JPS62117580U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62117580U JPS62117580U JP596986U JP596986U JPS62117580U JP S62117580 U JPS62117580 U JP S62117580U JP 596986 U JP596986 U JP 596986U JP 596986 U JP596986 U JP 596986U JP S62117580 U JPS62117580 U JP S62117580U
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- JP
- Japan
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- circuit board
- printed circuit
- probe pin
- measuring device
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図は本考案の原理説明図、第２図は本考案
による一実施例の構成図、第３図はプリント基板
用試験装置の構成図、第４図は従来の説明図を示
す。 図において、１はプリント基板、２は電子部品
、３はプローブピン、４は測定器、５は切替スイ
ツチ回路、６は電源部、１６はプレートを示す。
による一実施例の構成図、第３図はプリント基板
用試験装置の構成図、第４図は従来の説明図を示
す。 図において、１はプリント基板、２は電子部品
、３はプローブピン、４は測定器、５は切替スイ
ツチ回路、６は電源部、１６はプレートを示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 電子部品２が実装された被試験体のプリント基
板１と、所定のプレート１６に保持され、先端部
の接触片３Ａ，３Ｄが該プリント基板１の所定箇
所に当接されるプローブピン３と、該プローブピ
ン３に接続される測定器４とを備え、 該プリント基板１に対する所定の試験が該測定
器４によつて行われるプリント基板の試験装置で
あつて、 必要に応じて、前記プローブピン３に高い電位
が印加されるよう、前記測定器４より高い電位の
電源ＰＷを出力する電源部６と、該電源ＰＷを該
プローブピン３に接続する切替スイツチ回路５と
が具備されて成ることを特徴とするプリント基板
の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP596986U JPS62117580U (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP596986U JPS62117580U (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62117580U true JPS62117580U (ja) | 1987-07-25 |
Family
ID=30788043
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP596986U Pending JPS62117580U (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62117580U (ja) |
-
1986
- 1986-01-20 JP JP596986U patent/JPS62117580U/ja active Pending
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