JPS62127677A - 部品の温度試験装置 - Google Patents
部品の温度試験装置Info
- Publication number
- JPS62127677A JPS62127677A JP26878085A JP26878085A JPS62127677A JP S62127677 A JPS62127677 A JP S62127677A JP 26878085 A JP26878085 A JP 26878085A JP 26878085 A JP26878085 A JP 26878085A JP S62127677 A JPS62127677 A JP S62127677A
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- duct
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- parts
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 21
- 230000005494 condensation Effects 0.000 abstract description 7
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
この発明は、半導体なとの部品を温度試験する場合など
に使用する部品の加熱装置に関するものである。
に使用する部品の加熱装置に関するものである。
(b)発明の目的
この発明は、部品を保管場所から温度試験装置のある所
まで搬送して温度試験をし、温度試験終了後、部品を常
温に戻して別の保管場所まで移動するような場合に、部
品が温度試験装置に到着すれば、すぐに温度試験ができ
るように搬送の途中で部品を加熱するようにした加熱装
置において、加熱区間が短く、かつ温度試験が終った部
品を室温に放置しても部品が結露しないようにした加熱
装置の提供を目的とする。
まで搬送して温度試験をし、温度試験終了後、部品を常
温に戻して別の保管場所まで移動するような場合に、部
品が温度試験装置に到着すれば、すぐに温度試験ができ
るように搬送の途中で部品を加熱するようにした加熱装
置において、加熱区間が短く、かつ温度試験が終った部
品を室温に放置しても部品が結露しないようにした加熱
装置の提供を目的とする。
(C)発明の実施例
最初に、この発明による要部構成図を第1図に示す。
第1図の1は運搬台、2は予熱台、3は駆動機構、4は
部品、12は熱戻し台である。
部品、12は熱戻し台である。
部品4を運搬台1に載せたとき、部品4が不安定になら
ないような形に運搬台1を構成する。部品4にリード線
がついている場合は、このリード線が入るような穴を運
搬台1にあけ、この穴にリード線を挿入すれば、部品4
を安定した形で運搬台1に載せることができる。
ないような形に運搬台1を構成する。部品4にリード線
がついている場合は、このリード線が入るような穴を運
搬台1にあけ、この穴にリード線を挿入すれば、部品4
を安定した形で運搬台1に載せることができる。
第1図では、予熱台2の上部と熱戻し台12の−1一部
を凹形に構成し、予熱台2の凹形と熱戻し台12の凹形
が連続するように配置している。
を凹形に構成し、予熱台2の凹形と熱戻し台12の凹形
が連続するように配置している。
そして、予熱台2の凹形と熱戻し台■2の凹形に入るよ
うに運搬台2の■側の−・部を凸形にし、運搬台1が予
熱台2の上部と熱戻し台12の上部を移動できるように
している。
うに運搬台2の■側の−・部を凸形にし、運搬台1が予
熱台2の上部と熱戻し台12の上部を移動できるように
している。
駆動機構3は運搬台Jが予熱台2の上部と熱戻し台12
の−L部を移動していくようにするためのもので、駆動
機構3からアーム7が運搬台1の前部に伸びている。
の−L部を移動していくようにするためのもので、駆動
機構3からアーム7が運搬台1の前部に伸びている。
第1図から駆動機構3でアーム7を矢印方向に移動する
と、アーム7は運搬台1の’JA ffi<を押しなが
ら移動していくので、運搬台1が予熱台2の上部と熱戻
し台12の−1一部を移動していくようになる。
と、アーム7は運搬台1の’JA ffi<を押しなが
ら移動していくので、運搬台1が予熱台2の上部と熱戻
し台12の−1一部を移動していくようになる。
予熱台2と熱戻し2台12は運搬金工の移動力向に沿っ
て内部を中空にしており、この中空部分に加熱空気を送
り込むようにする。
て内部を中空にしており、この中空部分に加熱空気を送
り込むようにする。
通常の温度試験で使用する一度範囲は、0°C〜70°
Cの範囲なので、この温度範囲の加熱空気を予熱台2の
端部から予熱台2の中空部分に送り込むようにする。
Cの範囲なので、この温度範囲の加熱空気を予熱台2の
端部から予熱台2の中空部分に送り込むようにする。
また、ダクト5の外側とカバー6の内側には、熱戻し台
12の中空部分を通過した乾燥空気を送り込むようにす
る。
12の中空部分を通過した乾燥空気を送り込むようにす
る。
次に、この発明による実施例のi[面図を第2図に、側
面図を第3図に示す。
面図を第3図に示す。
第2図と第3図の5はダクト、6はカバー、8は試験装
置、9と10は汀大II、11は吹出し口である。
置、9と10は汀大II、11は吹出し口である。
ダクト5は予熱台2の外周を覆うように構成されており
、カバー6はダクト5を覆うように構成されている。
、カバー6はダクト5を覆うように構成されている。
第3図のダクト5の長さはLlであり、カバー6の長さ
はLlより長いL2である。
はLlより長いL2である。
したがって、第3図の両側部分はダクト5がなく、カバ
ー6だけの部分になっている。
ー6だけの部分になっている。
第2図の予熱台2の中空部分に加熱空気を送り込むこ七
は説明済みであるか、同じ加熱空気を予熱台2の外側と
ダクト5の内側との間にも送り込むようにする。すなわ
ち、注入口9は第2図に示)ように予熱台2の中空部分
とダク)・5内に開口している。
は説明済みであるか、同じ加熱空気を予熱台2の外側と
ダクト5の内側との間にも送り込むようにする。すなわ
ち、注入口9は第2図に示)ように予熱台2の中空部分
とダク)・5内に開口している。
ダクト5内と予熱台2の中空部分に注入された加熱空気
は、吹出し口11から外気に放出される。
は、吹出し口11から外気に放出される。
この結果、運搬台1で予熱台2のにを移動していく部品
4は、予熱台2からの熱伝導による加熱ときもに、ダク
ト5内の加熱空気で外周を加熱されていく。
4は、予熱台2からの熱伝導による加熱ときもに、ダク
ト5内の加熱空気で外周を加熱されていく。
また、ダクト5の外側とカバー6の内側との間には、熱
戻し台12の中空部分を通過させた後の乾燥空気を送り
込むようにしている。この乾燥空気の温度は、通常25
℃に保たれる。
戻し台12の中空部分を通過させた後の乾燥空気を送り
込むようにしている。この乾燥空気の温度は、通常25
℃に保たれる。
第3図では、注入口10から乾燥空気を注入し、カバー
8の両端から外気に吹出している。
8の両端から外気に吹出している。
ダクト5とカバー6の間に乾燥した空気を送り込む理由
は、予熱台2、部品4およびダクト5に湿気を含んだ外
気が触れないようにするためである。
は、予熱台2、部品4およびダクト5に湿気を含んだ外
気が触れないようにするためである。
例えば、外気温が30℃のときに0℃の温度試験をする
場合は温度差が30°にもなり、第3図の左端から部品
4を入れていくとき、予熱台2、部品4およびダクト5
が外気に触れ、結露が発生し、水滴がつくことがある。
場合は温度差が30°にもなり、第3図の左端から部品
4を入れていくとき、予熱台2、部品4およびダクト5
が外気に触れ、結露が発生し、水滴がつくことがある。
また、ダクト5とカバー6の間を一定温度に保っていれ
ば、いつも同じ条件で部品4を試験温度にすることがで
きるようになる。
ば、いつも同じ条件で部品4を試験温度にすることがで
きるようになる。
また、第3図の試験装置8で温度試験が終った部品4を
すぐ外気温の中に出すと、部品4に結露がてきることが
ある。例えば、試験温度かO′Cで外気l−か30℃の
ときは、温度差のため部品4の表面に水滴がつくように
なり、部品4が劣化する原因になる。
すぐ外気温の中に出すと、部品4に結露がてきることが
ある。例えば、試験温度かO′Cで外気l−か30℃の
ときは、温度差のため部品4の表面に水滴がつくように
なり、部品4が劣化する原因になる。
第3図では、試験装置8を出た部品4は、ダクト5がな
く、カバー6だけで覆われた熱戻し台12の上部を通過
する。この部分には乾燥空気が送り込まれているので、
試験温度と乾燥空気との間に温度差があっても結露か生
ずることはなく、部品4は乾燥空気の温度まで急速に加
熱されていく。
く、カバー6だけで覆われた熱戻し台12の上部を通過
する。この部分には乾燥空気が送り込まれているので、
試験温度と乾燥空気との間に温度差があっても結露か生
ずることはなく、部品4は乾燥空気の温度まで急速に加
熱されていく。
カバー6だけの部分を通過すると、部品4は外気−の中
に取り出されるが、外気温と乾燥空気の温度とは、あま
り差がないので、ここでは部品4に結露かできることは
ない。
に取り出されるが、外気温と乾燥空気の温度とは、あま
り差がないので、ここでは部品4に結露かできることは
ない。
一例として、外気温度と試験温度の差が30℃のとき、
部品温度と試験温度との差が1℃以内に近づくまでの時
間は、従来の空気対流だけの加熱装置では1時間以」二
が必要であったが、この発明による実施例装置によれば
、3分以下で達成することができる。
部品温度と試験温度との差が1℃以内に近づくまでの時
間は、従来の空気対流だけの加熱装置では1時間以」二
が必要であったが、この発明による実施例装置によれば
、3分以下で達成することができる。
第1図と第3図の実施例では、熱戻し台12により、部
品4を加熱状態から室温に戻しているが、予熱台2を延
長し、乾燥空気は第3図の右端からカバー6内に注入す
るようにしてもよい。
品4を加熱状態から室温に戻しているが、予熱台2を延
長し、乾燥空気は第3図の右端からカバー6内に注入す
るようにしてもよい。
(d)発明の効果
この発明によれば、部品の加熱装置をダクトとカバーの
二重構造で覆っており、ダクト内の部品を接触熱伝導と
周囲温度による強制対流を併用して加熱しているので、
移動距離が短い間に部品を急速に加熱することができる
。
二重構造で覆っており、ダクト内の部品を接触熱伝導と
周囲温度による強制対流を併用して加熱しているので、
移動距離が短い間に部品を急速に加熱することができる
。
また、試験終了後の部品が乾燥した空気内を通過するよ
うにしているので、部品に結露ができるのを防くことが
できる。
うにしているので、部品に結露ができるのを防くことが
できる。
第1図はこの発明による要部構成図、
第2図はこの究明による実施例の正面図、第3図はこの
発明による実施例の側面図。 1・・・・・・運搬台、2・・・・・・予熱台、3・・
・・・・駆動機構、4・・・・・・部品、5・・・・・
・ダクト、6・・・・・・カバー、7・・・ f− ・・・アーム、8・・・・・・試験装置、9・・・・・
・注入口、10・・・・・・注入口、11・・・・・・
吹出し口、12・・・・・・熱戻し台。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第 ] 1 図 2 図 部品 運搬台
発明による実施例の側面図。 1・・・・・・運搬台、2・・・・・・予熱台、3・・
・・・・駆動機構、4・・・・・・部品、5・・・・・
・ダクト、6・・・・・・カバー、7・・・ f− ・・・アーム、8・・・・・・試験装置、9・・・・・
・注入口、10・・・・・・注入口、11・・・・・・
吹出し口、12・・・・・・熱戻し台。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第 ] 1 図 2 図 部品 運搬台
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 部品(4)を載せる運搬台(1)と、 運搬台(1)を移動できるように構成し、移動方向に沿
って内部を中空にした予熱台(2)と、予熱台(2)上
の運搬台(1)を移動させる駆動機構(3)と、 運搬台(1)の移動方向の寸法がL1で、予熱台(2)
の外周を覆うダクト(5)と、 運搬台(1)の移動方向の寸法がL1より長いL2で、
ダクト(5)の外周を覆うカバー(6)とを備え、 予熱台(2)の中空部分に加熱空気を送り込むとともに
、予熱台(2)の外側とダクト(5)の内側との間に前
記加熱空気を送り込み、 ダクト(5)の外側とカバー(6)の内側との間に乾燥
空気を送り込むようにし、 部品(4)を載せた運搬台(1)を予熱台(2)の上に
載せ、この運搬台(1)を駆動機構(3)で移動させ、
ダクト(5)内からダクト(5)のないカバー(6)の
部分を部品(4)が通過し、前記乾燥空気内を通過して
からカバー(6)の外側に部品(4)を運び出すことを
特徴とする部品の加熱装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26878085A JPS62127677A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | 部品の温度試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26878085A JPS62127677A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | 部品の温度試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62127677A true JPS62127677A (ja) | 1987-06-09 |
| JPH0335630B2 JPH0335630B2 (ja) | 1991-05-28 |
Family
ID=17463182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26878085A Granted JPS62127677A (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | 部品の温度試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62127677A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008142754A1 (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Advantest Corporation | 電子部品試験装置及び電子部品試験方法 |
| JP2013152094A (ja) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品検査装置および当該物品検査装置を備えた物品分類装置 |
-
1985
- 1985-11-29 JP JP26878085A patent/JPS62127677A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008142754A1 (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Advantest Corporation | 電子部品試験装置及び電子部品試験方法 |
| JPWO2008142754A1 (ja) * | 2007-05-18 | 2010-08-05 | 株式会社アドバンテスト | 電子部品試験装置及び電子部品試験方法 |
| JP2013152094A (ja) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品検査装置および当該物品検査装置を備えた物品分類装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0335630B2 (ja) | 1991-05-28 |
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