JPS6211451B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6211451B2
JPS6211451B2 JP55153622A JP15362280A JPS6211451B2 JP S6211451 B2 JPS6211451 B2 JP S6211451B2 JP 55153622 A JP55153622 A JP 55153622A JP 15362280 A JP15362280 A JP 15362280A JP S6211451 B2 JPS6211451 B2 JP S6211451B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
emitter
control electrode
coincidence
potential
accelerating voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55153622A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5778757A (en
Inventor
Shuichi Saito
Junichi Ooyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Denshi KK filed Critical Nihon Denshi KK
Priority to JP55153622A priority Critical patent/JPS5778757A/ja
Publication of JPS5778757A publication Critical patent/JPS5778757A/ja
Publication of JPS6211451B2 publication Critical patent/JPS6211451B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02—Details
    • H01J37/24—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for
    • H01J37/241—High voltage power supply or regulation circuits

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は制御電極を備えるタイプの電界放出型
電子銃に関する。
高輝度の電子線源として注目を浴びている電界
放出型電子銃は、反面でエミツシヨン電流の変動
が大きいという欠点を持つ。そのためエミツタを
囲むような制御電極を備えた電界放出型電子銃で
は、加速電源に直列接続した検出抵抗によりエミ
ツシヨン電流を検出し、得られた検出信号に基づ
いて制御電極電位を制御することによりエミツシ
ヨン電流を安定化する機構を付属させている。
この時エミツタ表面は使用時間に応じて残留ガ
ス成分等が付着して汚染され、それにより仕事関
数が増大しエミツシヨン電流が減少する傾向にあ
るため、その傾向を打消すように制御電極電位は
時間の経過と共にアノード電位に近づいてゆく。
一方、制御電極電位がアノード電位に近づくと電
子銃内に形成されるレンズ電界が変化し、エミツ
タから放射される全電子のうちアノードを通過し
て電子ビームとして取出される電子の割合一換言
すれば電流効率一が低下してしまい、エミツシヨ
ン電流は一定に保たれたとしてもアノードを介し
て取出されるビーム電流は減少してしまう。
そのため適宜な頻度でフラツシング処理を行い
エミツタ表面を清浄化することが必要となるが、
フラツシング後に最初に使用する際の電子銃内真
空度及び真空の質が良好でないとエミツタ表面は
すぐに汚染され、せつかくフラツシングを行つて
も制御電極電位をエミツタ電位に近づけることが
できず、電流効率の悪い状態からスタートする結
果となつている。これは次のフラツシングまでの
使用時間が短くなることに結びつき、フラツシン
グを頻繁に行わねばならない。
これを防ぐために従来は電子銃室内を常に高真
空に保つべく努力しているが、試料交換等により
真空度がかなり大巾に悪化することは避けられ
ず、結局上述の如き問題点を有効に除くことがで
きなかつた。
ところでその様な従来の問題点は加速電圧を可
変することにより解決することがでできる。即ち
従来はエミツタ表面の汚染に伴なうエミツシヨン
量の低下を制御電極電位をアノード電位に近づけ
ることで補つていたが、エミツシヨン量は加速電
圧を高めることによつても増大させることができ
る。従つて加速電圧の制御を併用すれば、制御電
極電位の可変のみによる制御範囲を更に広げるこ
とができる。
例えばエミツタの汚染が進み、従来のエミツシ
ヨン電流安定化機構では制御電極電位がアノード
電位に近づいて電流効率が悪化して限界に達した
と判断された場合について考える。この状態で安
定化機構の働きを止め、制御電極電位をエミツタ
電位に近づけ等しくしたとすれば当然エミツシヨ
ン量は低下する。しかしながら、この時併せて加
速電圧をわずかに高めて再設定したとすると、加
速電圧が上昇したことによりエミツシヨン量は増
加し、制御電極電位をエミツタ電位に近づけたこ
とによるエミツシヨン量の低下をキヤンセルする
ことができる。従つてこの加速電圧を高めた状態
では制御電極電位はエミツタ電位に近づいた、換
言すれば電流効率が改善されたことになる。
さて、上記の加速電圧の再設定を行なう場合、
加速電圧を過度に高くすると、エミツシヨン電子
が過大になるためガスが大量にイオン化され、こ
の際生じたイオンによりエミツタがボンバードさ
れて破損する。又、観察試料には、試料に応じた
適切な加速電圧があるため、必要以上に加速電圧
を高めることは好ましくない。更に又、加速電圧
を過度に変更すると、制御電極を用いた制御系の
制御領域外となり、ビーム電流を一定にするため
の制御を有効に行なうことはできなくなる。
本発明は、このような点に鑑みなされたもので
あり、エミツタと、該エミツタと対向配置された
アノードと、上記エミツタを囲むように配置され
た制御電極と、上記エミツタとアノードとの間に
加速電圧を印加するための加速電源と、上記エミ
ツタから放射されるエミツシヨン電流を検出する
手段と、該検出手段から得られる検出信号に基づ
いてエミツシヨン電流が所望の一定値になるよう
に制御電極電位を制御する手段とを備えた電界放
出型電子銃において、制御電極電位をエミツタ電
位に略等しくした状態で加速電圧を掃引する手段
と、該掃引手段による加速電圧掃引時に前記エミ
ツシヨン電流が前記電位の非制御時におけるエミ
ツシヨン電流の短期的な変動幅程度前記一定値よ
り小さい所定値に一致したことを前記検出信号に
基づいて検出する一致検出手段と、該手段から得
られる一致信号に基づいて前記掃引を停止させこ
の一致の際の加速電圧値を前記加速電源の出力値
として自動的に再設定する手段を備えることを特
徴としている。
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳述す
る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示し、図中
1はエミツタ、2は該エミツタを囲むように配置
された制御電極、3は接地電位にあるアノードで
ある。該アノード3とエミツタ1との間には可変
加速電源4が、又エミツタ1と制御電極2との間
には可変バイアス電源5が夫々接続されている。
6は加速電源に直列接続されたエミツシヨン電
流検出抵抗であり、該検出抵抗より得られた検出
信号は差動増巾器7,8及び一致検出器9の一方
の入力端子へ送られる。該差動増巾器7,8の他
方の入力端子には基準電源10からの基準信号が
直接供給される。そして差動増巾器7の出力は、
切換スイツチ11を介して前記加速電源4を制御
するドライブ回路12へ送られる。又差動増巾器
8の出力は、切換スイツチ13を介して前記バイ
アス電源5を制御するドライブ回路14へ送られ
る。
15は上記差動増巾器7の出力をデジタル信号
に変換するA―D変換器であり、該A―D変換器
15の出力はホールド回路16、D―A変換器1
7及び切換スイチ11を介してドライブ回路12
へ送られる。又一致検出器9は前記検出信号と前
記基準信号を分圧器18で分圧した信号とを比較
し、両者が一致した時一致信号を発生する。該一
致信号は上記ホールド回路16及びスイツチ制御
回路19へ供給される。
上述の如き構成において、基準電源10からの
基準信号は設定しようとするエミツシヨン電流
(例えば数10μA)に対応する値に定められてお
り、分圧器18はそれを例えば4/5に減衰させて
いるとする。そしてオペレータが運転開始を指令
すると、スイツチ11,13が接点a側に倒さ
れ、先ず加速電圧の設定が行われる。この時ドラ
イブ回路14にはスイツチ13を介してゼロ信号
が送られてバイアス電源5の出力が0Vとなるた
め、制御電極電位はエミツタ電位と等しくなる。
その状態で差動増巾器7において検出信号と基準
信号との差が求められ、得られた差信号に基づい
て該差信号が小さくなるように加速電圧が調整さ
れるため、実際には加速電圧はエミツシヨン電流
が前記設定値に近づくように回路固有の時定数で
上昇する。
その途中でエミツシヨン電流が該設定値の4/5
即ち80%の値になると一致検出器9は一致信号を
発し、該一致信号によりスイツチ11,13が接
点b側へ倒される。それと同時にホールド回路1
6はその時の差信号値をデジタル値の形でホール
ドし、該信号値をD―A変換器17及びスイツチ
11を介してドライブ回路12へ送るため、加速
電圧はエミツシヨン電流が設定値の80%の値にな
るような値に再設定されることになる。そしてこ
の加速電圧を再設定した状態で今度は作動増幅器
8の出力がスイツチ13を介してドライブ回路1
4へ送られるため、従来と同様な制御電極電位制
御によるエミツシヨン電流の安定化が行われる。
この時加速電圧調整によつて十分な強度のエミツ
シヨン電流が発生しているので制御電極のバイア
ス量は小さくて(換言すれば制御電極電位がエミ
ツタ電位に接近して)よく、従つて電流効率の良
好な状態で使用を開始することができる。この様
な調整を使用開始毎にあるいは必要に応じて行う
ようにすれば、エミツタ表面の汚染が進行しても
加速電圧がそれに応じて高められるため、常に電
流効率の良好な状態で使用を開始することができ
る。従つてフラツシングあるいはエミツタの交換
は加速電圧が電源の能力限度に近づいた時に行え
ば良く、フラツシング及びエミツタ交換の頻度を
少なくすることが可能となる。
尚上記例では分圧器18によりエミツシヨン電
流が設定値の80%になつた時に加速電圧の上昇を
停止させたが、これはエミツシヨン電流が短期的
に±20%程度変動することを考慮したものであ
り、厳密に80%に定める必要はなく、実際には例
えば60%〜90%の範囲に定めればよい。
又上記例では加速電圧の調整を行う際、差動増
巾器7の出力を加速電源4へフイードバツクして
フイードバツク制御を行い回路固有の時定数で加
速電圧を徐々に上昇させたが必ずしもその必要は
なく、例えば差動増巾器7を鋸歯状波信号の様な
掃引信号を発生する手段に置き換え、該掃引信号
に基づいて加速電圧を掃引するようにしても良
い。
更に上記例では検出信号を単に検出抵抗6の両
端から取り出す様に単純化して表わしたが、実際
には加速電源のフイードバツク抵抗rが存在する
ので、エミツシヨン電流検出部は例えば第2図に
示す様に2つの検出抵抗(等しい抵抗値Rを有す
る)と反転増巾器20及び差動増巾器21から構
成することが考えられる。
上述した説明から明らかなように、本発明に基
づく装置は、制御電極電位をエミツタ電位に略等
しくした状態で加速電圧を掃引する手段と、該掃
引手段による加速電圧掃引時に前記エミツシヨン
電流が前記電位の非制御時におけるエミツシヨン
電流の短期的な変動幅程度前記一定値より小さい
所定値に一致したことを前記検出信号に基づいて
検出する一致検出手段と、該手段から得られる一
致信号に基づいて前記掃引を停止させこの一致の
際の加速電圧値を前記加速電源の出力値として自
動的に再設定する手段を備えているため、手動操
作により試行錯誤で加速電圧再設定のための調整
を行なうのと異なり、簡単に加速電圧を適切な値
に再設定でき、そのため、フラツシング後等にビ
ーム電流安定化のための制御電極電位の制御を電
流効率の良好な状態で直ちに開始することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示す図、第
2図はエミツシヨン電流検出部の具体的構成を示
す図である。 1:エミツタ、2:制御電極、3:アノード、
4:加速電源、5:可変バイアス電源、6:検出
抵抗、7,8,21:差動増巾器、9:一致検出
器、10:基準電源、11,13:スイツチ、1
2:14:ドライブ回路、15:A―D変換器、
16:ホールド回路、17:D―A変換器、1
8:分圧器、19:スイツチ制御回路、20:反
転増巾器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 エミツタと、該エミツタと対向配置されたア
    ノードと、上記エミツタを囲むように配置された
    制御電極と、上記エミツタとアノードとの間に加
    速電圧を印加するための加速電源と、上記エミツ
    タから放射されるエミツシヨン電流を検出する手
    段と、該検出手段から得られる検出信号に基づい
    てエミツシヨン電流が所望の一定値になるように
    制御電極電位を制御する手段とを備えた電界放出
    型電子銃において、制御電極電位をエミツタ電位
    に略等しくした状態で加速電圧を掃引する手段
    と、該掃引手段による加速電圧掃引時に前記エミ
    ツシヨン電流が前記電位の非制御時におけるエミ
    ツシヨン電流の短期的な変動幅程度前記一定値よ
    り小さい所定値に一致したことを前記検出信号に
    基づいて検出する一致検出手段と、該手段から得
    られる一致信号に基づいて前記掃引を停止させこ
    の一致の際の加速電圧値を前記加速電源の出力値
    として自動的に再設定する手段を備えることを特
    徴とする電界放射型電子銃。
JP55153622A 1980-10-31 1980-10-31 Field discharge type electron gun Granted JPS5778757A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55153622A JPS5778757A (en) 1980-10-31 1980-10-31 Field discharge type electron gun

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55153622A JPS5778757A (en) 1980-10-31 1980-10-31 Field discharge type electron gun

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5778757A JPS5778757A (en) 1982-05-17
JPS6211451B2 true JPS6211451B2 (ja) 1987-03-12

Family

ID=15566509

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55153622A Granted JPS5778757A (en) 1980-10-31 1980-10-31 Field discharge type electron gun

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5778757A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5778757A (en) 1982-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110301027B (zh) 关于使用带电粒子束的添加层制造的改进
JPS6255264B2 (ja)
US6259210B1 (en) Power control apparatus for an ION source having an indirectly heated cathode
JP2551984B2 (ja) 走査電子顕微鏡
US6456019B1 (en) Real time measurement of leakage current in high voltage electron guns
US2534668A (en) Automatic inverse feedback method and means for correcting response characteristic of phototube circuits
GB2034924A (en) Setting the cathode heating current of an electron beam machine
US3887839A (en) Pulsed field emission type electron gun
GB1026676A (en) Vacuum deposition apparatus
US3872351A (en) Electron guns
GB929831A (en) Improvements in or relating to apparatus for controlling electrical discharges
JP4054525B2 (ja) 間接加熱される陰極を有するイオン源の出力制御装置
EP1596418B1 (en) Electron gun
JPS5834896B2 (ja) 電子銃
US4236058A (en) Regulation of electron-beam welding generators
CLEAVER Stabilization of the electron probe current in the scanning electron microscope with a field emission cathode
JP3031043B2 (ja) イオン照射装置とその制御方法
SU1260142A1 (ru) Способ электронно-лучевой сварки и устройство дл его осуществлени
JPS6145854B2 (ja)
JPS5842584B2 (ja) イオン打込装置
US3530291A (en) Mass spectrometer leak detector control circuit
US3177434A (en) Beam current control for electron beam machines
Sewell KIMBALL PHYSICS E $^ 23E LaB, CATHODE OPERATING INSTRUCTIONS FOR LE ICA/CAMBRIDGE STEREOSCAN SERIES SEMs
SU182250A1 (ja)
US4639644A (en) High voltage dynamic focusing system