JPS62133308A - 距離測定装置 - Google Patents
距離測定装置Info
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- JPS62133308A JPS62133308A JP27332185A JP27332185A JPS62133308A JP S62133308 A JPS62133308 A JP S62133308A JP 27332185 A JP27332185 A JP 27332185A JP 27332185 A JP27332185 A JP 27332185A JP S62133308 A JPS62133308 A JP S62133308A
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- JP
- Japan
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- counter
- gate
- outputs
- pair
- elements
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えばオートフォーカスカメラ等に用いる
ことができる距離測定装置に関する。
ことができる距離測定装置に関する。
第4図はかかる従来の距離測定装置における測定原理を
示す原理図である。同図において、21は被写体、22
.23はレンズ、24はレンズの焦点面、25.26.
27は像、28は第1の受光素子列、29は第2の受光
素子列である。
示す原理図である。同図において、21は被写体、22
.23はレンズ、24はレンズの焦点面、25.26.
27は像、28は第1の受光素子列、29は第2の受光
素子列である。
被写体21は2つのレンズ22および23により、それ
ぞれ焦点面24上に像25および26を結ぶ。なお、被
写体21が無限遠にある場合は、被写体21からの光線
は光路tに沿って入射し、像27を結ぶ。したがって、
像26と像27との間隔Xが検出できれば、被写体21
までの距離aは周知の三角測量法を利用して、次のよう
に求めることができる。
ぞれ焦点面24上に像25および26を結ぶ。なお、被
写体21が無限遠にある場合は、被写体21からの光線
は光路tに沿って入射し、像27を結ぶ。したがって、
像26と像27との間隔Xが検出できれば、被写体21
までの距離aは周知の三角測量法を利用して、次のよう
に求めることができる。
ここで、feはレンズ22および23の焦点距離、Bは
レンズ22と25との光軸間距離である。なお、焦点面
24上に鮮明な像を得るようにするため’e<<aとさ
れる。通常は、無限遠におる被写体像27は不明である
ので、この場合はレンズ22による像25を用いる。そ
して、これらの像の位置または間隔は、焦点面24のレ
ンズ22および25による結像位置近傍に第1および第
2の受光素子列28.29を配置するとともに、これら
受光素子列における各受光素子の被写体が無限遠にある
と仮定したときに同じ像点を結ぶもの同志をベア(組)
として考え、これを基準として各受光素子の出力の相関
(または比較)を利用して求める。
レンズ22と25との光軸間距離である。なお、焦点面
24上に鮮明な像を得るようにするため’e<<aとさ
れる。通常は、無限遠におる被写体像27は不明である
ので、この場合はレンズ22による像25を用いる。そ
して、これらの像の位置または間隔は、焦点面24のレ
ンズ22および25による結像位置近傍に第1および第
2の受光素子列28.29を配置するとともに、これら
受光素子列における各受光素子の被写体が無限遠にある
と仮定したときに同じ像点を結ぶもの同志をベア(組)
として考え、これを基準として各受光素子の出力の相関
(または比較)を利用して求める。
このような相関をとるためKは、受光素子出力を何らか
の形で処理することが必要である。そこで、受光素子出
力を所定のスレッシュホールドレベルで2値化すること
が考えられる。しかし、このように単純に2値化すると
ノイズや素子のばらつきによって誤動作するおそれがあ
るので、従来は例えば次の如く2値化している。
の形で処理することが必要である。そこで、受光素子出
力を所定のスレッシュホールドレベルで2値化すること
が考えられる。しかし、このように単純に2値化すると
ノイズや素子のばらつきによって誤動作するおそれがあ
るので、従来は例えば次の如く2値化している。
第5図は、かかる従来の2値化回路の例を示す回路図で
ある。なお、同図には1ビット分しか示されていないが
、これらを所定数設けることにより受光素子列に対応す
る2値化回路列が形成される。同図において、30はフ
ォトダイオード(受光素子)、31.32はスイッチン
グトランジスタ、33は容量(コンデンサ)、34はイ
ンバータゲートである。
ある。なお、同図には1ビット分しか示されていないが
、これらを所定数設けることにより受光素子列に対応す
る2値化回路列が形成される。同図において、30はフ
ォトダイオード(受光素子)、31.32はスイッチン
グトランジスタ、33は容量(コンデンサ)、34はイ
ンバータゲートである。
その動作は、まず、CLEAR入力によりスイッチング
トランジスタ31をONさせ、容量Cの電荷を放電させ
ることにより開始される。その後、CLEAFL入力に
よりスイッチングトランジスタ31をOFFさせ、次に
入力Gによりスイッチングトランジスタ32をONさせ
る。すると、容量33には、フォトダイオード60より
スイッチングトランジスタ52を通して光の強度にほぼ
比例した電流iが流れ込む。スイッチングトランジスタ
32をONさせた後、ある時間tたったら今度は入力G
を操作してスイッチングトランジスタ32をOFFさせ
る。この時容量33には、略lxtの電荷がたまってお
り、その結果インバータゲート340入力には、Vin
=it/Cの電圧が加えられることになる。インバータ
ゲート34のスレッシュホールド電圧をVshとすると
、Vin≧vthならばインバータゲートの出力値はパ
0”となり、Vin < Vthならばインバータゲー
トの出力値は(11IIとなる。もしくは、インバータ
ゲート340次段にもう1つインバータゲートを接続し
てWinとvthの大小関係による出力値を逆にするこ
ともできる。
トランジスタ31をONさせ、容量Cの電荷を放電させ
ることにより開始される。その後、CLEAFL入力に
よりスイッチングトランジスタ31をOFFさせ、次に
入力Gによりスイッチングトランジスタ32をONさせ
る。すると、容量33には、フォトダイオード60より
スイッチングトランジスタ52を通して光の強度にほぼ
比例した電流iが流れ込む。スイッチングトランジスタ
32をONさせた後、ある時間tたったら今度は入力G
を操作してスイッチングトランジスタ32をOFFさせ
る。この時容量33には、略lxtの電荷がたまってお
り、その結果インバータゲート340入力には、Vin
=it/Cの電圧が加えられることになる。インバータ
ゲート34のスレッシュホールド電圧をVshとすると
、Vin≧vthならばインバータゲートの出力値はパ
0”となり、Vin < Vthならばインバータゲー
トの出力値は(11IIとなる。もしくは、インバータ
ゲート340次段にもう1つインバータゲートを接続し
てWinとvthの大小関係による出力値を逆にするこ
ともできる。
すなわち、第5図に示す回路は光電流をコンデンサ55
によって積分し、その積分値が所定値に達する迄の積分
時間に応じて受光強度を2値信号に変換する回路と云う
ことができる。したがって、以下これを変換素子と呼ぶ
ことKする。なお、この変換素子は受光素子に対応して
設けられることは前述のとおりでらる。
によって積分し、その積分値が所定値に達する迄の積分
時間に応じて受光強度を2値信号に変換する回路と云う
ことができる。したがって、以下これを変換素子と呼ぶ
ことKする。なお、この変換素子は受光素子に対応して
設けられることは前述のとおりでらる。
ところで、第5図においては、スイッチングトランジス
タ32の導通時間が長ずざると全ての受光素子において
容量(コンデンサ)33が充電されすぎてインバータゲ
ート340入力がスレッシュホールド電圧を越えてしま
うし、反対に短かすぎると容量33が殆んど充電されな
い丸め、どの受光素子においてもインバータゲート34
の入力がそのスレッシュホールド電圧を越えることがで
きない。すなわち、スイッチングトランジスタの導通時
間を考慮せずに2値化すると、例えば全て′0#または
”1#のパターンしか得られず、何らの情報も得られな
いことになる。このため、受光素子列全体の受光量を考
慮して導通時間を最適に制がすすることが要求されるが
、この種の制御は一般に複雑であると云う難点がある。
タ32の導通時間が長ずざると全ての受光素子において
容量(コンデンサ)33が充電されすぎてインバータゲ
ート340入力がスレッシュホールド電圧を越えてしま
うし、反対に短かすぎると容量33が殆んど充電されな
い丸め、どの受光素子においてもインバータゲート34
の入力がそのスレッシュホールド電圧を越えることがで
きない。すなわち、スイッチングトランジスタの導通時
間を考慮せずに2値化すると、例えば全て′0#または
”1#のパターンしか得られず、何らの情報も得られな
いことになる。このため、受光素子列全体の受光量を考
慮して導通時間を最適に制がすすることが要求されるが
、この種の制御は一般に複雑であると云う難点がある。
そこで、例えば特開昭59−153510号公報に示さ
れるものが提案されている。これは、1組のフォトセン
サ(受光素子)の積分時間差、すなわち対をなす2つの
7オトセンサからの出力をコンデンサによりそれぞれ積
分して所定電圧に達するまでの時間の差を+1.0.−
1の3値に量子化するもので、積分時間をセンサアレイ
方向に大まかに微分3値化する方式と云うことができる
。
れるものが提案されている。これは、1組のフォトセン
サ(受光素子)の積分時間差、すなわち対をなす2つの
7オトセンサからの出力をコンデンサによりそれぞれ積
分して所定電圧に達するまでの時間の差を+1.0.−
1の3値に量子化するもので、積分時間をセンサアレイ
方向に大まかに微分3値化する方式と云うことができる
。
ところで、この種の距離測定装置では2つのセンサアレ
イ出力の相関(比較)から距離を求めるものであるから
、その出力はできるだけ忠実に表現されることが望まし
い。しかるに、上記の如き3値化方式ではセン誉アレイ
出力を表現するための積分時間差が3値でしか表現され
ないため情報量が不足し、その結果高精度の距離測定が
できないと云う問題がある。
イ出力の相関(比較)から距離を求めるものであるから
、その出力はできるだけ忠実に表現されることが望まし
い。しかるに、上記の如き3値化方式ではセン誉アレイ
出力を表現するための積分時間差が3値でしか表現され
ないため情報量が不足し、その結果高精度の距離測定が
できないと云う問題がある。
したがって、この発明は比較的簡単な構成で距離測定精
度の向上を図ることを目的とする。
度の向上を図ることを目的とする。
各群内変換素子の所定の2個ずつを対として少なくとも
1対以上設けられるその各々に対し、対をなす変換素子
のいずれが先に応答するかに応じて正または負の符号を
付与する符号付与手段と、同じく対をなす変換素子のい
ずれか一方のみが応答している期間を検出する検出手段
と、この検出期間に応じた数のクロック信号をカウント
するカフ/りとを設ける。
1対以上設けられるその各々に対し、対をなす変換素子
のいずれが先に応答するかに応じて正または負の符号を
付与する符号付与手段と、同じく対をなす変換素子のい
ずれか一方のみが応答している期間を検出する検出手段
と、この検出期間に応じた数のクロック信号をカウント
するカフ/りとを設ける。
各変換素子群内でその所定2個ずつを対として組み合わ
せ、各対電の積分時間差を上記カウンタによってN(−
2n)値化すると\もに、上記符号付与手RKよってこ
の値に符号を付けることにより、精度の高い積分時間差
信号を得て測定精度を向上させる。
せ、各対電の積分時間差を上記カウンタによってN(−
2n)値化すると\もに、上記符号付与手RKよってこ
の値に符号を付けることにより、精度の高い積分時間差
信号を得て測定精度を向上させる。
第1図はこの発明の実施例を示す構成図、第2図はカウ
ンタ兼シフトレジスタ回路の具体例金示す概要図である
。
ンタ兼シフトレジスタ回路の具体例金示す概要図である
。
第1図において、1a、1bは変換素子で、1つの変換
素子群内の例えば隣り合う2つを示している。なお、そ
の前段に設けられるべき受光素子群や撮像系は従来と同
様で良いので、図示は省略されている。2a、2bはn
ビットカウンタ部で、2aには変換素子対1 a #
1 bからの出力が排他的論理和(EOR)ゲート4お
よびアンドゲート7aを介して入力される。また、2b
には図示されない変換素子対からの出力がアンドゲート
7bを介して入力され、以下同様である。
素子群内の例えば隣り合う2つを示している。なお、そ
の前段に設けられるべき受光素子群や撮像系は従来と同
様で良いので、図示は省略されている。2a、2bはn
ビットカウンタ部で、2aには変換素子対1 a #
1 bからの出力が排他的論理和(EOR)ゲート4お
よびアンドゲート7aを介して入力される。また、2b
には図示されない変換素子対からの出力がアンドゲート
7bを介して入力され、以下同様である。
このnビットカウンタ部2a、2bは、第2図に示すカ
ウンタ兼シフトレジスタ回路の一部をブロック化して示
したもので、このカウンタ兼シフトレジスタ回路は例え
ばnXm個のD形フリップフロップ(以下、D/FFと
略記する。)を2次元的に配列して構成される。第2図
にはその一部分が示されている。こ〜に、11〜15は
D形フリップフロップ、14〜17はナントゲートを組
み合わせて構成される切替回路、5enseはセレクト
信号、φ2はシフトクロックである。すなわち、一般に
7リツプフロツプを縦続接続することにより、カウンタ
またはシフトレジスタを構成し得ることは良(知られて
いるところであるが、こ−ではD/FFと切換回路とを
図示の如く組み合わせ、このD/FFを縦に接続して第
1図の如きnビットカウンメ部2a 、2bを構成する
一方、これを横に接続してmビットのシフトレジスタと
なるようにしたものである。この切り換えを行なうため
の信号がセレクト信号でおり、こ〜ではこれが例えばハ
イレベル(H)のときは(Se)、切換回路によりシフ
トクロックφ2を無効にしてカウンタとして作用させる
一方、これがローレベル(L)のときは(Se)、シフ
トクロックφ2を有効にしてシフトレジスタとして作用
させるようにしている。なお、第2図のD/FF11,
12がそれぞれ第1図のnビットカウンタ部2a+2b
の最下位ビットに対応するものとすると、その各々のク
ロック端子C9Cには変換素子対からの出力A、A’が
それぞれ図示の如く入力される。また、上記nの数は数
値化すべきピット数に応じて、同じくmの数は変換素子
対の数に応じてそれぞれ決定される。
ウンタ兼シフトレジスタ回路の一部をブロック化して示
したもので、このカウンタ兼シフトレジスタ回路は例え
ばnXm個のD形フリップフロップ(以下、D/FFと
略記する。)を2次元的に配列して構成される。第2図
にはその一部分が示されている。こ〜に、11〜15は
D形フリップフロップ、14〜17はナントゲートを組
み合わせて構成される切替回路、5enseはセレクト
信号、φ2はシフトクロックである。すなわち、一般に
7リツプフロツプを縦続接続することにより、カウンタ
またはシフトレジスタを構成し得ることは良(知られて
いるところであるが、こ−ではD/FFと切換回路とを
図示の如く組み合わせ、このD/FFを縦に接続して第
1図の如きnビットカウンメ部2a 、2bを構成する
一方、これを横に接続してmビットのシフトレジスタと
なるようにしたものである。この切り換えを行なうため
の信号がセレクト信号でおり、こ〜ではこれが例えばハ
イレベル(H)のときは(Se)、切換回路によりシフ
トクロックφ2を無効にしてカウンタとして作用させる
一方、これがローレベル(L)のときは(Se)、シフ
トクロックφ2を有効にしてシフトレジスタとして作用
させるようにしている。なお、第2図のD/FF11,
12がそれぞれ第1図のnビットカウンタ部2a+2b
の最下位ビットに対応するものとすると、その各々のク
ロック端子C9Cには変換素子対からの出力A、A’が
それぞれ図示の如く入力される。また、上記nの数は数
値化すべきピット数に応じて、同じくmの数は変換素子
対の数に応じてそれぞれ決定される。
第1図の符号8はn入力ナンドゲートであり、これはn
ビットカウンタ部2aのカウント値が最大値(出力ビッ
トが全て′H”)になったら、そこでカウントを止める
ためのもので、他のnビットカクンタ部2b等に対して
も同様に設けられる。
ビットカウンタ部2aのカウント値が最大値(出力ビッ
トが全て′H”)になったら、そこでカウントを止める
ためのもので、他のnビットカクンタ部2b等に対して
も同様に設けられる。
D/F F 5はnビットカウンタ部2 a 、 2
b =−・のカウント値に付与すべき正、負の符号を記
憶させるためのもので、その出力Qsiは変換素子1a
が先に応答すればL#で、変換素子1bが先に応答すれ
ばH’になる。つまり、変換素子の出力は応答時に′H
#になるものとすると、変換素子1aの応答が先で1b
の応答が後の場合は、変換素子1aの出力Siはインバ
ータ5にて1L”。
b =−・のカウント値に付与すべき正、負の符号を記
憶させるためのもので、その出力Qsiは変換素子1a
が先に応答すればL#で、変換素子1bが先に応答すれ
ばH’になる。つまり、変換素子の出力は応答時に′H
#になるものとすると、変換素子1aの応答が先で1b
の応答が後の場合は、変換素子1aの出力Siはインバ
ータ5にて1L”。
変換素子1bの出力Si+1は@L#のためナントゲー
ト乙の出力は1H”となり、D/FF5はセットされず
′L″となる(セット端子Sは′L″でセットのため)
。なお、上記と逆の場合は”H”になることは云う迄も
ない。このD/FF3もm段接続されており、その出力
はカウント値の処理回路への掃き出しと同じタイミング
、すなわちシフトクロックφ2によって順次シフトされ
る。これにより、各変換素子対のカウント値に正または
負の符号が付されて取り出されることになる。
ト乙の出力は1H”となり、D/FF5はセットされず
′L″となる(セット端子Sは′L″でセットのため)
。なお、上記と逆の場合は”H”になることは云う迄も
ない。このD/FF3もm段接続されており、その出力
はカウント値の処理回路への掃き出しと同じタイミング
、すなわちシフトクロックφ2によって順次シフトされ
る。これにより、各変換素子対のカウント値に正または
負の符号が付されて取り出されることになる。
第3図は第1図の動作を説明するためのタイミングチャ
ートである。なお、同図(イ)〜(チ)は変換素子1b
が11よりも早く応答した場合、すなわちその出力S
4+tがSiよりも早く′H”になった場合に関するも
のであり、(す)〜(ヌ)はその逆の場合に関するもの
である。
ートである。なお、同図(イ)〜(チ)は変換素子1b
が11よりも早く応答した場合、すなわちその出力S
4+tがSiよりも早く′H”になった場合に関するも
のであり、(す)〜(ヌ)はその逆の場合に関するもの
である。
いま、時刻t。において、同図(イ)の如きリセット信
号FLESETが与えられると、必要な回路または素子
のリセットが行なわれる。これにより、変換素子1a、
1bは図示されない受光素子出力の積分を開始する。そ
の結果、変換素子1aの積分値は時刻t2において、ま
た変換素子1bの積分値は時刻t、においてそれぞれ所
定値に達するものとすると、その出力Si 、 Sl+
1は同図(ロ)、(ハ)の如く示される。第1図のEO
Rゲート4はこの出力S i * S i+1が不一致
の期間を検出し、アンドグー)7aはこの期間だけ外部
から与えられる、同図(ニ)の如きカウントクロックφ
1を通過させるので、第1図のnビットカウンタ部2a
はこれを同図(ホ)の如(カウントする。なお、このと
き第1図または第2図に示されるカウンタ兼シフトレジ
スタには、セレクト信号Seが同図(へ)の如く与えら
れ、カウンタとして機能することは云う迄もない。また
、時刻t1とt2との間隔が長すぎて、nビットカウン
タ部2aの出力Qo ”= Qn−1が全て1H#にな
ると、第1図のナントゲート8の出力が″L#となり、
その出力はオール″I H4のま〜で止まることになる
。
号FLESETが与えられると、必要な回路または素子
のリセットが行なわれる。これにより、変換素子1a、
1bは図示されない受光素子出力の積分を開始する。そ
の結果、変換素子1aの積分値は時刻t2において、ま
た変換素子1bの積分値は時刻t、においてそれぞれ所
定値に達するものとすると、その出力Si 、 Sl+
1は同図(ロ)、(ハ)の如く示される。第1図のEO
Rゲート4はこの出力S i * S i+1が不一致
の期間を検出し、アンドグー)7aはこの期間だけ外部
から与えられる、同図(ニ)の如きカウントクロックφ
1を通過させるので、第1図のnビットカウンタ部2a
はこれを同図(ホ)の如(カウントする。なお、このと
き第1図または第2図に示されるカウンタ兼シフトレジ
スタには、セレクト信号Seが同図(へ)の如く与えら
れ、カウンタとして機能することは云う迄もない。また
、時刻t1とt2との間隔が長すぎて、nビットカウン
タ部2aの出力Qo ”= Qn−1が全て1H#にな
ると、第1図のナントゲート8の出力が″L#となり、
その出力はオール″I H4のま〜で止まることになる
。
一方、変換素子1a+ 1bのどちらが早く応答したか
は、各々の出力から第1図のインバータゲート5および
ナントゲート6を介して検出され、D/FF3に記憶さ
れるが、こ〜では変換素子1bの方が早く応答している
ことから、D/FF3の出力Qsiは同図(チ)の如く
、時刻t1でH”となる。こうして、変換素子1aと1
bの積分時間差がnビットの符号付データとして得られ
ることになる。変換素子対の応答が全て終ったら、セレ
クト信号Seを同図(へ)の如く’L’(Se)にして
、カウンタ兼シフトレジスタをシフトレジスタとして作
用させ、同図(ト)のシフトクロックφ2を有効にして
カウント値のシフトを行なう。
は、各々の出力から第1図のインバータゲート5および
ナントゲート6を介して検出され、D/FF3に記憶さ
れるが、こ〜では変換素子1bの方が早く応答している
ことから、D/FF3の出力Qsiは同図(チ)の如く
、時刻t1でH”となる。こうして、変換素子1aと1
bの積分時間差がnビットの符号付データとして得られ
ることになる。変換素子対の応答が全て終ったら、セレ
クト信号Seを同図(へ)の如く’L’(Se)にして
、カウンタ兼シフトレジスタをシフトレジスタとして作
用させ、同図(ト)のシフトクロックφ2を有効にして
カウント値のシフトを行なう。
これに対し、変換素子1aが1bよりも早く応答したと
きは、その出力Si 、Sl+1の関係は同図(す)、
(ヌ)の如くなり、D/FF3の出力は同図(ル)の如
くL”となる以外は上記と全く同様で、これにより時刻
t3からt4迄の積分時間差が、上記とは異なった符号
をもつ数値データとして得られることになる。
きは、その出力Si 、Sl+1の関係は同図(す)、
(ヌ)の如くなり、D/FF3の出力は同図(ル)の如
くL”となる以外は上記と全く同様で、これにより時刻
t3からt4迄の積分時間差が、上記とは異なった符号
をもつ数値データとして得られることになる。
なお、この発明を実施するに当たっては、先の第5図で
示したような変換素子内のスイッチングトランジスタ3
2は省略されることは云う迄もない。また、変換素子対
の積分時間差を数値化するには原理的にはカウンタがあ
れば良いが、この発明の如くカウンタ兼シフトレジスタ
回路とすることにより、さらに構成の簡略化と処理の容
易さを図ることが可能となる。
示したような変換素子内のスイッチングトランジスタ3
2は省略されることは云う迄もない。また、変換素子対
の積分時間差を数値化するには原理的にはカウンタがあ
れば良いが、この発明の如くカウンタ兼シフトレジスタ
回路とすることにより、さらに構成の簡略化と処理の容
易さを図ることが可能となる。
以上のように、この発明によれば変換素子対の積分時間
差をN(=2 )値化するようにしたので、従来のも
のに比べて距離測定Ntxを向上させることができる利
点がもたらされる。また、N値化するに当たりカウンタ
兼シフトレジスタ回路を用いるようにしたので、構成が
簡略化されると〜もに処理および集積化が容易となる効
果を期待することができる。
差をN(=2 )値化するようにしたので、従来のも
のに比べて距離測定Ntxを向上させることができる利
点がもたらされる。また、N値化するに当たりカウンタ
兼シフトレジスタ回路を用いるようにしたので、構成が
簡略化されると〜もに処理および集積化が容易となる効
果を期待することができる。
第1図はこの発明の実施例を示す構成図、第2図はカウ
ンタ兼シフトレジスタN路の具体例を示す概要図、第3
図はこの発明による動作を説明するだめのタイミングチ
ャート、第4図は距離測定原理を説明するための原理図
、第5図は2値化回路の従来例を示す回路図である。 符号説明 la、1b・・・・・・変換素子、2a+2b・・・・
・・nビットカウンタm、3.11〜15−=−D形フ
リップフロップ、4・・・・・・排他的論理和ゲート(
EORゲ−))、5・・・・・・インバータゲ−)、6
.8・・・・・・ナントゲート、7a+7b・・・・・
・アンドゲート1.14〜17・・・・・・切換回路。
ンタ兼シフトレジスタN路の具体例を示す概要図、第3
図はこの発明による動作を説明するだめのタイミングチ
ャート、第4図は距離測定原理を説明するための原理図
、第5図は2値化回路の従来例を示す回路図である。 符号説明 la、1b・・・・・・変換素子、2a+2b・・・・
・・nビットカウンタm、3.11〜15−=−D形フ
リップフロップ、4・・・・・・排他的論理和ゲート(
EORゲ−))、5・・・・・・インバータゲ−)、6
.8・・・・・・ナントゲート、7a+7b・・・・・
・アンドゲート1.14〜17・・・・・・切換回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)被写体からの反射光を互いに異なる光路を介してそ
れぞれ受光して所定の焦点面上に被写体像を形成する第
1および第2の光学的手段と、該焦点面上の被写体像に
対応してそれぞれ所定個数ずつ配列されその受光強度に
応じた光電流を発生する第1および第2の受光素子群と
、該各受光素子群内の受光素子毎の光電流を積分し該積
分値が所定値に達するまでの積分時間に応じてその受光
強度を電気信号に変換する第1および第2の変換素子群
とを有してなり、該各変換素子群出力の相関関係から前
記被写体との距離を測定する距離測定装置において、前
記各群内変換素子の所定の2個ずつを対として少なくと
も1対以上設けられるその各々に対し、対をなす変換素
子のいずれが先に応答するかに応じて正または負の符号
を付与する符号付与手段と、同じく対をなす変換素子の
いずれか一方のみが応答している期間を検出する検出手
段と、該検出期間に応じた数のクロツク信号をカウント
するカウンタとを設け、前記符号付与手段およびカウン
タの各出力にもとづいて各対毎にその積分時間差信号を
前記相関関係に応じた符号付き数値信号として得ること
を特徴とする距離測定装置。 2)特許請求の範囲の第1項に記載の距離測定装置にお
いて、前記カウンタをそのカウント結果がシフト可能な
カウンタにて構成してなることを特徴とする距離測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27332185A JPS62133308A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | 距離測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27332185A JPS62133308A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | 距離測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62133308A true JPS62133308A (ja) | 1987-06-16 |
Family
ID=17526250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27332185A Pending JPS62133308A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | 距離測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62133308A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6484959B1 (en) | 2001-06-22 | 2002-11-26 | Derik Grammenz | Dental tubing and cable retraction apparatus |
-
1985
- 1985-12-06 JP JP27332185A patent/JPS62133308A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6484959B1 (en) | 2001-06-22 | 2002-11-26 | Derik Grammenz | Dental tubing and cable retraction apparatus |
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