JPS62134579A - ユニバ−サルフイクスチヤ− - Google Patents
ユニバ−サルフイクスチヤ−Info
- Publication number
- JPS62134579A JPS62134579A JP27549985A JP27549985A JPS62134579A JP S62134579 A JPS62134579 A JP S62134579A JP 27549985 A JP27549985 A JP 27549985A JP 27549985 A JP27549985 A JP 27549985A JP S62134579 A JPS62134579 A JP S62134579A
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- Japan
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- shape memory
- memory alloy
- current
- test
- test probes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分ット〉
本完明は回路素子等を製着した電子を蔑器用８種プリン
ト茫板或は電子部品を被検査体とし、詠披検査体の測定
点と各種検査を行うチェッカーとの間にあって１回路の
中継を甘うユニバーサルフィクスチャー。
ト茫板或は電子部品を被検査体とし、詠披検査体の測定
点と各種検査を行うチェッカーとの間にあって１回路の
中継を甘うユニバーサルフィクスチャー。
〈従来の技術〉
従来のこの種フイクスチャーは、第４Ｉ２Ｉに示すよう
に固定Ｆ２Ｌａの面に多数の保持具（ソケッ） ）２ａ
を列設し、該保持具２ａ内にテストプローブ３．、Ｉを
大タトＴｉ人保持して上面に突出させると共に、該固定
板１ａの下位に前記各保持具２ａ内のテストプローブ３
ａと同数の端子ピン１５を立設したインター７エイスボ
ード１４を定置してこれを一体的に４１？ｉ ｔ＆する
と共に＋’＋ｔｊ記テストプローブ３ＩＩと端子−ビン
１５を夫り個／／ｌこワイヤーランピングして電気的に
通電を図っている。そして上記固定板Ｉ１１の上位には
、夫々のテストプローブ３ａを臨ませる通孔】３を除け
た可動板１２を該固定板１ａとの間にばねを介して弾力
的に支承しており、しかも該可動板１２と固定板１ａと
の間を気密に保も、これに吸−（管１６を連結してなり
、しかも、可動板１２上面には気密材を介してプリント
基板９を載置し、テストの際には真空ポンプをｆｌ、勤
させて吸気’！７１６から可動板１２と固定板ＩＩＩと
の間の空気を排除する。
に固定Ｆ２Ｌａの面に多数の保持具（ソケッ） ）２ａ
を列設し、該保持具２ａ内にテストプローブ３．、Ｉを
大タトＴｉ人保持して上面に突出させると共に、該固定
板１ａの下位に前記各保持具２ａ内のテストプローブ３
ａと同数の端子ピン１５を立設したインター７エイスボ
ード１４を定置してこれを一体的に４１？ｉ ｔ＆する
と共に＋’＋ｔｊ記テストプローブ３ＩＩと端子−ビン
１５を夫り個／／ｌこワイヤーランピングして電気的に
通電を図っている。そして上記固定板Ｉ１１の上位には
、夫々のテストプローブ３ａを臨ませる通孔】３を除け
た可動板１２を該固定板１ａとの間にばねを介して弾力
的に支承しており、しかも該可動板１２と固定板１ａと
の間を気密に保も、これに吸−（管１６を連結してなり
、しかも、可動板１２上面には気密材を介してプリント
基板９を載置し、テストの際には真空ポンプをｆｌ、勤
させて吸気’！７１６から可動板１２と固定板ＩＩＩと
の間の空気を排除する。
これに従ってプリント基板っけ可動板１２と共にばねに
抗して下降、シ゛テス）プローブ３ａの上端は可動＠１
２の上面−二次ＩＢシブリン［基板９に取旧・１けた回
路素子１０のリード線１１に端面で接触し、１１１ｉ記
端了ビン１５に接続したチェッカーとの間の通電を図る
ようにしている。
抗して下降、シ゛テス）プローブ３ａの上端は可動＠１
２の上面−二次ＩＢシブリン［基板９に取旧・１けた回
路素子１０のリード線１１に端面で接触し、１１１ｉ記
端了ビン１５に接続したチェッカーとの間の通電を図る
ようにしている。
又、第５図に示す池の従来例は、〃イド仮２０に穿設し
た保持孔内に多数のテストプローブ３ａ、：ｌｌａ・・
をばね（Ｉ７１示せず）によって常時上向きに弾圧保持
している。そして、該ガイド板２０の下位に、多数の端
子ビン１５を立設した゛インター７エイスボード１４を
配置し、該端子ビン１５．１５・・・と前記テストプロ
ーブ：１ａ 、３ａ・・・との間をワイヤーラッピング
して通電を図るように構成され、前記ガイド板２０の上
面には、其テストプローブｌａ、：ｌｌａ・・・のうち
Ｔめ定めたちのを除いて上端を透孔１９から臨むように
したマスクプレート１日を被着し、その上面に回路素Ｔ
−１０を１したプリント基板９を載支するよう；こして
おり、これｔ二よって回訝各系了１０のリード線１１と
成る特定のテストプローブ３ａとの接触が図られ、不用
なテストプローブについてはマスクプレートによって完
全に遮蔽され、絶ｉスが保ｒこれる。
た保持孔内に多数のテストプローブ３ａ、：ｌｌａ・・
をばね（Ｉ７１示せず）によって常時上向きに弾圧保持
している。そして、該ガイド板２０の下位に、多数の端
子ビン１５を立設した゛インター７エイスボード１４を
配置し、該端子ビン１５．１５・・・と前記テストプロ
ーブ：１ａ 、３ａ・・・との間をワイヤーラッピング
して通電を図るように構成され、前記ガイド板２０の上
面には、其テストプローブｌａ、：ｌｌａ・・・のうち
Ｔめ定めたちのを除いて上端を透孔１９から臨むように
したマスクプレート１日を被着し、その上面に回路素Ｔ
−１０を１したプリント基板９を載支するよう；こして
おり、これｔ二よって回訝各系了１０のリード線１１と
成る特定のテストプローブ３ａとの接触が図られ、不用
なテストプローブについてはマスクプレートによって完
全に遮蔽され、絶ｉスが保ｒこれる。
従って、丁定素了−間１こついて前記例同様に回路基板
の成能チェックを行うものである。更に、第６図に示す
他の従来例は、保持板２１に￥数のテストプローブ３ｎ
、３ａ・・・をばｈ（図示せず）と共に収納保持し、當
に註テストプローブ３ａ ＋ ３ａ・・・の先端が保持
板２１内に弾力的に引き込まれるようにしており、しか
も訊保持板２１の一ノ月こは、端子ビン１５＋１５・・
・と接続するビン２４．２４・・・を下向突設するとノ
（に該保持［２１の下位には前記テストプローブ：］ｕ
、３ａ・・のうち予め定めた何れか特定のテストプロー
ブ：１ａ。
の成能チェックを行うものである。更に、第６図に示す
他の従来例は、保持板２１に￥数のテストプローブ３ｎ
、３ａ・・・をばｈ（図示せず）と共に収納保持し、當
に註テストプローブ３ａ ＋ ３ａ・・・の先端が保持
板２１内に弾力的に引き込まれるようにしており、しか
も訊保持板２１の一ノ月こは、端子ビン１５＋１５・・
・と接続するビン２４．２４・・・を下向突設するとノ
（に該保持［２１の下位には前記テストプローブ：］ｕ
、３ａ・・のうち予め定めた何れか特定のテストプロー
ブ：１ａ。
３ａ・・・とのみ当接するり７タービン２２．２２・・
・を立設し、更に他方前記ビン２４．２４・・・と対向
する位置にインター７エイスピン２３．２３・・・を定
設しｒこボード２５を対設し該す７タービン２２．２２
・・・と、該インター７ヱイスピン２３．２３・・・ど
の間をワイヤーラッピングして電気的接続を図っている
。
・を立設し、更に他方前記ビン２４．２４・・・と対向
する位置にインター７エイスピン２３．２３・・・を定
設しｒこボード２５を対設し該す７タービン２２．２２
・・・と、該インター７ヱイスピン２３．２３・・・ど
の間をワイヤーラッピングして電気的接続を図っている
。
そして、前記保持板２１の上面に回路素子１０を装着し
たプリント基板９を載支するように構成しており、プリ
ント基板９を保持したまま保持板２１を下降することに
より、’１７タービン２２．２２・・・と対向するテス
トプローブ３ａ、３ａ・・・のみが選択的に保持板２１
の上面に突出せしめられ、これによってその直上に（ζ
こする回路素子のリード線先端と当接して、す７タービ
ン２２とテストプローブ３ａとを介して通電が図られる
と同ｎ、′ｒに、−力では訊保持板２１の下降動作を受
けてビン２４とインター７エイスピン２３とが接触して
端子ビン１５から外部のチェッカーに電気的ｌ二接続し
、テスト可能な状態となる。
たプリント基板９を載支するように構成しており、プリ
ント基板９を保持したまま保持板２１を下降することに
より、’１７タービン２２．２２・・・と対向するテス
トプローブ３ａ、３ａ・・・のみが選択的に保持板２１
の上面に突出せしめられ、これによってその直上に（ζ
こする回路素子のリード線先端と当接して、す７タービ
ン２２とテストプローブ３ａとを介して通電が図られる
と同ｎ、′ｒに、−力では訊保持板２１の下降動作を受
けてビン２４とインター７エイスピン２３とが接触して
端子ビン１５から外部のチェッカーに電気的ｌ二接続し
、テスト可能な状態となる。
〈発明が１！イ決しようとする間ｍ点〉しかし、上記従
来のフイクスチャーの）も第４図に示す例ではプリント
基板或は電子部品等の種類が変わるごとに固定板１ａと
インター７エイスポード１４かもなるフイクスチャーを
交換しなければならず、経済性や、交換したフイクスチ
ャーの保管などで１（Ｔｌ ｌｔの間厘があったり、又
減圧装置を必要としたり、可動板１２と固定板１ａとの
なす空間の気密を保つ必要があリイ、η造的に慣流とな
る。又、第５図の例にｉ；いてら上記ｆｆＩｊ同様に転
用が全くでさないので被検査体の種類毎にプリント基板
などの設計の際にこれに合Ｉλせて、予めマスキングプ
レートＩＳを用意してＩＳかなければならないため、を
倹査体毎に多くの種類のマスキングプレートが存在する
ことになり管理が著しく慣流となったワ、或はこの種の
ものでは、使用しないテストプローブのば１コに不用な
力が作用してばねのか命が短くなる欠点があると共にＴ
、Ｔ、Ｌレベルの信号を扱うようにしたテストプローブ
で１００［Ｖ ］の電源を扱う場合には註テストプロー
ブからチヱノ力−への端子ビン１５．１５に至る回路の
配置線を変更しなければならないなどの間ｍ点があった
。又、第６図１こ示すものではボード（インディビシュ
アライザー）が高価であるにも拘わらず被検査体毎に個
々に用意しなければならず多品種少量生産には若しく不
適切であった。
来のフイクスチャーの）も第４図に示す例ではプリント
基板或は電子部品等の種類が変わるごとに固定板１ａと
インター７エイスポード１４かもなるフイクスチャーを
交換しなければならず、経済性や、交換したフイクスチ
ャーの保管などで１（Ｔｌ ｌｔの間厘があったり、又
減圧装置を必要としたり、可動板１２と固定板１ａとの
なす空間の気密を保つ必要があリイ、η造的に慣流とな
る。又、第５図の例にｉ；いてら上記ｆｆＩｊ同様に転
用が全くでさないので被検査体の種類毎にプリント基板
などの設計の際にこれに合Ｉλせて、予めマスキングプ
レートＩＳを用意してＩＳかなければならないため、を
倹査体毎に多くの種類のマスキングプレートが存在する
ことになり管理が著しく慣流となったワ、或はこの種の
ものでは、使用しないテストプローブのば１コに不用な
力が作用してばねのか命が短くなる欠点があると共にＴ
、Ｔ、Ｌレベルの信号を扱うようにしたテストプローブ
で１００［Ｖ ］の電源を扱う場合には註テストプロー
ブからチヱノ力−への端子ビン１５．１５に至る回路の
配置線を変更しなければならないなどの間ｍ点があった
。又、第６図１こ示すものではボード（インディビシュ
アライザー）が高価であるにも拘わらず被検査体毎に個
々に用意しなければならず多品種少量生産には若しく不
適切であった。
そこで、本発明においては、上記従来技術の欠点に対処
し、より安価でしかも多くの種類の被検査体に容易に適
応可能なユニバー１１ルフイクスチヤーを提供すること
を目的とする。
し、より安価でしかも多くの種類の被検査体に容易に適
応可能なユニバー１１ルフイクスチヤーを提供すること
を目的とする。
〈問題点を解決する為の手段〉
保持板に上下動Ｎ能に立設保持しｒこ多数のテストプロ
ーブと、訊テスＦプローブの挿入部；こ按して訊テスト
プローブを通電或は遮断によって押上げるようにした二
方向性の形状記憶合金とからなる。
ーブと、訊テスＦプローブの挿入部；こ按して訊テスト
プローブを通電或は遮断によって押上げるようにした二
方向性の形状記憶合金とからなる。
＜１Ｅ用）
保持板に立設保持しｒこ多数のテスＹプａ−プのうち、
披検査体の１、テ定測定点とｙ・Ｉ応するテストプロー
ブに設けた形状記憶合金に通電或は遮断することより話
形状記憶合金の変形グ・５作に上って前記テストプロー
ブを被検立木の所定測定点ｔご向かって移動し、訊彼検
査体とチェッカーとの通１ｕを可能ならしめる。
披検査体の１、テ定測定点とｙ・Ｉ応するテストプロー
ブに設けた形状記憶合金に通電或は遮断することより話
形状記憶合金の変形グ・５作に上って前記テストプロー
ブを被検立木の所定測定点ｔご向かって移動し、訊彼検
査体とチェッカーとの通１ｕを可能ならしめる。
〈実施例〉
以下本発明について図面に示す７：施例に五り詳ｎに説
明士ると、保持板１の面に脩了状或はその池必要な配置
をもって多数の保持孔２，２・・・を穿設し、諺保持孔
２，２・・・には夫々上端に接片０，８・・・を有する
テストプローブ３．３・・・の−・４部を上下動自由１
こＩ千人保持し、更に該保持孔２，２・・・の下品に小
径の保持孔・ｔ、４・・・を！７′設して、これに絶縁
性芯ｒｎ５の外側にコイル状に巻き肢ぜた形状記憶５金
ばね６を挿入すると共に受板７により支承し、該形状記
憶合金ばね６の上端をｉ’＋ｉｉ記テストプローブ３の
下面に当接せしめてなる。
明士ると、保持板１の面に脩了状或はその池必要な配置
をもって多数の保持孔２，２・・・を穿設し、諺保持孔
２，２・・・には夫々上端に接片０，８・・・を有する
テストプローブ３．３・・・の−・４部を上下動自由１
こＩ千人保持し、更に該保持孔２，２・・・の下品に小
径の保持孔・ｔ、４・・・を！７′設して、これに絶縁
性芯ｒｎ５の外側にコイル状に巻き肢ぜた形状記憶５金
ばね６を挿入すると共に受板７により支承し、該形状記
憶合金ばね６の上端をｉ’＋ｉｉ記テストプローブ３の
下面に当接せしめてなる。
尚、上記形状記憶合金ばｈ６は絶縁性芯ｔ１にル１し装
着しない程度に形成されてすｊつ、しかも人々にスイッ
チＳ、Ｓ・・・を介して電源ｄｌ：接絞１ると共に前記
テストプローブ３についても同様下端を夫々チェッカー
回路ＡＩＬ１１６・・・に接続している。そして、前記
保持板１の上位にはチェックしようと士る妓検査体例え
ばこの場合はプリント基板ワを定置保持するように（３
成されている。
着しない程度に形成されてすｊつ、しかも人々にスイッ
チＳ、Ｓ・・・を介して電源ｄｌ：接絞１ると共に前記
テストプローブ３についても同様下端を夫々チェッカー
回路ＡＩＬ１１６・・・に接続している。そして、前記
保持板１の上位にはチェックしようと士る妓検査体例え
ばこの場合はプリント基板ワを定置保持するように（３
成されている。
そこで装着されたプリント基板９について各回路素子や
、配線パターンのチェックを開始するには、プリント基
板の種類毎に予め定めた測定点に従って、夫々のテスト
プローブに対応する形状記憶合金ばね６，６・・・を選
択的に通電することに上り、該形状記憶合金ぼね６，６
・・・は仲良状態となりてテストプローブを上方に押し
上げ、上９＝の接片８が設定したこ１部定点例えば第３
図のように回路素子１０のリード線１１と接触しａ！Ｉ
電可能な状態となる。
、配線パターンのチェックを開始するには、プリント基
板の種類毎に予め定めた測定点に従って、夫々のテスト
プローブに対応する形状記憶合金ばね６，６・・・を選
択的に通電することに上り、該形状記憶合金ぼね６，６
・・・は仲良状態となりてテストプローブを上方に押し
上げ、上９＝の接片８が設定したこ１部定点例えば第３
図のように回路素子１０のリード線１１と接触しａ！Ｉ
電可能な状態となる。
そして、該テストプローブは押し上げられるとこの場合
クランパー（図示しない）によって、その位置が保持さ
れ、又、通電を中止すると直ちに前記形状記に合金ばね
６，６・・・は原状に復帰ｒる。
クランパー（図示しない）によって、その位置が保持さ
れ、又、通電を中止すると直ちに前記形状記に合金ばね
６，６・・・は原状に復帰ｒる。
〈発明の効果〉
このようにして夫々スイッチＳ、Ｓ・・・を披倹査体毎
に定めたぶ１定点に応じて通電を図ることに上り多くの
式なる彼検査本の種々のチェック／１ＣＴｔｒ能となる
。
に定めたぶ１定点に応じて通電を図ることに上り多くの
式なる彼検査本の種々のチェック／１ＣＴｔｒ能となる
。
そして、代Ｆ！ＩＩ変更や所規！！！ Ｃｔ：の波検査
体にも良（メ・ｊ応でき、しがも製作も容易であるとＪ
（にフイクスチャーをその都度文換する必又がないので
保管も一層し易くなり、又、スイッチのみの昆ｆｉ：で
（ｄ種変更に対応できるので全自動化が容易であり、又
、テストブａ−プのみがＦ下動釘るのではＩａ的な故障
ら少なくなるなど多くの優れた効果を有すス
体にも良（メ・ｊ応でき、しがも製作も容易であるとＪ
（にフイクスチャーをその都度文換する必又がないので
保管も一層し易くなり、又、スイッチのみの昆ｆｉ：で
（ｄ種変更に対応できるので全自動化が容易であり、又
、テストブａ−プのみがＦ下動釘るのではＩａ的な故障
ら少なくなるなど多くの優れた効果を有すス
第１図は、本発明フイクスチャーの又部拡大＊）視図、
第２図は、形状記憶合金ばねの１例を示す切欠斜７見図
、 第３図は、本発明フイクスチャーの７部拡大縦断面図、 第４図は、ｒ；Ｌ米のフイクスチャーの側面略図、第５
図は、他の従来例を示す（！ｌｌ１７ｉ′ｉ略図、第６
図は、同上他の従来例を示ナロ面略図である。 １・・・保持板 、 ２・・・保持孔 ３．３・・・テストプローブ 、Ｇ・・・形状記憶合金
９・・・プリント基板 出聞人 シャープ株式会）１
、 第３図は、本発明フイクスチャーの７部拡大縦断面図、 第４図は、ｒ；Ｌ米のフイクスチャーの側面略図、第５
図は、他の従来例を示す（！ｌｌ１７ｉ′ｉ略図、第６
図は、同上他の従来例を示ナロ面略図である。 １・・・保持板 、 ２・・・保持孔 ３．３・・・テストプローブ 、Ｇ・・・形状記憶合金
９・・・プリント基板 出聞人 シャープ株式会）１
Claims (1)
- １、保持板に多数のテストプローブを上下動自由に挿入
立設すると共に、該テストプローブの挿入基部に、通電
或は遮断によって伸長又は収縮する二方向性のコイル状
形状記憶合金を挿入し、該形状記憶合金の変形方向の一
端部を該テストプローブに接触せしめ、前記保持板の上
位に定置保持した被検査体の特定測定点と対応するテス
トプローブを形状記憶合金の作用によって選択的に押し
上げするようにしたことを特徴とするユニバーサルフィ
クスチャー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27549985A JPS62134579A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | ユニバ−サルフイクスチヤ− |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27549985A JPS62134579A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | ユニバ−サルフイクスチヤ− |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62134579A true JPS62134579A (ja) | 1987-06-17 |
Family
ID=17556344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27549985A Pending JPS62134579A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | ユニバ−サルフイクスチヤ− |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62134579A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01184480A (ja) * | 1988-01-18 | 1989-07-24 | Tokyo Electron Ltd | 検査方法及び検査装置 |
| JPH11118885A (ja) * | 1997-09-11 | 1999-04-30 | Everett Charles Technol Inc | 試験用取付け装置 |
| WO2008062579A1 (en) * | 2006-11-22 | 2008-05-29 | Panasonic Corporation | Semiconductor inspection equipment |
| CN104865119A (zh) * | 2014-10-28 | 2015-08-26 | 秦广飞 | 一种推拉力机万用治具 |
| WO2018078752A1 (ja) * | 2016-10-26 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | 検査装置および検査方法 |
| CN113063655A (zh) * | 2021-03-19 | 2021-07-02 | 上海交通大学 | 一种基于sma的动态模量监测与反馈系统 |
-
1985
- 1985-12-06 JP JP27549985A patent/JPS62134579A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01184480A (ja) * | 1988-01-18 | 1989-07-24 | Tokyo Electron Ltd | 検査方法及び検査装置 |
| JPH11118885A (ja) * | 1997-09-11 | 1999-04-30 | Everett Charles Technol Inc | 試験用取付け装置 |
| WO2008062579A1 (en) * | 2006-11-22 | 2008-05-29 | Panasonic Corporation | Semiconductor inspection equipment |
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| WO2018078752A1 (ja) * | 2016-10-26 | 2018-05-03 | 三菱電機株式会社 | 検査装置および検査方法 |
| CN109844550A (zh) * | 2016-10-26 | 2019-06-04 | 三菱电机株式会社 | 检查装置及检查方法 |
| US10802047B2 (en) | 2016-10-26 | 2020-10-13 | Mitsubishi Electric Corporation | Inspection device and inspection method |
| CN113063655A (zh) * | 2021-03-19 | 2021-07-02 | 上海交通大学 | 一种基于sma的动态模量监测与反馈系统 |
| CN113063655B (zh) * | 2021-03-19 | 2022-03-22 | 上海交通大学 | 一种基于sma的动态模量监测与反馈系统 |
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