JPS6033064A - パターン検査装置の自己診断方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、プリント配線板のパターン検査方法とその装
置に係り、さらに詳しくは、プリント配線板のパターン
検査と共に、この検査に使用する当該検査装置の機能が
正常であるかどうかを簡易迅速に自己診断できるプリン
ト配線板のパターンの検査方法とその装置に関する。

プリント配線板のパターン検査は、一般に被検査体であ
るプリント配線板のパターンの一部であるランドにプロ
ーブビンを接触させ、各ランド間の導通状態の有無を検
査するに当り、あらかじめ例えば中央制御装置（ＩＣメ
モリ）に記憶させておいた良品のプリント配線板のパタ
ーンの基準データと各被検査体のデータとを比較するこ
とにより、パターンの断線或いは短絡などの不良回路部
分金有するプリント配線板を発見する方法である。

ところが、上記の検査方法はこれに使用する当該検査装
置のプローブビンに不良個所があったり、プローブビン
と検査機本体とを連結する中継ケーブルの断線不良があ
ると当然のことながらプリント配線板のパターンの正錐
な検査をすることができない。

そのため、プリント配線板のパターンの検査を当うては
、常時その検査に使用する当該検査装置の機能が、正常
であるがどうがを診断しておく必聾がある。

このようなことに鑑み、従来はＩＣメモリ忙記憶させて
おいたプリント配線板のパターンの基環データを一部カ
セットテープなどに保存（セーブ）しておき、検査装置
の機能を自己診断するためのデータをＩＣメモリに書き
込みさせて、このような状態で検査装置の機能が正常で
あるかどうかを定期的に検査する方法が採用されていた
。

しかしながら、このような操作をプリント配線板のパタ
ーンの種類が変更されるごとに、また検査の信頼性を高
める上でも使用頻度の多い検査装置の機能の保持管理の
必要性からも、検査装置の自己診断に相当の時間をかけ
ている現状にある。

これは検査装置の機能が正常であることを確認しておく
ことが信頼性のあるプリント配線板のパターンの検査忙
不可欠で重要なことに鑑みて止む得ないこととされてい
た。

本発明は、このような従来のプリント配線板のｔ　検査
方法の欠点を除去し、検査装置の自己診断をＫ　簡易迅
速に行うべく、被検査体であるプリント配線板に代えて
表面に導通面を有するプリント配線用基板（以下ベタパ
ターン基板ともいう）を介在させ、当該検査装置のプロ
ーブビンの任意の！　一対のビンを接触させたとき短絡
させることにより当該検査装置の機能の自己診断を随時
併せて行うことを特徴とする信頼性の高いプリント配線
板のパターン検査方法とその装置を提供することを目的
とする。

以下、本発明のプリント配線板のパターンの検査方法と
その装置の実施例について１４面に基づき具体的に説明
する。

第１図は、プリント配線板のパターンの検査方法の概要
説明図であり、第２図はペタパターンノ＾板を介在させ
た当該検査装置りの自己診断の概要説明図である。

第１図において、１は被検査体であるプリント配線板の
基板、２は被検査体であるプリント配線板上のパターン
（導体回路）、３は被検査体であるプリント配線板上の
ランド（導体部分）、４は検査装置におけるプローブビ
ン、５はプローブビンの保持体、６＃−を中継用ケーブ
ル、７は検査機本体、８け検査機本体の主要部分である
中央制御装置（ＩＣメモリ）である。

第２図において、１から８までは上記第１図と同様であ
り、９は全面に導通面を有するプリント配線用基板（ベ
タパターン基板）、１ｏは導通面（例えば銅箔面）であ
る。

まず、上記第１図のプリント配線板のパターンの検査方
法について説明する。被検査体であるプリント配線板（
１）は、通常ガラス・エポキシ材料の基板又は紙・フェ
ノール又はエポキシ材料の基板であり、この基板上には
導体回路であるパターン（２）が形成されており、この
パターンの一部にはスルホール（２）があり、このスル
ポールの周辺には導体部分としてのランド（３）が形成
されている。そのため、検査装置（５）におけるプロー
ブビン（４）はその保持体（５）によりす椿玄れつり傭
ゆぼ油ぼゴ１ノフ騨降機などを介して持ち上げられ、プ
ローブビンの先端部分が被検査体のランド（３）と接触
して、プリント配線板のパターンにおける各ランド間の
導通状態を検査することができる。このとき、明らかに
短絡していない各一対のピンを予め指定しておくことに
よりプリント配線板の検査であることの表示を得るよう
にしておくことが重要である。

次Ｋ、上記第２図のベタパターン基板を介在させた当該
検査装置の自己診断方法について説明する。表面に導通
面を有するベタパターン基板（９）は、通常プリント配
線板の基材となるガラス・エポキシ材料基板又は紙・フ
ェノール又はエポキシ材料基板であり、少くとも片面の
表面には銅箔などの導通面（１０）が貼着形成されたも
のである。そして、望ましくは全面に導通面が貼着形成
されたものであることが、各一対のプローブビンと接触
し短絡させる上で有利である。しかしながら、プローブ
ビンと接触することのない部分、たとえば該基板の周辺
部分などは結縁不導体面であってもよい。

矛しイ　前Ｐ笛１（支）π卦げふ追分に局番り柚査装置
（２）におけるプローブピン（４）はその保持体（５）
により支持された状態でプレスによシ移動して来たプロ
ーブビンの先端部分が表面に導通面（１０）を有するベ
タパターン基板（９）と接触して、各一対のピン、たと
えばＢｌとＢ２又はＣ１とＣ２のような導通した各一対
のピンの他にも予め指定しておいた明らかに短絡してい
ない各一対ビンも上記導通面と接触させて短絡するため
、すべて短絡（ショート）表示がされる。そのため、予
め指定しておいたピンのショート又はオープン表示によ
りプリント配線板の検査であるか検査装置の自己診断で
あるかを区別することができる。

このように、検査装置面の自己診断はベタパターンを介
在させることにより各一対ピンが短絡するので、このデ
ータをＩＣメモリに記憶させておけば、たとえプリント
配線板の基準データが別途記憶されていても、−ｇの間
にプリント配線板のパターンの検査と検査装置の自己診
断とを随時併せて行うことができる。このとき、プリン
ト配線板のパターンの非導通部分である明らかに短絡し
ない部分の一対のピンを予め指定しておくことによシ、
この指定したピンが被検有体ｆ装置く所定の位置に載置
したベタパターン基板と接触したときには短絡（ショー
ト）表示がされ、一方被検査体であるプリント配線板を
所定の位置に載置したときには非導通部分である明らか
に短絡しない部分とピンとが接触したときには予め指定
しておいた一対のピンの部分はオープン表示がされるこ
とになる。このように、ショート表示とオープン表示と
によってプリント配線板の検査とこの検査装置の自己診
断とを区別することになる。

そのため、プリント配線板のパターンの基Ｑｌｔ、デー
タとベタプリント基板とのデータ金比較検査することに
よシ随時相互にプリント配線板のパターン検査と当該検
査装置の自己診１１′Ｊｒとを瞬時に４）（゛ぜて行う
ことができるので、従来手回と長時間とを要していた検
査装置の自己診断がきわめて短時間にしかも信頼性のあ
るプリント配線板のパターン検査をすることができる。

以上）ように、本発明によればプリント配線板のパター
ンの検査を行いつつ、当該検査袋の機能が正常であるか
どうかを確認するための自己診断も随時併行して簡易迅
速に行うことができるので、検査に要する作業時間を大
幅に短縮し作業能率を向上させると共に、検査の信頼性
を著しく高めることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はプリント配線板のパターンの検査方法の概要を
示す説明図、第２図は当該検査装置の自己診断方法の概
要を示す説明図である。 ｌ・・・・・・・・・プリント配線板の基板、２・・・
・・・・・・導体パターン、３・・・・・・・・・ラン
ド、４・・・・・・・・・プローブピン、５・・・・・
・・・・プローブピン保持体、６・間曲中継ケーブル、
７・・・・・・・・・検査機本体、８・・・・曲・中央
制御装置、９・・・・・−・・ベタパターン基板、ｌＯ
・・・・・・・・・導通面（たとえば銅箔面） 持許出゛願大の名称 イビデン株式会社 代表者多賀潤一部 （

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、被検査体であるプリント配線板の検査に代えて表面
   に導通面を有するプリント配線用基板を介在させ、当該
   検査装置のプローブピンの予め指定した任意の各一対の
   ピンをも接触させ短絡させることによ２り当該検査装置
   の機能の自己診断をも併せて行うことを特徴とするプリ
   ント配線板のパターン検査方法。 ２、被検査体であるプリント配線板の検査に代えて表面
   に導通面を有するプリント配線用基板を介在させて当該
   検査装置のプローブビンの予め指定した任意の各一対の
   ピンの短絡の有無を検知する自己診断用ルーチンワーク
   を有して成るプリント配線板のパターン検査装置。