JPS62127465A - スパツタ装置 - Google Patents

スパツタ装置

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Publication number
JPS62127465A
JPS62127465A JP26768185A JP26768185A JPS62127465A JP S62127465 A JPS62127465 A JP S62127465A JP 26768185 A JP26768185 A JP 26768185A JP 26768185 A JP26768185 A JP 26768185A JP S62127465 A JPS62127465 A JP S62127465A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
magnets
target
magnet
auxiliary
Prior art date
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Pending
Application number
JP26768185A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Sudo
淳 須藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP26768185A priority Critical patent/JPS62127465A/ja
Publication of JPS62127465A publication Critical patent/JPS62127465A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔(既要〕 スパッタ装置において、プラズマ閉じ込め磁石と略同様
な磁石を対向設置することにより、プラズマ閉じ込め磁
石の磁力線が被加工物たる基板をよぎらないようにする
ことによって、磁力線に沿ってスパイラル運動しながら
基板に突入し基板温度を上げる電子をなくする。
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体基板等にAI被被膜の被着を行うマグネ
トロン型スパッタ装置の構造に関する。
スパッタ装置は低圧気体放電を利用して薄膜を形成する
ものであるが、近時マグネトロン型のものを使用するよ
うになって膜成長速度が上がり広く実用化されている。
マグネトロン型スパッタ装置はターゲットの形状からプ
レーナマグネトロン型、リングマグネトロン型、同軸マ
グネトロン型と分類されている。
いづれの形式のマグネトロン型スパッタ装置も、真空容
器内に計等のガスを導入してDCまたはRF等でグロー
放電させて、ガスをプラズマ化し、カソードのターゲッ
ト材料をスパッタしてターゲットに対置した基板上に堆
積する際、ターゲ7)の裏面に装着された永久磁石によ
る磁界でプラズマ中の電子を閉じ込めArイオンの発生
を増進し、プラズマ密度を上げスパッタ効率を向上する
ものである。
そのためスパッタされたターゲット材料は対向配置され
た基板に効率よく到達し、高速で被膜が形成される。
しかし、基板の一方向にのみプラズマ閉じ込め磁石をも
った形式のマグネトロン型スパッタ装置では、基板と同
電位のアノードを設けたり基板とターゲット距離を変化
させても、基板を貫く磁力線を完全に零には出来ない。
このためその貫入磁力線に巻きついてスパイラル状に飛
来する電子が基板に衝突し、基板の温度上昇を起こし堆
積膜の膜質が局部的に麹化する。温度差異はAI被被膜
場合はグレインサイズ差異となり、膜の光沢の変化とな
って現れる。グレインサイズ変化はエツチング、マイグ
レーションに好ましくないので改善が望まれている。
〔従来の技術〕
第2図は従来例によるプレーナマグネトロン型スパッタ
装置を模式的に示す断面図である。
図において、lは平面状のAIのターゲットで負電圧を
印加する。このターゲット1の裏面に接して永久磁石で
出来たプラズマ閉じ込め磁石2a、2bの磁極がある。
プラズマ閉じ込め磁石2aは円柱状磁石のN極、プラズ
マ閉じ込め磁石2bは中空円筒状のS極となっている。
ターゲット1の上方の、このターゲット1に対向した位
置に半導体基板3を置き接地する。
ターゲット1の表面上方にはプラズマ閉じ込め磁石2a
、2bによる磁界を生じ、その磁力線がN極よりS極に
向かう。4aは基板3にあたることなくN極よりS極に
向かう磁力線、4bは基板3をよぎる貫入磁力線である
殆ど大部分の電子は放射状に閉じた磁力線4aによりタ
ーゲット1近傍に閉じ込められ、トロイダル運動をしな
からArイオンの発生を増進する。
計イオンが高い電流密度で衝撃するのでスパッタによる
基板3におけるAI膜の生成速度は高速化される。また
プラズマをターゲット1の近傍の局所的空間に閉じ込め
ているので基板3の温度上昇も非常に少ない。
しかしながら、貫入磁力&i4bの如く基板3に貫入す
る磁力線があり、ターゲット1から基板3を離すと貫入
磁力線4bの数は減少するが完全に零となることはない
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のマグネトロン型スパッタ装置に於ては、基板を横
切る磁力線があり、これの影響下に入った電子はスパイ
ラル運動をしながら基板に衝突し基板の温度を局所的に
上げる。局所的温度上昇は被着Al膜の膜質むら(主と
してグレインサイズのむら)となり、これがひいてはエ
ツチングや、マイグレーションに悪い結果を招く要因と
なっている。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点の解決は、ターゲット表面近傍に閉磁界を形
成する磁石を備えたスパッタ装置において、前記磁石の
形成する磁力線分布と同じような磁力線分布を形成する
補助磁石を前記磁石の対向位置に設置し、且つターゲッ
ト材料を被着する基板はターゲットと補助磁石の中間領
域の磁気的中立面またはそれより補助磁石寄りに設置す
ることが出来るようにした本発明によるスパッタ装置に
より達成される。
〔作用〕
本発明はプラズマ閉じ込め磁石と同様な磁力線分布を持
つ補助磁石を向い合わせに対置し、プラズマ閉じ込め磁
石からの磁力線のターゲット上方への伸びを限定し、こ
のプラズマ閉じ込め磁石による磁界外に基板を置くこと
により、プラズマ閉じ込め磁石による磁力線で基板に貫
入するものを皆無とするものである。斯くすることによ
り、磁力線に巻きついて飛来する電子を完全になくし基
板の局所的温度上昇をなくする。
〔実施例〕
第1図は本発明による補助磁石付プレーナマグネトロン
型スパッタ装置を模式的に示す断面図である。
図において、第2図と同じ名称のものは同じ記号で示す
図において、1は平面状のAIのターゲットで、負電圧
を印加する。
このターゲット1の裏面に接して永久磁石で出来たプラ
ズマ閉じ込め磁石2a、2bの磁極をもつ。プラズマ閉
じ込め磁石2aは円柱状磁石のN極、プラズマ閉じ込め
磁石2bは中空円筒状のS極となっている。
プラズマ閉じ込め磁石2a、2bと同じ構造の補助磁石
5a、5bを、プラズマ閉じ込め磁石2a、2bと向い
合わせに設置する。この補助磁石5a、5b下面にはタ
ーゲット1と同じ形状のAIの補助板6を設け、これに
は電位はかけない。
かくするときはプラズマ閉じ込め磁石2a、2bが形成
する磁力線分布と同じものを補助磁石5a、5bによっ
て鏡像的に上方に、磁力線8aとして示す如く形成する
ことが出来る。 しかるときは両磁石の中間高さに磁界
のない磁気的中立面7を形成することが出来る。 基板
3はこの磁気的中立面7又はそれよりやや補助磁石5a
、5b寄りに設置し、かつ接地する。 このようにする
ときは、下のプラズマ閉じ込め磁石2a、2bにより形
成される磁力線で基板3を貫くものは全くなく、従って
貫入磁力線の作用で基板3に衝突する電子もなくなり、
基板3の温度も局所的に上がることがなくなる。
ターゲットはAIとして説明したが、A1合金、高融点
金属またはそのシリサイドであってもよい。
この補助磁石5a、5bと補助板6の位置は真空系内外
いづれであってもよい。
又、補助磁石5a、5bはプラズマ閉じ込め磁石2a、
2bと大略同じ磁力線分布形状を形成するものであれば
、若干強度が異なってもよい。
又、磁気的中立面はプレーナ型に限らず他の形式のマグ
ネトロン型スパッタ装置にも形成可能である。
〔発明の効果〕
以上詳細に説明したように本発明によるスパッタ装置に
よれば、基板に衝撃を与える電子がなくなり、基板の局
所的温度上昇がなく、均質なグレインサイズの被膜を形
成することが出来、エツチングむら、マイグレーション
等を防止出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による補助磁石付マグネトロン型スパッ
タ装置の断面図である。 第2図は従来例によるマグネトロン型スパッタ装置の断
面図である。 図において、 1はターゲット、 2a、2bはプラズマ閉じ込め磁石、 3は基板、 4aは磁力線、 5a、5bは補助磁石、 6は補助板、 7は磁気的中立面、 8aは磁力線 プラズマ1hし途ジM漠乃

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ターゲット表面近傍に閉磁界を形成する磁石を備えたス
    パッタ装置において、前記磁石の形成する磁力線分布と
    同じような磁力線分布を形成する補助磁石を前記磁石の
    対向位置に設置し、且つターゲット材料を被着する基板
    はターゲットと補助磁石の中間領域の磁気的中立面また
    はそれより補助磁石寄りに設置することが出来るように
    したことを特徴とするスパッタ装置。
JP26768185A 1985-11-28 1985-11-28 スパツタ装置 Pending JPS62127465A (ja)

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JP26768185A JPS62127465A (ja) 1985-11-28 1985-11-28 スパツタ装置

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JP26768185A JPS62127465A (ja) 1985-11-28 1985-11-28 スパツタ装置

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JPS62127465A true JPS62127465A (ja) 1987-06-09

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ID=17448049

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26768185A Pending JPS62127465A (ja) 1985-11-28 1985-11-28 スパツタ装置

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JP (1) JPS62127465A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01309966A (ja) * 1988-06-08 1989-12-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd スパッタリング装置
EP1892317A1 (de) * 2006-08-24 2008-02-27 Applied Materials GmbH & Co. KG Verfahren und Vorrichtung zur Kathodenzerstäubung.

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01309966A (ja) * 1988-06-08 1989-12-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd スパッタリング装置
EP1892317A1 (de) * 2006-08-24 2008-02-27 Applied Materials GmbH & Co. KG Verfahren und Vorrichtung zur Kathodenzerstäubung.

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