JPS62133301A - 導電性加工部品の外形検査装置 - Google Patents
導電性加工部品の外形検査装置Info
- Publication number
- JPS62133301A JPS62133301A JP27479285A JP27479285A JPS62133301A JP S62133301 A JPS62133301 A JP S62133301A JP 27479285 A JP27479285 A JP 27479285A JP 27479285 A JP27479285 A JP 27479285A JP S62133301 A JPS62133301 A JP S62133301A
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- Japan
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- gauge
- pin
- inspected
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- jig
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔（既 要〕
この発明は、導電性機械部品の加工を行った後、該部品
の基準面に対する他の部分の外形寸法を、これに対する
限界ゲージとの接触を電気的に検出することにより検査
を行い、検査の効率化向上を図る。
の基準面に対する他の部分の外形寸法を、これに対する
限界ゲージとの接触を電気的に検出することにより検査
を行い、検査の効率化向上を図る。
この発明は、ワイヤドツト式プリンタの印字ヘッドにお
けるワイヤピンとベース板のろう付は加工後の、ワイヤ
ピンのベース板に対する位置を検査するのに用いて有効
な検査装置に係わり、さらに詳しく言えば被検査部分の
形状の良否を限界ゲージとの接触に基づく電気的導通に
より検出する検査装置に関する。
けるワイヤピンとベース板のろう付は加工後の、ワイヤ
ピンのベース板に対する位置を検査するのに用いて有効
な検査装置に係わり、さらに詳しく言えば被検査部分の
形状の良否を限界ゲージとの接触に基づく電気的導通に
より検出する検査装置に関する。
上記ワイヤピン１がベース板２−１にろう付けされた導
電性加工部品２を第３図に示す。８ｒワイヤピンのベー
ス板は、例えば１文字１２ドツトのプリンタの場合、１
２個のベース板が永久磁石と共に狭隘な場所に取りつけ
られ、さらにその各々が矢印５の方向に往復運動をする
ため、その精度は非常に高く製作される。更に、ろう付
は部４にてろう付けされたワイヤピンは精密な印字ヘッ
ドを形成し、その位置精度は印字品質に大きな影響を与
えるため、１００ミクロンの精度が要求され、ベース板
に対するワイヤピンの形状位置の正確にして効率の良い
検査方法が要望されていた。
電性加工部品２を第３図に示す。８ｒワイヤピンのベー
ス板は、例えば１文字１２ドツトのプリンタの場合、１
２個のベース板が永久磁石と共に狭隘な場所に取りつけ
られ、さらにその各々が矢印５の方向に往復運動をする
ため、その精度は非常に高く製作される。更に、ろう付
は部４にてろう付けされたワイヤピンは精密な印字ヘッ
ドを形成し、その位置精度は印字品質に大きな影響を与
えるため、１００ミクロンの精度が要求され、ベース板
に対するワイヤピンの形状位置の正確にして効率の良い
検査方法が要望されていた。
〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕従来、
被検査部分であるワイヤピン１をろう４−Ｊけ加工後の
外形寸法検査には、投影器を用いて、ベース板の側面或
いは先端部を基準面として被検査部分を拡大投影し、そ
の投影画面上、規格の範囲内であるか否かを目視により
判定していた。
被検査部分であるワイヤピン１をろう４−Ｊけ加工後の
外形寸法検査には、投影器を用いて、ベース板の側面或
いは先端部を基準面として被検査部分を拡大投影し、そ
の投影画面上、規格の範囲内であるか否かを目視により
判定していた。
しかし、この方法では、検査のための段取り作業が多く
作業性が悪いと共に、目視作業であるための誤判定の可
能性があった。
作業性が悪いと共に、目視作業であるための誤判定の可
能性があった。
そこで、この発明は検査工程の簡略化と信頼性の高い検
査法を提供することを目的とするものである。
査法を提供することを目的とするものである。
被検査部品上の基準面により該部品を位置決めする基準
治具と、該基準冶具により該部品の位置が定められた時
、該部品の被検査部分の外形寸法の偏位の規格最大値を
内側寸法とする金属製限界ゲージと、さらに、該限界ゲ
ージと被検査部分の間の電気的導通有無を検出して被検
査部分の外形の良否結果を告知する導通検出手段とを設
ける。
治具と、該基準冶具により該部品の位置が定められた時
、該部品の被検査部分の外形寸法の偏位の規格最大値を
内側寸法とする金属製限界ゲージと、さらに、該限界ゲ
ージと被検査部分の間の電気的導通有無を検出して被検
査部分の外形の良否結果を告知する導通検出手段とを設
ける。
被検査部分が外形寸法偏位の最大規格値を越えて限界ゲ
ージに接触すると、被検査部品と限界ゲージは電気的に
導通状態になる。従って該両者に接続されている導通検
出手段は導通状態になり、検査不合格を示し、非導通で
あれば、検査合格を示す。
ージに接触すると、被検査部品と限界ゲージは電気的に
導通状態になる。従って該両者に接続されている導通検
出手段は導通状態になり、検査不合格を示し、非導通で
あれば、検査合格を示す。
以下図面に示す実施例により本発明の要旨を具体的に説
明する。全図を通じ同一符号は同一対象物を示す。第１
図は１実施例の構成要部を示すものであり、導電性加工
部品２として、ベース板２−１とワイヤピン１をろう付
けしたものを引用している。
明する。全図を通じ同一符号は同一対象物を示す。第１
図は１実施例の構成要部を示すものであり、導電性加工
部品２として、ベース板２−１とワイヤピン１をろう付
けしたものを引用している。
図において、１は被検査部分のワイヤピン、２は導電性
加工部品、２−１はベース板、３−１と３−２はベース
板２−１の基準面、６は外形限界ゲージ、７．７゛は基
準治具、７−１．７−２は基準治具７．７゛の基準面、
８は導通検出手段、９は電気信号線、１０は電源、１）
は表示部である。
加工部品、２−１はベース板、３−１と３−２はベース
板２−１の基準面、６は外形限界ゲージ、７．７゛は基
準治具、７−１．７−２は基準治具７．７゛の基準面、
８は導通検出手段、９は電気信号線、１０は電源、１）
は表示部である。
この実施例はベース板２−１に対するワイヤピン１の面
角度検査の場合である。予め、外形限界ゲージ６は、ワ
イヤピン１がベース板２−１に対し在るべき正しい９０
°の位置に取りつけられ、ベース板の基準面３−１と３
−２が基準治具７と７°の基準面７−１ と７−２によ
り位置が定められた時の、該ワイヤピンの中心線を外形
限界ゲージ６の平行間隙の中心線とし、該間隙の内側寸
法はワイヤピンの位置偏差の規格最大値にとられている
。ゲージ６と治具７゛は金属製である。導通検出手段８
は、２本の電気信号ｖＡ９を介してゲージ６と冶具７゛
との間に接続され、電源１０と発光ダイオードよりなる
表示部１）とで構成されている。ゲージ６と治具７．７
゛は導通検出手段８を経由する以外は互いに絶縁されて
取りつけられている。
角度検査の場合である。予め、外形限界ゲージ６は、ワ
イヤピン１がベース板２−１に対し在るべき正しい９０
°の位置に取りつけられ、ベース板の基準面３−１と３
−２が基準治具７と７°の基準面７−１ と７−２によ
り位置が定められた時の、該ワイヤピンの中心線を外形
限界ゲージ６の平行間隙の中心線とし、該間隙の内側寸
法はワイヤピンの位置偏差の規格最大値にとられている
。ゲージ６と治具７゛は金属製である。導通検出手段８
は、２本の電気信号ｖＡ９を介してゲージ６と冶具７゛
との間に接続され、電源１０と発光ダイオードよりなる
表示部１）とで構成されている。ゲージ６と治具７．７
゛は導通検出手段８を経由する以外は互いに絶縁されて
取りつけられている。
以上の準備の後、互いにろう付けされたベース板とワイ
ヤピンは、ベース板２−１の基準面３−２を基準治具７
の基準面７−２に密着接触させながら矢印１２の方向に
滑らせ、ベース板２−１の基準面３−１を基準治具７の
基準面７−１に密着させる。
ヤピンは、ベース板２−１の基準面３−２を基準治具７
の基準面７−２に密着接触させながら矢印１２の方向に
滑らせ、ベース板２−１の基準面３−１を基準治具７の
基準面７−１に密着させる。
この時、ワイヤピン１の面角度が規格範囲内の時は、ワ
イヤピンが外形限界ゲージ６に接触しないため、導通検
出手段８には電流は流れず、表示部１）は発光しない。
イヤピンが外形限界ゲージ６に接触しないため、導通検
出手段８には電流は流れず、表示部１）は発光しない。
しかし、規格範囲外の時は、ワイヤピンＩはゲージ６に
接触するため、電源１０、信号線９゛、基準治具７゛、
ベース板２−１、ワイヤピン１、ゲージ６、信号線９、
表示部１）、信号線９の閉回路が成立し、表示部が通電
されて点灯し、検査不良を表示する。
接触するため、電源１０、信号線９゛、基準治具７゛、
ベース板２−１、ワイヤピン１、ゲージ６、信号線９、
表示部１）、信号線９の閉回路が成立し、表示部が通電
されて点灯し、検査不良を表示する。
第２図は第２の実施例として、ベース板２−１に対する
ワイヤピン１の平行度検査の場合を示している。ベース
板２−１の基準面としてその側面３−３を用い、それに
対応して、基準治具７°°と限界ゲージ６゛が設けられ
ている以外は第１図と同じである。
ワイヤピン１の平行度検査の場合を示している。ベース
板２−１の基準面としてその側面３−３を用い、それに
対応して、基準治具７°°と限界ゲージ６゛が設けられ
ている以外は第１図と同じである。
限界ゲージ６および６゛のゲージ間隙には平行間隙を用
いたが、４角或いは円筒形の穴を用いることも出来る。
いたが、４角或いは円筒形の穴を用いることも出来る。
表示部１）には、一般に発光ダイオードが用いられるが
メータも用いられる。電源１０はワイヤピンとゲージの
非常に小さな間隙において放電などを起こさぬ為にも、
また発光ダイオードやメータの特性からも、可能な限り
低い電圧であることが望ましい。
メータも用いられる。電源１０はワイヤピンとゲージの
非常に小さな間隙において放電などを起こさぬ為にも、
また発光ダイオードやメータの特性からも、可能な限り
低い電圧であることが望ましい。
以上述べたように、本発明によれば、極めて簡易な構成
により、精度も信顛度も高い検査が、作業の熟練も要さ
ず、短時間に行えて、検査工程の効率向上に貢献し、そ
の実用的効果は頗る大である。
により、精度も信顛度も高い検査が、作業の熟練も要さ
ず、短時間に行えて、検査工程の効率向上に貢献し、そ
の実用的効果は頗る大である。
第１図は本発明の１実施例を示す図、
第２図は本発明の他の実施例を示す図、第３図は本発明
にて検査される被検査部品を示す図である。 図において、 １は被検査部分のワイヤピン、 ２は導電性加工部品、 ２−１はベース板、 ３は加工部品２の基準面、 ６は限界ゲージ、 ７は基準治具、 ７−１は基準治具７の基準面、 ８は導通検出手段である。 第１図 鴇２勲１列 第２図 第３図
にて検査される被検査部品を示す図である。 図において、 １は被検査部分のワイヤピン、 ２は導電性加工部品、 ２−１はベース板、 ３は加工部品２の基準面、 ６は限界ゲージ、 ７は基準治具、 ７−１は基準治具７の基準面、 ８は導通検出手段である。 第１図 鴇２勲１列 第２図 第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 導電性加工部品（２）上の基準面（３）に対する被検査
部分の（１）外形寸法検査において、 該基準面（３）により該部品（２）を位置決めする基準
治具（７）と、 該基準治具（７）により該部品（２）の位置が定められ
た時、被検査部分（１）の外形寸法の偏位の規格最大値
を内側寸法とする金属製限界ゲージ（６）と、該限界ゲ
ージ（６）と被検査部分（１）の間の電気導通有無を検
出して該被検査部品の外形の良否結果を報知する導電検
出手段（８）とを設けたことを特徴とする導電性加工部
品の外形検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27479285A JPS62133301A (ja) | 1985-12-05 | 1985-12-05 | 導電性加工部品の外形検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27479285A JPS62133301A (ja) | 1985-12-05 | 1985-12-05 | 導電性加工部品の外形検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62133301A true JPS62133301A (ja) | 1987-06-16 |
Family
ID=17546622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27479285A Pending JPS62133301A (ja) | 1985-12-05 | 1985-12-05 | 導電性加工部品の外形検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62133301A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5138449B2 (ja) * | 1972-04-05 | 1976-10-21 | ||
| JPS60166802A (ja) * | 1984-02-09 | 1985-08-30 | Hitachi Metals Ltd | 自動寸法検査装置 |
-
1985
- 1985-12-05 JP JP27479285A patent/JPS62133301A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5138449B2 (ja) * | 1972-04-05 | 1976-10-21 | ||
| JPS60166802A (ja) * | 1984-02-09 | 1985-08-30 | Hitachi Metals Ltd | 自動寸法検査装置 |
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