JPS62113390A - 光量一定制御装置 - Google Patents
光量一定制御装置Info
- Publication number
- JPS62113390A JPS62113390A JP60252093A JP25209385A JPS62113390A JP S62113390 A JPS62113390 A JP S62113390A JP 60252093 A JP60252093 A JP 60252093A JP 25209385 A JP25209385 A JP 25209385A JP S62113390 A JPS62113390 A JP S62113390A
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- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
- Control Of Non-Electrical Variables (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野ン
本発明は、光量一定制御装置に関するものでおり、特に
超高圧キセノンランプなどの超高圧ランプの光量を一定
に制御できる光量一定制御装置に関する。
超高圧キセノンランプなどの超高圧ランプの光量を一定
に制御できる光量一定制御装置に関する。
(従来の技術)
例えば超高圧キセノンランプは、自然太陽光照射による
染料、塗料、その他諸材料表面の変質劣化特性−すなわ
ち耐光性の試験を行なう時などに、擬似太陽光として用
いられる。(特開昭51−150389号公報参照) このような超高圧キセノンランプは、その光量が一定で
あることが望ましい。そこで、従来に6いては、超高圧
ランプから発せられた光を、光ファイバなどにより光電
変換器まで導き、該光電変換器から出力される光量信号
(電流信号)に基づいてランプ電流を制御して、一定の
光量が得られるようにしていた。
染料、塗料、その他諸材料表面の変質劣化特性−すなわ
ち耐光性の試験を行なう時などに、擬似太陽光として用
いられる。(特開昭51−150389号公報参照) このような超高圧キセノンランプは、その光量が一定で
あることが望ましい。そこで、従来に6いては、超高圧
ランプから発せられた光を、光ファイバなどにより光電
変換器まで導き、該光電変換器から出力される光量信号
(電流信号)に基づいてランプ電流を制御して、一定の
光量が得られるようにしていた。
なお、前記超高圧ランプは、その内圧が例えば10気圧
以上にもなるので、その発光部を覆う透明ガラス本体は
、透光性はもちろん、耐圧性にも優れた、例えば石英ガ
ラスなどで形成される。
以上にもなるので、その発光部を覆う透明ガラス本体は
、透光性はもちろん、耐圧性にも優れた、例えば石英ガ
ラスなどで形成される。
また、超高圧ランプは、予定の使用時間に達すると、使
用時の高熱により生ずる透明ガラス本体の歪の蓄積がほ
ぼ許容限界となり、また封入電極(たとえばタングステ
ン)が蒸発して、透明ガラス本体の内面に汚れとして付
着するようになる。
用時の高熱により生ずる透明ガラス本体の歪の蓄積がほ
ぼ許容限界となり、また封入電極(たとえばタングステ
ン)が蒸発して、透明ガラス本体の内面に汚れとして付
着するようになる。
この結果、超高圧ランプを予定の使用時間以上、すなわ
ちランプ寿命以上使用する時には、透明ガラス本体の歪
みの蓄積により、または前記汚れ部分の局部加熱によっ
て、透明ガラス本体−すなわちランプが破裂し又は周囲
の機器に破損させるという危険がある。
ちランプ寿命以上使用する時には、透明ガラス本体の歪
みの蓄積により、または前記汚れ部分の局部加熱によっ
て、透明ガラス本体−すなわちランプが破裂し又は周囲
の機器に破損させるという危険がある。
(発明が解決しようとする問題点)
上記した従来の技術は、次のような問題点を有していた
。
。
すなわち、超高圧ランプから発せられた光を、光ファイ
バにより光電変換器まで導〈従来の光量一定制御装置で
は、光ファイバを用いていることから、光の検出範囲が
ほぼ点状態に近く、従って超高圧ランプの光量を部分的
にしか検出できず、広範囲にわたり正確に検出すること
ができないという欠点がめった。
バにより光電変換器まで導〈従来の光量一定制御装置で
は、光ファイバを用いていることから、光の検出範囲が
ほぼ点状態に近く、従って超高圧ランプの光量を部分的
にしか検出できず、広範囲にわたり正確に検出すること
ができないという欠点がめった。
また、線状の光ファイバは機械的強度が弱い等の理由か
ら、交換等の取扱いに注意を要し、ざらに光ファイバは
高価でおることから、装置全体かコスト高になるという
欠点がめった。
ら、交換等の取扱いに注意を要し、ざらに光ファイバは
高価でおることから、装置全体かコスト高になるという
欠点がめった。
ざらにまた、従来の光量一定制御装置においては、前記
したように、超高圧ランプの光量を一定とする制御はな
されていたが、ランプ唐傘を自動的に検出するという手
段が設けられていなかった。
したように、超高圧ランプの光量を一定とする制御はな
されていたが、ランプ唐傘を自動的に検出するという手
段が設けられていなかった。
この為に、ランプ寿命以上にランプを使用する場合があ
り、このような場合には、ランプが破裂するという事態
が生じた。
り、このような場合には、ランプが破裂するという事態
が生じた。
本発明は、前述の問題点を解決するためになされたもの
でおる。
でおる。
(問題点を解決するための手段および作用)前記の問題
点を解決するために、本発明は、超高圧ランプから発せ
られた光を、石英ガラス棒を介して光電変換器へ供給す
るようにした点に特徴がある。
点を解決するために、本発明は、超高圧ランプから発せ
られた光を、石英ガラス棒を介して光電変換器へ供給す
るようにした点に特徴がある。
(実施例)
以下に図面を参照して、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
同図において、ランプ電源1は、例えば超高圧キセノン
ランプなどの超高圧ランプ2にランプ電流を供給する。
ランプなどの超高圧ランプ2にランプ電流を供給する。
石英ガラス棒3は、前記ランプ電流の供給により点灯し
た超高圧ランプ2の光を反則面3aで反射して光電変換
器4へ導く。なお、反射面3aは、その内角θが45°
となっており、またその表面は無加工状態である。
た超高圧ランプ2の光を反則面3aで反射して光電変換
器4へ導く。なお、反射面3aは、その内角θが45°
となっており、またその表面は無加工状態である。
光電変換器4は、石英ガラス棒3を介して供給される光
量に応じた光量信号(電流値信号)を発生出力する。比
較器6は、光量目標値発生回路7から供給される光量目
標値信号と、光電変換器4から供給される光量信号とを
比較して、その差信号aを出力する。
量に応じた光量信号(電流値信号)を発生出力する。比
較器6は、光量目標値発生回路7から供給される光量目
標値信号と、光電変換器4から供給される光量信号とを
比較して、その差信号aを出力する。
光量制御回路8は、前記差信号aによって、該差信@a
がOとなるようにそのインピーダンスが制御される。ラ
ンプ電流検出回路9は、超高圧ランプ2への供給される
実際のランプ電流値をランプ電流検出部9aで検出し−
て、ランプ電流値信号すを第2の比較器10へ供給する
。
がOとなるようにそのインピーダンスが制御される。ラ
ンプ電流検出回路9は、超高圧ランプ2への供給される
実際のランプ電流値をランプ電流検出部9aで検出し−
て、ランプ電流値信号すを第2の比較器10へ供給する
。
第2の比較器10は、最大電流値設定回路11から供給
される最大電流値信号と前記ランプ電流値信号すとを比
較して、ランプ電流値が最大電流値に達した時にはラン
プ寿命判定信号Cを出力する。
される最大電流値信号と前記ランプ電流値信号すとを比
較して、ランプ電流値が最大電流値に達した時にはラン
プ寿命判定信号Cを出力する。
次に、本実施例の動作について説明する。
ランプ電源1から超高圧ランプ2ヘランプ電流が供給さ
れると、超高圧ランプ2は点灯する。前記点灯によって
発生した光は、その一部が反射面3aで反射されて石英
ガラス棒3を通り光電変換器4へ供給される。
れると、超高圧ランプ2は点灯する。前記点灯によって
発生した光は、その一部が反射面3aで反射されて石英
ガラス棒3を通り光電変換器4へ供給される。
光電変換器4は、供給された光量に応じた光量信号を発
生出力し、比較器6へ供給する。比較器6では、光量目
標値発生回路7から供給される光量目標値信号と、光電
変換器4から供給される光量信号とが比較されて、その
差信号aが出力される。
生出力し、比較器6へ供給する。比較器6では、光量目
標値発生回路7から供給される光量目標値信号と、光電
変換器4から供給される光量信号とが比較されて、その
差信号aが出力される。
なお、光量目標値発生回路7で設定されている光量目標
値は、超高圧ランプ2の用途に応じて、光量をどの程度
の一定量とするかによって決定される。
値は、超高圧ランプ2の用途に応じて、光量をどの程度
の一定量とするかによって決定される。
前記差信号aは、光量制御回路8へ供給される。
この結果、光量制御回路8は、前記差信@aによって、
該差信号aがOとなるようにそのインピーダンスが制御
される。
該差信号aがOとなるようにそのインピーダンスが制御
される。
すなわち、光量制御回路8は、光量目標値発生回路7で
設定されている光量目標値に対して、光電変換器4の出
力である光量信号が大きい場合には、インピーダンスが
増加するように制御され、また、光量目標値に対して、
光量信号が小さい場合には、インピーダンスが減少する
ように制御される。したがって、超高圧ランプ2の光量
は、常に一定値となる。
設定されている光量目標値に対して、光電変換器4の出
力である光量信号が大きい場合には、インピーダンスが
増加するように制御され、また、光量目標値に対して、
光量信号が小さい場合には、インピーダンスが減少する
ように制御される。したがって、超高圧ランプ2の光量
は、常に一定値となる。
ところで、前述したように、超高圧ランプ2は、予定の
使用時間すなわちランプ寿命に近づくと、封入電極が蒸
発して、透明ガラス本体の内面に汚れとして付着するよ
うになる。
使用時間すなわちランプ寿命に近づくと、封入電極が蒸
発して、透明ガラス本体の内面に汚れとして付着するよ
うになる。
この結果、仮にランプ電流が一定であるとすると、汚れ
の付着の度合に応じて、外部に放射され2 る光量は徐
々に減少してくる。そこで、本実施例では、前記した制
御動作によって、超高圧ランプ2のランプ電流が増加さ
れることになる。
の付着の度合に応じて、外部に放射され2 る光量は徐
々に減少してくる。そこで、本実施例では、前記した制
御動作によって、超高圧ランプ2のランプ電流が増加さ
れることになる。
本実施例では、このようなランプ電流をランプ電流検出
部9aで検出して、ランプ電流検出回路9からランプ電
流値信号すを出力している。
部9aで検出して、ランプ電流検出回路9からランプ電
流値信号すを出力している。
第2の比較器10では、前記ランプ電流値信号すを入力
する一方、最大電流値設定回路11から供給される最大
電流値信号と前記ランプ電流値信号すとを比較する。こ
の結果、ランプ電流値が最大電流値に達した時には、ラ
ンプ寿命判定信号Cを出力する。
する一方、最大電流値設定回路11から供給される最大
電流値信号と前記ランプ電流値信号すとを比較する。こ
の結果、ランプ電流値が最大電流値に達した時には、ラ
ンプ寿命判定信号Cを出力する。
なあ、最大電流値設定回路11で設定されている最大電
流値は、次のようにして決定される。すなわら、前記汚
れの付着による光量の減少を、ランプ電流の増加により
補正する場合、超高圧ランプ2がほぼランプ寿命に来た
時には、どの程度のランプ電流値になるかを予め実験的
に求めてあく。
流値は、次のようにして決定される。すなわら、前記汚
れの付着による光量の減少を、ランプ電流の増加により
補正する場合、超高圧ランプ2がほぼランプ寿命に来た
時には、どの程度のランプ電流値になるかを予め実験的
に求めてあく。
そして、これによって判明した当該ランプ電流値を、前
記最大電流値と決定するのである。
記最大電流値と決定するのである。
以上のようにして得られたランプ寿命判定信号Cは、そ
の俊、任意の目的に使用される。その−例を述べれば、
ランプ寿命判定信号Cによって、警報ランプを点灯した
り、または警報機を鳴らしたりしてランプ寿命に来たこ
とを警告したり、または、前記警告と合わせて必るいは
該警告とは別個に、ランプ電源をオフ状態としたりする
ことが可能となる。
の俊、任意の目的に使用される。その−例を述べれば、
ランプ寿命判定信号Cによって、警報ランプを点灯した
り、または警報機を鳴らしたりしてランプ寿命に来たこ
とを警告したり、または、前記警告と合わせて必るいは
該警告とは別個に、ランプ電源をオフ状態としたりする
ことが可能となる。
以上では、ランプ電流を制御するのに、差信号aを光量
制御回路8へ供給するようにして、光量制御回路8のイ
ンピーダンスを変化させるようにした。しかし、本発明
では、必ずしも光量制御回路8を設ける必要はない。例
えば差信号aをランプ電源1に供給し、既知の適宜の方
法により、ランプ電源1においてランプ電流を制御する
ようにしてもよい。
制御回路8へ供給するようにして、光量制御回路8のイ
ンピーダンスを変化させるようにした。しかし、本発明
では、必ずしも光量制御回路8を設ける必要はない。例
えば差信号aをランプ電源1に供給し、既知の適宜の方
法により、ランプ電源1においてランプ電流を制御する
ようにしてもよい。
また、以上では、ランプ寿命判定信号Cを得るのに、1
点鎖線で囲んだ範囲Aの構成として、ランプ電流値信号
すを最大電流値と比較するようにした。しかし、本発明
は、このような構成に限定されるものではない。
点鎖線で囲んだ範囲Aの構成として、ランプ電流値信号
すを最大電流値と比較するようにした。しかし、本発明
は、このような構成に限定されるものではない。
例えば、範囲へを、第2図に示すような構成としても、
ランプ寿命判定信号Cを(得ることができる。
ランプ寿命判定信号Cを(得ることができる。
すなわち、第2図においては、ランプ電流値信号すを電
流変化率検出回路20へ供給する。電流変化率検出回路
20では、予定の時間間隔で前記供給されるランプ電流
値信号をサンプルホールドする。そして、ランプ電流値
の今回値と前回値との差信号、すなわち電流変化率信号
を出力する。
流変化率検出回路20へ供給する。電流変化率検出回路
20では、予定の時間間隔で前記供給されるランプ電流
値信号をサンプルホールドする。そして、ランプ電流値
の今回値と前回値との差信号、すなわち電流変化率信号
を出力する。
第3の比較器21では、電流変化率信号を入力する一方
、基準電流変化率設定回路22から供給される基準電流
変化率信号と前記電流変化率信号とを比較する。この結
果、電流変化率が基準電流変化率に達している時にはラ
ンプ寿命判定信号Cを発生出力する。
、基準電流変化率設定回路22から供給される基準電流
変化率信号と前記電流変化率信号とを比較する。この結
果、電流変化率が基準電流変化率に達している時にはラ
ンプ寿命判定信号Cを発生出力する。
なお、このように電流変化率が基準電流変化率以上とな
った時に、ランプ寿命と判定できるのは、ランプ寿命に
近づくと汚れの付着が急に盛んとなり、この結果、前記
電流変化率(電流量上昇の程度)が急激に大きくなるか
らである。
った時に、ランプ寿命と判定できるのは、ランプ寿命に
近づくと汚れの付着が急に盛んとなり、この結果、前記
電流変化率(電流量上昇の程度)が急激に大きくなるか
らである。
換言すれば、本実施例では、ランプ野命付近での電流変
化率を実験的に求めて、当該変化率を前記基準電流変化
率として設定するようにしているので、はぼランプ寿命
に近づくとランプ寿命判定信号Cが出力されることにな
る。
化率を実験的に求めて、当該変化率を前記基準電流変化
率として設定するようにしているので、はぼランプ寿命
に近づくとランプ寿命判定信号Cが出力されることにな
る。
(発明の効果)
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、つぎ
のような効果が達成される。
のような効果が達成される。
(1)超高圧ランプから発せられた光を、先端に反射面
を有する石英ガラス棒を用いて光電変換器へ導くように
したので、光の検出範囲が広範囲となり、この結果、超
高圧ランプの光量を広範囲にわたり正確に検出できる効
果がある。石英ガラス棒は機械的強度が強く、変形しな
い為に交換等の取扱いが容易である。また、石英ガラス
棒は、コスト的にも安価である為に、装置の低いコスト
化が図れる効果がある。
を有する石英ガラス棒を用いて光電変換器へ導くように
したので、光の検出範囲が広範囲となり、この結果、超
高圧ランプの光量を広範囲にわたり正確に検出できる効
果がある。石英ガラス棒は機械的強度が強く、変形しな
い為に交換等の取扱いが容易である。また、石英ガラス
棒は、コスト的にも安価である為に、装置の低いコスト
化が図れる効果がある。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
第2図は第1図の範囲Aの部分の変形例を示すブロック
図でおる。 1・・・ランプ電源、2・・・超高圧ランプ、3・・・
石英ガラス棒、3a・・・反射面、4・・・光電変換器
、6・・・比較器、7・・・光量目標値発生回路、8・
・・光量制御回路、9・・・ランプ電流検出回路、10
・・・第2の比較器、11・・・最大電流値設定回路、
20・・・電流変化率検出回路、21・・・第3の比較
器、22・・・基準電流変化率設定回路
図でおる。 1・・・ランプ電源、2・・・超高圧ランプ、3・・・
石英ガラス棒、3a・・・反射面、4・・・光電変換器
、6・・・比較器、7・・・光量目標値発生回路、8・
・・光量制御回路、9・・・ランプ電流検出回路、10
・・・第2の比較器、11・・・最大電流値設定回路、
20・・・電流変化率検出回路、21・・・第3の比較
器、22・・・基準電流変化率設定回路
Claims (1)
- (1)超高圧ランプと、前記超高圧ランプにランプ電流
を供給するランプ電源と、前記超高圧ランプの点灯時の
光量に応じた光量信号を発生出力する手段と、光量目標
値信号と前記光量信号とを比較して、その差信号を出力
する手段と、前記差信号に基づいて該差信号が0となる
ように前記ランプ電流を制御する手段とを有する光量一
定制御装置において、 前記光量信号発生出力手段が、前記超高圧ランプから発
せられた光量の一部を、その長さ方向に沿って伝播する
反射面を先端に有する石英ガラス棒と、前記反射による
光量に感応して光量信号を発生出力する光電変換器とか
らなることを特徴とする光量一定制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60252093A JPH0612712B2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 光量一定制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60252093A JPH0612712B2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 光量一定制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62113390A true JPS62113390A (ja) | 1987-05-25 |
| JPH0612712B2 JPH0612712B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=17232438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60252093A Expired - Fee Related JPH0612712B2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 光量一定制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612712B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62186497A (ja) * | 1986-02-10 | 1987-08-14 | キヤノン株式会社 | 光量制御装置 |
| JPH01176697A (ja) * | 1988-01-04 | 1989-07-13 | Takenaka Komuten Co Ltd | 照明制御装置 |
| JPH0521166A (ja) * | 1991-07-08 | 1993-01-29 | Mitsubishi Electric Corp | 照明装置 |
| JPH06138040A (ja) * | 1992-10-26 | 1994-05-20 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 検査装置における光源の照度制御装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51150389A (en) * | 1975-06-18 | 1976-12-23 | Suga Shikenki Kk | Light resistance tester equipped with reflex mirrors in the luminous s ource unit |
| JPS5662203A (en) * | 1979-10-24 | 1981-05-28 | Mitsubishi Electric Corp | Submerged light reflecting mirror apparatus |
| JPS6010590A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-19 | 株式会社リコー | 光出力安定化装置 |
-
1985
- 1985-11-12 JP JP60252093A patent/JPH0612712B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51150389A (en) * | 1975-06-18 | 1976-12-23 | Suga Shikenki Kk | Light resistance tester equipped with reflex mirrors in the luminous s ource unit |
| JPS5662203A (en) * | 1979-10-24 | 1981-05-28 | Mitsubishi Electric Corp | Submerged light reflecting mirror apparatus |
| JPS6010590A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-19 | 株式会社リコー | 光出力安定化装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62186497A (ja) * | 1986-02-10 | 1987-08-14 | キヤノン株式会社 | 光量制御装置 |
| JPH01176697A (ja) * | 1988-01-04 | 1989-07-13 | Takenaka Komuten Co Ltd | 照明制御装置 |
| JPH0521166A (ja) * | 1991-07-08 | 1993-01-29 | Mitsubishi Electric Corp | 照明装置 |
| JPH06138040A (ja) * | 1992-10-26 | 1994-05-20 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 検査装置における光源の照度制御装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0612712B2 (ja) | 1994-02-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |