JPS6214834A - 生体のコンダクタンス測定器 - Google Patents
生体のコンダクタンス測定器Info
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- JPS6214834A JPS6214834A JP60153615A JP15361585A JPS6214834A JP S6214834 A JPS6214834 A JP S6214834A JP 60153615 A JP60153615 A JP 60153615A JP 15361585 A JP15361585 A JP 15361585A JP S6214834 A JPS6214834 A JP S6214834A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、皮表角質層等のコンダクタンスをブリッジ法
により簡便に測定する生体のコンダクタンスを測定する
装置に関する。
により簡便に測定する生体のコンダクタンスを測定する
装置に関する。
(従来の技術)
皮表角質層のコンダクタンスと水分含有率との間には一
定の相関関係があり、一方が増加すれば他方も増加する
という高い相関性があることはすでに知られている。
定の相関関係があり、一方が増加すれば他方も増加する
という高い相関性があることはすでに知られている。
しかし、このようなコンダクタンスは複雑な方法により
測定され、皮表角質層の診断、ならびに皮表角質層に関
するデータの蓄積は専ら皮表コンダクタンスを知ること
によって行われていた。
測定され、皮表角質層の診断、ならびに皮表角質層に関
するデータの蓄積は専ら皮表コンダクタンスを知ること
によって行われていた。
したがって、初期の皮表角質層のコンダクタンス測定器
は高価であるとともに、複雑な方法に起因して信頼性が
低く、取り扱いも不便であるという欠点があった。
は高価であるとともに、複雑な方法に起因して信頼性が
低く、取り扱いも不便であるという欠点があった。
かかる欠点を改善するため、特願昭58−23192号
において、水晶発振器により測定周波数を精密、かつ安
定に設定すると共に、水晶発振器の出力を前記水晶発振
器に対して疎に結合した緩衝増幅器に加え、さらに単基
同調特性を与えるための一対の同調器に順次加えて良好
な単基同調特性を実現し、これによって、皮表角質層測
定コンダクタンスの値に応じて同調曲線へ変化を与え、
この変化を高インピーダンス性の一対の直線検波器によ
り検出し、両横波器の出力の差を求めて、差動増幅し、
これによって皮表角質層のコンダクタンスを容易、かつ
精密に測定している。
において、水晶発振器により測定周波数を精密、かつ安
定に設定すると共に、水晶発振器の出力を前記水晶発振
器に対して疎に結合した緩衝増幅器に加え、さらに単基
同調特性を与えるための一対の同調器に順次加えて良好
な単基同調特性を実現し、これによって、皮表角質層測
定コンダクタンスの値に応じて同調曲線へ変化を与え、
この変化を高インピーダンス性の一対の直線検波器によ
り検出し、両横波器の出力の差を求めて、差動増幅し、
これによって皮表角質層のコンダクタンスを容易、かつ
精密に測定している。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、かかる特願昭58−23192号におい
ては、単基同調特性を得るために水晶発振器の発振周波
数が3.5 M Hzに設定されていた。
ては、単基同調特性を得るために水晶発振器の発振周波
数が3.5 M Hzに設定されていた。
したがって、調整が必要な高周波増幅器を緩衝増幅器と
して採用し、平衡の検出を行うために同調回路ならびに
直線検波器を使用していたので、測定時に皮膚のコンダ
クタンス分のほかに容量分の影響が入り、電極やケーブ
ルを交換した後には、再び零点を調整しなければなら勉
いという欠点があった・ また、発振周波数は水晶発振器で安定化されているとは
いえ、電極静電容量の変化、あるいはボディエフェクト
などにより同調回路が@凋する可能性があるという欠点
があった。
して採用し、平衡の検出を行うために同調回路ならびに
直線検波器を使用していたので、測定時に皮膚のコンダ
クタンス分のほかに容量分の影響が入り、電極やケーブ
ルを交換した後には、再び零点を調整しなければなら勉
いという欠点があった・ また、発振周波数は水晶発振器で安定化されているとは
いえ、電極静電容量の変化、あるいはボディエフェクト
などにより同調回路が@凋する可能性があるという欠点
があった。
本発明の目的は、使用周波数を前記同門容量分の影響を
無視できる程度にまで低下させ、平衡検出に単純な抵抗
ブリッジ回路を採用し、さらに電極寸法を大きくするこ
とによって、前記欠点を除去し、皮表角質層のコンダク
タンス検出感度を向上させながら、正確に測定すること
ができるように構成した生体のコンダクタンス測定器を
提供することにある。
無視できる程度にまで低下させ、平衡検出に単純な抵抗
ブリッジ回路を採用し、さらに電極寸法を大きくするこ
とによって、前記欠点を除去し、皮表角質層のコンダク
タンス検出感度を向上させながら、正確に測定すること
ができるように構成した生体のコンダクタンス測定器を
提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明による生体のコンダクタンス測定器は、コルピッ
ツ形正弦波発振器と、抵抗ブリッジと。
ツ形正弦波発振器と、抵抗ブリッジと。
検波器と、差動増幅器と、比較増幅器と、単安定マルチ
バイブレータと、ラッチと、ディジタルパネルメータと
、警報手段とを具備して構成したものである。
バイブレータと、ラッチと、ディジタルパネルメータと
、警報手段とを具備して構成したものである。
コルピッツ形正弦波発振器は正弦波信号を発生するため
のものである。
のものである。
抵抗ブリッジはコルピッツ形正弦波発振器により駆動さ
れ、一対の検出端の一方に被測定皮表角質層コンダクタ
ンスを接続してコンダクタンスを測定するためのもので
ある。
れ、一対の検出端の一方に被測定皮表角質層コンダクタ
ンスを接続してコンダクタンスを測定するためのもので
ある。
検波器は、一対の検出端に現れた信号電圧を検波して一
対の直流電圧を得るためのものである。
対の直流電圧を得るためのものである。
差動増幅器は、検波器によって得られた一対の直流電圧
を差動増幅するためのものである。
を差動増幅するためのものである。
比較増幅器は、差動増幅器の出力の変化により測定の開
始時刻を検出するためのものである。
始時刻を検出するためのものである。
単安定マルチパイプレークは比較増幅器の出力によりト
リガされ、あらかじめ定められた測定時間を計数するた
めのものである。
リガされ、あらかじめ定められた測定時間を計数するた
めのものである。
ラッチは、第1の単安定マルチバイブレータの計数の終
了を検出してランチをかけるためのものである。
了を検出してランチをかけるためのものである。
ディジクルパネルメータは差動増幅器からコンダクタン
スの値に比例して出力される直流電圧を読み取って表示
し、前記ラッチの動作によって表示値を固定することが
できるものである。
スの値に比例して出力される直流電圧を読み取って表示
し、前記ラッチの動作によって表示値を固定することが
できるものである。
警報手段は、ラッチの動作によって測定の終了を知らせ
るためのものである。
るためのものである。
(実施例)
次に、本発明を図面等を参照して、さらに詳しく説明す
る。
る。
第1図は、本発明による皮表角質層コンダクタンス測定
器の一実施例を示すブロック図である。
器の一実施例を示すブロック図である。
第1図において、1はコルピッツ形ギ弦波発振器。
2は抵抗ブリッジ、21〜24は各抵抗辺、3は測定用
端子、31は直流分阻止用のコンデンサ。
端子、31は直流分阻止用のコンデンサ。
4は検波器、5は差動増幅器、6は比較増幅器。
61は標準電圧源、7は第1の単安定マルチパイプレー
ク、8はラッチ、81はリセントスインチ。
ク、8はラッチ、81はリセントスインチ。
9はディジタルパネルメータ、10は第2の単安定マル
チパイプレーク、11はブザー、12は抵抗分圧器であ
る。
チパイプレーク、11はブザー、12は抵抗分圧器であ
る。
第1図において、コルピッツ形正弦波発振器1によって
発振した約100KHzの周波数を有する正弦波信号は
、内蔵するエミッタホロワ形低インピーダンス出力段を
介して抵抗プロ・ツク2に送出される。抵抗ブリッジ2
は例えば、金属皮膜抵抗器のような温度計数の小さな抵
抗器21〜24からなるものである。その−辺には皮表
角質層のコンダクタンスを測定する電極が測定用端子3
を介して接続されている。コンデンサ31は直流分が皮
膚に加えられないように阻止する。電極を皮膚に接触さ
せないときには、抵抗ブリッジ2は平衡している。電極
を皮膚に接触させると、抵抗ブリッジ2の一辺をなす抵
抗器23に対して、皮膚のインピーダンスが並列に入る
。抵抗ブリッジ2の各辺の抵抗21〜24は、皮膚のイ
ンピーダンスに比べて小さく設定しであるので、不平衡
となった抵抗ブリッジ2には皮膚のコンダクタンスにほ
ぼ比例する電位差が生じる。
発振した約100KHzの周波数を有する正弦波信号は
、内蔵するエミッタホロワ形低インピーダンス出力段を
介して抵抗プロ・ツク2に送出される。抵抗ブリッジ2
は例えば、金属皮膜抵抗器のような温度計数の小さな抵
抗器21〜24からなるものである。その−辺には皮表
角質層のコンダクタンスを測定する電極が測定用端子3
を介して接続されている。コンデンサ31は直流分が皮
膚に加えられないように阻止する。電極を皮膚に接触さ
せないときには、抵抗ブリッジ2は平衡している。電極
を皮膚に接触させると、抵抗ブリッジ2の一辺をなす抵
抗器23に対して、皮膚のインピーダンスが並列に入る
。抵抗ブリッジ2の各辺の抵抗21〜24は、皮膚のイ
ンピーダンスに比べて小さく設定しであるので、不平衡
となった抵抗ブリッジ2には皮膚のコンダクタンスにほ
ぼ比例する電位差が生じる。
抵抗ブリッジ2の高周波不平衡電圧は、高入力インピー
ダンス形の検波器4に加えられ、検波器4によって検波
されて直流電圧に変換される。得られた直流電圧は差動
増幅器5に加えられて比較され、皮膚のコンダクタンス
に比例した直流電圧が得られる。この値は、適当な分圧
比を有する抵抗分圧器12を経てディジタルパネルメー
タ9に表示される。
ダンス形の検波器4に加えられ、検波器4によって検波
されて直流電圧に変換される。得られた直流電圧は差動
増幅器5に加えられて比較され、皮膚のコンダクタンス
に比例した直流電圧が得られる。この値は、適当な分圧
比を有する抵抗分圧器12を経てディジタルパネルメー
タ9に表示される。
皮膚のコンダクタンスは電極を皮膚に接触させて時間が
長くなると、徐々に増加する傾向にある。
長くなると、徐々に増加する傾向にある。
通常は、電極を皮膚に接触させてから3秒後に値を読む
ことにしている。
ことにしている。
比較器6は皮表角質層のコンダクタンスが闇値レベルを
越える瞬間を、電極が皮膚に接触した時間であるとして
認識する。前記闇値レベルは標準電圧源61の関数とし
て設定され、例えば、+6VDCの直流電圧源からブリ
ーダ抵抗によって分圧して与えることもできる。第1の
単安定マルチバイブレータ7は測定が開始した瞬間、す
なわち皮表角質層のコンダクタンスが変化した瞬間に動
作を開始し、パルス幅が3秒間のパルスを形成する。
越える瞬間を、電極が皮膚に接触した時間であるとして
認識する。前記闇値レベルは標準電圧源61の関数とし
て設定され、例えば、+6VDCの直流電圧源からブリ
ーダ抵抗によって分圧して与えることもできる。第1の
単安定マルチバイブレータ7は測定が開始した瞬間、す
なわち皮表角質層のコンダクタンスが変化した瞬間に動
作を開始し、パルス幅が3秒間のパルスを形成する。
3秒間を経過したところで、ラッチ8がセットされる。
ラッチ8の出力はディジタルパネルメータ9の表示を固
定して保持させ、さらに第2の単安定マルチバイブレー
タ10を駆動して短くブザー11を鳴らせる。これによ
って、操作者は、測定の完了を知ることができる。
定して保持させ、さらに第2の単安定マルチバイブレー
タ10を駆動して短くブザー11を鳴らせる。これによ
って、操作者は、測定の完了を知ることができる。
ラッチ8はリセットスイッチ81によってリセットする
ことができる。これによって次の測定を行うことができ
る。電極を皮膚に一旦接触させてから、3秒を経過しな
いうちに電極を皮膚から離した場合には、3秒間のパル
スを作る第1の単安定マルチバイブレータ7はリセット
され、ラッチされずに初期状態に戻る。
ことができる。これによって次の測定を行うことができ
る。電極を皮膚に一旦接触させてから、3秒を経過しな
いうちに電極を皮膚から離した場合には、3秒間のパル
スを作る第1の単安定マルチバイブレータ7はリセット
され、ラッチされずに初期状態に戻る。
第2図は、コルピッツ形正弦波発振器1の詳細を示す回
路図である。
路図である。
第2図において、101はFETであり、例えば23に
28のような接合形FETである。102゜103はそ
れぞれnpn形トランジスタであり、低出力インピーダ
ンスのエミッタホロワを形成する。
28のような接合形FETである。102゜103はそ
れぞれnpn形トランジスタであり、低出力インピーダ
ンスのエミッタホロワを形成する。
104〜109はそれぞれ抵抗器、110〜113はそ
れぞれコンデンサ、114はインダクタである。発振周
波数が100KHzに設定され、かつFETを使用して
いるので、周波数安定度は抵抗ブリッジ2の動作性能に
ほとんど影響はない。
れぞれコンデンサ、114はインダクタである。発振周
波数が100KHzに設定され、かつFETを使用して
いるので、周波数安定度は抵抗ブリッジ2の動作性能に
ほとんど影響はない。
第3図は、検波器4の詳細を示す回路図である。
第3図において、401,402はそれぞれFETであ
り、例えば23に18のような接合形FETである。4
03〜405はそれぞれ抵抗、406〜411はそれぞ
れコンデンサである。また、41.42はそれぞれ平滑
回路である。
り、例えば23に18のような接合形FETである。4
03〜405はそれぞれ抵抗、406〜411はそれぞ
れコンデンサである。また、41.42はそれぞれ平滑
回路である。
第3図において、コンデンサ406,407を介して抵
抗ブリッジ2からFET401,402のゲートへ入力
された100KHzの高周波信号は、それぞれFET4
01,402によって検波増幅される。
抗ブリッジ2からFET401,402のゲートへ入力
された100KHzの高周波信号は、それぞれFET4
01,402によって検波増幅される。
FET401の出力はコンデンサ408.抵抗403、
ならびにコンデンサ409によって形成される平滑回路
41へ入力され、直流電圧に変換される。
ならびにコンデンサ409によって形成される平滑回路
41へ入力され、直流電圧に変換される。
一方、FET402の出力はコンデンサ410゜抵抗4
04.ならびにコンデンサ411によって形成される平
滑回路42へ入力され、直流電圧に変換される。抵抗ブ
リッジ2が平衡している場合には、両平滑回路41.4
2の出力は平衡しているため、抵抗405によって平衡
調整をとった後ではそれぞれFET401,402から
差動増幅器5へ送出された直流電圧は平衡している。ま
た、抵抗ブリッジ2の出力は、FET401,402の
ゲートに加えられ、かつFETのゲートは高インピーダ
ンスであるため、周波数100KHzにおいて、検波器
4が抵抗ブリッジ2の平衡に与える影響はほとんど完全
に無視できる。
04.ならびにコンデンサ411によって形成される平
滑回路42へ入力され、直流電圧に変換される。抵抗ブ
リッジ2が平衡している場合には、両平滑回路41.4
2の出力は平衡しているため、抵抗405によって平衡
調整をとった後ではそれぞれFET401,402から
差動増幅器5へ送出された直流電圧は平衡している。ま
た、抵抗ブリッジ2の出力は、FET401,402の
ゲートに加えられ、かつFETのゲートは高インピーダ
ンスであるため、周波数100KHzにおいて、検波器
4が抵抗ブリッジ2の平衡に与える影響はほとんど完全
に無視できる。
第1図における測定用端子3には、例えば、第4図に示
すような電極がケーブルを介して接続さ1tている。第
4図において、14は金属電極本体。
すような電極がケーブルを介して接続さ1tている。第
4図において、14は金属電極本体。
15は絶縁物、16は金属電極ガードリング、17は同
軸ケーブルである。金属電極本体14は同軸ケーブル1
7の中心導体に接続され、金属電極、ガードリング16
は同軸ケーブル17の外部導体に接続されている。本発
明において、電極は第4図に示すように大形化している
ので、周波数を従来の3.5 M Hzから100KH
zに下げたことによる感度の低下は避けられる。
軸ケーブルである。金属電極本体14は同軸ケーブル1
7の中心導体に接続され、金属電極、ガードリング16
は同軸ケーブル17の外部導体に接続されている。本発
明において、電極は第4図に示すように大形化している
ので、周波数を従来の3.5 M Hzから100KH
zに下げたことによる感度の低下は避けられる。
すなわち、皮膚の構造から同一部所で同一の電極を使用
したとき、数Hz〜数MHzの周波数範囲では皮膚のコ
ンダクタンスはほぼ周波数に比例する。周波数を低下さ
せた分だけ電極を大きくし、検波器4のドリフトを低く
抑えているので、感度の低下は認められない。
したとき、数Hz〜数MHzの周波数範囲では皮膚のコ
ンダクタンスはほぼ周波数に比例する。周波数を低下さ
せた分だけ電極を大きくし、検波器4のドリフトを低く
抑えているので、感度の低下は認められない。
電極の面積を大きくすると、測定すべきプロービングし
た部分の皮膚のコンダクタンスの平均的な値が表示され
るので、僅かな電極の位置の相違により表示値がばらつ
くことは少なくなる。この性質は、例えば美容室におい
ては有用である。
た部分の皮膚のコンダクタンスの平均的な値が表示され
るので、僅かな電極の位置の相違により表示値がばらつ
くことは少なくなる。この性質は、例えば美容室におい
ては有用である。
(発明の効果)
本発明は以上説明したように、使用周波数を前記同調容
量分の影響を無視できる程度にまで低下させ、平衡検出
に単純な抵抗ブリッジ回路を採用し、さらに電極寸法を
大きくすることによって、皮表角質層のコンダクタンス
と並列に配流容量分や回路に存在する寄生容量分の影響
を無調整で除去することができ、また、周波数を低くし
たことによる感度の低下も除去することができるという
効果がある。
量分の影響を無視できる程度にまで低下させ、平衡検出
に単純な抵抗ブリッジ回路を採用し、さらに電極寸法を
大きくすることによって、皮表角質層のコンダクタンス
と並列に配流容量分や回路に存在する寄生容量分の影響
を無調整で除去することができ、また、周波数を低くし
たことによる感度の低下も除去することができるという
効果がある。
第1図は、本発明による生体のコンダクタンス測定器の
一実施例を示すブロック図である。 第2図は、第1図におけるコルピッツ形正弦波発振器の
詳細を示す回路図である。 第3図は、第1図における検波器の詳細を示す回路図で
ある。 第4図は、第1図に示す生体のコンダクタンス測定器の
測定用端子にケーブルを介して接続される電極の一実施
例を示す構造概要図である。 l・・・コルピッツ形正弦波発振器 2・・・抵抗ブリッジ 3・・・測定用端子 4・・・検波器 5・・・差動増幅器 6・・・比較増幅器 7.10・・・単安定マルチバイブレータ8・・・ラッ
チ 9・・・ディジタルパネルメータ 11・・・ブザー 12・・・抵抗分圧器 14.16・・・金属電極 15・・・絶縁物 17・・・ケーブル 21〜24,104〜109,403〜405・・・抵
抗 31.110,406〜411・・・コンデンサ41.
42・・・平滑回路 61・・・標準電圧源 81・・・リセットスイッチ 101.401,402・・・FET 102.103・・・npn)ランジスタ114・・・
インダクタ
一実施例を示すブロック図である。 第2図は、第1図におけるコルピッツ形正弦波発振器の
詳細を示す回路図である。 第3図は、第1図における検波器の詳細を示す回路図で
ある。 第4図は、第1図に示す生体のコンダクタンス測定器の
測定用端子にケーブルを介して接続される電極の一実施
例を示す構造概要図である。 l・・・コルピッツ形正弦波発振器 2・・・抵抗ブリッジ 3・・・測定用端子 4・・・検波器 5・・・差動増幅器 6・・・比較増幅器 7.10・・・単安定マルチバイブレータ8・・・ラッ
チ 9・・・ディジタルパネルメータ 11・・・ブザー 12・・・抵抗分圧器 14.16・・・金属電極 15・・・絶縁物 17・・・ケーブル 21〜24,104〜109,403〜405・・・抵
抗 31.110,406〜411・・・コンデンサ41.
42・・・平滑回路 61・・・標準電圧源 81・・・リセットスイッチ 101.401,402・・・FET 102.103・・・npn)ランジスタ114・・・
インダクタ
Claims (2)
- (1)正弦波発振器と、前記正弦波発振器により駆動さ
れ、一対の検出端の一方に被測定生体コンダクタンスを
接続して前記コンダクタンスを測定するための抵抗ブリ
ッジと、前記一対の検出端に現れた信号電圧を検波して
一対の直流電圧を得るための検波器と、前記検波によっ
て得られた一対の直流電圧を差動増幅するための差動増
幅器と、前記差動増幅器の出力の変化により測定の開始
時刻を検出するための比較増幅器と、前記比較増幅器の
出力によりトリガされてあらかじめ定められた測定時間
を計数するための単安定マルチバイブレータと、前記第
1の単安定マルチバイブレータの計数の終了を検出して
ラッチをかけるためのラッチと、前記差動増幅器から前
記コンダクタンスの値と比例して出力される直流電圧を
読み取って表示し、前記ラッチの動作によって表示値を
固定することができる表示手段とから構成したことを特
徴とする生体のコンダクタンス測定器。 - (2)前記生体のコンダクタンスは生体の皮表角質層の
コンダクタンスである特許請求の範囲第1項記載の生体
のコンダクタンス測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60153615A JPS6214834A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 生体のコンダクタンス測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60153615A JPS6214834A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 生体のコンダクタンス測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6214834A true JPS6214834A (ja) | 1987-01-23 |
| JPH0231970B2 JPH0231970B2 (ja) | 1990-07-17 |
Family
ID=15566359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60153615A Granted JPS6214834A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 生体のコンダクタンス測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6214834A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59148855A (ja) * | 1983-02-15 | 1984-08-25 | I Bii S Kk | 皮表角質層用コンダクタンス測定器 |
-
1985
- 1985-07-12 JP JP60153615A patent/JPS6214834A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59148855A (ja) * | 1983-02-15 | 1984-08-25 | I Bii S Kk | 皮表角質層用コンダクタンス測定器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0231970B2 (ja) | 1990-07-17 |
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