JPS62144005A - マルチスリツト光の発生方法 - Google Patents
マルチスリツト光の発生方法Info
- Publication number
- JPS62144005A JPS62144005A JP28476785A JP28476785A JPS62144005A JP S62144005 A JPS62144005 A JP S62144005A JP 28476785 A JP28476785 A JP 28476785A JP 28476785 A JP28476785 A JP 28476785A JP S62144005 A JPS62144005 A JP S62144005A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- diffraction
- cylindrical lens
- optical axis
- diffraction grating
- Prior art date
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
平行光の光軸上に、回折方向か互いに直交する2つの回
折格子と、軸方向が1つの回折格子の回折方向と平行の
シリンドリカルレンズを配置し、かつ回折方向がシリン
ドリカルレンズの軸方向と平行の回折格子に入射する光
は、その一部が回折格子部に照射され、他の一部は回折
格子部以外に照射されるように配置することで、1木の
み他のスリット光より輝度を明るくする。
折格子と、軸方向が1つの回折格子の回折方向と平行の
シリンドリカルレンズを配置し、かつ回折方向がシリン
ドリカルレンズの軸方向と平行の回折格子に入射する光
は、その一部が回折格子部に照射され、他の一部は回折
格子部以外に照射されるように配置することで、1木の
み他のスリット光より輝度を明るくする。
産業用ロボットにおいて、物体を三次元的に計測して制
御を行なうような場合に、同時・に複数点の計測が行え
るマルチスリット光源が、計測時間の短縮のために有効
な手法として、その必要性が高まっている。本発明は、
このような用途に適するマルチスリット光の発生方法に
関するものである。
御を行なうような場合に、同時・に複数点の計測が行え
るマルチスリット光源が、計測時間の短縮のために有効
な手法として、その必要性が高まっている。本発明は、
このような用途に適するマルチスリット光の発生方法に
関するものである。
〔従来の技術]
第3図は本発明の出願人が特願昭60−107675号
として提案したマルチスリット光源を使用した物体の三
次元計測方法を示す斜視図である。三次元計測される物
体1の上に、マルチスリット光源2によって発生させた
スリット光!1、a2・・・を照射し、各スリン1−光
Nl、ff2・・・と物体1との交点をカメラ3で撮影
する。このとき、スリット光11.12・・・と投影点
P1、P2・・・とを対応付けする必要がある。そのた
めに別にスリット光源4を使用して1木の基準スリット
光5を発生させる。スリット光源4の基準スリット光5
をマルチスリット光源2のある1大のスリット光面とち
ょうど一致するように配置することで、従来むずかしい
とされているマルチスリット光源を利用した場合の対応
付は問題の解決を図っている。これは、マルチスリット
光源2で発生するスリット光/1.β2・・・は総で輝
度がほぼ同じで区別できないためである。第4図、第5
図は本発明の出願人が特願昭59−276012号とし
て提富した従来のマルチスリット光源を示す分解斜視図
である。第4図において、平行光6の光軸8上に、シリ
ンドリカルレンズ9、回折方向がシリンドリカルレンズ
9の軸方向と直角の回折格子A、回折方向がシリンドリ
カルレンズ9の軸方向と平行の回折格子Bが配置されて
いる。平行光6は、半導体レーザLDや発光ダイオード
等から出射した発散光を、コリメートレンズ7で平行光
に変換することで、作成される。平行光6の断面は、真
円の光スポットSとなるが、3gW行光をシリンドリカ
ルレンズ9を透過させると、シリンドリカルレンズ9の
軸方向と直角方向に拡大されて、Saのような長円のス
ポットとなる。そして回折格子Aを透過し回折されると
、シリンドリカルレンズ9の軸方向と直角方向(X方向
)上に複数の長円スポツ)Sal 、 Sa2・・・が
発生し、かつ隣接する長円スポットの端部同士が重なる
ことで、1本のスリット光ρとなる。このスリット光β
が、次の回折格子Bを透過し回折されることで、シリン
ドリカルレンズ9の軸方向(X方向)に複数本のスリッ
ト光11.12・・・が発生ずる。なお2つの回折格子
A、Bの回折格子部分の面積は、入射してくる光が充分
照射できる広さとなっているものとする。
として提案したマルチスリット光源を使用した物体の三
次元計測方法を示す斜視図である。三次元計測される物
体1の上に、マルチスリット光源2によって発生させた
スリット光!1、a2・・・を照射し、各スリン1−光
Nl、ff2・・・と物体1との交点をカメラ3で撮影
する。このとき、スリット光11.12・・・と投影点
P1、P2・・・とを対応付けする必要がある。そのた
めに別にスリット光源4を使用して1木の基準スリット
光5を発生させる。スリット光源4の基準スリット光5
をマルチスリット光源2のある1大のスリット光面とち
ょうど一致するように配置することで、従来むずかしい
とされているマルチスリット光源を利用した場合の対応
付は問題の解決を図っている。これは、マルチスリット
光源2で発生するスリット光/1.β2・・・は総で輝
度がほぼ同じで区別できないためである。第4図、第5
図は本発明の出願人が特願昭59−276012号とし
て提富した従来のマルチスリット光源を示す分解斜視図
である。第4図において、平行光6の光軸8上に、シリ
ンドリカルレンズ9、回折方向がシリンドリカルレンズ
9の軸方向と直角の回折格子A、回折方向がシリンドリ
カルレンズ9の軸方向と平行の回折格子Bが配置されて
いる。平行光6は、半導体レーザLDや発光ダイオード
等から出射した発散光を、コリメートレンズ7で平行光
に変換することで、作成される。平行光6の断面は、真
円の光スポットSとなるが、3gW行光をシリンドリカ
ルレンズ9を透過させると、シリンドリカルレンズ9の
軸方向と直角方向に拡大されて、Saのような長円のス
ポットとなる。そして回折格子Aを透過し回折されると
、シリンドリカルレンズ9の軸方向と直角方向(X方向
)上に複数の長円スポツ)Sal 、 Sa2・・・が
発生し、かつ隣接する長円スポットの端部同士が重なる
ことで、1本のスリット光ρとなる。このスリット光β
が、次の回折格子Bを透過し回折されることで、シリン
ドリカルレンズ9の軸方向(X方向)に複数本のスリッ
ト光11.12・・・が発生ずる。なお2つの回折格子
A、Bの回折格子部分の面積は、入射してくる光が充分
照射できる広さとなっているものとする。
第3図におけるスリット光11.12・・・は、このよ
うにして発生されたものである。第5図は、2つの回折
格子A、Bの位置を入れ換えたものである。したがって
シリンドリカルレンズ9から出射した長円の光スポット
Saが、シリンドリカルレンズ9の軸方向(X方向)に
回折されて、複数の長円スポットSxl 、Sx2・・
・が発生する。次にこれらの長円スポツ)Sxl 、
Sx2・・・を、回折格子AでX方向に回折させること
により、X方向にも複数の長円スポットが発生し、かつ
隣接する長円スポットの端部同士が重なることで、複数
のスリット光!■、12・・・となる。
うにして発生されたものである。第5図は、2つの回折
格子A、Bの位置を入れ換えたものである。したがって
シリンドリカルレンズ9から出射した長円の光スポット
Saが、シリンドリカルレンズ9の軸方向(X方向)に
回折されて、複数の長円スポットSxl 、Sx2・・
・が発生する。次にこれらの長円スポツ)Sxl 、
Sx2・・・を、回折格子AでX方向に回折させること
により、X方向にも複数の長円スポットが発生し、かつ
隣接する長円スポットの端部同士が重なることで、複数
のスリット光!■、12・・・となる。
なおシリンドリカルレンズ9は、2つの回折格子A、B
の後に置いても、あるいは中間に置いても、同様な作用
が得られる。
の後に置いても、あるいは中間に置いても、同様な作用
が得られる。
このような従来の方法では、スリット光i1.12・・
・の明るさは、光軸8上の部分を最高として、周辺部に
いく程次第に暗くなるので、第3図のように特定の1本
のスリット光のみを区別するには、2つのスリット光a
、2.4を必要とする。しかもスリット光同士を重ねる
ための位置合わせが困難である。
・の明るさは、光軸8上の部分を最高として、周辺部に
いく程次第に暗くなるので、第3図のように特定の1本
のスリット光のみを区別するには、2つのスリット光a
、2.4を必要とする。しかもスリット光同士を重ねる
ための位置合わせが困難である。
本発明の技術的課題は、従来のマルチスリット光を使用
して三次元計測する場合のこのような問題を解消するた
めに、1つのマルチスリット![で基準となる高輝度ス
リットも同時に発生可能とすることにある。
して三次元計測する場合のこのような問題を解消するた
めに、1つのマルチスリット![で基準となる高輝度ス
リットも同時に発生可能とすることにある。
〔問題点を解決するための手段]
第1図(alは本発明によるマルチスリット光の発生方
法の基本原理を説明する分解斜視図である。
法の基本原理を説明する分解斜視図である。
6は単一波長の平行光であり、例えば半導体レーザLD
から出射した発散光をコリメートレンズ7でコリメート
することにより、発生させる。この平行光6の光軸8上
に、回折方向が互いに直行する2つの回折格子AとB、
並びにシリンドリカルレンズ9が配置されている。この
シリンドリカルレンズ9の軸方向と片方の回折格子Bの
回折方向が−4している。そしてこのシリンドリカルレ
ンズ9の軸方向と回折方向が一致している方の回折格子
Bは、その回折格子部10の端部が光軸8上に位置し、
(C1で示すように、入射光の一部が回折格子部10に
照射され、池の一部は回折格子でない個所11に照射さ
れる。回折方向がシリンドリカルレンズ9の軸方向と直
角の回折格子Aでは、(blに示すように、回折格子部
10の中央に入射光が照射される。
から出射した発散光をコリメートレンズ7でコリメート
することにより、発生させる。この平行光6の光軸8上
に、回折方向が互いに直行する2つの回折格子AとB、
並びにシリンドリカルレンズ9が配置されている。この
シリンドリカルレンズ9の軸方向と片方の回折格子Bの
回折方向が−4している。そしてこのシリンドリカルレ
ンズ9の軸方向と回折方向が一致している方の回折格子
Bは、その回折格子部10の端部が光軸8上に位置し、
(C1で示すように、入射光の一部が回折格子部10に
照射され、池の一部は回折格子でない個所11に照射さ
れる。回折方向がシリンドリカルレンズ9の軸方向と直
角の回折格子Aでは、(blに示すように、回折格子部
10の中央に入射光が照射される。
2つの回折格子A、Bとシリンドリカルレンズ9が、前
記の条件で配置されておれば、光軸8上における前後関
係は任意でよい。
記の条件で配置されておれば、光軸8上における前後関
係は任意でよい。
光軸8上において、平行光6の入射側から、回折方向が
シリンドリカルレンズ9の軸方向Xと直角の回折格子A
、回折方向がシリンドリカルレンズ9の軸方向Xと平行
の回折格子B、そしてシリンドリカルレンズ9の順に配
置されている。回折格子部に入射する平行光6は、Sで
示すような真円の光スポットになるが、回折格子Aを透
過して回折されると、回折方向y軸上に複数の光スポノ
)SL、S2・・・が発生する。そして次に回折方向が
直角の回折格子Bを通過すると、前記のスポット列S1
、S2・・・が、X方向に回折されることで、×1、X
2、X3・・・上に、スポット列S1、S2・・・が発
生し、光スポットがマトリックス状に発生する。このと
き、回折格子B上で、入射する各光スポソ)Sl、S2
・・・は、それぞれの一部のみが回折格子部10を透過
して回折され、他の一部は回折格子でない部分11を素
通りする。そのため、中央の×3位置のy軸上のスポッ
ト列S1、S2、S3・・・は、回折光と素通り光との
和により、他のスポット列より輝度が高くなる。次いで
シリンドリカルレンズ9を透過すると、各光スポットは
、シリンドリカルレンズ9の軸方向と直角方向すなわち
y軸方向に拡大され、長円状になる。その際隣接する長
円同士が一部重なることで、スリット光11.12、e
3・・・となる。そして、光軸8上のスリット光13の
みは、他のスリット光より輝度が高いので、このスリッ
ト光23を基準光とすることができる。
シリンドリカルレンズ9の軸方向Xと直角の回折格子A
、回折方向がシリンドリカルレンズ9の軸方向Xと平行
の回折格子B、そしてシリンドリカルレンズ9の順に配
置されている。回折格子部に入射する平行光6は、Sで
示すような真円の光スポットになるが、回折格子Aを透
過して回折されると、回折方向y軸上に複数の光スポノ
)SL、S2・・・が発生する。そして次に回折方向が
直角の回折格子Bを通過すると、前記のスポット列S1
、S2・・・が、X方向に回折されることで、×1、X
2、X3・・・上に、スポット列S1、S2・・・が発
生し、光スポットがマトリックス状に発生する。このと
き、回折格子B上で、入射する各光スポソ)Sl、S2
・・・は、それぞれの一部のみが回折格子部10を透過
して回折され、他の一部は回折格子でない部分11を素
通りする。そのため、中央の×3位置のy軸上のスポッ
ト列S1、S2、S3・・・は、回折光と素通り光との
和により、他のスポット列より輝度が高くなる。次いで
シリンドリカルレンズ9を透過すると、各光スポットは
、シリンドリカルレンズ9の軸方向と直角方向すなわち
y軸方向に拡大され、長円状になる。その際隣接する長
円同士が一部重なることで、スリット光11.12、e
3・・・となる。そして、光軸8上のスリット光13の
みは、他のスリット光より輝度が高いので、このスリッ
ト光23を基準光とすることができる。
次に本発明によるマルチスリット光の発生方法が実際上
どのように具体化されるかを実施例で説明する。第2図
は本発明の実施例を示す分解斜視図であり、光軸8上に
おける各光学素子の前後関係は、第4図の従来例と同じ
である。すなわち光軸8上に、単一波長のレーザ光を発
生する半導体レーザしD1コリメートレンズ7、シリン
ドリカルレンズ9、回折方向が該シリンドリカルレンズ
9の軸方向と直角の回折格子A、該回折格子Aと回折方
向が直角の回折格子B、の順に配置されている。そのた
め、第4図の場合と同様に、半導体レーザLDを出射し
た発散光は、コリメートレンズ7で平行光6に変換され
た後、シリンドリカルレンズ9を通過することで、y軸
方向に拡大されて長円光スポットSaとなる。この断面
が長円の光が回折格子Aを透過してy軸方向に回折され
ることで、断面が長円の光がSal 、Sa2・・・の
ように、y軸方向に複数本発生し、かつ隣接する光の端
部同士が重なることで、1木のスリット光βとなる。こ
こまでは、第4図の場合と全く同じである。次の回折格
子、すなわち回折方向がシリンドリカルレンズ9の軸方
向と平行な回折格子Bは、その回折格子部lOの端部が
、光軸8上に位置するようにずらして配置されている。
どのように具体化されるかを実施例で説明する。第2図
は本発明の実施例を示す分解斜視図であり、光軸8上に
おける各光学素子の前後関係は、第4図の従来例と同じ
である。すなわち光軸8上に、単一波長のレーザ光を発
生する半導体レーザしD1コリメートレンズ7、シリン
ドリカルレンズ9、回折方向が該シリンドリカルレンズ
9の軸方向と直角の回折格子A、該回折格子Aと回折方
向が直角の回折格子B、の順に配置されている。そのた
め、第4図の場合と同様に、半導体レーザLDを出射し
た発散光は、コリメートレンズ7で平行光6に変換され
た後、シリンドリカルレンズ9を通過することで、y軸
方向に拡大されて長円光スポットSaとなる。この断面
が長円の光が回折格子Aを透過してy軸方向に回折され
ることで、断面が長円の光がSal 、Sa2・・・の
ように、y軸方向に複数本発生し、かつ隣接する光の端
部同士が重なることで、1木のスリット光βとなる。こ
こまでは、第4図の場合と全く同じである。次の回折格
子、すなわち回折方向がシリンドリカルレンズ9の軸方
向と平行な回折格子Bは、その回折格子部lOの端部が
、光軸8上に位置するようにずらして配置されている。
そのため、入射するスリット光eのほぼ半分のみが回折
格子部10を通過して回折され、残りの半分は回折され
ずに素通りする。
格子部10を通過して回折され、残りの半分は回折され
ずに素通りする。
そのため、回折格子Bを透過後は、光軸8上のスリット
光!3は、回折しない光と回折した光の和になり、他の
スリット光は回折した光のみから生成される。そのため
、スリット光13だけがひときわ明るく輝いたマルチス
リット光となる。
光!3は、回折しない光と回折した光の和になり、他の
スリット光は回折した光のみから生成される。そのため
、スリット光13だけがひときわ明るく輝いたマルチス
リット光となる。
第4図、第5図においては、スリット光a1.12・・
・の明るさは、光11iIIIa上の部分を最高として
、周辺部にいく程次第に暗くなるが、本発明では、光軸
8上の1本のスリット光p3のみが特別に明るく、他は
総て暗くなるので、1つのマルチスリット光源で、第3
図において基準となる特別に明るいスリット光も同時に
発生させることができ、かつ位置合わせの操作も要しな
い。
・の明るさは、光11iIIIa上の部分を最高として
、周辺部にいく程次第に暗くなるが、本発明では、光軸
8上の1本のスリット光p3のみが特別に明るく、他は
総て暗くなるので、1つのマルチスリット光源で、第3
図において基準となる特別に明るいスリット光も同時に
発生させることができ、かつ位置合わせの操作も要しな
い。
なお、受光素子となるカメラ3の絞りを絞って、輝度の
高い両心のスリット光p3のみを撮影すれば、等価的に
単一スリット光を投影したのと同じ画像を得ることがで
きるし、逆に開ければ総てのスリット光e1、β2・・
・を↑晶形することができるため、従来のマルチスリッ
ト光を投影したのと同様になる。これはカメラの絞りの
調整でなく、画像前処理におけるしきい値レベルを変え
ても同じことが実現できる。
高い両心のスリット光p3のみを撮影すれば、等価的に
単一スリット光を投影したのと同じ画像を得ることがで
きるし、逆に開ければ総てのスリット光e1、β2・・
・を↑晶形することができるため、従来のマルチスリッ
ト光を投影したのと同様になる。これはカメラの絞りの
調整でなく、画像前処理におけるしきい値レベルを変え
ても同じことが実現できる。
第2図においては、コリメートレンスフ側から、シリン
ドリカルレンズ9、回折方向がシリンドリカルレンズ9
の軸方向と直角の回折格子A、回折方向がシリンドリカ
ルレンズ9の軸方向と平行の回折格子Bの順に配置され
ているが、これらの配置は任意でよい。回折方向がシリ
ンドリカルレンズ9の軸方向と平行の回折格子Bの回折
格子部分10の端部が、光軸8上に位置するように、ず
らして配置すれば足りる。例えば第1図のように、両回
折格子A、Bの後にシリンドリカルレンズ9を配置して
もよい。ただし、両者の距離を大きくすると、スリット
光の上下がシリンドリカルレンズ9の大きさに依存して
切れる恐れがあるので、なるべく近接させることが必要
である。
ドリカルレンズ9、回折方向がシリンドリカルレンズ9
の軸方向と直角の回折格子A、回折方向がシリンドリカ
ルレンズ9の軸方向と平行の回折格子Bの順に配置され
ているが、これらの配置は任意でよい。回折方向がシリ
ンドリカルレンズ9の軸方向と平行の回折格子Bの回折
格子部分10の端部が、光軸8上に位置するように、ず
らして配置すれば足りる。例えば第1図のように、両回
折格子A、Bの後にシリンドリカルレンズ9を配置して
もよい。ただし、両者の距離を大きくすると、スリット
光の上下がシリンドリカルレンズ9の大きさに依存して
切れる恐れがあるので、なるべく近接させることが必要
である。
またシリンドリカルレンズ9として、半円柱状のものを
例示したが、機能的にシリンドリカルレンズ9と同様に
断面が長円ないし長い光を生成できる非等方レンズであ
れば、総てシリンドリカルレンズの概念に含まれるもの
とする。例えばホログラム記録媒体上に、片方から平行
光を閘射し、他方から断面が長い収束光を照射してホロ
グラムを作成することでも、同じ作用が得られる。
例示したが、機能的にシリンドリカルレンズ9と同様に
断面が長円ないし長い光を生成できる非等方レンズであ
れば、総てシリンドリカルレンズの概念に含まれるもの
とする。例えばホログラム記録媒体上に、片方から平行
光を閘射し、他方から断面が長い収束光を照射してホロ
グラムを作成することでも、同じ作用が得られる。
回折格子A、Bとしては、数十本の光ファイバーを平行
に並べてなるファイバーアレイが適しているが、他の回
折格子でもよい。
に並べてなるファイバーアレイが適しているが、他の回
折格子でもよい。
以上のように本発明によれば、シリンドリカルレンズ9
の軸方向と平行方向に回折する回折格子の回折格子部の
端部が、光軸8上に位置するように配置するので、光軸
8上のスリット光13のみ、回折光と素通りの光とで輝
度が大きくなる。そのため、1つのマルチスリット光源
で、基準となるスリット光も発生することが可能となり
、かつ従来のように、スリット光同士が重なるように位
置合わせする作業も不必要となるので、取扱いが節便と
なる。
の軸方向と平行方向に回折する回折格子の回折格子部の
端部が、光軸8上に位置するように配置するので、光軸
8上のスリット光13のみ、回折光と素通りの光とで輝
度が大きくなる。そのため、1つのマルチスリット光源
で、基準となるスリット光も発生することが可能となり
、かつ従来のように、スリット光同士が重なるように位
置合わせする作業も不必要となるので、取扱いが節便と
なる。
第1図は本発明によるマルチスリット光の発生方法の基
本原理を説明する分解斜視図と光軸に対 ′する回折格
子の位置を示す正面図、第2図は本発明の方法の実施例
を示す分解斜視し1、第3図はマルチスリット光による
三次元計測方法を示す斜視図、第4図、第5図は従来の
マルチスリット光の発生方法を示す分解斜視図である。 図において、6は平行光、7はコリメートレンズ、8は
光軸、9はシリンドリカルレンズ、Aは回折方向がシリ
ンドリカルレンズの軸方向と直角の回折格子、Bは回折
方向がシリンドリカルレンズの軸方向と平行の回折格子
、10は回折格子部、11は回折格子でない部分、LD
は半導体レーザ、sl、S2・・・は光スポット、Nl
、/!2・・・ばスリット光をそれぞれ示す。 マjレテス)ノ・汗拐−(テ托三ご矢元痔七頁リカ法第
3図
本原理を説明する分解斜視図と光軸に対 ′する回折格
子の位置を示す正面図、第2図は本発明の方法の実施例
を示す分解斜視し1、第3図はマルチスリット光による
三次元計測方法を示す斜視図、第4図、第5図は従来の
マルチスリット光の発生方法を示す分解斜視図である。 図において、6は平行光、7はコリメートレンズ、8は
光軸、9はシリンドリカルレンズ、Aは回折方向がシリ
ンドリカルレンズの軸方向と直角の回折格子、Bは回折
方向がシリンドリカルレンズの軸方向と平行の回折格子
、10は回折格子部、11は回折格子でない部分、LD
は半導体レーザ、sl、S2・・・は光スポット、Nl
、/!2・・・ばスリット光をそれぞれ示す。 マjレテス)ノ・汗拐−(テ托三ご矢元痔七頁リカ法第
3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 単一波長の平行光(6)の光軸(8)上に、回折方向が
互いに直交する2つの回折格子(A)と(B)および軸
方向が1つの回折格子(B)の回折方向と平行のシリン
ドリカルレンズ(9)を配置し、 回折方向がシリンドリカルレンズ(9)の軸方向と平行
の回折格子(B)に入射する光スポットは、その一部が
回折格子部(10)に照射され、他の一部は回折格子部
以外(11)に照射されるように配置することを特徴と
するマルチスリット光の発生方法。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28476785A JPS62144005A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | マルチスリツト光の発生方法 |
| EP91100068A EP0424359B1 (en) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Device for emitting multislit lights |
| DE8686401056T DE3683423D1 (de) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Verfahren zum messen einer dreidimensionalen lage eines objektes. |
| DE3650479T DE3650479T2 (de) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Vorrichtung zur Aussendung von Lichtflächen |
| EP86401056A EP0212992B1 (en) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Method for measuring a three-dimensional position of an object |
| US06/864,846 US4846576A (en) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Method for measuring a three-dimensional position of an object |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28476785A JPS62144005A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | マルチスリツト光の発生方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62144005A true JPS62144005A (ja) | 1987-06-27 |
| JPH0339603B2 JPH0339603B2 (ja) | 1991-06-14 |
Family
ID=17682743
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28476785A Granted JPS62144005A (ja) | 1985-05-20 | 1985-12-18 | マルチスリツト光の発生方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62144005A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03128409A (ja) * | 1989-10-13 | 1991-05-31 | Ono Sokki Co Ltd | 三次元形状センサ |
| CN104331091A (zh) * | 2014-10-28 | 2015-02-04 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 跟瞄转台装调装置、方向轴调整方法及俯仰轴调整方法 |
-
1985
- 1985-12-18 JP JP28476785A patent/JPS62144005A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03128409A (ja) * | 1989-10-13 | 1991-05-31 | Ono Sokki Co Ltd | 三次元形状センサ |
| CN104331091A (zh) * | 2014-10-28 | 2015-02-04 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 跟瞄转台装调装置、方向轴调整方法及俯仰轴调整方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0339603B2 (ja) | 1991-06-14 |
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