JPS621205B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は被測定体に加わる応力の分布を容易に
測定することのできる方法及び装置に関する。

各種の機械や構造物の各部分に生ずる応力の大
きさを測定することは、機械や構造物を設計する
際に各部分の形状、使用材料の寸法、材質等を選
択して安全で、しかも経済的な設計を可能にする
ために極めて重要である。従つて応力分布を測定
するために種々の方法が発達してきている。従来
の主な方法としては、例えば被測定体に抵抗線等
を接着し、該抵抗線の抵抗値の変化から被測定体
に生ずる歪を検出して応力を測定しようとするも
のや、光学的測定が容易な透明な樹脂によつて、
実物に近い模型を作り、この模型に実際に荷重を
印加し応力分布を測定する等の方法がある。しか
しながら、前者の方法は抵抗線を被測定体に接着
する作業に専門的技能を必要とするばかりでなく
面倒でもある。従つて被測定体の多数箇所に抵抗
線を接着して応力分布を測定しようとするには、
相当の労力と設備を必要とする。又、後者の方法
は被測定体に近い模型を作らねばならず、簡単に
応力の分布を測定することはできない。

本発明はこのような従来の応力測定方法の欠点
を解決し、時間的に変化する荷重が印加される被
測定体の応力の分布を非接触で迅速且つ簡単に測
定することのできる新規な方法及び装置を提供す
るもので、以下図面を用いて本発明を詳述する。

被検試料に繰返し圧縮荷重及び引張り荷重を印
加した時の該被検試料表面の温度を測定したとこ
ろ、本発明者は応力の集中する部位では表面温度
が単に上昇するのではなく、荷重印加に同期して
周囲温度よりも上昇する期間と周囲よりも下降す
る期間とが交互に繰返されることを見出した。即
ち第１図ａに示様な正弦波形の荷重を試料に印加
したところ、該試料の応力集中部位の表面温度は
同図ｂに示す様に荷重印加に同期した正弦波形で
周囲温度よりも高温になる期間と周囲温度より低
温になる期間とが交互に繰返される結果となつて
いる。

これは圧縮力が加えられている期間応力集中部
位で発熱作用が現われ、引張り力が加えられてい
る期間は吸熱作用が現われ、この発熱及び吸熱が
比較的短い周期で繰返されるため、周囲への熱の
拡散或いは周囲からの熱の流入が断たれた断熱状
態で上記応力集中部位の表面温度が変化するもの
である。このことは例えば第１図ｃに示す様に圧
縮力のみを矩形波形で印加すると同図ｄの様にそ
れに同期した矩形波形の温度上昇のみが発生し、
同図ｅの様に引張り力のみを印加すると同図ｆの
様に温度低下のみが発生することからも確認され
た。そして諸条件を種々変えて実験を繰返し検討
を重ねた結果、温度変化量と応力変化（正確には
応力による変位量）との間には比例関係があるこ
とが判明した。

第２図ａ，ｂは実験で求めた荷重―温度変化及
び周囲温度―温度変化の関係図を示している。こ
の様な関係から、被測定体に繰返し荷重を印加
し、その時の特定点の表面温度の変化幅を検出す
れば、該特定点にかかつている応力を知ることが
できる。この方法で１点における応力値を知るこ
とができ、測定点を徐々に移動させて異なつた位
置の多数の点の応力値を求めれば応力分布を知る
ことができるのであるが、その様に１点ずつ測定
したのでは１点測定するのに少なくとも１回の荷
重変化を与えなければならず、例えばある領域中
の水平方向200点・垂直方向200点で合計40000点
の測定をするのに、荷重変化周期が33ミリ秒（周
波数30Hz）として200点の水平走査に6.6秒、１画
面（フレーム）走査に合計1320秒の時間を要する
ことになる。

所要時間は従来の抵抗線を取付ける方法に比べ
ればはるかに短いが、十分満足できるものとは言
えない。

ところで、第１図ａの様な繰返し荷重が印加さ
れているうちの圧縮荷重の半周期には、被測定体
の表面の測定点以外の各点も、測定点と同様、各
点における応力値に応じた温度上昇（周囲温度か
らの）を示し、引張り荷重の半周期には各点にお
ける応力値に応じた温度低下（周囲温度からの）
を示している。従つて、上述のように１点１点の
応力値を測定し、その測定点を徐々に移動させる
方法では、１点１点を測定している間に同時に変
化している測定点以外の情報を捨てていることに
なり、情報の利用効率は極めて悪い。そのため測
定に長時間かかることは避けられない。

そこで、圧縮荷重が印加されている期間に被測
定体を放射温度計で水平走査し、この水平走査に
より走査線に沿つた例えば200点の温度データ
（高温値）を１度に取得して一旦記憶し、次に引
張り荷重が印加されている期間に同じ位置を放射
温度計で水平走査し、この２度目の水平走査によ
り同一走査線に沿つた同じ200点の温度データ
（低温値）を１度に取得し、このようにして得ら
れた圧縮荷重時（温度上昇時）の温度データと引
張り荷重時（温度低下時）の温度データの差を求
めれば、その走査線に沿つた200点の圧縮荷重時
と引張り荷重時の温度差即ち応力に応じたデータ
が得られることになる。このようにすれば、荷重
印加の１周期の間に200点の応力データがまとめ
て得られたことになり、測定時間を桁違いに短縮
することができる。

このような考え方に基づく本発明の最も基本的
な実施例を、以下、図面に基づき詳述する。

第３図はこのような実施例の概略図であり、図
中１は加振器であり、該加振器１は図示していな
いが、モータ等によつて駆動される油圧機構等に
よつて周期的に往復運動されるピストン２，３と
被測定体を固定する機構５，６を有している。被
測定体４には該加振器１によつて例えば第４図ａ
に示す如き荷重が印加される。但し同図において
０レベルより大きな部分は圧縮荷重を表わしてお
り、０レベルよりも小さな部分は引張り荷重を表
わしている。７は同期信号作成回路であり、該同
期信号作成回路７には例えば加振器１のピストン
の動きや、モータの回転を検出することによつて
得られる信号、或るいは被測定体に接着されたス
トレイゲージ等よりの信号が供給されており、該
回路７はこのような信号に基づいて例えば被測定
体に印加される荷重がピークになる瞬間に同期し
た第４図ｂに示す如き小時間幅ｔを有する同期パ
ルスを発生する回路である。該同期信号作成回路
７よりの同期パルスは光学的走査機構８に供給さ
れる。該光学的走査機構８は走査ミラーと、その
駆動源とを主な構成要素とし、第４図ｂに示した
小時間幅を有する同期信号に基づいてミラーを揺
振し、赤外線検出器９の像を被測定体４の例えば
ラインＨ上を第４図ｃに示す如く走査する。但し
第４図ｃにおいて縦軸はラインＨ上の走査開始点
からの距離を表わしており、横軸は時間を表わし
ている。該赤外線検出器９よりの出力信号は、増
幅器１０を介してリニアリテイー補正回路１１に
供給される。該リニアリテイー補正回路により赤
外線検出器９の信号は被測定体の検出点の温度に
比例した信号に補正される。該リニアリテイー補
正回路１１は直接引算回路１５の一方の入力端に
接続されると共にＡ／Ｄ変換器１２、メモリー１
３、Ｄ／Ａ変換換器１４を介して引算回路１５の
他方の入力端に接続される。該引算回路１５の出
力信号は陰極線管１６の垂直偏向コイル１７Ｙに
供給される。１８はコントローラであり、該コン
トローラ１８には同期信号作成回路７より第４図
ｂに示す如き同期信号が供給されており、該コン
トローラ１８は供給される同期信号に基づいてメ
モリー１３を制御すると共に、走査信号作成回路
１９に第４図ｄに示す如き第４図ｂに示したパル
ス信号のパルスを１つおきに除いた如き同期信号
を供給する。その結果、走査信号作成回路１９は
該信号の供給に同期して第４図ｅに示す如き走査
信号を発生し、陰極線管１６の水平偏向コイル１
７Ｘに供給する。

このような構成において、被測定体４に加振器
１より第４図ａに示すような荷重を印加したとす
ると、同期信号作成回路７よりの同期信号により
光学的走査機構８は第４図に示すように赤外線検
出器９の像を被測定体４のラインＨ上を走査す
る。その結果、該ラインＨ上の各点より放射され
る赤外線は光学的走査機構８を介して順次赤外線
検出器９に導かれる。該走査は被測定体４に最も
大きな圧縮荷重が印加されている第４図ｂにおい
てＡで示す期間と、最も大きな引張荷重が印加さ
れている第４図ｂにおいてＢで示す期間において
交互に重複して行なわれ、該期間Ａにおける走査
によつて第５図ａに示す如き温度信号が、又期間
Ｂにおける走査によつて第５図ｂに示す如き温度
信号が該検出器９より得られる。コントローラ１
８は第４図ｂに示した同期信号の供給に基づいて
第４図ｆに示す如き書き込み指令信号と第４図ｇ
に示す如き読み出し指令信号をメモリー１３に供
給する。その結果、期間Ａにおける走査によつて
得られた第５図ａに示した信号はリニアリテイー
補正回路１１Ａ／Ｄ変換器１２を介してメモリー
１３に記憶される。期間Ｂにおける走査に伴つて
第５図ｂに示した信号がリニアリテイー補正回路
１１を介して引算回路１５に供給されると、該供
給に同期してメモリー１３に記憶されていた第５
図ａに示した信号が該メモリー１３より読み出さ
れてＤ／Ａ変換器１４を介して引算回路１５に供
給される。従つて該引算回路より第５図ｃに示す
如き、両信号に引算を施こした信号が出力され、
陰極線管１６の垂直偏向コイル１７Ｙに供給され
る。この時該信号の供給に同期して陰極線管１６
の水平偏向コイル１７Ｙには走査信号作成回路１
９より第４図ｅに示す如き走査信号が供給されて
いるため、該陰極線管１６には、第６図に示すよ
うに被測定体４のラインＨに沿う応力分布波形が
表示される。

被測定体に例えばまげ応力が加わつた場合には
被測定体の一方の側では圧縮応力が加わり、他方
の側では引張り応力が加わる場合があるが、圧縮
応力が加わつた部分及び引張り応力が加わつた部
分はこの表示波形で各々０レベルより上の波形及
び下の波形で表わされる。従つてこの波形を観察
することにより被測定体４に加わつた応力の分布
をその種類をも含めて、正確に知ることができ
る。

上述した実施例では被測定体４のラインＨを期
間Ａ及びＢにおいて１回ずつ走査した際に得られ
た信号の差信号を陰極線管に導いて被測定体４の
ラインＨに沿う応力分布を表示するようにした
が、応力分布測定の精度を上げるために以下のよ
うに期間Ａ及びＢにおいて複数回ラインＨを走査
した信号に基づいて応力分布を表示することもで
きる。

第７図はこのような実施例を説明するためのも
ので、同図において第３図と同一の構成要素に対
しては同一番号が付されている。第７図において
１２ａ，１２ｂはＡ／Ｄ変換器であり、これら
Ａ／Ｄ変換器よりの出力信号は各々第１、第２の
加算回路２１ａ，２１ｂを介して各々第１、第２
のメモリー１３ａ，１３ｂに供給される。第１、
第２のメモリー１３ａ，１３ｂの出力信号は各々
Ｄ／Ａ変換器１４ａ，１４ｂを介して引算回路１
５に供給されていると共に、前記加算回路２１
ａ，２１ｂに供給される。２０はコントローラで
あり、該コントローラは第４図ｆ及びｈに示す如
き書き込み及び読み出し指令信号を第１のメモリ
ー１３ａに供給すると共に、各々第４図ｉ及びｇ
に示す如き書き込み及び読み出し指令信号を第２
のメモリー１３ｂに供給する。このような信号の
供給のもとで、被測定体４のラインＨを周期的に
走査すれば、該走査により期間Ａにおける走査に
より検出された最初の信号はメモリー１３ａに記
憶されるが、期間Ａにおける２番目の走査により
検出された信号はメモリー１３ａから読み出され
た信号と共に加算回路２１ａにおいて加算された
後メモリー１３ａへ記憶される。従つてメモリー
１３ａにはラインＨ上を例えば2n回走査するも
のとすると、ラインＨを期間Ａにおいてｎ回走査
することによつて得られたｎ個の信号を積算した
信号が記憶される。全く同様にメモリー１３ｂに
はラインＨを期間Ｂにおいてｎ回走査することに
よつて得られたｎ個の信号を積算した信号が記憶
される。これらメモリー１３ａ，１３ｂに所定回
数の走査に基づくこのような積算された信号が記
憶されると、コントローラ２０より両メモリー１
３ａ，１３ｂに同一の周期的な読み出し指令信号
が供給されると共に、該読み出し指令信号の供給
に同期して走査信号作成回路１９に信号を送り、
該回路１９より前記読み出しに同期した周期的な
走査信号を陰極線管１６の水平偏向コイル１７Ｘ
に供給する。その結果、該陰極線管１６には引算
回路１５にメモリー１３ａの積算値信号からメモ
リー１３ｂの積算値信号を差し引いた信号が前記
走査信号に同期して周期的に供給され、該陰極線
管１６には、該信号に基づいてＳ／Ｎ比が√倍
に改善されたラインＨの応力分布波形が表示され
る。

上述した実施例においては、Ｓ／Ｎ比改善のた
めのラインＨの走査を被測定体４に印加された荷
重が最大になる期間のみ行うようにしたが、１回
の水平走査をより速く行うことにより、荷重が最
大でない期間においても走査を行つて、この期間
の検出信号を積算しても良い。

第８図はこのような実施例を説明するためのタ
イムチヤームであり、被測定体４に印加される荷
重が第８図ａに示す如きものである場合、同期信
号作成回路７より第８図ｂに示す如き同期信号を
供給する。その結果光学的走査機構８は該同期信
号に基づいて第８図ｃのように圧縮荷重及び引張
荷重が印加される半サイクルの間に各々例えば15
回ずつ走査を行う。該各走査は被測定体に印加さ
れる荷重が殆んど変化しないような短い期間に行
なわれる。このような走査と同期して、第７図に
示すようなコントローラ２０より第８図ｄに示す
ようなタイミングにおいて書き込み指令信号と読
み出し指令信号を第１のメモリー１３ａに供給
し、又第８図ｅに示すようなタイミングにおいて
書き込み指令信号と読み出し指令信号を第２のメ
モリー１３ｂに供給し、被測定体に圧縮荷重が印
加された期間の走査によつて得られた検出信号を
メモリー１３ａにおいて積算し、被測定体に引張
り荷重が印加された期間の走査によつて得られた
検出信号をメモリー１３ｂにおいて積算する。被
測定体のラインＨを例えば周期的荷重のｍ周期に
わたつて走査すれば、これらメモリー１３ａ，１
３ｂには各ラインＨを15m回づつ走査した際の検
出信号が積算される。そこでコントローラ２０よ
りこれらメモリー１３ａ，１３ｂに同一の周期的
な読み出し信号を供給すると共に該周期的な読み
出し指令信号の供給に同期して走査信号作成回路
１９に信号を送り、該回路１９より陰極線管１６
に該読み出し指令信号の供給に同期した走査信号
を供給する。その結果陰極線管１６には第１のメ
モリー１３ａの積算値から第２のメモリー１３ｂ
の積算値を引算した信号に基づく被測定体４のラ
インＨの応力分布波形が表示される。

尚、この実施例においては引算回路１５に供給
される信号は第８図ｃにおけるＰ７で示すような
最大の圧縮荷重が印加された期間における走査に
よつて検出される第５図ａに示す如き温度信号
と、第８図ｃにおけるＰ４で示すような荷重が最
大でない期間における走査によつて検出された第
５図ｄに示す如き検出信号とを積算した信号であ
る。ところで、走査ライン上の各点に生じた応力
の最大値を求めるためには、第８図ｃにおいてＰ
７で示すような圧縮荷重が最大になつた時の走査
によつて得られた温度検出信号と、第８図ｃにお
いてｒ７で示すような引張り荷重が最大になつた
時の走査によつて得られる温度検出信号との差信
号を求めることが必要であるが、上述した理由に
よりこの差信号は引算回路１５の出力信号を単に
積分回数15mで割つても導出されず一般的には以
下のように求めれば良い。即ち、第８図ｃにおい
てＰ１からＰ１５までの走査が行なわれた際の各
走査における圧縮荷重の平均値とＰ７の走査の最
大の圧縮荷重値との比を求めて、メモリー１３ａ
に記憶されている積算信号をこの比によつて割る
と共に、更にｒ１からｒ１５までの走査が行なわ
れた際の圧縮荷重の平均値とｒ７の走査の際の最
大の引張り荷重値との比を求めて、メモリー１３
ｂに記憶されている積算信号をこの比によつて割
り、このようにして割算を施こされた２通りの信
号の差信号を積分回数15mで割れば求める温度差
信号が得られる。尚第８図に示した実施例におい
ては印加荷重は正弦波形であり、走査タイミング
は該波形に対して一様に分布し且つ充分密である
ため、前記比はいずれも略々２／πとなる。従つて引 算回路１５の出力信号にπ／２・（１／１５ｍ）を掛け
た信 号が求める信号となる。

上述した実施例においては、被測定体４のライ
ンＨを一次元的に走査して、該ラインＨの応力分
布を測定するようにしたが、走査ラインを該ライ
ンとは垂直に順次シフトして被測定体４の二次元
的な応力分布を表示することもできる。

第９図はこのような実施例を説明するためのも
ので、第３図と同一の構成要素に対して同一番号
が付されている。この実施例においては、被測定
体４には第１０図ａに示すような矩形状に変化す
る圧縮荷重及び引張り荷重が印加されるものと
し、同期信号作成回路２１は加振器１より信号を
取り出して第１０図ｂに示すような同期信号を光
学的走査機構２２に供給する。光学的走査機構２
２はこの実施例ではラインＨを走査するための水
平方向に走査可能であると共に、この方向と直角
をなす垂直走査方向にも走査可能である。光学的
走査機構２２は同期信号作成回路２１よりの同期
信号により、赤外線検出器９の像を被測定体４に
おいて第１０図ｃに示すように水平方向に走査す
る。該同期信号はコントローラ２６にも供給され
ており、該コントローラ２６は該同期信号に基づ
いて記憶演算装置２４を制御すると共に、走査信
号作成回路２７及び光学的走査機構２２を制御す
る。即ちコントローラ２６は前記同期信号の供給
に基づいて光学的走査機構２２に第１０図ｄに示
す如き同期信号を送り、光学的走査機構２２を第
１０図ｅに示すようにステツプ状に垂直走査せし
める。従つて光学的走査機構２２によつて被測定
体４の同一水平走査線は６回ずつ水平走査された
後、１ステツプずつ垂直走査される。このような
走査によつて検出器９より得られる信号はＡ／Ｄ
変換器２３を介して記憶演算装置２４に供給され
るが、該記憶演算装置２４にはコントローラ２６
の制御信号が供給されているため、被測定体４の
第１の水平走査線を走査して得られた信号のう
ち、被測定体に圧縮荷重が印加されている期間に
おける最初の３回の水平走査によつて得られた検
出信号の積算信号と、引き続く被測定体に引張荷
重が印加されている期間における３回の走査によ
つて得られた検出信号の積算信号との差信号を積
算回数３で除した信号が記憶演算装置２４の第１
の走査に対応した一連の記憶番地に記憶される。
全く同様に第２、第３の水平走査線を走査した際
の最初の３回の走査によつて得られた信号の積算
信号と、引き続く３回の走査によつて得られた信
号の積算信号との差信号を３で除した信号が記憶
演算装置２４の第２，第３の走査線に対応した一
連の記憶番地に記憶される。このようにして被測
定体４の一定範囲の水平及び垂直走査が終了すれ
ば、記憶演算装置２４には、上述した如き被測定
体４の各水平走査線に対応した画像信号が記憶さ
れる。

そこで、コントローラ２６より記憶演算装置２
４に読み出し指令信号を供給して各水平走査ライ
ンに対応して記憶されていた画像信号を繰り返し
読み出すと共に該読み出しに同期した信号を走査
信号作成回路２７に供給する。該走査信号作成回
路２７においては、該信号の供給により、画像信
号の読み出しに同期した周期的な水平及び垂直走
査信号を作成し、陰極線管１６の水平及び垂直偏
向コイル１７Ｘ，１７Ｙに供給する。その結果、
記憶演算装置２４よりの画像信号はＤ／Ａ変換器
２５を介して陰極線管１６のグリツドＧに供給さ
れ陰極線管１６の画面上には第１１図に示すよう
な被測定体４の２次元的な応力分布が、輝度変調
信号として表示される。

尚この実施例では陰極線管１６に被測定体４の
二次元的な応力分布を輝度変調表示したが、被測
定体の一水平ラインに対応した画像信号を記憶演
算装置２４より読み出す毎に陰極線管１６の垂直
偏向コイル１７Ｙに供給することにより、陰極線
管１６に被測定体の二次元的な応力分布を振幅変
調表示で表示することもできる。

尚、上述した一連の実施例では応力を表わす信
号をデジタル信号に変換して記憶したが、スキヤ
ンコンバータや写真等のアナログ的な画像記憶手
段を用いても良い。

又荷重の方向も第１図ｃ又はｄのように、圧縮
方向又は引張方向のみ印加するようにしても良い
し一定荷重に変動分が重畳された様なものでも良
い。

更に又、作動中の機械の一部のように加振器に
よつて繰り返し荷重を印加しなくとも、繰り返し
荷重が印加されているような被測定体に対しても
全く同様に本発明は適用できる。

更に又、上述した実施例においては被測定体に
繰り返し荷重が印加されるような場合の実施例に
ついて述べたが、被測定体に印加される荷重が速
い速度で変化するだけで、繰り返し変化しない場
合にも、被測定体の同一ラインを異つた荷重が印
加されている短時間に少くとも１回ずつ走査し、
該走査に基づく２通りの検出信号の差信号を得る
ことにより被測定体の応力分布を測定することが
できる。更には上記表示装置に代えて記録計を用
いても全く同様な結果が得られる。

上述したように本発明により被測定体の一次元
又は二次元的な応力分布を非接触にて、迅速且つ
簡単に測定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を説明するための波形
図、第２図は荷重と温度変化との関係及び周囲温
度と温度変化との関係を示すための図、第３図は
本発明を実施するための装置の一例を示す概略
図、第４図は印加される荷重と光学的走査機構に
よる走査タイミング及びメモリーへの信号の書き
込み読み出しタイミング等の関連を説明するため
の図、第５図は検出された温度波形を例示するた
めの図、第６図は陰極線管上の表示波形を例示す
るための図、第７図は本発明を実施するための装
置の他の例を示すための図、第８図は本発明の更
に他の実施例を設明するための図、第９図は本発
明を実施するための装置の更に他の例を示すため
の図、第１０図は印加荷重と走査タイミソグ等の
関係を示すための図、第１１図は陰極線管の二次
元的な応力分布像を例示するための図である。 １：加振器、２，３：ピストン、４：被測定
体、５，６：固定機構、７：同期信号作成回路、
８：光学的走査機構、９：赤外線検出器、１０：
増幅器、１１：リニアリテイー補正回路、１２，
１２ａ，１２ｂ，２３：Ａ／Ｄ変換器、１３，１
３ａ，１３ｂ：メモリー、１４，１４ａ，１４
ｂ，２５：Ｄ／Ａ変換器、１５：引算回路、１
６：陰極線管、１７Ｘ，１７Ｙ：偏向コイル、１
８，２０，２６：コントローラ、１９，２７：走
査信号作成回路、２４：記憶演算装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被測定体に時間的に変化する荷重を印加し、
   この荷重印加に同期関係をもつて被測定体を前記
   荷重変化が実質的に無視できる速度で水平走査し
   走査各点よりの放射赤外線を検出することによ
   り、大別して二つに区分けされる相異なる荷重印
   加時の一方において被測定体の所望とする線上の
   温度分布を表わす第１の信号を取得して記憶し、
   前記相異なる荷重印加時の他方において前記線と
   略々同一線上の温度分布を表わす第２の信号を取
   得し、該第１及び第２の信号の差信号を求め、該
   差信号を表示又は記録することを特徴とする応力
   分布測定方法。 ２ 前記時間的に変化する荷重は繰返し変化する
   荷重であることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項記載の応力分布測定方法。 ３ 前記被測定体の走査される線を順次該線に略
   垂直に移動させて異つた線について走査し、該異
   つた線の各々に対応して得られた前記差信号を表
   示装置に導き被測定体の２次元的な応力分布を測
   定するようにした特許請求の範囲第１項又は第２
   項記載の応力分布測定方法。 ４ 前記差信号は輝度変調信号として前記表示装
   置に供給されることを特徴とする特許請求の範囲
   第３項記載の応力分布測定方法。 ５ 前記差信号は振幅変調信号として前記表示装
   置に供給されることを特徴とする特許請求の範囲
   第１項又は第３項記載の応力分布測定方法。 ６ 前記大別して二つに区分けされる相異なる荷
   重印加時の少なくとも一方において前記線上を複
   数回走査し、前記差信号を実質的に該複数回走査
   することによつて得られた検出信号を積算した信
   号を用いて求めるようにしたことを特徴とする特
   許請求の範囲第１項又は第３項記載の応力分布測
   定方法。 ７ 前記複数回の各走査が行なわれる期間は被測
   定体に対して同一の荷重が印加されており、且つ
   該荷重が最大荷重又は最小荷重であることを特徴
   とする特許請求の範囲第６項記載の応力分布測定
   方法。 ８ 前記複数の各走査が行なわれる期間は被測定
   体に対して変化している荷重が印加されているこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第６項記載の応力
   分布測定方法。 ９ 前記荷重は圧縮荷重及び若しくは引張り荷重
   であることを特徴とする特許請求の範囲第１項乃
   至第８項のいずれかに記載の応力分布測定方法。 １０ 前記荷重は一定荷重に変動分を重畳した荷
   重であることを特徴とする特許請求の範囲第１項
   乃至第８項のいずれかに記載の応力分布測定方
   法。 １１ 被測定体に周期的に変化する荷重を印加す
   るための荷重印加手段と、該被測定体に印加され
   る荷重の変化に同期した信号を得る回路と、被測
   定体を水平及び垂直走査することにより、被測定
   体の走査各点よりの放射赤外線を検出して温度値
   に対応した信号を得る赤外線撮像手段と、前記回
   路よりの信号に基づいて異つた２通りの荷重が印
   加されるタイミングに前記赤外線撮像手段により
   被測定体の一直線上を少くとも１回ずつ水平走査
   させると共に該被測定体の走査線を順次シフトし
   て垂直走査させるための制御手段と、該走査によ
   つて被測定体の各水平走査線毎に赤外線撮像手段
   より得られた２通りの検出信号のうちの一方の信
   号を記憶するための記憶手段と、該記憶手段に記
   憶された一方の検出信号と他方の検出信号との差
   信号を求めるための引算手段と、該各水平走査線
   毎に求められた差信号を表示又は記録するための
   手段とより成る応力分布測定装置。