JPS6213687B2 - - Google Patents
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- JPS6213687B2 JPS6213687B2 JP54104007A JP10400779A JPS6213687B2 JP S6213687 B2 JPS6213687 B2 JP S6213687B2 JP 54104007 A JP54104007 A JP 54104007A JP 10400779 A JP10400779 A JP 10400779A JP S6213687 B2 JPS6213687 B2 JP S6213687B2
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- Japan
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- force
- point
- coordinates
- fulcrums
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、加重検知型座標入力装置(以下タツ
チパネルという。)に、すなわち加重印加点の座
標を精度よく求める装置に関する。タツチパネル
は、ライトペンを用いたタブレツト入力装置と同
様に表示装置と組み合せることによりパネル上に
表示された項目の選択や図形を検出してコンピユ
ータシステム等に入力する装置で、第1図はその
動作原理を示すためのモデル図である。以下、第
1図を用いてタツチパネルにより加重印加点の座
標を求める原理を説明する。
チパネルという。)に、すなわち加重印加点の座
標を精度よく求める装置に関する。タツチパネル
は、ライトペンを用いたタブレツト入力装置と同
様に表示装置と組み合せることによりパネル上に
表示された項目の選択や図形を検出してコンピユ
ータシステム等に入力する装置で、第1図はその
動作原理を示すためのモデル図である。以下、第
1図を用いてタツチパネルにより加重印加点の座
標を求める原理を説明する。
第1図において、ガラス板などの剛体からなる
面板1上の点Pに対して、指または筆記具により
面板に垂直な方向の力Fを印加すると、面板1の
下側における支点A,BおよびCにはその位置に
対応した分力fa,fb,fcが生ずるので、これ
を各支点に設けた力検出器2a,2bおよび2c
において検出することによりP点の座標を求める
ことができる。
面板1上の点Pに対して、指または筆記具により
面板に垂直な方向の力Fを印加すると、面板1の
下側における支点A,BおよびCにはその位置に
対応した分力fa,fb,fcが生ずるので、これ
を各支点に設けた力検出器2a,2bおよび2c
において検出することによりP点の座標を求める
ことができる。
面板1内における支点A,BおよびCの座標を
A(xa、ya)、B(xb、yb)、C(xc、yc)
とすればP点の座標(X、Y)は次式により求め
ることができる。
A(xa、ya)、B(xb、yb)、C(xc、yc)
とすればP点の座標(X、Y)は次式により求め
ることができる。
X=xafa+xbfb+xcfc/fa+
fb+fc(1) Y=yafa+yb+fb+ycfc/fa
+fb+fc(2) したがつてCRTなどの表示装置と組み合せて
項目選択を行なう場合、指の座標が上式より求め
られるので、これをコンピユータシステムに入力
することによつて、どの項目が選択されたか知る
ことができる。
fb+fc(1) Y=yafa+yb+fb+ycfc/fa
+fb+fc(2) したがつてCRTなどの表示装置と組み合せて
項目選択を行なう場合、指の座標が上式より求め
られるので、これをコンピユータシステムに入力
することによつて、どの項目が選択されたか知る
ことができる。
この詳細については、例えば、特公昭49−
34247号公報に示されている。
34247号公報に示されている。
つぎに、上記(1)式および(2)式を用いて座標を求
めるときの誤差について検討する。
めるときの誤差について検討する。
簡単のため、3個の支点の座標を第2図に示す
ように、A(−L、0)、B(L、0)、C(0、
H)とすれば(1)、(2)式はつぎのようになる。
ように、A(−L、0)、B(L、0)、C(0、
H)とすれば(1)、(2)式はつぎのようになる。
X=fb−fa/fa+fb+fcL (3)
Y=fc/fa+fb+fc (4)
一般に、力検出器としてはストレンゲージや圧
電素子などが用いられ、各支点において検出され
た力は電気信号に変換され、増幅など必要なアナ
ログ処理がおこなわれた後、アナログ演算回路に
よりX、Yの値が求められる。また、上記増幅な
ど必要なアナログ処理がおこなわれた信号をAD
変換器によりデイジタル信号に変換後、デイジタ
ル計算機によりX、Yの値を求めることもでき
る。このとき、X、Yの値は印加された力の大き
さにより変化することはないが、力検出器、増幅
器における雑音、アナログ演算回路における雑音
や演算誤差、さらにはAD変換器の量子化誤差な
どにより変動する。これらの雑音や誤差を入力側
で印加した力に換算した値を各力検出器について △fa、△fb、△fcとし △f2=△fa+△fb △F=△fa+△fb+△fc F=fa+fb+fc とおくと X+△X=fb−fa+△f2/F+△F・L
(5) Y+△Y=fc+△fc/F+△F・H (6) したがつて(3)、(4)、(5)、(6)式よりX、Yの誤差
△X、△Yは △X≒△f2/F・L−(fb−fa+△f2)△f/
F2・L(7) △Y≒△fc/F・H−(fc+△fc)△F/F2・
H(8) となる。
電素子などが用いられ、各支点において検出され
た力は電気信号に変換され、増幅など必要なアナ
ログ処理がおこなわれた後、アナログ演算回路に
よりX、Yの値が求められる。また、上記増幅な
ど必要なアナログ処理がおこなわれた信号をAD
変換器によりデイジタル信号に変換後、デイジタ
ル計算機によりX、Yの値を求めることもでき
る。このとき、X、Yの値は印加された力の大き
さにより変化することはないが、力検出器、増幅
器における雑音、アナログ演算回路における雑音
や演算誤差、さらにはAD変換器の量子化誤差な
どにより変動する。これらの雑音や誤差を入力側
で印加した力に換算した値を各力検出器について △fa、△fb、△fcとし △f2=△fa+△fb △F=△fa+△fb+△fc F=fa+fb+fc とおくと X+△X=fb−fa+△f2/F+△F・L
(5) Y+△Y=fc+△fc/F+△F・H (6) したがつて(3)、(4)、(5)、(6)式よりX、Yの誤差
△X、△Yは △X≒△f2/F・L−(fb−fa+△f2)△f/
F2・L(7) △Y≒△fc/F・H−(fc+△fc)△F/F2・
H(8) となる。
(7)、(8)式より△X、△Yを小さくするには印加
する力Fを大きくすればよいことがわかる。
する力Fを大きくすればよいことがわかる。
したがつて、第1図のP点に印加された力Fが
ある程度の大きさに達した後に(3)、(4)式により
X、Yを求める計算を開始することにすれば、△
Xおよび△Yを小さくできるはずである。
ある程度の大きさに達した後に(3)、(4)式により
X、Yを求める計算を開始することにすれば、△
Xおよび△Yを小さくできるはずである。
本発明はこの点に着目してなされたもので力検
出器から得られる電気信号の大きさが所定の閾値
より大きくなつたときX、Yを求める計算を開始
するものである。
出器から得られる電気信号の大きさが所定の閾値
より大きくなつたときX、Yを求める計算を開始
するものである。
以下、本発明を実施例を参照して詳細に説明す
る。
る。
第3図は本発明の第1の実施例を示す回路の構
成図である。
成図である。
第1図の印加力Fによる支点A,B,Cにおけ
る分子fa,fb,fcは第3図において、力検出
器2a,2b,2cにより電気信号に変換され、
さらに増幅器3a,3b,3cにより増幅された
後、加算器6により加算される。加算の結果は比
較器7において閾値電圧VREFと比較されるが、
印加された力Fが増大し、前記加算結果がVREF
より大きくなると、フリツプフロツプ8(以下
FF8と略記する。)がオンされる。FF8のオン
出力はコンピユータ5への計算開始指令信号とな
り、コンピユータ5ではこれを受けて、A/D変
換器4に対して、計算開始可能を示す信号を送出
する。A/D変換器4ではこれを受けて、前記増
幅器の出力信号をサンプルホールドし、A/D変
換してX、Yを求める計算を開始する。計算が終
了するとコンピユータ5からの制御信号により
FF8がオフされてA/D変換器4がコンピユー
タ5より切り離される。
る分子fa,fb,fcは第3図において、力検出
器2a,2b,2cにより電気信号に変換され、
さらに増幅器3a,3b,3cにより増幅された
後、加算器6により加算される。加算の結果は比
較器7において閾値電圧VREFと比較されるが、
印加された力Fが増大し、前記加算結果がVREF
より大きくなると、フリツプフロツプ8(以下
FF8と略記する。)がオンされる。FF8のオン
出力はコンピユータ5への計算開始指令信号とな
り、コンピユータ5ではこれを受けて、A/D変
換器4に対して、計算開始可能を示す信号を送出
する。A/D変換器4ではこれを受けて、前記増
幅器の出力信号をサンプルホールドし、A/D変
換してX、Yを求める計算を開始する。計算が終
了するとコンピユータ5からの制御信号により
FF8がオフされてA/D変換器4がコンピユー
タ5より切り離される。
第4図は本発明の第2の実施例を示す回路の構
成図で、印加力Fの各支点における分力fa,f
b,fcについて独立に閾値を設けたものである。
成図で、印加力Fの各支点における分力fa,f
b,fcについて独立に閾値を設けたものである。
すなわち、増幅器3a,3b,3cの各出力は
比較器7a,7b,7cにおいてそれぞれ独立の
(たがいに等しい値でもよい)閾値電圧Va REF,V
b REF,Vc REFと比較される。
比較器7a,7b,7cにおいてそれぞれ独立の
(たがいに等しい値でもよい)閾値電圧Va REF,V
b REF,Vc REFと比較される。
印加力Fの増大により、分力fa,fb,fcが
大きくなり前記閾値電圧に相当する値より大きく
なるとこれに対応した比較器7a,7b,7cの
出力が1になる。
大きくなり前記閾値電圧に相当する値より大きく
なるとこれに対応した比較器7a,7b,7cの
出力が1になる。
少くとも1個の比較器の出力が1になると3入
力オアゲートからなる論理部9の出力によりFF
8がオンされる。
力オアゲートからなる論理部9の出力によりFF
8がオンされる。
また、最大の閾値電圧に相当する比較器の出力
が1になつたときにFF8がオンされるようにす
る場合でも論理部9の変更により容易に実現でき
る。FF8がオンされた後の処理は第1の実施例
の場合と全く同じである。
が1になつたときにFF8がオンされるようにす
る場合でも論理部9の変更により容易に実現でき
る。FF8がオンされた後の処理は第1の実施例
の場合と全く同じである。
上述の2実施例において加算器6、比較器7,
7a〜7c、論理部9、FF8を設けずに、A/
D変換器4でデイジタル化した信号をコンピユー
タ5に入力し、コンピユータプログラムに従つて
加算と比較の処理をおこない、加算結果が前記閾
値電圧VREFに相当する値より大きくなつたとき
にX、Yを求める計算をおこなうようにしてもよ
く、さらにA/D変換器4やコンピユータ5のか
わりにアナログ演算回路を設け、前記増幅器3
a,3b,3cの出力を直接このアナログ演算回
路に入力して、加算器6の出力が閾値電圧VREF
より大きくなつたことを示すFF8のオン出力を
受けて、X、Yを求める計算をおこなうようにす
ることも可能である。
7a〜7c、論理部9、FF8を設けずに、A/
D変換器4でデイジタル化した信号をコンピユー
タ5に入力し、コンピユータプログラムに従つて
加算と比較の処理をおこない、加算結果が前記閾
値電圧VREFに相当する値より大きくなつたとき
にX、Yを求める計算をおこなうようにしてもよ
く、さらにA/D変換器4やコンピユータ5のか
わりにアナログ演算回路を設け、前記増幅器3
a,3b,3cの出力を直接このアナログ演算回
路に入力して、加算器6の出力が閾値電圧VREF
より大きくなつたことを示すFF8のオン出力を
受けて、X、Yを求める計算をおこなうようにす
ることも可能である。
以上の説明で明らかな通り、本発明によれば、
常に閾値電圧で決定される一定の力Fが印加され
た時に計算が開始されることになるので、増幅器
3a〜3c、A/D変換器4が飽和しない程度の
値に閾値電圧を設定しておけば、XおよびYの誤
差を一定値以下に抑えることができる。また、振
動が風圧などによる微少な入力による誤動作を無
くすことができる。
常に閾値電圧で決定される一定の力Fが印加され
た時に計算が開始されることになるので、増幅器
3a〜3c、A/D変換器4が飽和しない程度の
値に閾値電圧を設定しておけば、XおよびYの誤
差を一定値以下に抑えることができる。また、振
動が風圧などによる微少な入力による誤動作を無
くすことができる。
さらに、増幅器3a〜3cやA/D変換器4が
飽和するほど大きな力Fsが印加された場合で
も、第5図に示すごとく、閾値電圧で決定される
印加力F0をF0<Fsになるよう選べば、飽和する
前のタイミングt0においてアナログ信号がサンプ
ルホールドされて座標を求める計算が開始される
から、印加力の大きさによらずXおよびYの誤差
を一定値以下に抑えることができる。
飽和するほど大きな力Fsが印加された場合で
も、第5図に示すごとく、閾値電圧で決定される
印加力F0をF0<Fsになるよう選べば、飽和する
前のタイミングt0においてアナログ信号がサンプ
ルホールドされて座標を求める計算が開始される
から、印加力の大きさによらずXおよびYの誤差
を一定値以下に抑えることができる。
第1図はタツチパネルの動作原理を示す図、第
2図は力の印加点と3支点の位置座標の1例を示
す図、第3図は本発明の第1の実施例の回路構成
を示す図、第4図は本発明の第2の実施例の回路
構成を示す図、第5図は印加力の大きさと座標計
算を開始するタイミングとの関係を示す図であ
る。 1:面板、2a〜2c:力検出器、4:A/D
変換器、6:加算器、7:比較器。
2図は力の印加点と3支点の位置座標の1例を示
す図、第3図は本発明の第1の実施例の回路構成
を示す図、第4図は本発明の第2の実施例の回路
構成を示す図、第5図は印加力の大きさと座標計
算を開始するタイミングとの関係を示す図であ
る。 1:面板、2a〜2c:力検出器、4:A/D
変換器、6:加算器、7:比較器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 面板上の一点に印加された力の3支点におけ
る分力を検出して、力の印加された点の座標を求
める加重検知型座標入力装置において、3支点に
おける分力に対応する3つの電気信号をそれぞれ
発生する手段と、前記3つの電気信号の少なくと
も1個が所定の閾値を越えたことを検知して力の
印加された点の座標を求める演算を開始せしめる
演算開始指令発生手段を有することを特徴とする
加重検知型座標入力装置。 2 面板上の一点に印加される力の3支点におけ
る分力を検出して、力の印加された点の座標を求
める加重検知型座標入力装置において、3支点に
おける分力に対応する3つの電気信号をそれぞれ
発生する手段と、前記3つの電気信号の総和が所
定の閾値を越えたことを検知して力の印加された
点の座標を求める演算を開始せしめる演算開始指
令発生手段を有することを特徴とする加重検知型
座標入力装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10400779A JPS5629777A (en) | 1979-08-17 | 1979-08-17 | Coordinate detecting mehod for loading detection type coordinate input device |
| US06/177,058 US4389711A (en) | 1979-08-17 | 1980-08-11 | Touch sensitive tablet using force detection |
| EP80302819A EP0025282B1 (en) | 1979-08-17 | 1980-08-15 | Touch sensitive tablet using force detection |
| DE8080302819T DE3067543D1 (en) | 1979-08-17 | 1980-08-15 | Touch sensitive tablet using force detection |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10400779A JPS5629777A (en) | 1979-08-17 | 1979-08-17 | Coordinate detecting mehod for loading detection type coordinate input device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5629777A JPS5629777A (en) | 1981-03-25 |
| JPS6213687B2 true JPS6213687B2 (ja) | 1987-03-28 |
Family
ID=14369200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10400779A Granted JPS5629777A (en) | 1979-08-17 | 1979-08-17 | Coordinate detecting mehod for loading detection type coordinate input device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5629777A (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57197125U (ja) * | 1981-06-09 | 1982-12-14 | ||
| DE3309629A1 (de) * | 1983-03-17 | 1984-09-20 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Optische pruefvorrichtung zur fehlerortung in kabel- und leitungsoberflaechen |
| JPS6042611A (ja) * | 1983-08-17 | 1985-03-06 | Toyoda Mach Works Ltd | 接触検出装置を用いた寸法測定装置 |
| JPS6077227A (ja) * | 1983-10-04 | 1985-05-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 座標入力装置 |
| JPS60254313A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-16 | Nec Home Electronics Ltd | 座標入力装置 |
| JP4137710B2 (ja) * | 2003-06-11 | 2008-08-20 | シャープ株式会社 | パネルセンサおよびこれを備えた情報機器 |
| JP2009129251A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Denso Corp | 操作入力装置 |
| JP2012027541A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Sony Corp | 接触圧検知装置および入力装置 |
| JP5911720B2 (ja) * | 2011-12-22 | 2016-04-27 | ミネベア株式会社 | 物体の着地位置検出装置 |
| JP6014370B2 (ja) * | 2012-05-31 | 2016-10-25 | 富士通テン株式会社 | タッチパネル装置、検出方法、及びプログラム |
-
1979
- 1979-08-17 JP JP10400779A patent/JPS5629777A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5629777A (en) | 1981-03-25 |
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