JPS6211977A - 画像メモリ - Google Patents
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- JPS6211977A JPS6211977A JP60151976A JP15197685A JPS6211977A JP S6211977 A JPS6211977 A JP S6211977A JP 60151976 A JP60151976 A JP 60151976A JP 15197685 A JP15197685 A JP 15197685A JP S6211977 A JPS6211977 A JP S6211977A
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1018—Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/103—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using serially addressed read-write data registers
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- H04N5/907—Television signal recording using static stores, e.g. storage tubes or semiconductor memories
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- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Dram (AREA)
- Image Input (AREA)
- Memory System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は画像データを書込み、読出す画俄メモリに関す
る。
る。
近年MOSダイナミックRAMはますます大容量化し、
チップ当りのメモリ容量は、64にピッ1−から256
にビットへと進み、近い将来1Mビットの製品が入手で
きるようになる。このようにMOSダイナミックRAM
の大容量化に伴ない、極めて大量のデータを取扱う画像
用メモリにMOSダイナミックRAMを用いる試みがな
されている(艮見仙[テレビヤ’VTRのフィールド・
メモリ用320行×700列構成の画像専用直列入出力
型ダイナミックメモリJ1985年2月11日号+1p
219〜239)。
チップ当りのメモリ容量は、64にピッ1−から256
にビットへと進み、近い将来1Mビットの製品が入手で
きるようになる。このようにMOSダイナミックRAM
の大容量化に伴ない、極めて大量のデータを取扱う画像
用メモリにMOSダイナミックRAMを用いる試みがな
されている(艮見仙[テレビヤ’VTRのフィールド・
メモリ用320行×700列構成の画像専用直列入出力
型ダイナミックメモリJ1985年2月11日号+1p
219〜239)。
第14図はランダムアクセスモードで動作する標準ダイ
ナミックRAMを用いた画像メモリの構成例を示したも
のである。分解能6ビツトで標本化周波数は4 f s
c (f scは色副搬送波周波数)であるどする。入
力したビデオ信号はA−D変換回路10により6ビツ1
〜のデジタル画像データに変換され、各ビットの画像デ
ータは6個の直列−並列変換回路11にそれぞれ入力さ
れる。この直列−並列変換回路11により変換された並
列画像データはRAM12に書込まれ、記憶される。
ナミックRAMを用いた画像メモリの構成例を示したも
のである。分解能6ビツトで標本化周波数は4 f s
c (f scは色副搬送波周波数)であるどする。入
力したビデオ信号はA−D変換回路10により6ビツ1
〜のデジタル画像データに変換され、各ビットの画像デ
ータは6個の直列−並列変換回路11にそれぞれ入力さ
れる。この直列−並列変換回路11により変換された並
列画像データはRAM12に書込まれ、記憶される。
RAM12から読出された並列画像データは並列一直列
変換回路13により6ビツトの直列データに変換される
。この直列データはD−A変換回路14によりアナログ
のビデオ信号に変換され、出力される。タイミング制御
回路15は、A−D変換回路10.直列−並列変換回路
11、RAM12、並列−直列変換回路13、D−A変
換回路14の動作タイミングを制御する。
変換回路13により6ビツトの直列データに変換される
。この直列データはD−A変換回路14によりアナログ
のビデオ信号に変換され、出力される。タイミング制御
回路15は、A−D変換回路10.直列−並列変換回路
11、RAM12、並列−直列変換回路13、D−A変
換回路14の動作タイミングを制御する。
また第15図は画像を記憶するために特別に構成された
画像メモリの構成例を示したものである。画像用にメモ
リセルアレイ20を320行×700列構成とする。1
行分700ビツトのデータを保持するデータレジスタ2
2をデータ転送ゲート21を介して設け、ここに1水平
走査期間分の直列データを入出力する。メモリセルアレ
イ20どデータレジスタ22間のデータ転送はブランキ
ング期間中にデータ転送ゲート21により700ビツト
まとめておこなう。データレジスタ22のデータはデー
タ転送ゲート23により直列データバス24に出力され
る。データ転送ゲート23の各転送ゲートにはシフトレ
ジスタ25の各ビットが接続されている。直列データバ
ス24にはデータバッファ26が設けられている。シフ
トレジスタ25の記憶内容を順次シフトすることにより
、データレジスタ22の並列画像データを直列画像デー
タに変換してデータバッファ26から入出力する。すな
わち、データレジスタ22、データ転送ゲート23、シ
フトレジスタ25、データバッファ26で並列−直列変
換回路を構成している。
画像メモリの構成例を示したものである。画像用にメモ
リセルアレイ20を320行×700列構成とする。1
行分700ビツトのデータを保持するデータレジスタ2
2をデータ転送ゲート21を介して設け、ここに1水平
走査期間分の直列データを入出力する。メモリセルアレ
イ20どデータレジスタ22間のデータ転送はブランキ
ング期間中にデータ転送ゲート21により700ビツト
まとめておこなう。データレジスタ22のデータはデー
タ転送ゲート23により直列データバス24に出力され
る。データ転送ゲート23の各転送ゲートにはシフトレ
ジスタ25の各ビットが接続されている。直列データバ
ス24にはデータバッファ26が設けられている。シフ
トレジスタ25の記憶内容を順次シフトすることにより
、データレジスタ22の並列画像データを直列画像デー
タに変換してデータバッファ26から入出力する。すな
わち、データレジスタ22、データ転送ゲート23、シ
フトレジスタ25、データバッファ26で並列−直列変
換回路を構成している。
メモリセルアレイ20の行アドレスを選択するために行
アドレス発生用アップダウンカウンタ27、ラッチ28
が設けられている。またリフレッシュする行アドレスを
選択するためリフレッシュアドレスカウンタ32が設け
られている。これらの行アドレスはマルチプレクサ30
により選択され、バッファ31、デコーダ32によりメ
モリセルアレイ20中の特定の行がアクセスされる。
アドレス発生用アップダウンカウンタ27、ラッチ28
が設けられている。またリフレッシュする行アドレスを
選択するためリフレッシュアドレスカウンタ32が設け
られている。これらの行アドレスはマルチプレクサ30
により選択され、バッファ31、デコーダ32によりメ
モリセルアレイ20中の特定の行がアクセスされる。
上記従来の画像メモリには画像データの入出力のために
高速な直列−並列変換回路、並列−直列変換回路が必要
である。これら直列−並列変換回路、並列−直列変換回
路を半導体基板上に構成した場合、大きな面積が必要で
あり、コストアップするという問題があった。
高速な直列−並列変換回路、並列−直列変換回路が必要
である。これら直列−並列変換回路、並列−直列変換回
路を半導体基板上に構成した場合、大きな面積が必要で
あり、コストアップするという問題があった。
また上記画像メモリにおいてはメモリセルアレイタを書
込/υでいる間はメモリセルからデータを読出すことが
できず、ブレーク期間が必要である。
込/υでいる間はメモリセルからデータを読出すことが
できず、ブレーク期間が必要である。
またメモリセルをリフレッシュするためにもブレーク期
間が必要である。したがって、一度に書込み/読出す画
像データの単位を短くすることができないという問題が
あった。
間が必要である。したがって、一度に書込み/読出す画
像データの単位を短くすることができないという問題が
あった。
さらに上記画像メモリにおいては画像データを複数ビッ
ト構成とした場合、ビット数に比例して周辺回路が必要
である。したがって画像データの構成ビット数が多くな
ると、それに応じて周辺回路も増大し画像メモリ全体が
大型化し、かつコストアップするという問題があった。
ト構成とした場合、ビット数に比例して周辺回路が必要
である。したがって画像データの構成ビット数が多くな
ると、それに応じて周辺回路も増大し画像メモリ全体が
大型化し、かつコストアップするという問題があった。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、低コスト
で汎用性のある画像メモリを提供することを目的どする
。
で汎用性のある画像メモリを提供することを目的どする
。
上記目的を達成するために本発明による画像メモリは複
数のメモリセルを有し、所定ビットの画像データを記憶
する複数のメモリセル群と、これらメモリセル群の対応
づ゛るメモリセルを接続する共通のワードラインと、こ
れら共通のワードラインを用いて前記メモリセル群のメ
モリセルをクロック信号に同期して走査する走査手段ど
、前記クロック信号をカラン1〜し、酊アドレス信号を
出力する群アドレスカウンタと、この群アドレスカウン
タの群アドレス信号に基づいて、画像データを書込むメ
モリセル群を選択する書込群セレクタと、この書込群セ
レクタにより選択されたメモリセル群の、前記走査手段
により走査されたメモリセルに画像データを書込む書込
手段と、前記群アドレスカウンタの群アドレス信号に基
づいて、前記木造群セレクタにより選択されたメモリセ
ル群とは異なるメモリセル群を選択する読出群セレクタ
と、この読出群セレクタにより選択されたメモリセル群
の、前記走査手段により走査されたメモリレルー
ll− から画像データを読出す読出手段とを備えたことを特徴
とする。
数のメモリセルを有し、所定ビットの画像データを記憶
する複数のメモリセル群と、これらメモリセル群の対応
づ゛るメモリセルを接続する共通のワードラインと、こ
れら共通のワードラインを用いて前記メモリセル群のメ
モリセルをクロック信号に同期して走査する走査手段ど
、前記クロック信号をカラン1〜し、酊アドレス信号を
出力する群アドレスカウンタと、この群アドレスカウン
タの群アドレス信号に基づいて、画像データを書込むメ
モリセル群を選択する書込群セレクタと、この書込群セ
レクタにより選択されたメモリセル群の、前記走査手段
により走査されたメモリセルに画像データを書込む書込
手段と、前記群アドレスカウンタの群アドレス信号に基
づいて、前記木造群セレクタにより選択されたメモリセ
ル群とは異なるメモリセル群を選択する読出群セレクタ
と、この読出群セレクタにより選択されたメモリセル群
の、前記走査手段により走査されたメモリレルー
ll− から画像データを読出す読出手段とを備えたことを特徴
とする。
第1の実施例
本発明の第1の実施例による画像メモリを第1図に示す
。メモリセルアレイ40をM個のメモリセル群41〜4
Mに分割する。各メモリセル群41〜4Mは8列X10
24行構成である。各メモリセル群41〜4Mの各行8
個のメモリセルは共通の1024本のワードライン50
により接続されている。ワードライン50は行アドレス
スキャン回路52に接続されている。この行アドレスス
キャン回路52はクロック制御回路64からのクロック
信号CLKに同期してワードライン50を順次配列して
各メモリセル群41〜4Mのメモリセルを走査する。
。メモリセルアレイ40をM個のメモリセル群41〜4
Mに分割する。各メモリセル群41〜4Mは8列X10
24行構成である。各メモリセル群41〜4Mの各行8
個のメモリセルは共通の1024本のワードライン50
により接続されている。ワードライン50は行アドレス
スキャン回路52に接続されている。この行アドレスス
キャン回路52はクロック制御回路64からのクロック
信号CLKに同期してワードライン50を順次配列して
各メモリセル群41〜4Mのメモリセルを走査する。
行アドレススキャン回路52の具体例を第2図、第3図
に示す。第2図は1024ビツトのシフ1〜レジスタ5
2aにより行アドレススキャン回路52を構成したもの
である。各ビットはワードライン50にそれぞれ接続さ
れている。最上位ビットと最下位ピッ1〜を接続して、
最下位ピッ1〜からシフ1〜したデータが再び最上位ビ
ットに入力するようにしている。最初このシフトレジス
タ52aに1100・・・O」なるデータを格納し、ク
ロック信号に同期して1ビツトずつ右側にシフ1〜して
いく。
に示す。第2図は1024ビツトのシフ1〜レジスタ5
2aにより行アドレススキャン回路52を構成したもの
である。各ビットはワードライン50にそれぞれ接続さ
れている。最上位ビットと最下位ピッ1〜を接続して、
最下位ピッ1〜からシフ1〜したデータが再び最上位ビ
ットに入力するようにしている。最初このシフトレジス
タ52aに1100・・・O」なるデータを格納し、ク
ロック信号に同期して1ビツトずつ右側にシフ1〜して
いく。
これによりワードライン50を順次励起して各メモリは
ル群41〜4Mのメモリセルを走査する。
ル群41〜4Mのメモリセルを走査する。
第3図は行カウンタ52bと行デコーダ52cにより行
アドレススキャン回路を構成したものである。クロック
信号CL Kを行カウンタ52bで計数する。行デコー
ダ52cは行カウンタ52dのカウント値をデコードし
、接続されたワードライン50を順次励起して、各メモ
リセル群41〜4Mのメモリセルを走査する。
アドレススキャン回路を構成したものである。クロック
信号CL Kを行カウンタ52bで計数する。行デコー
ダ52cは行カウンタ52dのカウント値をデコードし
、接続されたワードライン50を順次励起して、各メモ
リセル群41〜4Mのメモリセルを走査する。
画像データの入力端11〜■8はデータ人力バッファ5
4に接続される。データ人力バッファ54は入力端11
〜■8から入力た8ビツトの画像データ信号を書込可能
なまで増幅して出力する。
4に接続される。データ人力バッファ54は入力端11
〜■8から入力た8ビツトの画像データ信号を書込可能
なまで増幅して出力する。
データ人力バッファ54は書込群セレクタ56に接続さ
れる。書込群セレクタ56は、列アドレスカウンタ58
からの書込セレク1−信号によりメモリセル群41〜4
Mのいずれかに書込むかを選択し、データ人力バッファ
54からの画像データを選択されたメモリセル群に書込
む。
れる。書込群セレクタ56は、列アドレスカウンタ58
からの書込セレク1−信号によりメモリセル群41〜4
Mのいずれかに書込むかを選択し、データ人力バッファ
54からの画像データを選択されたメモリセル群に書込
む。
各メモリセル群41〜4Mに接続された読出列レレクタ
60はセンスアンプを兼ねており、列アドレスカウンタ
58からの読出セレクト信号にJこりメモリセル群41
〜4Mのうちのひとつのメモリセル群を選択し、選択さ
れたメモリセル群から画像データを読出す。読出列セレ
クタ60はデータ出力バッファ62に接続される。デー
タ出力バッファ62は読出列セレクタ60からの画像デ
ータ信号を増幅して、出力端01〜08から出力する。
60はセンスアンプを兼ねており、列アドレスカウンタ
58からの読出セレクト信号にJこりメモリセル群41
〜4Mのうちのひとつのメモリセル群を選択し、選択さ
れたメモリセル群から画像データを読出す。読出列セレ
クタ60はデータ出力バッファ62に接続される。デー
タ出力バッファ62は読出列セレクタ60からの画像デ
ータ信号を増幅して、出力端01〜08から出力する。
クロック制御回路64はクロック信号CL Kとデツプ
イネーブル信号C[とを入力する。このクロック制御回
路64は、チップイネーブル信号CEが高レベルの間だ
けクロック信号CLKを出力する。
イネーブル信号C[とを入力する。このクロック制御回
路64は、チップイネーブル信号CEが高レベルの間だ
けクロック信号CLKを出力する。
列アドレスカウンタ58は列カウンタ58a1列デコー
ダ58b、R/Wレレクタ58cで構成される。列カウ
ンタ58aは、クロック制御回路64からのクロック信
号CL Kを目数し、1水平走査期間の画像データの数
だけパルスが入力すると1カウンl−アップする。列カ
ウンタ58 aのカウント値は列デコーダ58 b 1
.:、J:リブコードされる。R/Wセ1ノクタ58c
は列デコーダ58bからのデコード信号により、書込列
セレクタ56に書込セレクト信号を、読出列セレクタ6
0に読出セレクト信号を出力する。
ダ58b、R/Wレレクタ58cで構成される。列カウ
ンタ58aは、クロック制御回路64からのクロック信
号CL Kを目数し、1水平走査期間の画像データの数
だけパルスが入力すると1カウンl−アップする。列カ
ウンタ58 aのカウント値は列デコーダ58 b 1
.:、J:リブコードされる。R/Wセ1ノクタ58c
は列デコーダ58bからのデコード信号により、書込列
セレクタ56に書込セレクト信号を、読出列セレクタ6
0に読出セレクト信号を出力する。
次に第4図、第5図を用いて本実施例の動作を説明する
。最初列カウンタ53aはリセツ1〜され、カウント値
は「01どなる。列カウンタ58のカウント値が10」
であると、R/Wセレクタ58Cより#1列のメモリセ
ル群41を選択するような書込セレクト信号を書込列セ
レクタ56に出力し、#2列のメモリセル群42を選択
するような読出セレクト信号を読出列セレクタ60に出
力する。これにより#1列ののメモリセル群41の書込
許可信号WEは高レベルになり、#2列のメモリセル群
42の読出許可信@REも高レベルになる。一方、行ア
ドレススキャン回路52もリセットされ、1行目のワー
ドライン50を励起している。
。最初列カウンタ53aはリセツ1〜され、カウント値
は「01どなる。列カウンタ58のカウント値が10」
であると、R/Wセレクタ58Cより#1列のメモリセ
ル群41を選択するような書込セレクト信号を書込列セ
レクタ56に出力し、#2列のメモリセル群42を選択
するような読出セレクト信号を読出列セレクタ60に出
力する。これにより#1列ののメモリセル群41の書込
許可信号WEは高レベルになり、#2列のメモリセル群
42の読出許可信@REも高レベルになる。一方、行ア
ドレススキャン回路52もリセットされ、1行目のワー
ドライン50を励起している。
チップイネーブル信号CEが高レベルになると入力端■
〜■8から8ビツトの画像データDinが入力する。
〜■8から8ビツトの画像データDinが入力する。
この画像データOinはデータ人力バッファ54、書込
列セレクタ56を介して#1列のメモリセル群41の1
行目のメモリセルに書込まれる。同時に#2列のメモリ
セル群42の1行目のメモリセルから8ビツトの画像デ
ータ[)outは、読出列セレクタ60、データ出力バ
ッファ62を介して出力端○ 〜08から出力される。
列セレクタ56を介して#1列のメモリセル群41の1
行目のメモリセルに書込まれる。同時に#2列のメモリ
セル群42の1行目のメモリセルから8ビツトの画像デ
ータ[)outは、読出列セレクタ60、データ出力バ
ッファ62を介して出力端○ 〜08から出力される。
次にクロック信号CLKのパルスが入力すると、行アド
レススキャン回路52は2行目のワードライン50を励
起する。したがって入力端■1〜■8からの画像データ
D;nは#1列のメモリセル群41の2行目のメモリセ
ルに書込まれ、#2列のメモリセル群42の2行目のメ
モリセルから画一 16 − 像データDO旧が読出される。同様にしてクロック信g
cu<のパルスに同期してメモリセルアレイ/IOの各
メモリセル群41〜4Mのメモリセルを走査し、#1列
のメモリセル群41に画像データDinを順次書込み、
#2列のメモリセル群42から画像データ0outを順
次読出す。
レススキャン回路52は2行目のワードライン50を励
起する。したがって入力端■1〜■8からの画像データ
D;nは#1列のメモリセル群41の2行目のメモリセ
ルに書込まれ、#2列のメモリセル群42の2行目のメ
モリセルから画一 16 − 像データDO旧が読出される。同様にしてクロック信g
cu<のパルスに同期してメモリセルアレイ/IOの各
メモリセル群41〜4Mのメモリセルを走査し、#1列
のメモリセル群41に画像データDinを順次書込み、
#2列のメモリセル群42から画像データ0outを順
次読出す。
1水平走査期間の画像データDin、Doutの書込み
、読出しが終了するとチップイネーブル信号CEを低レ
ベルとする。この画像メモリではメモリセル群/11〜
4Mは10211行あるので、1水平走査期間あたり1
024個の画像データのものまで、記憶することができ
る。また列カウンタ58aが1カウントアツプし、カウ
ント値が「1」どなる。するど#2列のメモリセル群4
2を選択するような書込セレクト信号を書込列セレクタ
56に出力し、#3列のメモリセル群43を選択するよ
う読出セレクト信号を読出列セレクタ60に出力する。
、読出しが終了するとチップイネーブル信号CEを低レ
ベルとする。この画像メモリではメモリセル群/11〜
4Mは10211行あるので、1水平走査期間あたり1
024個の画像データのものまで、記憶することができ
る。また列カウンタ58aが1カウントアツプし、カウ
ント値が「1」どなる。するど#2列のメモリセル群4
2を選択するような書込セレクト信号を書込列セレクタ
56に出力し、#3列のメモリセル群43を選択するよ
う読出セレクト信号を読出列セレクタ60に出力する。
その結果、#1列のメモリセル群41の書込許可信号W
Eは低レベルに変化し、#2列のメモリセル群42の書
込許可信号W Eが高レベルになる。また#2列のメモ
リセル群42の読出許可信号REが低レベルとなり、#
3列のメモリセル群43の読出許可信号REが高レベル
どなる。
Eは低レベルに変化し、#2列のメモリセル群42の書
込許可信号W Eが高レベルになる。また#2列のメモ
リセル群42の読出許可信号REが低レベルとなり、#
3列のメモリセル群43の読出許可信号REが高レベル
どなる。
チップイネーブル信号GEが高レベルになると、次の水
平走査期間の画像データotn、、ooutの書込み、
読出しが開始する。画像データD1nは#2列のメモリ
セル群42に書込まれ、画像データ[)outは#3列
のメモリセル群43から読出される。画像データD i
n、 1)out (D@込み、読出しが終了すると、
チップイネーブル信号CEが低レベルどなり、列カウン
タ58aのカウント(直が「2」どなる。したがって次
は#3列のメモリセル群/1.3に画像データDinが
書込まれ、#4列のメモリセル群44から画像データ[
)outが読出される。
平走査期間の画像データotn、、ooutの書込み、
読出しが開始する。画像データD1nは#2列のメモリ
セル群42に書込まれ、画像データ[)outは#3列
のメモリセル群43から読出される。画像データD i
n、 1)out (D@込み、読出しが終了すると、
チップイネーブル信号CEが低レベルどなり、列カウン
タ58aのカウント(直が「2」どなる。したがって次
は#3列のメモリセル群/1.3に画像データDinが
書込まれ、#4列のメモリセル群44から画像データ[
)outが読出される。
以下同様にして第5図に示すように、順次メモリセル群
41〜4Mに画像データDinが書込まれ、同時にメモ
リセル群41〜4Mから画像データ1)outが読出さ
れる。
41〜4Mに画像データDinが書込まれ、同時にメモ
リセル群41〜4Mから画像データ1)outが読出さ
れる。
このように本実施例によれば画像データの書込み、読出
しを同時におこなうので、高速書込み、読出しが可能で
ある。
しを同時におこなうので、高速書込み、読出しが可能で
ある。
上記実施例では画像データを書込むためのライトアンプ
は、データ人力バッファ54に組込まれていたが、書込
列セレクタ56とメモリセル群41〜4Mの間、または
データ人力バッファ54と書込列セレクタ56の間に独
立して設りてもよい。
は、データ人力バッファ54に組込まれていたが、書込
列セレクタ56とメモリセル群41〜4Mの間、または
データ人力バッファ54と書込列セレクタ56の間に独
立して設りてもよい。
また上記実施例では画像データを読出すセンスアンプは
、読出列セレクタ60に組込まれてぃIcが、メモリセ
ル群41〜4Mど読出列セレクタ600間または読出列
セレクタ6oとデータ出力バッファ62の間に独立して
設けてもよい。
、読出列セレクタ60に組込まれてぃIcが、メモリセ
ル群41〜4Mど読出列セレクタ600間または読出列
セレクタ6oとデータ出力バッファ62の間に独立して
設けてもよい。
またメモリセルアレイ4oを構成する各メモリセルはダ
イナミック型でもスタティック型でもよい。ダイナミッ
クメモリの場合、一定周期でリフレッシュが必要である
。書込周期、読出周期をリフレッシュ周期にりも短かく
イrるにうにすれば特別のリフレッシュ動作は不要であ
る。
イナミック型でもスタティック型でもよい。ダイナミッ
クメモリの場合、一定周期でリフレッシュが必要である
。書込周期、読出周期をリフレッシュ周期にりも短かく
イrるにうにすれば特別のリフレッシュ動作は不要であ
る。
ざらに上記実施例では第5図に示すように隣接するメモ
リセル群を順次書込み、読出したが、他の順番でメモリ
セル群を書込み、読出しするようにlノでもよい。
リセル群を順次書込み、読出したが、他の順番でメモリ
セル群を書込み、読出しするようにlノでもよい。
第2の実施例
本発明の第2の実施例による画像メモリを第6図に示す
。第1図に示す第1の実施例による画像メモリと相違す
る点は、列アドレスカウンタ58のR/Wセレクタ58
GのかわりにR/W/Refセレクタ58dを設けてい
る点である。R/W/Rat’セレクタ58dは読出セ
レクタ信号、書込セレクト信号とともにリフレッシュセ
レクト信号をも出力し、リフレッシツーするメモリセル
群を選択する。R/W/Refセレクタ58dからの読
出セレクタ信号は、読出列セレクタ70に出力され、書
込セレクト信号は書込列セレクタ56に出ノ〕される。
。第1図に示す第1の実施例による画像メモリと相違す
る点は、列アドレスカウンタ58のR/Wセレクタ58
GのかわりにR/W/Refセレクタ58dを設けてい
る点である。R/W/Rat’セレクタ58dは読出セ
レクタ信号、書込セレクト信号とともにリフレッシュセ
レクト信号をも出力し、リフレッシツーするメモリセル
群を選択する。R/W/Refセレクタ58dからの読
出セレクタ信号は、読出列セレクタ70に出力され、書
込セレクト信号は書込列セレクタ56に出ノ〕される。
リフレッシュセレクト信号は、読出列セレクタ70とメ
モリセル群41〜4Mの間に設けられたセンスアンプ7
2に出力される。リフレッシュセレクト信号により選択
されたメモリセル群のメモリセルからセンスアンプ72
ににリセンスしで増幅した内容を再びメモリセル群に書
込むことにより、リフレッシュがなされる。
モリセル群41〜4Mの間に設けられたセンスアンプ7
2に出力される。リフレッシュセレクト信号により選択
されたメモリセル群のメモリセルからセンスアンプ72
ににリセンスしで増幅した内容を再びメモリセル群に書
込むことにより、リフレッシュがなされる。
次に第7図、第8図を用いて本実施例の動作を説明する
。
。
最初、列カウンタ58aはリレットされ、カウント値は
「0」となる。列カウンタ58のカラン1〜値がrOJ
であると、R/W/Rotセレクタ58dより#1列の
メモリセル群41を選択するような書込セレク1〜信号
を書込列セレクタ56に出力し、#2列のメモリセル群
42を選択するにうな読出セレクト信号を読出列セレク
タ60に出ノjする。また、#N列のメモリセル群4N
(ただしN=M/2>をリフレッシュするようなリフレ
ッシュセレクト信号をセンスアンプ72に出力する。こ
れにより#1列のメモリセル群41の書込許可信号WE
は高レベルになり、#2列のメモリセル群42の読出許
可信号REも高レベルになり、#N列のメモリセル群の
リフレッシュ信号Refも高レベルになる。一方、行ア
ドレススキャン回路52もリセットされ、1行目のワー
ドライン50を励起している。
「0」となる。列カウンタ58のカラン1〜値がrOJ
であると、R/W/Rotセレクタ58dより#1列の
メモリセル群41を選択するような書込セレク1〜信号
を書込列セレクタ56に出力し、#2列のメモリセル群
42を選択するにうな読出セレクト信号を読出列セレク
タ60に出ノjする。また、#N列のメモリセル群4N
(ただしN=M/2>をリフレッシュするようなリフレ
ッシュセレクト信号をセンスアンプ72に出力する。こ
れにより#1列のメモリセル群41の書込許可信号WE
は高レベルになり、#2列のメモリセル群42の読出許
可信号REも高レベルになり、#N列のメモリセル群の
リフレッシュ信号Refも高レベルになる。一方、行ア
ドレススキャン回路52もリセットされ、1行目のワー
ドライン50を励起している。
デツプイネーブル信号CEが高レベルになると入力端■
1〜I8から8ビツトの画像データDinが入力する。
1〜I8から8ビツトの画像データDinが入力する。
この画像データDinはデータ人力バッファ54、書込
列セレクタ56を介して#1列のメモリセル群41の1
行目のメモリセルに書込まれる。同時に#2列のメモリ
セル群42の1行目のメモリセルから8ビツトの画像デ
ータDoutは、読出列セレクタ60.データ出力バッ
ファ62を介して出力端01〜08がら出力される。
列セレクタ56を介して#1列のメモリセル群41の1
行目のメモリセルに書込まれる。同時に#2列のメモリ
セル群42の1行目のメモリセルから8ビツトの画像デ
ータDoutは、読出列セレクタ60.データ出力バッ
ファ62を介して出力端01〜08がら出力される。
また、同時に#N列のメモリセル群4Nの1行目のメモ
リセルがリフレッシュされる。次にクロック信号CLK
のパルスが入力すると、行アドレススキャン回路52は
2行目のワードライン50を励起する。したがって入力
端11〜■8からの画像データD1nは#1列のメモリ
セル群41の2行目のメモリセルに書込まれ、#2列の
メモリセル群42の2行目のメモリセルがら画像データ
Doutが読出され、#N列のメモリセル群4Nの2行
目のメモリセルがリフレッシュされる。同様にしてクロ
ック信号CL Kのパルスに同期してメモリセルアレイ
40の各メモリセル群41〜4Mのメモリセルを走査し
、#1列のメモリセル群41に画像データDinを順次
書込み、#2列のメモリセル群42から画像データ1)
Itを順次読出、#N列のメモリセル群4Nをリフレッ
シュする。
リセルがリフレッシュされる。次にクロック信号CLK
のパルスが入力すると、行アドレススキャン回路52は
2行目のワードライン50を励起する。したがって入力
端11〜■8からの画像データD1nは#1列のメモリ
セル群41の2行目のメモリセルに書込まれ、#2列の
メモリセル群42の2行目のメモリセルがら画像データ
Doutが読出され、#N列のメモリセル群4Nの2行
目のメモリセルがリフレッシュされる。同様にしてクロ
ック信号CL Kのパルスに同期してメモリセルアレイ
40の各メモリセル群41〜4Mのメモリセルを走査し
、#1列のメモリセル群41に画像データDinを順次
書込み、#2列のメモリセル群42から画像データ1)
Itを順次読出、#N列のメモリセル群4Nをリフレッ
シュする。
1水平走査期間の画像データ1)in、1)outの書
込み、読出し、およびデータのリフレッシュが終了する
とチップイネーブル信号CEを低レベルとする。この画
像メモリではメモリセル群41〜4Mは1024行ある
ので、1水平走査期間あたり1024個の画像データの
ものまで、記憶することができる。また列カウンタ58
aが1カウントアツプし、カラン1〜値がrlJどなる
。すると#2列のメモリセル群42を選択するにうな書
込セレクト信号を書込列セレクタ56に出力し、#3列
のメモリセル群43を選択するよう読出[レフト信号を
読出列セレクタ6oに出力し、# N −1−1列のメ
モリセル群/I−(N+1)を選択するリフレッシュ信
号を出力する。その結果、#1列のメモリセル群41の
書込許可信号WEは低レベルに変化し、#2列のメモリ
セル群42の書込許可信号WEが高レベルになる。また
#2列のメモリセル群42の読出許可信号REが低レベ
ルどなり、#3列のメモリセル群43の読出許可信号R
Eが高レベルとなる。ざらに#N列のメモリセル群4N
のリフレッシュ信号Refが低レベルとなり#N+1列
のメモリセル群4(N+1)のリフレッシュ信号Ref
が高レベルとなる。
込み、読出し、およびデータのリフレッシュが終了する
とチップイネーブル信号CEを低レベルとする。この画
像メモリではメモリセル群41〜4Mは1024行ある
ので、1水平走査期間あたり1024個の画像データの
ものまで、記憶することができる。また列カウンタ58
aが1カウントアツプし、カラン1〜値がrlJどなる
。すると#2列のメモリセル群42を選択するにうな書
込セレクト信号を書込列セレクタ56に出力し、#3列
のメモリセル群43を選択するよう読出[レフト信号を
読出列セレクタ6oに出力し、# N −1−1列のメ
モリセル群/I−(N+1)を選択するリフレッシュ信
号を出力する。その結果、#1列のメモリセル群41の
書込許可信号WEは低レベルに変化し、#2列のメモリ
セル群42の書込許可信号WEが高レベルになる。また
#2列のメモリセル群42の読出許可信号REが低レベ
ルどなり、#3列のメモリセル群43の読出許可信号R
Eが高レベルとなる。ざらに#N列のメモリセル群4N
のリフレッシュ信号Refが低レベルとなり#N+1列
のメモリセル群4(N+1)のリフレッシュ信号Ref
が高レベルとなる。
チップイネーブル信号CEが高レベルになると、次の水
平走査期間の画像データDin、 Doutの書込み、
読出しおよびデータのリフレッシュが開始する。画像デ
ータDinは#2列のメモリセル群42に書込まれ、画
像データ[)outは#3列のメモリセル群43から読
出され、#N千1列のメモリセル群4(N+1)がリフ
レッシュされる。画像データ[)inl[)outの書
込み、読出し、データのリフレッシュが終了すると、チ
ップイネーブル信号CEが低レベルとなり、列カウンタ
58aのカウント値が「2」となる。したがって次は#
3列のメモリセル群11.3に画像データDinが書込
まれ、#4列のメモリセル群44がら画像データDou
tが読出され、#N+2列のメモリセル群4(N+2)
がリフレッシュされる。以下同様にして第8図に示ずよ
うに、順次メモリセル群41〜4Mに画像データDin
が書込まれ、同時にメモリセル群41〜4Mから画像デ
ータDoutが読出され、メモリセル群41〜4Mがリ
フレッシュされる。
平走査期間の画像データDin、 Doutの書込み、
読出しおよびデータのリフレッシュが開始する。画像デ
ータDinは#2列のメモリセル群42に書込まれ、画
像データ[)outは#3列のメモリセル群43から読
出され、#N千1列のメモリセル群4(N+1)がリフ
レッシュされる。画像データ[)inl[)outの書
込み、読出し、データのリフレッシュが終了すると、チ
ップイネーブル信号CEが低レベルとなり、列カウンタ
58aのカウント値が「2」となる。したがって次は#
3列のメモリセル群11.3に画像データDinが書込
まれ、#4列のメモリセル群44がら画像データDou
tが読出され、#N+2列のメモリセル群4(N+2)
がリフレッシュされる。以下同様にして第8図に示ずよ
うに、順次メモリセル群41〜4Mに画像データDin
が書込まれ、同時にメモリセル群41〜4Mから画像デ
ータDoutが読出され、メモリセル群41〜4Mがリ
フレッシュされる。
このように本実施例によれば、画像データの書込み、読
出しとともにリフレッシュも同時におこなうことができ
る。特に本実施例のようにリフレッシュするメモリセル
群を選択することにより、書込周期、読出周期が最大の
りフレッシコ周期より長い場合でも、ダイナミックメモ
リの内容が消滅することはない。
出しとともにリフレッシュも同時におこなうことができ
る。特に本実施例のようにリフレッシュするメモリセル
群を選択することにより、書込周期、読出周期が最大の
りフレッシコ周期より長い場合でも、ダイナミックメモ
リの内容が消滅することはない。
上記実施例ではメモリセル群の全 Mの半分のN番目の
メモリセル群4Nよりリフレッシュを開始したが、書込
みをしているメモリセル群、読出しをしているメモリセ
ル群以外のメモリセル群であれば、いかなるメモリセル
群をリフレッシュしてもよい。
メモリセル群4Nよりリフレッシュを開始したが、書込
みをしているメモリセル群、読出しをしているメモリセ
ル群以外のメモリセル群であれば、いかなるメモリセル
群をリフレッシュしてもよい。
第3の実施例
本発明の第3の実施例による画像メモリを第9図に示す
。メモリセルアレイ80をM個のメモリセル群81〜8
Mに分割する。各メモリセル群81〜8Mは8列X10
24行構成である。メモリセル群81〜8Mを奇数番目
のメモリセル群81゜83、・・・、 8 (IVI−
1)と偶数番口のメモリセル群82.84.・・・、8
Mに分割する。奇数番目のメモリセル群81.83.・
・・、8 (M−1)の各行8個のメモリセルは共通の
1024木のワードライン90により接続され、偶数番
目のメモリセル群82,84.・・・、8Mの各行8個
のメモリセルは別の共通の1024本のワードライン9
1により接続されている。ワードライン90は行アドレ
ススキャン回路92に接続されている。ワードライン9
1は行アドレススキャン回路93に接続されている。こ
の行アドレススキャン回路91はクロックセレクタ10
4からのクロック信号CKL1に同期してワードライン
90を順次励起しで各メモリセル群81,83.・・・
、8(M−1)メモリセルを走査する。この行アドレス
スキャン回路93はクロックセレクタ104からのクロ
ック信号CI K2に同期してワードライン92を順次
励起して各メモリセル群82.84.・・・、8Mのメ
モリセルを走査する。
。メモリセルアレイ80をM個のメモリセル群81〜8
Mに分割する。各メモリセル群81〜8Mは8列X10
24行構成である。メモリセル群81〜8Mを奇数番目
のメモリセル群81゜83、・・・、 8 (IVI−
1)と偶数番口のメモリセル群82.84.・・・、8
Mに分割する。奇数番目のメモリセル群81.83.・
・・、8 (M−1)の各行8個のメモリセルは共通の
1024木のワードライン90により接続され、偶数番
目のメモリセル群82,84.・・・、8Mの各行8個
のメモリセルは別の共通の1024本のワードライン9
1により接続されている。ワードライン90は行アドレ
ススキャン回路92に接続されている。ワードライン9
1は行アドレススキャン回路93に接続されている。こ
の行アドレススキャン回路91はクロックセレクタ10
4からのクロック信号CKL1に同期してワードライン
90を順次励起しで各メモリセル群81,83.・・・
、8(M−1)メモリセルを走査する。この行アドレス
スキャン回路93はクロックセレクタ104からのクロ
ック信号CI K2に同期してワードライン92を順次
励起して各メモリセル群82.84.・・・、8Mのメ
モリセルを走査する。
行アト1ノススキャン回路92.93の具体例は第2図
、第3図に示す回路である。
、第3図に示す回路である。
画像データの入力端■1〜18はデータ人力バッファ9
4に接続される。データ人力バッファ94は入ノJ端I
〜I8から入力した8ピツ1〜の画像データ信号を書
込可能なまで増幅して出力する。
4に接続される。データ人力バッファ94は入ノJ端I
〜I8から入力した8ピツ1〜の画像データ信号を書
込可能なまで増幅して出力する。
データ人力バッファ94は書込列セレクタ90に接続さ
れる。書込列セレクタ96は、列アドレスカウンタ98
からの書込セレクト信号にJzウリメモリセル群4〜8
Mのいずれかに書込むかを選択し、データ人力バッファ
97′lからの画像データを選択されたメモリセル群に
書込む。列アドレスカウンタ98は、水平走査期間毎に
奇数番目のメモリセル群41〜’1.M(M−1>と偶
数番口のメモリセル群42〜4Mを交互に選択するよう
な書込セレクト信号を出力する。
れる。書込列セレクタ96は、列アドレスカウンタ98
からの書込セレクト信号にJzウリメモリセル群4〜8
Mのいずれかに書込むかを選択し、データ人力バッファ
97′lからの画像データを選択されたメモリセル群に
書込む。列アドレスカウンタ98は、水平走査期間毎に
奇数番目のメモリセル群41〜’1.M(M−1>と偶
数番口のメモリセル群42〜4Mを交互に選択するよう
な書込セレクト信号を出力する。
各メモリセル群81〜8Mに接続された読出列セレクタ
100はセンスアンプを兼ねており、列アドレスカウン
タ98からの読出セレクト信号によりメモリセル群41
〜4Mのうちのひとつのメモリセル群を選択し、選択さ
れたメモリセル群から画像データを読出す。列アドレス
カウンタ98は奇数番目のメモリセル群41〜4.M(
M−1)に対して書込セレクト信号が出力されている場
合には偶数番目のメモリセル群42〜4Mのいずれかに
、偶数番目のメモリセル群42〜4Mに対して書込セレ
クト信号が出力されている場合には奇数番目のメモリセ
ル群41〜4Mのいずれかに、読出セレクタ信号を出力
する。読出群セレクタ100はデータ出力バッファ10
2に接続される。
100はセンスアンプを兼ねており、列アドレスカウン
タ98からの読出セレクト信号によりメモリセル群41
〜4Mのうちのひとつのメモリセル群を選択し、選択さ
れたメモリセル群から画像データを読出す。列アドレス
カウンタ98は奇数番目のメモリセル群41〜4.M(
M−1)に対して書込セレクト信号が出力されている場
合には偶数番目のメモリセル群42〜4Mのいずれかに
、偶数番目のメモリセル群42〜4Mに対して書込セレ
クト信号が出力されている場合には奇数番目のメモリセ
ル群41〜4Mのいずれかに、読出セレクタ信号を出力
する。読出群セレクタ100はデータ出力バッファ10
2に接続される。
データ出力バッファ102は読出列セレクタ100から
の画像データ信号を増幅して、出力端一 28 − 01〜08から出力する。
の画像データ信号を増幅して、出力端一 28 − 01〜08から出力する。
書込クロック信号W CL Kは書込クロックカウンタ
106によりカウンタされ、そのカウント値はクロック
セレクタ104に入力される。読出クロック信号RCI
Kは読出クロックカウンタ108によりカウンタされ
、そのノJウント値はクロックセレクタ104に入力さ
れる。クロックセレクタ104は、書込クロックカウン
タ106ど読出クロックカウンタ108からのカウント
値に基づいて、書込クロック信号WCIKど読出クロッ
ク信号RCLKを切換えて、第1のクロック信号CL
Kまたは第2のクロック信号CLK2として、行アドレ
ススキャン回路92.93に出力づ′る。書込列セレク
タ96が奇数番目のメモリセル群91〜9(M−1>を
選択し、読出列セレクタ100が偶数番目のメモリセル
群92〜9Mを選択した場合は、クロック信MCLK1
どして書込クロック信@WCLKを選択し、クロック信
号CL K 2として読出クロック信号RCl−Kを選
択する。逆に書込列セレクタ96が偶数番目のメモリセ
ル群92〜9Mを選択し、読出列セレクタ100が奇数
番目のメモリセル群91〜9(M−1)を選択した場合
は、クロック信号CI K1として読出クロック信号R
CLKを選択し、クロック信号CI K2として書込ク
ロック信号W CL Kを選択する。
106によりカウンタされ、そのカウント値はクロック
セレクタ104に入力される。読出クロック信号RCI
Kは読出クロックカウンタ108によりカウンタされ
、そのノJウント値はクロックセレクタ104に入力さ
れる。クロックセレクタ104は、書込クロックカウン
タ106ど読出クロックカウンタ108からのカウント
値に基づいて、書込クロック信号WCIKど読出クロッ
ク信号RCLKを切換えて、第1のクロック信号CL
Kまたは第2のクロック信号CLK2として、行アドレ
ススキャン回路92.93に出力づ′る。書込列セレク
タ96が奇数番目のメモリセル群91〜9(M−1>を
選択し、読出列セレクタ100が偶数番目のメモリセル
群92〜9Mを選択した場合は、クロック信MCLK1
どして書込クロック信@WCLKを選択し、クロック信
号CL K 2として読出クロック信号RCl−Kを選
択する。逆に書込列セレクタ96が偶数番目のメモリセ
ル群92〜9Mを選択し、読出列セレクタ100が奇数
番目のメモリセル群91〜9(M−1)を選択した場合
は、クロック信号CI K1として読出クロック信号R
CLKを選択し、クロック信号CI K2として書込ク
ロック信号W CL Kを選択する。
列アドレスカウンタ98は列カウンタ98a1列デコー
ダ98b、、R/Wセレクタ98cで構成される。列ノ
Jウンタ98aは、クロックセレクタ104からのクロ
ック切換パルスをカウントする。列カウンタ98aのカ
ウント値は列デコーダ゛98bによりデコードされる。
ダ98b、、R/Wセレクタ98cで構成される。列ノ
Jウンタ98aは、クロックセレクタ104からのクロ
ック切換パルスをカウントする。列カウンタ98aのカ
ウント値は列デコーダ゛98bによりデコードされる。
R/Wセレクタ98Gは列デコーダ98bからのデコー
ド信号により、書込列セレクタ96に書込セレクト信号
を読出列セレクタ100に読出セレクタ信号を出力する
。
ド信号により、書込列セレクタ96に書込セレクト信号
を読出列セレクタ100に読出セレクタ信号を出力する
。
次に第10図、第11図を用いて本実施例の動作を説明
する。本実施例では書込クロック信@WCLKと読出ク
ロック信号RCLKとが同一ではない。これは例えば次
のような場合である。書込む画像データが外部機器(例
えばVTR”)から入力される場合、書込クロック信号
WCLKの周期が長くなったり短くなったりして一定し
ない。これに対して読出クロック信号RCL Kは画像
メモリから発生するため正確に一定の因明である。
する。本実施例では書込クロック信@WCLKと読出ク
ロック信号RCLKとが同一ではない。これは例えば次
のような場合である。書込む画像データが外部機器(例
えばVTR”)から入力される場合、書込クロック信号
WCLKの周期が長くなったり短くなったりして一定し
ない。これに対して読出クロック信号RCL Kは画像
メモリから発生するため正確に一定の因明である。
最初列カウンタ58aはリレットされ、カラン1〜値は
「O」どなる。列カウンタ98aのカラン1〜値がrO
Jであると、R/Wtレクタ98cより#1列のメモリ
セル群81を選択するような書込セレクト信号を也込列
セレクタ96に出力し、#2列のメモリセル群82を選
択するような読出セレクト信号を読出列セレクタ100
に出力する。
「O」どなる。列カウンタ98aのカラン1〜値がrO
Jであると、R/Wtレクタ98cより#1列のメモリ
セル群81を選択するような書込セレクト信号を也込列
セレクタ96に出力し、#2列のメモリセル群82を選
択するような読出セレクト信号を読出列セレクタ100
に出力する。
これにより#1列ののメモリセル群81の書込許可信号
WEは高レベルになり、#2列のメモリセル群82の読
出許可信号R「も高レベルになる。
WEは高レベルになり、#2列のメモリセル群82の読
出許可信号R「も高レベルになる。
また、クロックセレクタ104はリセットされ、クロッ
ク選択信号は高レベルとなり、クロック信号CLK1と
して書込クロック信号WCIKが出力され、クロック信
MCLK2どして読出クロック信号RCLKが出力され
る。一方、行アドレススキャン回路92.93もリセッ
トされ、1行目のワードライン90を励起している。
ク選択信号は高レベルとなり、クロック信号CLK1と
して書込クロック信号WCIKが出力され、クロック信
MCLK2どして読出クロック信号RCLKが出力され
る。一方、行アドレススキャン回路92.93もリセッ
トされ、1行目のワードライン90を励起している。
書込クロック信号WCLKに同期してチップ書込イネー
ブル信号CWEが高レベルになると入力端I 〜I8か
ら8ビツトの画像データDinが入カする。この画像デ
ータDinはデータ人力バッファ94、書込列セレクタ
96を介して#1列のメモリセル群81の1行目のメモ
リセルに行アドレススキャン回路92へ入力した書込ク
ロック信号WCKに同期して書込まれる。また読出クロ
ック信号RCL Kに同期してチップ読出イネーブル信
号CREが高レベルになると、#2列のメモリセル群8
2の1行目のメモリセルから8ビツトの画像データ1)
outが、行アドレススキャン回路93に入力した読出
クロック信号RCLKに同期して読出される。読出され
た画像データ[)outは読出列セレクタ100、デー
タ出力バッファ102を介して出力端01〜o8から出
力される。以後、#1列のメモリセル群81はクロック
信号CL K1(書込クロック信号WCLK>に同期し
て走査され画像データDinが書込まれる。これと同時
に#2列のメモリセル群82はクロック信号CL K2
(読出クロック信号RCLK)に同期して走査され画像
データ1)Outが読出される。
ブル信号CWEが高レベルになると入力端I 〜I8か
ら8ビツトの画像データDinが入カする。この画像デ
ータDinはデータ人力バッファ94、書込列セレクタ
96を介して#1列のメモリセル群81の1行目のメモ
リセルに行アドレススキャン回路92へ入力した書込ク
ロック信号WCKに同期して書込まれる。また読出クロ
ック信号RCL Kに同期してチップ読出イネーブル信
号CREが高レベルになると、#2列のメモリセル群8
2の1行目のメモリセルから8ビツトの画像データ1)
outが、行アドレススキャン回路93に入力した読出
クロック信号RCLKに同期して読出される。読出され
た画像データ[)outは読出列セレクタ100、デー
タ出力バッファ102を介して出力端01〜o8から出
力される。以後、#1列のメモリセル群81はクロック
信号CL K1(書込クロック信号WCLK>に同期し
て走査され画像データDinが書込まれる。これと同時
に#2列のメモリセル群82はクロック信号CL K2
(読出クロック信号RCLK)に同期して走査され画像
データ1)Outが読出される。
1水平走査期間の画像データDinの書込みが終了する
とチップ書込イネーブル信号CWEが低レベルとする。
とチップ書込イネーブル信号CWEが低レベルとする。
また画像データoutの読出しが終了するとチップ読出
イネーブル信号CREを低レベルとする。チップ書込イ
ネーブル信号CWEとチップ読出イネーブル信号CRE
が共に低レベルとなった後に、クロック選択信号が低レ
ベルとなる。
イネーブル信号CREを低レベルとする。チップ書込イ
ネーブル信号CWEとチップ読出イネーブル信号CRE
が共に低レベルとなった後に、クロック選択信号が低レ
ベルとなる。
クロックセレクタ104はクロック信号CLKIとして
読出クロック信号RCLKを出力し、クロック信号CL
K2として書込クロック信号WCLKを出力する。クロ
ック選択信号のレベルが変化すると列カウンタ98aが
1カウントアツプし、カウント値が[1コどなる。する
ど#2列のメモリセル群82を選択するような書込セレ
クト信号を書込列セレクタ96に出力し、#3列のメモ
リセル群83を選択するよう読出セレクト信号を読出列
セレクタ100に出力する。その結果、#1列のメモリ
セル群81の書込許可信号WEは低レベルに変化し、#
2列のメモリセル群82の書込許可信号WEが高レベル
になる。また#2列のメモリセル群82の読出許可信号
RFが低レベルとなり、#3列のメモリセル群83の読
出許可信号REが高レベルとなる。
読出クロック信号RCLKを出力し、クロック信号CL
K2として書込クロック信号WCLKを出力する。クロ
ック選択信号のレベルが変化すると列カウンタ98aが
1カウントアツプし、カウント値が[1コどなる。する
ど#2列のメモリセル群82を選択するような書込セレ
クト信号を書込列セレクタ96に出力し、#3列のメモ
リセル群83を選択するよう読出セレクト信号を読出列
セレクタ100に出力する。その結果、#1列のメモリ
セル群81の書込許可信号WEは低レベルに変化し、#
2列のメモリセル群82の書込許可信号WEが高レベル
になる。また#2列のメモリセル群82の読出許可信号
RFが低レベルとなり、#3列のメモリセル群83の読
出許可信号REが高レベルとなる。
チップ書込イネーブル信号CWEが高レベルになると、
次の水平走査期間の画像データDinの書込みが開始す
る。画像データDinは#2列のメモリセル群42に書
込まれる。チップ書込イネーブル信号CREが高レベル
になると、次の水平走査期間の画像データ□ outの
読出しが開始する。#3列のメモリセル群83から画像
データI)outが読出される。画像データ[)in、
[)outの書込み、読出しが終了すると、チップ書込
イネーブル信号CWEとチップ読出イネーブル信号CR
Eが低レベルとなり、クロック選択信号のレベルが低レ
ベルから高レベルに変化する。すると、列カウンタ58
aのカウント値が「2」となる。したがって次は#3列
のメモリセル群71.3に画像データDinが書込まれ
、#4列のメモリセル群44から画像データ[)out
が読出される。以下同様にして第11図に示すように、
順次メモリセル群41〜4Mに画像データDinが書込
クロック信に3iW C+、−Kに同期して書込まれ、
同時にメモリセル群41〜4Mから画像データ1)OU
tが読出クロック信号RCLKに同期して読出される。
次の水平走査期間の画像データDinの書込みが開始す
る。画像データDinは#2列のメモリセル群42に書
込まれる。チップ書込イネーブル信号CREが高レベル
になると、次の水平走査期間の画像データ□ outの
読出しが開始する。#3列のメモリセル群83から画像
データI)outが読出される。画像データ[)in、
[)outの書込み、読出しが終了すると、チップ書込
イネーブル信号CWEとチップ読出イネーブル信号CR
Eが低レベルとなり、クロック選択信号のレベルが低レ
ベルから高レベルに変化する。すると、列カウンタ58
aのカウント値が「2」となる。したがって次は#3列
のメモリセル群71.3に画像データDinが書込まれ
、#4列のメモリセル群44から画像データ[)out
が読出される。以下同様にして第11図に示すように、
順次メモリセル群41〜4Mに画像データDinが書込
クロック信に3iW C+、−Kに同期して書込まれ、
同時にメモリセル群41〜4Mから画像データ1)OU
tが読出クロック信号RCLKに同期して読出される。
このにうに本実施例によれば書込クロック信号と読出ク
ロック信号が異なっても、画像データの書込読出しを同
時におこなうことができる。
ロック信号が異なっても、画像データの書込読出しを同
時におこなうことができる。
上記実施例では画像データを書込むためのライトアンプ
は、データ人力バッフ794に組込まれていたが、書込
列セレクタ96とメモリセル群81〜8Mの間、または
データ人力バッファ94と書込列セレクタ96の間に独
立して設けてもよい。
は、データ人力バッフ794に組込まれていたが、書込
列セレクタ96とメモリセル群81〜8Mの間、または
データ人力バッファ94と書込列セレクタ96の間に独
立して設けてもよい。
また上記実施例では画像データを読出すセンスアンプは
、読出列セレクタ100に組込まれていたが、メモリセ
ル群81〜8Mと読出列セレクタ100の間または読出
列セレクタ100とデータ出力バッファ102の間に独
立して設りてもよい。
、読出列セレクタ100に組込まれていたが、メモリセ
ル群81〜8Mと読出列セレクタ100の間または読出
列セレクタ100とデータ出力バッファ102の間に独
立して設りてもよい。
またメモリセルアレイ80を構成する各メモリセルはダ
イナミック型でもスタティック型でもよい。ダイナミッ
クメモリの場合、一定周期でリフレッシュが必要である
。書込周期、読出周期をリフレッシュ周期よりも短かく
なるようにすれば特別のリフレッシュ動作は不要である
。
イナミック型でもスタティック型でもよい。ダイナミッ
クメモリの場合、一定周期でリフレッシュが必要である
。書込周期、読出周期をリフレッシュ周期よりも短かく
なるようにすれば特別のリフレッシュ動作は不要である
。
さらに上記実施例では第5図に示すようにメモリセル群
を順次書込み、読出したが、他の順番でメモリセル群を
書込み、読出しするようにしてもよい。
を順次書込み、読出したが、他の順番でメモリセル群を
書込み、読出しするようにしてもよい。
第4の実施例
本発明の第4の実施例による画像メモリを第12図に示
す。第9図に示す第3の実施例による画像メモリと相違
する点は、列アドレスカウンタ98のR/Wセレクタ9
8GのかわりにR/W/Refセレクタ98dを設けて
いる点である。R/W/Re4セレクタ98dは読出セ
レクト信号、書込セレクト信号とともにリフレッシュセ
レクト信号をも出力し、リフレッシュするメモリセル群
を選択する。R/W/Refセレクタ98dからの読出
セレクタ信号は、読出列セレクタ110に出力され、書
込セレクト信号は書込列セレクタ96に出力される。リ
フレッシュセレクト信号は、読出列セレクタ110とメ
モリセル群81〜8Mの間に設けられたセンスアンプ1
12に出力される。
す。第9図に示す第3の実施例による画像メモリと相違
する点は、列アドレスカウンタ98のR/Wセレクタ9
8GのかわりにR/W/Refセレクタ98dを設けて
いる点である。R/W/Re4セレクタ98dは読出セ
レクト信号、書込セレクト信号とともにリフレッシュセ
レクト信号をも出力し、リフレッシュするメモリセル群
を選択する。R/W/Refセレクタ98dからの読出
セレクタ信号は、読出列セレクタ110に出力され、書
込セレクト信号は書込列セレクタ96に出力される。リ
フレッシュセレクト信号は、読出列セレクタ110とメ
モリセル群81〜8Mの間に設けられたセンスアンプ1
12に出力される。
リフレッシュセレクト信号により選択されたメモリセル
群のメモリセルからセンスアンプ112によりセンスし
て増幅した内容を再びメモリセル群に書込むことにより
、リフレッシュがなされる。
群のメモリセルからセンスアンプ112によりセンスし
て増幅した内容を再びメモリセル群に書込むことにより
、リフレッシュがなされる。
次に第13図を用いて本実施例の動作を説明する。画像
データ1)in、Doutの書込み、読出し動作は第3
の実施例同じであるが、本実施例ではさらに書込み、読
出しと同時にメモリセル群のリフレッシュ動作がなされ
る。すなわち、最初の水平走査期間1日では#1列のメ
モリセル群81に画像データDinが書込まれ、#2列
のメモリセル群82から画像データDoltが読出され
る。同時に、奇数番目のメモリセル群81〜8(M−1
)のうちの#に列のメモリセル群4Kをリフレッシュす
る。次の水平走査期間2Hでは#2列のメモリセル群8
2に画像データD1nが書込まれ、#3列のメモリセル
群から画像データ[)outが読出される。
データ1)in、Doutの書込み、読出し動作は第3
の実施例同じであるが、本実施例ではさらに書込み、読
出しと同時にメモリセル群のリフレッシュ動作がなされ
る。すなわち、最初の水平走査期間1日では#1列のメ
モリセル群81に画像データDinが書込まれ、#2列
のメモリセル群82から画像データDoltが読出され
る。同時に、奇数番目のメモリセル群81〜8(M−1
)のうちの#に列のメモリセル群4Kをリフレッシュす
る。次の水平走査期間2Hでは#2列のメモリセル群8
2に画像データD1nが書込まれ、#3列のメモリセル
群から画像データ[)outが読出される。
同時に偶数番目のメモリセル群82〜8Mのうちの#L
列のメモリセル群4Lをリフレッシュする。
列のメモリセル群4Lをリフレッシュする。
後同様にして第13図に示すように、順次メモリセル群
81〜8Mに画像データDinが書込まれ、同時にメモ
リセル群81〜8Mから画像データ[)outが読出さ
れ、メモリセル群81〜8Mがリフレッシュされる。
81〜8Mに画像データDinが書込まれ、同時にメモ
リセル群81〜8Mから画像データ[)outが読出さ
れ、メモリセル群81〜8Mがリフレッシュされる。
このように本実施例によれば、画像データの書込み、読
出しとともにリフレッシュも同時におこなうことができ
る。特に本実施例のようにリフレッシュするメモリセル
群を選択することにより、書込周期、読出周期が最大の
リフレッシュ周期より長い場合でも、ダイナミックメモ
リの内容が浦滅することはない。
出しとともにリフレッシュも同時におこなうことができ
る。特に本実施例のようにリフレッシュするメモリセル
群を選択することにより、書込周期、読出周期が最大の
リフレッシュ周期より長い場合でも、ダイナミックメモ
リの内容が浦滅することはない。
上記実施例ではメモリセル群のに番目のメモリセル群8
によりリフレッシュを開始したが、書込みをしているメ
モリセル群、読出しをしているメモリセル群以外のメモ
リセル群であれば、いかなるメモリセル群をリフレッシ
ュしてもにい。
によりリフレッシュを開始したが、書込みをしているメ
モリセル群、読出しをしているメモリセル群以外のメモ
リセル群であれば、いかなるメモリセル群をリフレッシ
ュしてもにい。
以上の通り本発明によれば、画像データの読出し、書込
みを同時におこなうので、高速動作が可能である。また
本発明によれば従来のように直列−並列変換回路や並列
−直列変換回路が不要であるので、周辺回路を少なくす
ることができる。また本発明ではメモリセル群の1行の
メモリセル数を変えるだけでビット構成の変更が容易に
おこなえる。
みを同時におこなうので、高速動作が可能である。また
本発明によれば従来のように直列−並列変換回路や並列
−直列変換回路が不要であるので、周辺回路を少なくす
ることができる。また本発明ではメモリセル群の1行の
メモリセル数を変えるだけでビット構成の変更が容易に
おこなえる。
画像メモリであるからランダムアクセス動作が不要であ
り、アドレスデコーダ等の周辺回路が不要となる。また
画像メモリの場合少々のビット落ちは許容しうるので、
ダイナミックメモリではメモリセルの容量を小さくでき
る。したがって高速化、高密度化が可能である。またイ
ンターリーブ回路を用いれば更に高速化が可能どなる。
り、アドレスデコーダ等の周辺回路が不要となる。また
画像メモリの場合少々のビット落ちは許容しうるので、
ダイナミックメモリではメモリセルの容量を小さくでき
る。したがって高速化、高密度化が可能である。またイ
ンターリーブ回路を用いれば更に高速化が可能どなる。
本発明による画像メモリを用いる分野としては、VTR
,デジタルテレビ、テレテキスト、0ATV1テレビ会
議、ファクシミリ、ビデオテックス、パーソナルコンピ
ュータ、ワードプロセッザ、CAD/CAM等種々の分
野がある。
,デジタルテレビ、テレテキスト、0ATV1テレビ会
議、ファクシミリ、ビデオテックス、パーソナルコンピ
ュータ、ワードプロセッザ、CAD/CAM等種々の分
野がある。
第1図は本発明の第1の実施例による画像メモリのブロ
ック図、第2図、第3図は同画像メモリで用いられる行
アドレススキャン回路の具体例を示すブロック図、第4
図、第5図は同画像メモリの動作を示すタイムチャート
および図表、第6図は本発明の第2の実施例による画像
メモリのブロック図、第7図、第8図は同画像メモリの
動作を示すタイムチャートおよび図表、第9図は本発明
は第3の実施例による画像メモリのブロック図、第10
図、第11図は同画像メモリの同画像メモリの動作を示
すタイムチャートおよび図表、 第12図は本発明の第4の実施例による画像メモリのブ
ロック図、第13図は同画像メモリの動作を示す図表、 第14図、第15図は従来の画像メモリのブロック図で
ある。 40・・・メモリセルアレイ、41〜4M・・・メモリ
セル群、50・・・ワードライン、52・・・行アドレ
ススキャン回路、54・・・データ人力バッファ、56
・・・書込列セレクタ、58・・・列アドレスカウンタ
、60・・・クロック制御回路、70・・・続出列セレ
クタ、72・・・センスアンプ、80・・・メモリセル
アレイ、81〜8M・・・メモリセル群、90・・・ワ
ードライン、92・・・行アドレススキャン回路、94
・・・データ人力バッファ、96・・・書込列セレクタ
、98・・・列アドレスカウンタ、100・・・クロッ
ク制御回路、110・・・読出列セレクタ、112・・
・センスアンプ。 出願人代理人 佐 藤 −雄 第3図 U」 0【 区 ○ 銖 区 舐
ック図、第2図、第3図は同画像メモリで用いられる行
アドレススキャン回路の具体例を示すブロック図、第4
図、第5図は同画像メモリの動作を示すタイムチャート
および図表、第6図は本発明の第2の実施例による画像
メモリのブロック図、第7図、第8図は同画像メモリの
動作を示すタイムチャートおよび図表、第9図は本発明
は第3の実施例による画像メモリのブロック図、第10
図、第11図は同画像メモリの同画像メモリの動作を示
すタイムチャートおよび図表、 第12図は本発明の第4の実施例による画像メモリのブ
ロック図、第13図は同画像メモリの動作を示す図表、 第14図、第15図は従来の画像メモリのブロック図で
ある。 40・・・メモリセルアレイ、41〜4M・・・メモリ
セル群、50・・・ワードライン、52・・・行アドレ
ススキャン回路、54・・・データ人力バッファ、56
・・・書込列セレクタ、58・・・列アドレスカウンタ
、60・・・クロック制御回路、70・・・続出列セレ
クタ、72・・・センスアンプ、80・・・メモリセル
アレイ、81〜8M・・・メモリセル群、90・・・ワ
ードライン、92・・・行アドレススキャン回路、94
・・・データ人力バッファ、96・・・書込列セレクタ
、98・・・列アドレスカウンタ、100・・・クロッ
ク制御回路、110・・・読出列セレクタ、112・・
・センスアンプ。 出願人代理人 佐 藤 −雄 第3図 U」 0【 区 ○ 銖 区 舐
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、画像データを書込み、読出す画像メモリにおいて、 複数のメモリセルを有し、所定ビットの画像データを記
憶する複数のメモリセル群と、 これらメモリセル群の対応するメモリセルを接続する共
通のワードラインと、 これら共通のワードラインを用いて前記メモリセル群の
メモリセルをクロック信号に同期して走査する走査手段
と、 前記クロック信号をカウントし、群アドレス信号を出力
する群アドレスカウンタと、 この群アドレスカウンタの群アドレス信号に基づいて、
画像データを書込むメモリセル群を選択する書込群セレ
クタと、 この書込群セレクタにより選択されたメモリセル群の、
前記走査手段により走査されたメモリセルに画像データ
を書込む書込手段と、 前記群アドレスカウンタの群アドレス信号に基づいて、
前記書込群セレクタにより選択されたメモリセル群とは
異なるメモリセル群を選択する読出群セレクタと、 この読出群セレクタにより選択されたメモリセル群の、
前記走査手段により走査されたメモリセルから画像デー
タを読出す読出手段と を備えたことを特徴とする画像メモリ。 2、特許請求の範囲第1項記載の画像メモリにおいて、
前記メモリセルはダイナミックメモリセルであることを
特徴とする画像メモリ。 3、特許請求の範囲第1項記載の画像メモリにおいて、
前記メモリセルはダイナミックメモリセルであり、前記
書込群セレクタにより選択されたメモリセル群および前
記読出群セレクタにより選択されたメモリセル群以外の
メモリセル群の少なくともひとつのメモリセル群をリフ
レッシュするリフレッシュ手段を更に備えたことを特徴
とする画像メモリ。 4、特許請求の範囲第1項記載の画像メモリにおいて、
前記メモリセルはスタティックメモリセルであることを
特徴とする画像メモリ。 5、特許請求の範囲第1項記載の画像メモリにおいて、
前記群アドレスカウンタは入力するクロック信号にシフ
トするシフトレジスタを有することを特徴とする画像メ
モリ。 6、特許請求の範囲第1項記載の画像メモリにおいて、
前記群アドレスカウンタは、前記クロック信号をカウン
トするカウンタと、カウンタのカウント値をデコードす
るデコーダとを有していることを特徴とする画像メモリ
。 7、特許請求の範囲第2項記載の画像メモリにおいて、
前記群アドレスカウンタは入力するクロック信号に同期
してシフトするシフトレジスタを有することを特徴とす
る画像メモリ。 8、特許請求の範囲第2項記載の画像メモリにおいて、
前記群アドレスカウンタは、前記クロック信号をカウン
トするカウンタと、このカウンタのカウント値をデコー
ドするデコーダとを有していることを特徴とする画像メ
モリ。 9、画像データを書込み、読出す画像メモリにおいて、 複数のメモリセルを有し、所定ビットの画像データを記
憶する複数のメモリセル群と、 第1群のメモリセル群の対応するメモリセルを接続する
第1群の共通ワードラインと、 これら第1群のワードラインを用いて前記第1群のメモ
リセル群のメモリセルを第1のクロック信号に同期して
走査する第1の走査手段と、第2群のメモリセル群の対
応するメモリセルを接続する第2群の共通ワードライン
と、 これら第2群ワードラインを用いて前記第2群のメモリ
セル群のメモリセルを第2のクロック信号に同期して走
査する第2の走査手段と、 前記第1のクロック信号および/または前記第2のクロ
ック信号をカウントし、群アドレス信号を出力する群ア
ドレスカウンタと、 この群アドレスカウンタの群アドレス信号に基づいて、
画像データを書込むメモリセル群を選択する書込群セレ
クタと、 この書込群セレクタにより選択されたメモリセル群のメ
モリセルに画像データを書込む書込手段と、 前記群アドレスの群アドレス信号に基づいて、前記書込
群セレクタにより選択されたメモリセル群とは異なる群
に属するメモリセル群を選択する読出群セレクタと、 この読出群セレクタにより選択されたメモリセル群のメ
モリセルから画像データを読出す読出手段と、 書込用クロック信号と読出用クロック信号を入力し、前
記読出群セレクタにより選択された群の走査手段に前記
読出用クロック信号を第1または第2のクロック信号と
して出力し、前記書込群セレクタにより選択された群の
走査手段に前記書込用クロック信号を前記第1または第
2のクロック信号として出力するクロック選択手段と を備えたことを特徴とする画像メモリ。 10、特許請求の範囲第9項記載の画像メモリにおいて
、前記メモリセルはダイナミックメモリセルであること
を特徴とする画像メモリ。 11、特許請求の範囲第9項記載の画像メモリにおいて
、前記メモリセルはダイナミックメモリセルであり、前
記書込群セレクタにより選択されたメモリセル群および
前記読出群セレクタにより選択されたメモリセル群以外
のメモリセル群の少なくともひとつのメモリセル群をリ
フレッシュするリフレッシュ手段を更に備えたことを特
徴とする画像メモリ。 12、特許請求の範囲第9項記載の画像メモリにおいて
、前記メモリセルはスタティックメモリセルであること
を特徴とする画像メモリ。 13、特許請求の範囲第9項記載の画像メモリにおいて
、前記群アドレスカウンタは入力するクロック信号に同
期してシフトするシフトレジスタを有することを特徴と
する画像メモリ。 14、特許請求の範囲第9項記載の画像メモリにおいて
、前記群アドレスカウンタは、前記クロック信号をカウ
ントするカウンタと、このカウンタのカウント値をデコ
ードするデコーダとを有していることを特徴とする画像
メモリ。 15、特許請求の範囲第10項記載の画像メモリにおい
て、前記群アドレスカウンタは入力するクロック信号に
同期してシフトするシフトレジスタを有することを特徴
とする画像メモリ。 16、特許請求の範囲第10項記載の画像メモリにおい
て、前記群アドレスカウンタは、前記クロック信号をカ
ウントするカウンタと、このカウンタのカウント値をデ
コードするデコーダとを有していることを特徴とする画
像メモリ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60151976A JPS6211977A (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | 画像メモリ |
| US06/883,733 US4847809A (en) | 1985-07-10 | 1986-07-09 | Image memory having standard dynamic RAM chips |
| EP86109464A EP0208325B1 (en) | 1985-07-10 | 1986-07-10 | Image memory |
| DE86109464T DE3689011T2 (de) | 1985-07-10 | 1986-07-10 | Bildspeicher. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60151976A JPS6211977A (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | 画像メモリ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6211977A true JPS6211977A (ja) | 1987-01-20 |
| JPH0512755B2 JPH0512755B2 (ja) | 1993-02-18 |
Family
ID=15530338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60151976A Granted JPS6211977A (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | 画像メモリ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4847809A (ja) |
| EP (1) | EP0208325B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6211977A (ja) |
| DE (1) | DE3689011T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02276091A (ja) * | 1989-04-18 | 1990-11-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像信号記憶装置 |
| JP2001249642A (ja) * | 2000-03-02 | 2001-09-14 | Kyocera Corp | ビデオ信号処理回路および画像表示装置 |
Families Citing this family (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0612609B2 (ja) * | 1987-03-27 | 1994-02-16 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ |
| US4899307A (en) * | 1987-04-10 | 1990-02-06 | Tandem Computers Incorporated | Stack with unary encoded stack pointer |
| US4918645A (en) * | 1987-09-17 | 1990-04-17 | Wang Laboratories, Inc. | Computer bus having page mode memory access |
| EP0321847B1 (en) * | 1987-12-21 | 1994-06-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory capable of improving data rewrite speed |
| JPH0736162B2 (ja) * | 1988-04-18 | 1995-04-19 | 株式会社日立製作所 | 図形処理装置 |
| USRE39529E1 (en) * | 1988-04-18 | 2007-03-27 | Renesas Technology Corp. | Graphic processing apparatus utilizing improved data transfer to reduce memory size |
| JPH0261893A (ja) * | 1988-08-25 | 1990-03-01 | Toshiba Corp | ダイナミック型半導体メモリ |
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| JPH03128574A (ja) * | 1989-02-16 | 1991-05-31 | Ricoh Co Ltd | 疑似中間調処理装置 |
| JP3103575B2 (ja) * | 1989-05-26 | 2000-10-30 | 松下電器産業株式会社 | 半導体記憶装置 |
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