JPS62144049A - 汚水の汚泥濃度及び濁度測定方法 - Google Patents
汚水の汚泥濃度及び濁度測定方法Info
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- JPS62144049A JPS62144049A JP28678585A JP28678585A JPS62144049A JP S62144049 A JPS62144049 A JP S62144049A JP 28678585 A JP28678585 A JP 28678585A JP 28678585 A JP28678585 A JP 28678585A JP S62144049 A JPS62144049 A JP S62144049A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/534—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke by measuring transmission alone, i.e. determining opacity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業」二の利用分野〉
本発明は、水処理施設などにおいて汚水の汚濁状態を充
電装置、または超音波装置等によって計測する為の汚泥
濃度及び濁度測定方法に関する。
電装置、または超音波装置等によって計測する為の汚泥
濃度及び濁度測定方法に関する。
〈従来の技術〉
水処理施設などにおいて汚水の浮遊物濃度を測定するに
は、基本的には分析法によって行なわれる。即ち、汚泥
水中に含まれる浮遊物を沈ニジ2、ろ過し、そしてこれ
を乾燥して重量を求めて、fit位汚水量当りの浮遊物
重量を算出することにより汚泥濃度が測定される。
は、基本的には分析法によって行なわれる。即ち、汚泥
水中に含まれる浮遊物を沈ニジ2、ろ過し、そしてこれ
を乾燥して重量を求めて、fit位汚水量当りの浮遊物
重量を算出することにより汚泥濃度が測定される。
又、最近では、このような分析法の代りに濃度;こよる
’ekJ理的信号強度の変化によって濃度測定をするこ
とが多くなり、それには充電式と超音波式の2通りの方
法があり、このうち充電式の場合は、発光器と受光器を
組として検知具を構成し、汚水中に?2遺して尤の透過
量を測定するものである。
’ekJ理的信号強度の変化によって濃度測定をするこ
とが多くなり、それには充電式と超音波式の2通りの方
法があり、このうち充電式の場合は、発光器と受光器を
組として検知具を構成し、汚水中に?2遺して尤の透過
量を測定するものである。
この方法は、直進性の高い光線を利用する為に僅かな濃
度変化にも良く対応して精度が高く、数百〜数千(+n
g/N)程度の低濃度の下水処理場や産業廃水の処理場
における汚泥濃度測定に広く利用されている。
度変化にも良く対応して精度が高く、数百〜数千(+n
g/N)程度の低濃度の下水処理場や産業廃水の処理場
における汚泥濃度測定に広く利用されている。
又、超音波式のものは、発振子と受振子とを組とする検
知具を11?1記尼電式の場合と同様に汚泥水中に浸漬
して、汚泥水中を通過する超音波の:成ダ電を測定する
こと(こより汚:尼濃度を求めようとするものである。
知具を11?1記尼電式の場合と同様に汚泥水中に浸漬
して、汚泥水中を通過する超音波の:成ダ電を測定する
こと(こより汚:尼濃度を求めようとするものである。
この方法は、物質の振φJJの伝播を利用するもので尤
学系の方法に比べて低;濃度り葺成での精度は劣るが、
高濃度頌域の測定に適している。
学系の方法に比べて低;濃度り葺成での精度は劣るが、
高濃度頌域の測定に適している。
〈究明が解決しようとする問題点〉
しかし前記従来例のうち分析法によるものは、測定結果
が直ち【こ得られず、それlこ人為的な分析繰作が必要
である為に、連続的に汚泥濃度を管理することが非常に
困難である。
が直ち【こ得られず、それlこ人為的な分析繰作が必要
である為に、連続的に汚泥濃度を管理することが非常に
困難である。
又、物理的イボし強度変化式のものでは発信器の発信面
と受信器の受信面が汚泥の付着によって、短時間のうち
1こ汚れ信号量が変化して、汚泥水自体の濃度を精度良
く検出できない。
と受信器の受信面が汚泥の付着によって、短時間のうち
1こ汚れ信号量が変化して、汚泥水自体の濃度を精度良
く検出できない。
従って精度を常に一定に保つ為には、絶えず発信面及び
受信面を清拭しなければならず、そうした保守が奢しく
煩わしい。こうしたことから検知具を汚泥水中1こ放置
できないので、汚泥の連続管理が困冗である。
受信面を清拭しなければならず、そうした保守が奢しく
煩わしい。こうしたことから検知具を汚泥水中1こ放置
できないので、汚泥の連続管理が困冗である。
又、他の欠点としては充電式の場合は、児光面以外から
くる光線の彩管を受は易い為に、精度を良くするにはこ
うした外部光を完全に遮断しなければならず、構造的に
も充分な配慮が必要である。
くる光線の彩管を受は易い為に、精度を良くするにはこ
うした外部光を完全に遮断しなければならず、構造的に
も充分な配慮が必要である。
そこで本発明は、こうした従来の測定方法による欠点に
対処し、高精度のまま連続的にしがも直読できる測定方
法を提供しようとするものである。
対処し、高精度のまま連続的にしがも直読できる測定方
法を提供しようとするものである。
く問題点を解決する為の手段〉
発信器と受信器1こよって2つの異なる距離を通過する
信号の透過層を検出し、訊両透過量を互いに比較するこ
とにより減衰率を求める。
信号の透過層を検出し、訊両透過量を互いに比較するこ
とにより減衰率を求める。
〈実施例〉
以下、図面に示す実施例に基づき本発明の詳細な説明す
ると、発光器A1から距離d1を隔てて受光器B1をセ
・ン卜すると共に、前記発光器A、と同じ性能をもった
発光器A2より距離d2をおいて前記同様性能の受光器
B2をセットし、これら二組の発光器と受光器を同じ汚
泥水中に浸漬する。
ると、発光器A1から距離d1を隔てて受光器B1をセ
・ン卜すると共に、前記発光器A、と同じ性能をもった
発光器A2より距離d2をおいて前記同様性能の受光器
B2をセットし、これら二組の発光器と受光器を同じ汚
泥水中に浸漬する。
そして夫々の発光器A I l A 2から同じ強度E
の尤を受光器B、、B2に向かって放ち、途中汚泥水に
よって光の強度は弱まり、受光器B、、B、においで夫
々p、、r’2の強さの光が受けられる。
の尤を受光器B、、B2に向かって放ち、途中汚泥水に
よって光の強度は弱まり、受光器B、、B、においで夫
々p、、r’2の強さの光が受けられる。
即ち、汚泥水W中において強度Eの光は、汚濁物質(浮
遊物質)によって弱められ、発光器A、と受光器B1間
ではPlの強度で検出され、又発光器ノ\2と受光?5
B2においては距離d2がd、より大きい為にP、の強
度に減衰する。
遊物質)によって弱められ、発光器A、と受光器B1間
ではPlの強度で検出され、又発光器ノ\2と受光?5
B2においては距離d2がd、より大きい為にP、の強
度に減衰する。
そして、ここでの各減衰率をg+ +g2とし、発光器
及び受光器の面が汚されてないものと仮定した場合、受
光した光の強さはP、=E・81、P2=E・8□とな
る為、これより減衰率g1或はB2を直接求めることが
でべろが、汚水中に浸漬した状態で放置してB5<と、
放置時間が長くなる程、夫々発光器ノ\l l A2の
発を面と受光器B、、B、の各受光面に7r、泥がイ・
IXLして透過度が低下する。
及び受光器の面が汚されてないものと仮定した場合、受
光した光の強さはP、=E・81、P2=E・8□とな
る為、これより減衰率g1或はB2を直接求めることが
でべろが、汚水中に浸漬した状態で放置してB5<と、
放置時間が長くなる程、夫々発光器ノ\l l A2の
発を面と受光器B、、B、の各受光面に7r、泥がイ・
IXLして透過度が低下する。
その結果、こうした場合の受光強度は、各発光器A1.
A2の発光面並びに受光器B1.B2の受光面の汚れに
よる光のj成哀率ビ。と、汚泥中の減衰率gx8、が相
承して;5′、++?シてくる為に、受光強度はP。
A2の発光面並びに受光器B1.B2の受光面の汚れに
よる光のj成哀率ビ。と、汚泥中の減衰率gx8、が相
承して;5′、++?シてくる為に、受光強度はP。
”” ’b+ ’go、r2=E ’82’goとなる
。
。
従って、夫々の式から単独にgl或は、;2を直接求め
ることはできないが、しかし両減衰率g++82の間に
は両距剖J、 、d、の比r1を幕指数とする式、l?
z=g17″の関係が存在する。
ることはできないが、しかし両減衰率g++82の間に
は両距剖J、 、d、の比r1を幕指数とする式、l?
z=g17″の関係が存在する。
例比ば、d2/’イ」、=2、即ちd、の距離をdlの
2倍にした時、g 2 = 11 + ’となり、P1
=E”H+・8いP2=E−ビ、′・I?oとなる。
2倍にした時、g 2 = 11 + ’となり、P1
=E”H+・8いP2=E−ビ、′・I?oとなる。
このことから両受光強度の比を求めると、P2/P1:
E−gl2・8o/ E ’ Fh・Fio=Fi+と
し′乙発尤面や受光面の汚れによる尤のj減衰に関係な
く、汚泥水中のi+、12R率のみを求めることができ
る。
E−gl2・8o/ E ’ Fh・Fio=Fi+と
し′乙発尤面や受光面の汚れによる尤のj減衰に関係な
く、汚泥水中のi+、12R率のみを求めることができ
る。
そして汚泥)二度対滅裂率の関係を予め求めておくこと
により、夫々の減衰率に対応する汚泥の濃度を即座に算
出することができる。
により、夫々の減衰率に対応する汚泥の濃度を即座に算
出することができる。
更に、信号比(P、’I’:)”/(p、/c)を求め
れば、(r’1/E)+!/(P2/E)=g+” ’
FIo2/g12・g。=ビ。となり、発光面、受光面
のみの減衰率を求めることができる。
れば、(r’1/E)+!/(P2/E)=g+” ’
FIo2/g12・g。=ビ。となり、発光面、受光面
のみの減衰率を求めることができる。
このようにして全く同じ賎能をもった二、粗の発光器と
受JC’A7iを、互いに距離比d、:、J2にある関
係を持たせて配置することにより極めて簡fitに発)
C面や、受光面の汚れに関係なく正確1こ汚泥水の減衰
フ郭をαI定することが可能となる。
受JC’A7iを、互いに距離比d、:、J2にある関
係を持たせて配置することにより極めて簡fitに発)
C面や、受光面の汚れに関係なく正確1こ汚泥水の減衰
フ郭をαI定することが可能となる。
しがら、受光面・発)し面の;減衰率をも算出できるの
で面の汚れを自動的に検知することら可能で保守管理上
、極めて有効である。
で面の汚れを自動的に検知することら可能で保守管理上
、極めて有効である。
又、汚泥槽内のSS濃度が一様でなく、ばらつきがある
ような場合には、夫々距離d、、d2について複数個の
発′XS器と受光器を並設することにより値が平均化さ
れ一層、精度の向上を図ることができる。
ような場合には、夫々距離d、、d2について複数個の
発′XS器と受光器を並設することにより値が平均化さ
れ一層、精度の向上を図ることができる。
又、これらの信号をアナログまたはデジタル演算器z7
iこよって演算処理することにより濃度管理が連続的に
可能となる。
iこよって演算処理することにより濃度管理が連続的に
可能となる。
以上は光学的測定例を示したが、信号系に超音波振動子
−1超音波受信子を使用して上記同様の方法により汚泥
濃度或は濁度を測定することができるのは勿論である。
−1超音波受信子を使用して上記同様の方法により汚泥
濃度或は濁度を測定することができるのは勿論である。
〈発明の効果〉
本発明汚泥濃度及び濁度測定方法を用いることにより、
発光器や、受光器の発光面や受光面の汚れが直接影響な
く測定することができる。(相当良い時間放置が可能と
なる。) しかも発光面・受光面の汚れの様子も良く分るので連続
測定にも適し、汚泥の管理が着しく向上する。
発光器や、受光器の発光面や受光面の汚れが直接影響な
く測定することができる。(相当良い時間放置が可能と
なる。) しかも発光面・受光面の汚れの様子も良く分るので連続
測定にも適し、汚泥の管理が着しく向上する。
発光器からの尤をパルス状にすることも可能であり、ま
た外部光がある場合でも各発光器、受光器が全く同一条
件で溝成されていれば、二杉響は本測定力法によって消
去される。汚泥の種類が異なっても誤差は、殆ど変化し
ない。
た外部光がある場合でも各発光器、受光器が全く同一条
件で溝成されていれば、二杉響は本測定力法によって消
去される。汚泥の種類が異なっても誤差は、殆ど変化し
ない。
又、発光器の発光強度を段階的に変化させることにより
広い濃度範囲にも対応できる。
広い濃度範囲にも対応できる。
尚、発光器や受光器は発光ダイオード、7オトダイオー
ド等を使用することにより、製作が容易であり、また信
号系として超音波振動子、超音波受信子を使用すること
も可能で、信号源に限定されることなく機能的に安定す
るなど多くの優れた効果を有する発明である。
ド等を使用することにより、製作が容易であり、また信
号系として超音波振動子、超音波受信子を使用すること
も可能で、信号源に限定されることなく機能的に安定す
るなど多くの優れた効果を有する発明である。
添付図面は、本発明測定方法の説明図を示す模式側面図
である。 A 、 HA 2・・・発信器 、 B、、B2・・
・受信器d、 td2・・・距離 、 W・・・
汚泥水図面のi’l”j:’(内容に変更なし)第1
き′ 図 面 寮 E
P2手続補正書(方式) %式% 2、発明の名称 汚水の汚泥濃度及び濁度測定方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 阪神動力代械株式会社 4、代理人 It 所 大阪市東区平野町二丁目10沢の鶴ビル
昭和61年 2月25日 6、補正の内容 1.明細9中第8頁第16行目乃至同頁第18行目の図
面の簡単な説明を下記の通り訂正する。 「4、図面の簡単な説明 第1図は、本発明測定方法の説明を示す模式側面図であ
る。」 2、図面中において[図面]の文字を削除し、別紙未配
の通り「第1図」に訂正する。尚、原本の訂正は同庁に
てお願い致したくよろしくお願い致します。
である。 A 、 HA 2・・・発信器 、 B、、B2・・
・受信器d、 td2・・・距離 、 W・・・
汚泥水図面のi’l”j:’(内容に変更なし)第1
き′ 図 面 寮 E
P2手続補正書(方式) %式% 2、発明の名称 汚水の汚泥濃度及び濁度測定方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 阪神動力代械株式会社 4、代理人 It 所 大阪市東区平野町二丁目10沢の鶴ビル
昭和61年 2月25日 6、補正の内容 1.明細9中第8頁第16行目乃至同頁第18行目の図
面の簡単な説明を下記の通り訂正する。 「4、図面の簡単な説明 第1図は、本発明測定方法の説明を示す模式側面図であ
る。」 2、図面中において[図面]の文字を削除し、別紙未配
の通り「第1図」に訂正する。尚、原本の訂正は同庁に
てお願い致したくよろしくお願い致します。
Claims (1)
- 1、汚水中に浸漬した発信器と受信器とによって異なる
2つの距離における信号の透過量を測定し、該透過量を
比較することによって発信面と受信面の汚損による信号
の減衰量を消去して汚水にっいての汚濁の程度を計測す
ることを特徴とする汚水の汚泥濃度及び濁度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28678585A JPS62144049A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | 汚水の汚泥濃度及び濁度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28678585A JPS62144049A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | 汚水の汚泥濃度及び濁度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62144049A true JPS62144049A (ja) | 1987-06-27 |
Family
ID=17709013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28678585A Pending JPS62144049A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | 汚水の汚泥濃度及び濁度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62144049A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4886584A (ja) * | 1972-02-18 | 1973-11-15 |
-
1985
- 1985-12-18 JP JP28678585A patent/JPS62144049A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4886584A (ja) * | 1972-02-18 | 1973-11-15 |
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