孔中心Ｐを主光線が通過する光束として取出すこ
とができ、この光束のつくる射出角度が被検眼瞳
孔中心Ｐと眼底のO₁，O₂とを結ぶ線のなす角度
βに相当する。ここで、被検眼Ｐに対する絞りＳ
の結像倍率をｍ、リレーレンズ３の焦点距離を₃
とするとき、被検眼眼底のO₁およびO₂からの反
射光はリレーレンズ３のつくる光軸外の像として
結像し、光軸からの像高△は、 △＝₃tanmβ ……(2) となる。なお、この像高△はリレーレンズ３に関
し絞りＳがテレセン絞りの関係となるので、リレ
ーレンズ３の結像位置の前後においても像高△は
変らない。式(2)はβが小さくまたはｍ＝１である
時、 △＝m₃tanβ ……(3) とおくことができ、式(1)、(3)より △＝m₃X（D〓−D_T） ……(4) となり、リレーレンズ３の像高△を計測すれば、
径線方向θでの被検眼屈折力D〓を算出すること
ができる。

上記原理に基く本装置は、第４図に示すよう
に、測定ターゲツトを被検眼眼底に投影するター
ゲツト投影光学系５０、被検眼眼底の測定ターゲ
ツト像を測定光学系５１に投影するターゲツト受
光光学系５２、測定ターゲツト像から屈折力を検
出する測定光学系５１、被検眼の視準線を固定す
る固視目標系５３及び被検眼と本装置との位置関
係を示す照準光学系５４から構成され、以下各光
学系について詳説する。

ターゲツト投影用光学系５０は、第４図に示す
ように、光軸を中心に配置された一対の赤外線光
源１ａ，１ｂ、赤外線光源１ａ，１ｂからの光を
それぞれ集光する集光レンズ２ａ，２ｂ、平行光
を作るコリメータレンズ３、円形開口絞り４を有
する測定ターゲツト５、結像レンズ６、投影用結
像レンズ７、赤外光に関するハーフミラー８及び
長波長部の赤外光を反射し可視部とこれに近接し
た赤外光を透過する特性を有するダイクロイツク
ミラー９とから構成される。上記一対の赤外線光
源１ａ，１ｂは高速度で交互に点灯し、また該両
源１ａ，１ｂは一体となつて光軸を中心に回転可
能に構成され、かつ測定ターゲツト５は光軸方向
へ移動可能に構成される。

上記構成において、一対の赤外線光源１ａ，１
ｂからの光は、それぞれ集光レンズ２ａ，２ｂに
よつて集光され、さらにコリメータレンズ３によ
り平行光にされて円形開口絞り４に斜に入射す
る。円形開口絞り４を通過した光は、結像レンズ
６により点P₁の位置に結像した後、投影用結像
レンズ７、ハーフミラー８及びダイクロイツクミ
ラー９を介して被検眼Ｅに入射する。ここで、赤
外線光源１ａ，１ｂの像は被検眼Ｅの瞳孔位置に
結像し、また測定ターゲツト５の円形開口絞り４
の像は被検眼の眼底P₂に結像する。そして、測
定ターゲツト５と被検眼Ｅの眼底P₂とが共役な
位置関係にあるときには、赤外線光源１ａからの
光によつて照射された円形開口絞り４の像と、赤
外線光源１ｂからの光によつて照明された円形開
口絞り４の像とが、眼底P₂の同一位置に結像さ
れる。他方、測定ターゲツト５と被検眼Ｅの眼底
P₂とが共役な位置関係にないときには、上記各
赤外線光源からの光によつて照明された円形開口
絞り４の像が眼底P₂の分離した２ケ所にそれぞ
れ結線する。本発明においては、光軸上に固定さ
れた測定ターゲツト５の円形開口絞り４の眼底
P₂における像が、赤外線光源１ａ及び１ｂの交
互点灯によつて合致するか分離するかを弁別し、
分離している時にはその分離距離を測定し、その
測定値及びその時の測定ターゲツトの位置から被
検眼の屈折力を算出する。

ターゲツト受光光学系５２は、第４図に示すよ
うに、ダイクロイツクミラー９、ハーフミラー
８、受光用対物レンズ１０、ミラー１１、受光用
対物レンズ１０に関し被検眼角膜と共役な位置に
配置された角膜反射光遮断絞り１２及びリレーレ
ンズ１３によつて構成される。上記角膜反射光遮
断絞り１２は、第５図に示すように、ほぼ円孔で
あつて光軸通過位置に関し対称な２個所に突出遮
光部１２ａ，１２ｂを有する絞り板である。ま
た、上記角膜反射光遮断絞り１２は、赤外線光源
１ａ，１ｂが光軸回りに回転するとき、この回転
運動に連動して回転するように構成されている。
さらに、上記角膜反射光遮断絞り１２は、リレー
レンズ１３の前側焦点位置に配置されて、リレー
レンズ１３による投影光学系はテレセン光学的に
構成する。リレーレンズ１３は、測定ターゲツト
に連動して光軸方向に移動可能に構成する。

以上の構成において、被検眼眼底P₂の測定タ
ーゲツト像は、ダイクロイツクミラー９、ハーフ
ミラー８、受光用対物レンズ１０、ミラー１１、
リレーレンズ１３によつて、後に詳説する測定光
学系５１内に投影される。この時、被検眼角膜か
らの有害反射光は、反射光遮断絞り１２の突出遮
断部１２ａ，１２ｂによつて除去される。また、
角膜反射光遮断絞り１２とリレーレンズ１３とは
テレセン光学系を構成しているから、測定光学系
５１に結像される測定ターゲツト像は、光軸に平
行な主光線からなら光束によつて構成され、結像
位置の前後においても測定ターゲツト像である円
孔像を中心位置が変位しない性質を有する。

測定光学系５１は、第６図に示すごとくハーフ
ミラー１５、ミラー１６、リレーレンズ１７、ミ
ラー１８、チヨツパー１９、集光レンズ２０及び
受光素子２１からなるＸ方向検出系５６と、ハー
フミラー１５、ミラー２２、リレーレンズ２３、
チヨツパー１９、集光レンズ２４及び受光素子２
５からなるＹ方向検出系５７と、発光素子２６、
集光レンズ２７，２８、受光素子２９からなる基
準信号発生系５８とから構成される。チヨツパー
１９は円周方向に連続したスリツト群を有し、光
軸を中心に回転する。

以上の構成において、上記ターゲツト受光光学
系５２及びＸ方向検出系５６とによつて、被検眼
眼底P₂の測定ターゲツト像がチヨツパー１９の
上部１９ａの近傍に投影される。同時に、上記タ
ーゲツト受光光学系５２及びＹ方向検出系５７と
によつて、被検眼眼底P₂の測定ターゲツト像が
チヨツパー１９の側部１９ｂの近傍に投影され
る。ここで、測定ターゲツト５と被検眼眼底P₂
とが共役関係にない場合、第７図に示すごとく赤
外線光源１ａ，１ｂからの光によつて形成される
円形絞り像３０ａ，３０ｂ，３０a′，３０b′は、
Ｘ方向に△ｘ、Ｙ方向に△ｙだけ分離したスリツ
ト群上に投影される。

以上の構成において、赤外線光源１ａを点灯
し、その光による円形絞り像３０ａをチヨツパー
１９によつて走査したときの受光素子２１からの
信号と、赤外線光源１ｂを点灯し、その光による
円形絞り像３０ｂをチヨツパー１９によつて走査
したときの受光素子２１からの信号との位相差か
ら△ｘを算出する。同様に、円形絞り像３０a′と
３０b′とをチヨツパー１９によつて走査したとき
の受光素子２５からの信号の位相差から△ｙを算
出する。ここで、上記測定ターゲツト５と被検眼
眼底P₂との共役関係、被検眼Ｅの乱視度及びチ
ヨツパー１９上における円形絞り像３０ａ，３０
ｂの関係を説明する。光源１ａ，１ｂは垂直方向
からθだけ回転した位置に並んで配置されている
ものとする。すなわち測定径線方向は垂直方向か
らθだけ回転した方向であるとする。

(1) 上記測定ターゲツト５と被検眼眼底P₂とが
共役関係にあり、被検眼Ｅが乱視を含まない場
合、第８図Ａに示すように、チヨツパー１９上
において円形絞り像３０ａ，３０ｂが光軸通過
位置に重なつて投影される。すなわち、△ｘ＝
△ｙ＝０である。

(2) 上記測定ターゲツト５と被検眼眼底P₂とが
共役関係になく、被検眼Ｅが乱視を含まない場
合あるいは乱視を含む場合で被検眼Ｅの主径線
と光源１ａ，１ｂによる測定径線方向が一致す
る場合には、第８図Ｂに示すように、チヨツパ
ー１９上において円形絞り像３０ａ，３０ｂは
測定径線方向に分離して投影される。

(3) 上記測定ターゲツト５と被検眼眼底P₂とが
共役関係になく、被検眼Ｅが乱視を含み、かつ
被検眼Ｅの主径線と光源１ａ，１ｂからなる測
定径線方向が異なる場合には、第８図Ｃに示す
ように、チヨツパー１９上において円形絞り像
３０ａ，３０ｂが測定径線方向及びそれに直角
な方向に分離して投影される。

本実施例においては、第８図に示すように水平
方向、垂直方向の分離量△ｘ、△ｙを検出し、こ
の検出結果より測定径線方向の分離量に変換し、
測定径線方向の眼屈折力を検出するものである。

前述の変換をすることにより、光源１ａ，１ｂ
だけを回転するだけで、各測定径線方向での眼屈
折力を求めることができる。

固視目標系５３は、第４図に示すように、可視
光光源３１、集光レンズ３２、光軸方向に移動可
能な固視ターゲツト３３、ミラー３４、投影レン
ズ３５、可視光を反射し赤外光を透過するダイク
ロイツクミラー３６により構成される。

以上の構成において、可視光光源３１からの光
は、集光レンズ３２を介して固視ターゲツト３３
を照明する。固視ターゲツト３３からの光は、ミ
ラー３４、投影レンズ３５、ダイクロイツクミラ
ー３６を介し、さらに前記ダイクロイツクミラー
９を通過して被検眼Ｅに投影される。被検者は、
固視ターゲツト３３を注視することにより視準方
向を固定する。また、被検眼は常に遠方視の状態
であることを要し、固視ターゲツト３３は光軸方
向に移動可能とし視検眼が遠方視となる位置に調
節される。

照準光学系５４は、ハーフミラー９、ダイクロ
イツクミラー３６、投影レンズ３６′、ハーフミ
ラー３７及び撮像管３８を同一光軸上に配置し、
またハーフミラー３７の反射光軸上に光源４０、
集光レンズ４１、視準板４２、ミラー４４及び投
影レンズ４５を配置して構成される。撮像管３８
はモニターテレビ３９に連結されている。視準板
４２は、第９図に示すように、中央に円、その周
辺に放射線をもつた視準スケール４３を有する。

上記のように構成された照準光学系において、
撮像管３８には、投影レンズ３６′による被検眼
Ｅの前眼部像と、投影レンズ４５による視準スケ
ール４３の像が重ねて投影される。検者はモニタ
ーテレビ３９に見て、被検眼の瞳孔像の中心と視
準スケール４３の像とが一致して被検眼の光軸と
ターゲツト投影光学系５０、ターゲツト受光光学
系５２の光軸とが一致するように、被検眼に対し
本装置を上下左右に移動させる。

次に、本装置の電気回路の構成を第１０図のブ
ロツク図に基いて説明する。制御回路１０１は、
電源スイツチ１０２、測定スイツチ１０３、チヨ
ツパー駆動回路１０４、光源駆動回路１０５、測
定ターゲツト駆動回路１０６、固視ターゲツト駆
動回路１０７、測定ターゲツト光源回転駆動回路
１０８、測定検出部１０９及び演算処理部１１０
に連結され、所定プログラムによりこれらを制御
する。

チヨツパー駆動回路１０４はチヨツパー１９を
回転するモーター１１２に連結され、これを駆動
する。光源駆動回路１０５は基準信号用発光素子
２６及び測定ターゲツト光源１ａ，１ｂに連結さ
れ、これを点灯する。測定ターゲツト駆動回路１
０６は測定ターゲツト５を光軸上で移動させるモ
ーター１１４に連結され、これを駆動する。固視
ターゲツト駆動回路１０７は固視ターゲツトを光
軸上で移動させるモーター１１６に連結され、こ
れを駆動する。測定ターゲツト光源回転駆動回路
１０８は測定ターゲツト５を光軸中心に回転駆動
するモーター１１８に連結され、これを回転駆動
する。受光素子２９は基準信号用発光素子２６で
発光されチヨツパー１９を通過した光を受光し、
基準信号を増幅回路１２０に入力する。増幅回路
１２０は波形整形回路１２２に、波形整形回路１
２２は第１位相差検出回路１２４及び第２位相差
検出回路１２６に連結されている。測定ターゲツ
ト光源１ａ，１ｂで発光されチヨツパー１９の上
部１９ａを通過した光を受光する受光素子２１
は、増幅回路１２７に連結され、さらに、増幅回
路１２７はAGC回路１２８は、AGC回路１２８
は波形整形回路１３０に、波形整形回路１３０は
第１位相差検出回路１２４に連結されている。同
様に、測定ターゲツト光源１ａ，１ｂで発光され
チヨツパー１９の側部１９ｂを通過した光を受光
する受光素子２５は、増幅回路１３２に連結さ
れ、さらに、増幅回路１３２はAGC回路１３４
に、AGC回路１３４は波形整形回路１３６に、
波形整形回路１３６は第２位相差検出回路１２６
に連結されている。第１位相差検出回路１２４は
波形整形回路１２２の出力する基準短矩波と波形
整形回路１３０の出力する矩形波との位相差を検
出し、位相差信号X_aとして出力する。同様に、
第２位相差検出回路１２６は波形整形回路１２２
の基準矩形波と波形整形回路１３６の出力する矩
形波との位相差を検出し、位相差信号Y_aとして
出力する。第１位相差検出回路１２４と第２位相
差検出回路１２６とは比較回路１３８に連結さ
れ、さらに、比較回路１３８は演算処理部１１０
に連結されている。

上記比較回路１３８は、発光素子１ａ及び１ｂ
を点灯したときに第１位相差検出回路１２４が出
力する位相差信号X_aとX_bとの位相差△Ｘと、同
じく発光素子１ａ及び１ｂを点灯したときに第２
位相差検出回路１２６が出力する位相差信号Y_a
とY_bとの位相差△Ｙとを演算する。

この位相差△Ｘ、△Ｙが第８図における、円形
絞り像３０ａ，３０ｂのＸ方向及びＹ方向での分
離量△ｘ、△ｙに対応する。演算処理部１１０
は、下記の式(5)を使用して、ターゲツト光源駆動
回路からの信号である測定ターゲツト光源の回転
位置角度θ_iと上記位相差△X_i、△Y_iとから測定経
線方向の分離量に対応する位相差△Poi △P_pi＝△X_icosθ_i＋△Y_isinθ_i (5) この位相差△P_piは、測定経線方向での円孔絞
り像の分離量に変換され、屈折力で算出する原理
で前述した(4)式に従い測定経線方向θでの被検眼
屈折力Dθを算出する。本測定の場合には、少な
くとも３径線方向でのDθ（D₁、D₂、D₃）を算出
し、この結果から被検眼の球面屈折力、乱視度
数、乱視軸を求め表示器１４２に出力する。

上記のように構成された電気回路の作動は以下
の通りである。電源スイツチ１０２がONにさ
れ、照準光学系５４を使用して被検者の光軸とタ
ーゲツト投影光学系５０、ターゲツト受光光学系
５２の光軸とが一致させられる。また制御回路１
０１により、チヨツパー１９が回転し、基準光素
子２６が点灯し、またターゲツト投影用光学系の
光源１ａ，１ｂが交互に点灯する。これらの回転
と点灯は測定が終了するまで継続される。さらに
制御回路１０１の制御により、測定ターゲツト駆
動回路１０６がモーター１１４を駆動して測定タ
ーゲツト５を所定位置例えば＋６デイオプターの
位置に移動し、また固視ターゲツト駆動回路１０
７がモーター１１６を駆動して固視ターゲツト２
３を所定位置例えば＋20デイオプターの位置に移
動し、さらに測定ターゲツト光源回転駆動回路１
０８がモーター１１８を駆動して測定ターゲツト
５の光源１ａ，１ｂの並びに方向を鉛直（回転角
θ＝０）の位置に回転移動する。以上で予備測定
の準備が終了した。

次に制御回路１０１の制御により、受光素子２
１，２５，２９がそれぞれの信号光を受光して、
前述の回路構成に従い、演算処理部１１０は該子
午面（θ＝０）における円孔絞り像の分離量に相
当する位相差△Pθを算出する。この△Pθは円孔
開口像の分離量に変換され、その時の測定ターゲ
ツト５の位置より該子午面（θ＝０）における被
検眼の屈折力を算出する。この算出結果は、測定
ターゲツト５の移動量に変換され制御回路１０１
に入力される。この信号により、制御回路１０１
は測定ターゲツト駆動回路１０６を制御し、モー
ター１１４によりθ＝０における測定結線方向の
被検眼屈折力に対応した位置すなわち測定ターゲ
ツト５と被検眼眼底とほぼ共役な関係となる位置
まで測定ターゲツト５の位置より遠方に移動され
る。この状態で測定ターゲツト５、固視ターゲツ
ト２３を固定し、以下の本測定に入いる。このよ
うに予備測定の結果移動固定された測定ターゲツ
ト５の位置は本測定の間変化させない。

上記予備測定は、測定ターゲツト５の位置を被
検眼眼底とほぼ共役な位置に設定することによ
り、以下の本測定の精度をより向上させるために
有効である。

本測定においては、予備測定において述べた検
出を同様に行なう。本測定においては、制御回路
１０１の信号により測定ターゲツト光源回転駆動
回路１０８はモーター１１８を駆動し、測定ター
ゲツト光源１ａ，１ｂを光軸を中心として順次回
転し、測定経線方向での被検眼屈折力Dθを算出
する。この測定は、少なくとも３経線方向で行な
いその時の被検眼屈折力をDθ₁、Dθ₂、Dθ₃とする
と Dθ₁＝Ａ＋Bsin（2θ₁＋α） Dθ₂＝Ａ＋Bsin（2θ₂＋α） Dθ₃＝Ａ＋Bsin（2θ₃＋α）と表わされ、この結果より、球面度数Ａ、乱視度
数Ｂ、乱視軸αを算出し、表示器１４２で最終測
定結果を表示する。測定経線方向は、多いほど測
定精度が上がり、最少２垂法によりＡ、Ｂ、Ｃを
算出する。本実施例においては、予備測定を１経
線方向で行なつたが、３経線方向での測定を行な
つてもよいことは云うまでもない。また、１経線
方向で予備測定を行つた後、３経線方向で再度予
備測定を行ない、より本測定の精度も高めること
も可能である。

以上述べたように本発明によれば、測定ターゲ
ツトで固定した状態で測定を行なうことにより測
定速度を高めることができ、かつ本測定の前に予
備測定を行なうことにより、測定範囲を広げかつ
高精度の測定を可能にしたものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例の測定手順を示す図
表、第２図及び第３図は実施例の測定原理の説明
図、第４図は実施例の光学図、第５図は実施例の
角膜反射光遮断絞りの正面図、第６図は実施例の
測定光学系の光学図、第７図は第６図に示す測定
光学系の測定原理の説明図、第８図は同じく測定
光学系の測定原理の説明図、第９図は実施例の固
視ターゲツトの正面図、第１０図は実施例の電気
回路のブロツク図である。１ａ，１ｂ……赤外線光源、４……円形開口絞
り、７……投影用結像レンズ、８……赤外光に関
するハーフミラー、９……ダイクロイツクミラ
ー、２１……受光素子、２９……受光素子、５０
……ターゲツト投影光学系、５１……測定光学
系、５２……ターゲツト受光光学系、５３……固
視目標系、５４……照準光学系、１０１……制御
回路、１０２……電源スイツチ、１０３……測定
スイツチ、１０４……チヨツパー駆動回路、１０
５……光源駆動回路、１０６……測定ターゲツト
駆動回路、１０７……固視ターゲツト駆動回路、
１０８……測定ターゲツト光源回転駆動回路、１
０９……測定検出部、１１０……演算処理部、１
４２……表示器。

Claims

【特許請求の範囲】

１測定ターゲツトからの互に角度を有する複数
の光束を被検眼眼底に投影する測定ターゲツト投
影光学系と、被検眼眼底に投影された測定ターゲ
ツト像からの光を結像させるターゲツト結像光学
系と、上記ターゲツト結像光学系による複数の光
束から形成された夫々のターゲツト像位置を検出
する検出装置と、光軸上の所定位置に固定された
上記ターゲツトによる前記検出装置の電気信号に
より上記ターゲツトを被検眼眼底と略共役な位置
に移動させるターゲツト位置制御系と、さらに、
上記移動後のターゲツトからの光束を光軸中心に
回転した時の少なくとも３径線方向における上記
検出装置からの信号により球面度数、乱視度数、
乱視軸を演算処理する屈折力演算部とを有するこ
とを特徴とする他覚式自動眼屈折力測定装置。