JPS60183879U - 半導体試験装置の接触子 - Google Patents

半導体試験装置の接触子

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JPS60183879U
JPS60183879U JP7207384U JP7207384U JPS60183879U JP S60183879 U JPS60183879 U JP S60183879U JP 7207384 U JP7207384 U JP 7207384U JP 7207384 U JP7207384 U JP 7207384U JP S60183879 U JPS60183879 U JP S60183879U
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JP
Japan
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semiconductor test
test equipment
equipment contacts
lead part
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JP7207384U
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遠山　繁喜
井上　義成
立山　茂
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図ａｔ　ｂは従来の半導体試験装置の概略を示す側
面図および正面図、第２図は従来のリード部と接触子と
の接触状態を示す側面図、第３図は従来の他の接触状態
を示す側面図、第４図ａ、　ｂはこの考案の一実施例を
示す半導体試験装置の側面図および正面図、第５図〜第
８図はこの考案によるリード部と接触子との接触態様を
示す図である。 図中、１は接触子、２は固定治具、３は固定ネジ、４は
押え治具、５はモールド部、６はリード部、７はハンド
ラレール、８は金属片、８ａは可動部である。なお、図
中の同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 被測定ＩＣの各リード部にそれぞれ接触子を接触せしめ
    、電気信号を加えて電気的測定を行う半導体試験装置に
    おいて、前記接触子の先端に前記リード部の角度に応じ
    て面接触が得られるように金属片を回動自在に取り付け
    たことを特徴とする半導体試験装置の接触子。
JP7207384U 1984-05-15 1984-05-15 半導体試験装置の接触子 Granted JPS60183879U (ja)

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JPS60183879U true JPS60183879U (ja) 1985-12-06
JPH0428067Y2 JPH0428067Y2 (ja) 1992-07-07

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